156316
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 156316
Текст
Класс б 026; 42 Ь, 14 Хо 156316 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Подписная груп 17 Торопин. К. Кая ТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МИ РАЗНОСТЕЙ ДЛИН ДВ ОСКОП ДЛЯ ИЗМЕРЕХ ШТРИХОВЫХ МЕР Заявлено 23 июля 1962 делам изобретений и открза 6 788 Оо 6 10тий при Совете Министров СССРтоварнсих знаков Ле 15 за 963 г. Комитет публиковано ялетене изобпетений т осветительную ь измерений раззатрлнена тем,змеряемые штриИзвестный фотоэлектрический микроскоп содержисистему, два оптических канала и вибратор. Но точностности длин двух штриховых мер этими микроскопамичто вибратор установлен в ходе лучей, освещающих иховые меры.Для получения точных измерений в предлагаемом фотоэлектрическом микроскопе зеркало вибратора установлено в ходе лучей, строящих изображение штрихов измеряемых мер. Благодаря этому производится сканирование не изображения нити лампы осветителя по поверхности измеряемых мер, а изображения самих штрихов измеряемых мер в плоскости щели,На чертеже представлена оптическая схема предлагаемого фотоэлектрического микроскопа.Изображение штрихов (на чертеже не показаны) измеряемых штриховых мер 1 и 2, освещаемых пучком лучей от источш 1 ка т, сформированным оптической системой 4, передается объектами 5 и призмами б и 7 через зеркало 8 вибратора (на чертеже не показан), которое колеблется с частотой 50 ги, в плоскость шелевой диафрагмы 9 Из-за колеоания зеркала виоратора изоораження штрихов сканнрмот в плоскости щелевой диафрагмы 9 и она освещается переменным световым потоком, отраженным от полированных поверхностей измеряемых штриховых мер. Оптическая система 10 передает указанный световой поток на фотоэлементы 11. Для визуального наблюдения измеряемых штриховых мер в предлагаемом микроскопе предусмотрен окуляр 1".156316 За время одного колебания зеркала вибратора (не показан) изображение штрихов измеряемых штриховых мер дважды проходит через щелевуюдиафрагму и при каждом таком прохождении в цепи фотоэлемента возникают электрические импульсы в каждом канале микроскопа, Если сравниваемые интервалы между штрихами измеряемых штриховых мер равны между собой и штрихи (на чертеже не обозначены) лежат в одной плоскости, параллельной плоскости щелевой диафрагмы, то импульсы в обоих каналах микроскопа будут совпадать по времени появления. Расхождение между штрихами вызовет соответствующее расхождение во времени появления импульсов фототока в обоих каналах, которое может быть измерено либо непосредственно с помощью эталонной частоты, либо с помощью компенсатора И. Предмет изобретен и я Фотоэлектрический микроскоп для измерения разностей длин двух штриховых мер по метцду продольного компарирования, содержащий осветительную систему; два оптических канала и вибратор, от л и ч а ющи й с я тем, что, с целью увеличения точности измерения, зеркало вибратора установлено в ходе лучей микроскопа, строящих изображение штрихов измеряемых мер. Составитель В. Д, Ванторинф. Старцева Текред Т. П, Курилко Корректор И. С. Дроздова едак",ор Поди. к печ. 22 У 111 - 63 г. факаз 2114/13ЦНИИ 11 И Государственного комиМосква, Ц рмат бум. 70 л, 108 ЧаТираж 660ета по делам изобретенинтр, пр. Серова, д, 4 Обьем 0,18 изд. л. Цена 4о открытий СССР
СмотретьЗаявка
788162
МПК / Метки
МПК: G01B 9/04
Метки: 156316
Опубликовано: 01.01.1963
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-156316-156316.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">156316</a>
Узел формирования изображения электронного микроскопа с возможностью изменения энергии электронов
Номер патента: 597030
Опубликовано: 05.03.1978
МПК: H01J 37/26
Метки: возможностью, изменения, изображения, микроскопа, узел, формирования, электронного, электронов, энергии
...образца 6, высоковольтный ввод 7, изолятор 8, электрод 9 и обмотку возбуждения 10.При подаче через ввод 7 высокого напряжения на башмак 2 между верхним торцом этого башмака и электродом 9 возникает тормозящее электроны электростатическое поле, которое используется для фокусировки освещаемого электронного пучка в плоскости образца. После прохождения через597030 Формула изобретения образец замедленные электроны ускоряютсяэлектростатическим полем, возникающим между торцами башмаков 2 и 3, до первоначальньх энергий, Это поле, совместно с локализованным в этом же зазоре магнитным полем используется как комбинированный объектив, формирующий первичное изображение образца,Узел дает возможность улучшить качество изображения за счет снижения...
