Патенты с меткой «415559»

Номер патента: 415559

Опубликовано: 15.02.1974

МПК: G01N 21/21, G01N 21/41

Метки: 415559

...10 -см. 10Предлагаемый способ позволяет повысить точность определения. Это достигается тем, что при измерениях свободную поверхность пленки вначале помещают в среду, оптически менее плотную, и производят измерение раз ности фаз между перпендикулярно и параллельно поляризованными компонентами отраженного от пленки света, а затем пленку помещают в среду, оптически более плотную.Способ осуществляют следующим образом. 20 Пленку приводят в оптический контакт с прозрачной средой; имеющей показатель преломления меньший, чем показатель преломления измеряемой пленки, и измеряют Л 1 - разность фаз между параллельной и перпенди кулярной составляющими отраженного света. Затем пленку приводят в оптический контакт с прозрачной средой, имеющей...