Патенты с меткой «надмолекулярных»

Номер патента: 239639

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Белый, Отдел, Петроковец, Савкин, Свириденок

МПК: G01L 1/24, G01N 21/21

Метки: деформации, надмолекулярных, полимеров, степени, структур

...в поли мерах,под дейсгвием внешних нагрузок. Способ можно использовать как экспресс-метод для оценки механических свойств покрытий. Способ оп надмолекуляр механическогоИзвестен способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров путем одноосного,растяжения пленочного образца с .последующим визуальным миироскопическим определением в проходящем поляризованном свете, искомой величины.Для усовершенствования известного способа и,повышения точности определения предлагается полимерную пленку наносить на оптичесии прозрачную подложку, а затем производить механическое воздействие с помощью оптически прозрачного инденгора. Изменение структуры во времени фиксируется с,помощью фото- и киносъемки.На чертеже првведена схема...

Номер патента: 248326

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Белый, Всзсоюзна, Савкин, Свириденок, Тена

МПК: G01N 19/00

Метки: исследования, надмолекулярных, полимеров, превращений, структур

...тензометрического усвройства 5 и подвижной обоймы б, механизма нагружения образца, включающего плато 7, нагружающего устройства 8, оптически прозрачного индентора 9, выполненного в виде выходной линзы 10 апланатического конден. сора типа ПКмикроскопа МБИ, а также фотографической системы 11 микроскопа,Исследуемый образец 2 в виде тонкого полимерного слоя, нанесенного на прозрачное стекло, крепится на подвижной обойме 6 при помощи зажимного устройства 1. Подвижная обойма б свободно вращается на подшипниковой опоре, укрепленной на плато 7. Переме щение подвижной обоймы осуществляется припомощи привода 4 от электродвигателя 3. Набор шестеренок в .гитаре привода позволяет изменять в необходимых пределах ско рость перемещения обоймы. Усилие,...

Номер патента: 324561

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Кирюхин, Огрель, Хардин

МПК: G01N 1/28, G01N 21/01, G01N 33/44 ...

Метки: выявления, надмолекулярных, структур

...структур достигаскратковременного воздействия паизбираемым растворителем при тевысокоэластического состояния сщей фиксацией выявленной структутелем. Это позволяет,предотвратитьние аморфной части образца и надмных структур.П р и м е р, Выявлениеструктур в полиуретановом э иовс олигодиэтилснгликольадипипатя с вели чшой молекулярного веса 1200.Образец помещают в диоксап при диметплформамид при температуре 20 - 25 С и выдерживают в этой среде в течение 3 - 5 лпн. Растворитсли вызывают сильное набухание нсупо рядоченной части эластомера и незначительное набухание самих структур.После этоо образец переносят в воду и иыдсрживают и ней в течение 5 лин, а зятем извлекают и сушат ири температуре 20 - 25 С. В результате обработки осадителсм...

Номер патента: 384058

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 11/16

Метки: исследования, надмолекулярных, полимеров, превращений, структур

...устройство, общий вид.Устройство для исследования превращений надмолекулярных структур полимеров состоит из механизма крепления и перемещения образца, включающего оптически прозрачную подложку 1 для крепления ооразца 2, пружинный шарнир 3, тецзометрическое устройство 4 и электропривод 5 механизма нагружения,состоящего из,рычажной системы б, пружинной направляющей 7 и обоймы 8, в которой установлены непрозрачный индентор 9 и короткофокусная линза 10 оптимической системы, включающей осветитель 11, объектив 12 и конденсатор 13.Устройство плботает. Исследуемьш образец закрепляют на подложке и перемецают в горизонтальной плоскости на пружиннолт шартире относительно непрозрачного ицдентора, который установлен на плосковыпуклой линзе...

Номер патента: 647307

Опубликовано: 15.02.1979

Авторы: Макарова, Шадрин

МПК: C08F 6/00

Метки: антифрикационных, выявления, надмолекулярных, полимерах, структур

...изобретений и открытий 113035, Москва, )1-35, Раушская наб д.4/5Заказ 244/21 Ф:,лиан ППП Патент, г,ужгорбд,. Ул.проектная,.4 исследовать сложно, Но если покрыть тонким слоем красителя однородного по своему составу без включения и подсушить поверхность, то надмслекулярная структура любых размеров буде г видна в металлографическом микроскопе в отраженном свете и в светлом,и в темном поле, а также при косом освещении, Верхний слой материала нежелательно травить, так как травлением уберется картина разрушения этого слоя и будет выявлена подпонерхностцая структура с совершенно иной перестройкой структурных элементон, т,е. слой с иными свойствами, В следующих слоях надмолекулярная структура выявляется с" равливанпем в концентриронанной...