Способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 239639
Авторы: Белый, Отдел, Петроковец, Савкин, Свириденок
Текст
239639 Союз Сооотских Социалистических Республик(088.8) ПриоритетОпубликовано 18,1,1969, Бюллетень11Дата опубликования описания 11 Л 111.1969 Комитет по делам изобретений и открыти при Совете Мииистроо СССРАвторыизобретения В. А. Белый, А. И, Свириденок, В, Г, Савкин и М. И. Петроковец Отдел механики полимеров АН Белорусской ССРаявитель ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ДЕФОРМАЦИИ НАДМОЛЕКУЛЯРНЫХ СТРУКТУР ПОЛИМЕРОВпленку происходят определенные изменения надмолекулярных структур изучаемого обьекта. Эти изменения наблюдают и фиксируют на фотопленке и фотопластинках при помощи 5 оптической системы микроскопа и кино- илифогоаппарата 4. Задавая движение изучаемому объекту в горизонтальной плоскости с определенной скоростью при одновременном воздействии индентора, можно исследовать де формативность надмолекулярных структур,например, в процессе трения скольжения.Предлагаемый способ может найти применение в различных научно-исследовательских у чреждениях и заводских лабораториях при 15 исследовании деформативности надмолекулярных структур,в процессе контактного воздействия на них индентара заданной формы и будет способсгвовать более глубокому изучению физических процессов, происходящих в поли мерах,под дейсгвием внешних нагрузок. Способ можно использовать как экспресс-метод для оценки механических свойств покрытий. Способ оп надмолекуляр механическогоИзвестен способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров путем одноосного,растяжения пленочного образца с .последующим визуальным миироскопическим определением в проходящем поляризованном свете, искомой величины.Для усовершенствования известного способа и,повышения точности определения предлагается полимерную пленку наносить на оптичесии прозрачную подложку, а затем производить механическое воздействие с помощью оптически прозрачного инденгора. Изменение структуры во времени фиксируется с,помощью фото- и киносъемки.На чертеже првведена схема осуществления предлагаемого способа.Исследуемый образец 1 в виде тонкой пленки полимерного материала, нанесенной на оптически прозрачную подлоику (предметное стекло), устанавливают и закрепляют на столике микроскопа 2. На полимерную пленку, например, со стороны осветителя микроскопа, с Определенным усилием воздействуют оптически прозрачным индентором 3 заданной формы. Применение оптически прозрачного,индентора обеспечивает беспрепятственное прохождение светового потока от осветителя микроскопа и необходимое освещение исследуемого объекта поляризованным светом. В результате воздействия инденторл ча полимерную дмет изобретения ределения степени деформации ных структур полимеров путывоздействия на полимерную оследующим микроскопическим изменений структуры в проходяЗаказ Р 880,/4ЦНИИПИ Комитета Подписное овете Министров СССРТипография, пр. Сапунова, 2 щем поляризованном свете, отличающийся тсм, что, с целью усовершенствования способа и повышения точности определения, полимерную пленку наносят на оптически прозрачную подложку, механическое воздействие производят с помощью оптически прозрачного индентора и изменение структуры.во,времени фиксируют с помощью фото- и киносъемки,
СмотретьЗаявка
1216861
В. А. Белый, А. И. Свириденок, В. Г. Савкин, М. И. Петроковец, Отдел механики полимеров Белорусской ССР
МПК / Метки
МПК: G01L 1/24, G01N 21/21
Метки: деформации, надмолекулярных, полимеров, степени, структур
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-239639-sposob-opredeleniya-stepeni-deformacii-nadmolekulyarnykh-struktur-polimerov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров</a>
Способ изготовления препаратов для исследования структуры непрозрачных материалов, например металлов, в электронном микроскопе и приспособление к оптическому микроскопу для осуществления этого способа
Номер патента: 85111
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Шрайбер
МПК: G01N 1/28, G01N 21/01
Метки: исследования, металлов, микроскопе, микроскопу, например, непрозрачных, оптическому, препаратов, способа, структуры, электронном, этого
...видимому колечку, добиваются совмещения координатных отпечатков с крестом нитей и тем самым совмещают исследуемую структурную составляющую с оптической осью микроскопа.На корпусе объектива микроскопа имеется втулка 7 из оргстекла с отверстием под фронтальной линзой объектива и с плоской торцовой поверхностью. Торец втулки смазывается клеем, и тубус микроскопа осторожно опускается до касания с полистироловой пластинкой, которая приклеивается к втулке и может быть поднята при обратном движении тубуса.Затем на предметное стекло (фиг. 3) кладут объектдиафрагму 8 с отверстием в виде правильного круга диаметром 0,2 - 0,25 мм и центрируют это отверстие по кресту нитей, рассматривая диафрагму через полистироловую пластинку. Края диафрагмы...
