Способ контроля поверхности металлизированных оснований резисторов

Номер патента: 146504

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Величко

МПК: G01S 17/42

Метки: геодезическим, измерении, модуляции, потока, расстояний, света, светового, светодальномером, соответствующей, фазовым, частоты, экстремуму

...устанавливают поляроид 2, который закрывает часть объектива. Плоскость поляризации поляроида 2 составляст с плоскостями поляризации поляризатора 3 и анализатора 4 ячейки Керра угол в 45. При этом световой сигнал от источника света 5 будет проходить в поле зрения приемной трубы по двум каналам. По первому каналу проходит опорный световой сигнал постоянной яркости, который через линзу 6, поляризатор 3, конденсатор Керра 7, линзу 8, поляроид 2, линзу 9, конденсатор Керра 10 и анализатор 4 попадает на объектив 1. По второму каналу проходит модулированный световой сигнал, который через линзу 6,146504 Предмет из о бр етения Способ определения часготы модуляции света, соответствующей экстремуму светового потока, при измерении расстояний...

Номер патента: 458717

Опубликовано: 30.01.1975

Авторы: Балакший, Парыгин

МПК: G01J 3/06

Метки: брэгговской, дифракции, луча, непрерывного, основе, света, светового, сканирования

...увеличение 15 разрешающей способности, повышение скорости сканирования светового луча и снижение потребляемой мощности,Это достигается тем, ч.го по предлагаемомуспособу световой луч с помощью и-позицион ного переключателя последовательно направляют на и идентичных акустооптических дефлекторов, на каждый из которых подают частотно-модулированный по пилообразному закону сигнал, сдвинутый относительно сосед него дефлектора на 1/и-ую часть периода сканирования. Переключатель работает синхронно с дефлекторами таким образом, что в каждый момент времени световой луч про.ходит через тот дефлектор, в котором пере ходной процесс формирования дифрагирован.458717 Предмет изобретения Составитель А. Субояевактор Е, Караулова Техред Т. Миронова...

Номер патента: 898492

Опубликовано: 15.01.1982

Авторы: Боленок, Дроздов, Люцко, Оболенский

МПК: G09B 25/04

Метки: земной, моделирования, отраженного, поверхности, потока, светового

...ддя моделирования отраженного светового потока от земной поверхности, содержащем полусферическийкупол, источники света, рабочую площадкуи центре основания купола, кольцевуюплощадку, обрамляющую рабочую плошадку,кольцевая площадка выполнена загублен- уной в виде ниши, в которой размещеныисточники света, и снабжена перекрытиемиз светорассеивающего материала, Крометого, источники света, размещенные вкольцевой площадке, имеют различнуюцветовую температуру с возможностьюрегулирования светового потока и спектраизлучения источников,На фиг, 1 изображено устройство, разрез, на фнг. 2 - тоже вид сверху; нафиг. 3 - блок-схема электрической частиустройства.Устройство состоит из полусферического купола 1 с источниками света 2, имитируюшего...

Номер патента: 76710

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Койранский

МПК: A61F 9/04

Метки: воздействия, глаз, защиты, лучей, невидимой, ослепляющего, очков, потока, светового, спектра, стекла, целью, части

...глаз от воздействия ослепляющего светового потока лучей невидимой части спектра.Отличительная особенность описываемых стекол для очков заключает.:я в том, что, с целью повышения их отражательной способности, они покрыты алюминиевой пленкой. Пленка фиксирована на:стекле слоем винилового лака.Ллюминиевая пленка применяется вместо известных ранее пленок из золота и серебра потому, что отражательная способность алюминия проявляется не только в инфракрасной части спектра, но и в ультрафио.летовой,Предлагаемые стекла готовятся следующим способом: на оптическую поверхность стекла методом вакуумного распыления наносится тонкий слой алюминия, который фиксируется слоем винилового лака. 1. Стекла для очков, с целью защиты глаз от воздействия...

Номер патента: 146356

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Зеликовский, Зубов

МПК: G01J 1/28

Метки: источников, потока, света, светового, электрических

....на высокоомное сопротивление 8, в результате чего в цепи создается компенсационный ток, протекающий в том же направлении, что и ток от фотоэлемента 9, освещаемого лампой 1 через регулируемую диафрагму 10. Параллельно фотоэлементу 9 включен гальванометр 11, шкала которого отградуирована в люменах,Измерение светового потока производят следующим образом.М 146356 Пред м ет изо бретенияСпособ измерения светового потока электрических источников света, например ламп, путем измерения компенсатором тока короткого замыкания фотоэлемента, освещаемого лампой, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью устранения влияния на точность измерения колебаний напряжения на лампе, питание компенсатора осуществляется через дестабилизатор,Составитель...