Линзовый апохроматический объектив с плоской поверхностью изображения для микроскопа
Номер патента: 178136
Опубликовано: 01.01.1966
Авторы: Андреев, Грибанова, Ратг
МПК: G02B 21/02
Метки: апохроматический, изображения, линзовый, микроскопа, объектив, плоской, поверхностью
...значения коэффициентов средней дисперсиио .5 Первая фронтальная линза 1 представляетсобой плоско-выпуклую линзу, склеенную столстым меццсксм, причем для исправлениясферической аберрации высшего порядка, кривизны поверхности изображения, а такжеО уменьшения температурных напряжений присклейке, первая линза выполнена из стекламарки БК 8, а вторая из стекла СТК 9. Последующая часть объектива состоит из двухкомпонентов, разделенных воздушным промс 5 жутком, равным приблизительно пяти фокусным расстояниям всего объектива,Первый, сложный компонент включает двепростые флюоритовые линзы 7 и 12, образую.щие компоненты, между которыми заключеныО два склеенных компонента 19 и 20, склеенныхиз флюорита и свсрхтяжелого крона маркиСТК 9, Второй...
Ахроматический объектив с плоской поверхностью изображения для микроскопа
Номер патента: 263203
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G02B 11/20
Метки: ахроматический, изображения, микроскопа, объектив, плоской, поверхностью
...от вестных тем, что он снабжен установленны позади компенсатора двумя одиночными ложительными линзами,На чертеже представлена принципиальная оптическая схема предлагаемого объектива.Объектив состоит из пяти линз, ооразующих четыре компонента, сгруппированных в две группы положительных компонентов, первую из которых образуют ком,поненты / - у. Компонент / выполнен в виде мениска, обращенного вогнутостью к предмету, и служит компенсатором кривизны изображения. Комнен в виде ю к предме ночная дво компонент нент, склеен ельной 5 лие выпол нутость жит оди группу й компо положитпонент 2 такж ращенного во нентом 3 слу линза. Вторую положительны цательной 4 и изми поетен и я едмет изо Акр оматиче верхностью из держащий ме изображения,15...
Компаратор для измерения штриховых мер
Номер патента: 98120
Опубликовано: 01.01.1954
Автор: Бржезинский
МПК: G01B 11/02, G01B 9/08
Метки: компаратор, мер, штриховых
...1 тоРОБ с 1-(1 и,п И-И, Гочпо фик -СируЮТ ПОЛО)КС.НИЕ ц)лсСБОГО Г 1 Ирикя МСры Под ИКС)СКОГОМ. ПОССС ЭТОГО, перехецяя столик 17 с 1 21;цсБОЙ мерой, Бы авнив 210 Опт 11 сескуюДЛИЦУ ПУТИ ДВУХ П)ЧКОБ ДО ПОВБГс.И 51 1 ГОРфсРС":ИОННЫХ ПО.ОС )2 ВНОЦГолЦицы, причем черпая полоса, овля 0 цаяся при наличии полихромятическог 0 исочника светя, стмсчяется 011 осцтегьно п 1 калы ,"ет(и Окуляра наблюдательной трубы. 11 ослс з"с)гсх Гсрамеща 5 Микроскоп с зерКалам На ВЕЛИЧИНУ ряЗМСра З 2 ЛСГ 5. ДОСбивсц)тея а;аЛОГИЧПОГО ПОЛОКСния черной полосы отпоситсл,о и;калы пабсподятел,пой трубы, причемв интерференцию вступают лучи, отри)ксчшыс от лоскости Б пластины,ПРИТЕ)Этой КО ВТСРОЙ Г 15 ОСКОСИ КОНСВОЙ )АСРЪ, )-С)и сРи ЗТО) ОПТИЧЕокая Ось микроскопя 22...
Компаратор для аттестации штриховых мер
Номер патента: 221311
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Авдулов, Владзиевский, Залькинд, Карпов, Кошлев, Махров, Нечецкий, Никитин
МПК: G01B 9/04
Метки: аттестации, компаратор, мер, штриховых
...следующим образом. Световой луч от лампы 19 конденсатором 20 направляется на диафрагму 21. Световая полоса, вырезанная диафрагмой, проектируется объективом 22 на поверхность шкалы. На пути светового луча находится плоскопараллельная стеклянная пластинка 13 с обмоткой 12, находящейся в поле постоянного магнита 23. По обмотке течет переменный ток, вызывающий вибрацию пластинки и сканирование изображения щели диафрагмы на поверхности шкалы. Световой луч, отраженный от поверхности шкалы, при помощи призмы 24 направляется на фотоприемник 25. При периодическом прохождении светового луча через штрих 26 на шкале (вследствие затемнения луча на фотоприемнике) возникают импульсы тока.Время 1, и 1., между импульсами равно лишь в том случае,...