Способ определения деформаций объекта

Номер патента: 1161820

Автор: Манза

ZIP архив

Текст

(5) С 01 В ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ ИЗОБРЕТЕНИ ТЕЛЬСТ й ордена Трудо- и государствен-летия восРоссией 8) видетельст В 11/16,Ушаков Б. и напряже ос. М., "М 33 (прот(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ОБЪЕКТА методом муара, заключающийся в том, что на поверхность,обьекта наносят первый растр, Фиксируют 5 ОПИСАНИ АВТОРСКОМУ(71) Днепропетровсного Красного Знамный университет имсоединения Украины(56) 1.Авторское сВ 777409, кл. С 012.Сухарев И.П.,дование деформацийтодом муаровых полстроение", 1969, с его изображение на фотопластинке,деформируют объект, вновь фиксируютдеформированный растр на той же Фотопластинке, анализируют полученнуюкартину муаровых полос и определяютдеформации объекта, о т л и ч а ю -щ и й с я тем, что, с целью повышения точности путем улучшения контрастности изображения, на поверхность первого растра наносят второйрастр, выполненный из полосок прозрачного материала с чувствительнымидобавками, при этом линии второгорастра перпендикулярны линиям первого растра, до и после деформацииобъекта. Фиксируют второй растр надругой фотопластинке и при фиксациивторого растра освещают объект источником излучения, вызывающим свечение чувствительных добавок.1 16Изобретение относится к измерени. ям деформаций твердых тел оптическими методами.Известен способ определения деформаций объекта, заключающийся в том, что изображения эталонной сетки в процессе ее деформацйи регистрируются через светофильтры .различного цвета на цветочувствительньй материал Ц.Этот способ позволяет разделить изображения недеформированной и деФормированной сеток, по которым определяются деформации объекта, однако он предполагает использование цвето- чувствительного материала, что усложняет и удорожает эксперимент.Наиболее близким к изобретению является способ определения деформаций объекта методом муара, заключающийся в том, что на поверхность объекта наносят первый растр, Фиксируют его изображение на фотопластинке, деФормируют объект, вновь фиксируют деФормированный растр на той же Фотопластинке, анализируют полученную картину муаровых полос и определяют деформации объекта. В этом способе растр представляет собой систему ортогональных сеток 23 .Однако при реализации известного способа картины муаровых полос, соот-ЗО ветствующие различным сеткам, Получаются наложенными одна на другую и слабоконтрастными, что затрудняет их обработку и приводит к снижению точности получаемых результатов, 35Цель изобретения - повьппение точности путем улучшения контрастности изображения.Указанная цель достигается тем, что согласно способу определения де- ф Формаций объекта методом муара, заключающемуся в том, что на поверх- ность объекта наносят первый растр, Фиксируют его изображение на Фотопластинке, деформируют объект, вновь Фиксируют деформированный растр на той же Фотопластинке, анализируют полученную картину муаровых полос и определяют деформации объекта, на поверхность первого растра наносят вто-зО рой растр, выполненный из полосок прозрачного матерйала с чувствительными добавками, при этом линии второго растра перпендикулярны линиям первого растра, до и после деформации зз 1820 г,объекта фиксируют второй растр на другой фотопластинке и при фиксациивторого растра освещают объект источником излучения, вызывающим свечениесветочувствительных добавок,При этом второй растр может бытьвыполнен нэ прозрачного материала,содержащего люминофор, а соответствующую картину муаровых полос получают при облучении растра источникомультрафиолетового облучения.На чертеже приведена схема, иллюстрирующая реализацию способа.Схема содержит фотокамеры 1 и 2, первый растр 3, второй растр 4, источник 5 белого света, источник 6 ультрафиолетового излучения и объект7 измерения деформации, Способ осуществляется следующимобразом. На поверхность объекта 7 измерениянаносятся первый растр 3, представляющий собой систему чередующихся светлых и темных линий, и второй растр 4,состоящий из полосок прозрачного материала, содержащего люминофор. В не- деформированном состоянии объекта при выключенном источнике 6 ультрафиолетового излучения и включенном источнике 5 белого света первый растр 3 фотографируется фотокамерой 1, затем при выключенном источнике 5 белого света и включенном источнике 6 второй растр 4 фотографируется Фотокамерой 2. После деформации объекта 7 растр повторно фотографируется на те же негативы фотокамерой 1 при освеще-нии источником 5 и фотокамерой 2 при освещении источником 6.В результате наложения изображений недеформированного и деформированного растров на негативах фотокамер 1 и 2 образуются две раздельные картины муаровых полдс, содержащие информацию о перемещениях точек объекта вдвух ортогональныхнаправлениях.Использование предлагаемого способа позволяет повысить точность измерений, так как устраняется неоднозначность при определении принадлежности каждой муаровой полосы одному из двух семейств муаровых полос, а также увеличивается точность определения середин муаровых полос за счет увеличения контрастности раздельно получаемых картин полос из муара.. ЗИИщщ Заказ 3957/44 1 ираж 651 Подписноеиаиал щй Патеат , г.Ужгород, ул.Проектиая, 4

Смотреть

Заявка

3683462, 02.01.1984

ДНЕПРОПЕТРОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. 300-ЛЕТИЯ ВОССОЕДИНЕНИЯ УКРАИНЫ С РОССИЕЙ

МАНЗА ВИКТОР ПЕТРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объекта

Опубликовано: 15.06.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1161820-sposob-opredeleniya-deformacijj-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций объекта</a>

Похожие патенты