Шнырёв

Номер патента: 190046

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Вишневецкий, Шнырёв

МПК: G01B 11/16, G02B 27/32

Метки: деформаций

...проектирующими рабочие кромки шторок параллельно направлению полос эталонных решеток. Благодаря этому обеспечивается повышение точности измерения. фиг, 1 изображена схема устройства;. 2 - шторки,ойство содержит источник 1 ультратовых лучей, парные шторки 2, 3, укрепна измерительной базе 4 посредстржателей б, изготовленных из этого жеала, что и исследуемый образец б,ю диафрагму 7, приемник 8 излученияичный измерительный регистрирующий(на чертеже не показан). Рубиновый термостойкпй оптический элемент 9 с коллпмацнонпо-отражательным рпфлением установлен на середине измерительной базы на деформируемой поверхности.5 Оптические эталонные решетки 10, 11 и вогнутые зеркала 12, И проектируют рабочискромки шторок параллельно направлению полос...