Оптический способ измерения линейных размеров с помощью измерительного микроскопа
Номер патента: 233938
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Бухарев, Моначенков
МПК: G01B 11/04, G01B 11/22
Метки: измерительного, линейных, микроскопа, оптический, помощью, размеров
...в разрезе. ен измерительныи еталь с измеряемь ми м отОсуществляется предлагаемый схтикроскопе следующим образом,б н Известен опти нейных размеро микроскопа. Предлагаемый ся от известного длины сквозных формообразующ рах для искусст ось тубуса изм полагают под у верстия, измеря верстия, последо начала и конца окулярного мик деляют длину отспособ отличает- целью измерения например длины верстий в фильеокна, оптическую микроскопа расизмеряемого отобразующей отовмещая кромки с риской шкалы роскопа, и опре- формуле Изделие 1 с отверстие необходимо измерить, уста метный столик 2 микрос ось тубуса 4 которого со меряемого отверстия неко мер 30, и совмещают пос и конец отверстия с риск го микрометра 5.По показаниям шкалы винта б...
Способ определения степени пластической деформации при дробеструйной обработке
Номер патента: 1269390
Опубликовано: 20.01.2006
Метки: деформации, дробеструйной, обработке, пластической, степени
Способ определения степени пластической деформации при дробеструйной обработке, при котором наносят единичные отпечатки шариков на поверхность образца и измеряют диаметры отпечатков и шариков, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения степени пластической деформации поверхности, ее определяют по формуле где L - длина дуги отпечатка;d - диаметр отпечатка.
Способ выявления надмолекулярных структур в антифрикационных полимерах
Номер патента: 647307
Опубликовано: 15.02.1979
МПК: C08F 6/00
Метки: антифрикационных, выявления, надмолекулярных, полимерах, структур
...изобретений и открытий 113035, Москва, )1-35, Раушская наб д.4/5Заказ 244/21 Ф:,лиан ППП Патент, г,ужгорбд,. Ул.проектная,.4 исследовать сложно, Но если покрыть тонким слоем красителя однородного по своему составу без включения и подсушить поверхность, то надмслекулярная структура любых размеров буде г видна в металлографическом микроскопе в отраженном свете и в светлом,и в темном поле, а также при косом освещении, Верхний слой материала нежелательно травить, так как травлением уберется картина разрушения этого слоя и будет выявлена подпонерхностцая структура с совершенно иной перестройкой структурных элементон, т,е. слой с иными свойствами, В следующих слоях надмолекулярная структура выявляется с" равливанпем в концентриронанной...
Оптическое приспособление для отсчета деформаций в образцах
Номер патента: 40024
Опубликовано: 30.11.1934
Автор: Ковалев
МПК: G01B 21/32
Метки: деформаций, образцах, оптическое, отсчета
...об. разца.На чертеже фиг. 1 изображает взаимное положение сетки приспособления и образца; фиг. 2, 3 и 4 - отраженные от поверхности образца изображения сеток при различных по характерным признакам своим деформацияхего; фиг. 5 - схему по,применени 1 о предлагаем ого приспособления для определения дефор. рмации трубки.Приспособление состоит из экрана 1,ца котором нанесена или наклеена сетка , экран снабжен отверстием 2 для наблю, денпй за отражением сетки в поверхцо сти образца 3, в обойме 4.Для отражец в трубе, испытуемой на давлейпе плн растя;кение, предл- гается применять вместо сетки липецку5 (фпг. о) с отверстием 6 для визира.Располагая подвергаемый испыташпо образец параллельно и прямо противоположно экрану 1 с сеткой плп...
Предыдущий патент: Прибор для микроанализа аммиака
Следующий патент: Способ определения кадмия в воздухе
Случайный патент: Способ расточки отверстий