Способ измерения деформаций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 195689
Авторы: Всесоюзный, Носков, Шейнин
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сова Советокив Социалистическив РеспубликЗависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 08.17,1966 ( 1067182/25-28)с присоединением заявкиКл. 421, 45/О 6 011 Комитет по деламобретений и аткрытии Совете МинистровСССР иоритет УДК 531,781,2:531.717.5 (088,8) Опубликовано 04 Л.19 Бюллетеньата опубликования описания 24,И.19 Авторыизобрстешаявител СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМ 2 Известный способ измерения малых деформаций заключается в использовании интерференционной картины, полученной в результате смещения двух лучей монохроматического света от одного источника - прямого луча и луча, отраженного от зеркала, закрепленного на исследуемом объекте.При осуществлештп этого способа измерения требуются громоздкая оптическая система и жесткие опоры для уменьшения вибрационных погрешностей; дистанционные измерения деформаций невозможны; измерение динамических деформаций возможно лишь при синусоидальном их характере.Предлагаемый способ состоит в том, что световой поток от монохроматического источника, направляют по двум счетоводам, например стеклянным волокнам, из оптически чувствительного материала, например полимер. ных смол, Один световод на измерительной базе жестко связан с контролируемым ооъектом, а второй имеет с объектом тепловой контакт. На выходе световодов потоки лучей соединяют в один и измеряют его интенсивность, по которой определя 1 от величину деформации жестко закрепленного участка световода, а следовательно, и деформацию исследуемоготела.Благодаря этому повышается точность измерения деформации. Для исключения температурных погрешностей измерения оба световода ставят в одинаковые тепловые условия, например располагают рядом,Способ поясняется чертежом,Световой поток от монохроматического источника света 1 направляют по двум световодам 2 и 3, Световод 3 жестко связан с контролируемым изделием 4 на участке 5, где измеряют деформацию. Вышедшие потоки лучей из световодов фокусируются объективом 6. По изменению интенсивности потока лучей судят о величине деформации исследуемого тела.Перед началом измерений взаимное расположение выходных концов световодов относительно объектива подбирают таким образом, чтобы в фокусе объектива световые волны были, например, в противофазе, т, е, разность хода лучей по обоим световодам равна нечетному числу полуволн.При деформации исследуемого образца, например, в результате приложения силы, световод 3 на закрепленном участке удлиняется, фазовые соотношения световых волн на входе фотоустройства изменяются, суммарная амплитуда будет отличаться от нулевого значения,Измерения, проводимые описываемым спобом, позволяют определить деформацию поыоалова Тираж 535 ага изобретений и открытий п Москва, Центр, пр. Серова д. Заказ 193,8ЦНИИ,И Комитета пс ПодписСовете Министров СС Типография, пр. Сапунова рядка 0,01 длины волны использованного света, Кроме того, витим, способом можно измерять деформации в различных условиях, в том числе мноМточечные, и дистанционные, и с помощью щФщ 1 ных устройств. П р е.д Фе т. и 3 о б р е т е н и яСпособ измерения деформаций, основанный на использовании интерференции монохроматического света, разделенного на два луча,от,гичаюгдийся тем, что, с целью повышения точности измерения, световой поток направляют в два световода из оптически чувствительного материала, один из которых иа измерительной базе жестко связан с контролируемым объектом, а второй имеет с объектом тепловой контакт, и соединяют выходящие из световодов лучи в общий световой поток, по интенсивности которого определяют величину из меряемой деформации,
СмотретьЗаявка
1067182
И. С. Шейнин, Л. Д. Носков, Всесоюзный научно исследовательский институт гидротехники Б. Е. Веденеева
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций
Опубликовано: 01.01.1967
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-195689-sposob-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения деформаций</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения деформаций
Следующий патент: Способ получения упруго-пластического оптически чувствительного материала
Случайный патент: Устройство для производства гранулированного шлака