Устройство для автоматической наводки и фокусировки микроскопа при наблюдениях микроструктуры металлов и сплавов в процессе деформации с различными скоростями и нагревом в широком диапазоне температур в вакууме
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 147000
Авторы: Лозинский, Перцовский
Текст
,Ъ И 7 ООО Класс 421,. 15 а 2СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Подписная группа Ло 170М. Г. Лозинский и Н. 3, ПерцовскийУСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОЙ НАВОДКИ ИФОКУСИРОВКИ МИКРОСКОПА ПРИ НАБЛЮДЕНИЯХМИКРОСТРУКТУРЫ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ В ПРОЦЕССЕ ДЕФОРМАЦИИ С РАЗЛИЧНЫМИ СКОРОСТЯМИ И НАГРЕВОМ В ШИРОКОМ ДИАПАЗОНЕ ТЕМПЕРАТУР В ВАКУУМЕ ИЗАЩИТНЫХ СРЕДАХЗаявлено 29 декабря 1960 г. за М 691296/26-10 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллетене изобретений У. 9 за 1962 г.Известны устройства для наблюдения образцов под микроскопом под давлением и высокими температурами, содержащие герметическую камеру с электромагнитным устройством для фиксации в ней объекта исследования.Отличительной особенностью предлагаемого устройства является то, что на вход следящей системы включены датчики перемещения, один из которых регистрирует удлинение исследуемого образца, а другой - его прогиб при нагреве, Это позволяет сократить время воздействия испаряющихся с поверхности образца частиц, осаждающихся на смотровом стекле, и вести автоматическое наблюдение за одним и тем же участком поверхности исследуемого образца.На чертеже приведена принципиальная схема описываемого устройства. На поверхности изучаемого плоского металлического образца 1, наблюдаемой во время опыта, приготовлен металлографическнй шлиф. Образец 1, находящийся внутри рабочей камеры, образуемой корпусом 2 и крышкой д, укреплен в захватах 4 и 5, изготовленных из жаропрочного сплава. В шарнирах б и 7 размещены вкладыши, электрически изолирующие захваты 4 и б от корпуса 2. При помощи подвижного герметизирующего уплотнения (например, сильфона В) тяга 9, соединенная с механизмом нагружения (на чертеже не показан), может вызывать растяжение изучаемого образца.Нагрев образца 1 производится с помощью радиационного нагревателя 10 или путем теплового воздействия электрического тока низкого напряжения, пропускаемого через образец. Датчики 11 и 12, соединенУв 147000 ные с образцом 1 тягами 13 и 11 воздействуют на электрическую систему автоматической наводки и фокусировки микроскопа 1 о.Предложение может найти применение при исследовании металлов и сплавов в научно-исследовательских институтах и заводских лабораториях. Предмет изобретения Устройство для автоматической наводки и фокусировки микроскопа при наблюдении микроструктуры металлов и сплавов в процессе деформации с различными скоростями и нагревом в широком диапазоне температур в вакууме и защитных средах, со следящей системой и реверсивными электродвигателями, связанными с тубусом и кареткой микроскопа, о тл и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью сокрашения времени воздействия испаряющихся с поверхности образца частиц, осаждающихся на смотровом стекле, и автоматического наблюдения за одним и тем же участком поверхности исследуемого образца, на вход следящей системы включены датчики перемещения, один из кото"ых регистрирует удлинение исследуемого образца, а другой - его прогиб при нагреве. нианженив Составитель описния Артамоно едактор Р. Б. Кауфман Техред А. А. Кудрявицкая Корректор С, Ю. Цверин одп к печ, 12.Ъак. 5538ЦБТИ Комитет ФоРмат бУм. 70 Х 108 г/а Тираж 550 делам изобретений и открытий при Совет Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6, Объем 0,18 изд Цена 4 к инистров ССС
СмотретьЗаявка
691296, 29.12.1960
Перцовский Н. З, Лозинский М. Г
МПК / Метки
МПК: G01B 9/04, G01N 21/01, G02B 21/30
Метки: автоматической, вакууме, деформации, диапазоне, металлов, микроскопа, микроструктуры, наблюдениях, наводки, нагревом, процессе, различными, скоростями, сплавов, температур, фокусировки, широком
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-147000-ustrojjstvo-dlya-avtomaticheskojj-navodki-i-fokusirovki-mikroskopa-pri-nablyudeniyakh-mikrostruktury-metallov-i-splavov-v-processe-deformacii-s-razlichnymi-skorostyami-i-nagrevom-v.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для автоматической наводки и фокусировки микроскопа при наблюдениях микроструктуры металлов и сплавов в процессе деформации с различными скоростями и нагревом в широком диапазоне температур в вакууме</a>
Предыдущий патент: Способ измерения микроскопических объектов
Следующий патент: Способ установки выходной щели на спектральную линию
Случайный патент: Устройство для выглаживания поверхностей деталей