Способ определения деформаций цилиндрических оболочек
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1196687
Автор: Деревщиков
Текст
(39) И 1) 1 В 11 16 ГОСпо д ЗОБР ТЕЛЬСТ У е роАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР и изоБ етений и отнРытий ОПИСАНИЕН АВТОРСКОМУ СВИД(71) Истринское отделение Всесоюзного электротехнического института им, В.И.Ленина(56) Журнал технической физики.1970, вып.2, с,360-371.Авторское. свидетельство .СССР У 697808, кл. С 01 В 11/16, .1976, . (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ОБОЛОЧЕК, заключающийся .в том, что освещают внутреннюю полость оболочки с одного торца параллельным пучком света кольцефвого сечения от точечного источника и на другом торце оболочки регистриеличину светового потока ш дшего через ограничивающую диафрагму, установленную в фокальной полости собирающего объектива, деформируют оболочку вновь регистрируютвеличину светового потока и по изменению величины светового потока впроцессе деформирования определяютдеформацию оболочки, о т л и ч а ю -щ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения при больших скоростях деформирования, внутреннюю полость оболочки герметиэируют и вакуумируют до величины давлениявнутри оболочки, при котором длина .свободного пробега молекул газа превышает величину. максимального ожидаемого радиального перемещения оболочки при деформировании.Изобретение относится к исследованию деформаЦий в конструкциях оптическими методами.Цель изобретения - повышение точности определения деформаций при боль-,5ших скоростях деформирования оболочек.На чертеже показана схема устройства, реализующего предлагаемый способ, 10Устройство содержит внутреннююполость оболочки 1, резиновые прокладки 2 - 5, оптические прозрачныепластины 6 - 8, точечный источник 9света, коллиматор 10, кольцевую диафрагму 11, собирающий объектив 12,круглую диафрагму 13, окуляр 14, фотоумножитель 15, индуктор 16, втулку 17,Изобретение осуществляется следующим образом.Внутренняя полость цилиндрической оболочки 1 с помощью резиновыхпрокладок 2-5 и оптически прозрачныхпластин 6-8, одна из которых (7) имеет отверстие, герметизируют и вакуумируют до величины давления внутриоболочки 1, при котором длина свободного пробега молекул газа превышает величину максимального ожидаемого радиального перемещения оболочки 1 при деформировании, Практически достаточно создать давление примерно 10 - мм рт.ст. Освещают внутреннюю полость цилиндрической оболочки 1 с одного торца параллельным пучком света кольцевого сечения, полученного пропусканием света от точечного источника 9, через коллиматор 10 и кольцевую ограничивающую диафрагму 11, и регистрируют величину, светового потока на другом торце облочки 1, прошедшего через собирающий объектив 12, круглую диафрагму 13, установленную в фокальной полости объектива 12, окуляр 14 на фотоумножитель 15. Деформируют оболочку 1 с помощью индуктора 16 с втулкой 17, и по изменению величины светового, потока в процессе деформирования, которое вызывает изменение тока фотоумножителя 15, определяют деформацию оболочки 1.Предлагаемое изобретение позволяет исключить влияние на результаты измерений рефракционных искажений при больших скоростях перемещения стенки ободочки значительно повысить точность измерений и надежность получаемых результатов."Пате г.ужгород, ул.Проектная, 4 илиад едактор Л.Зайцев Тираж 650КИПИ Государственногопо делам изобретенийМосква, Ж, Раушс комитета СССРоткрытийая наб., д.4/5 рректор С.ЧЕрни
СмотретьЗаявка
3727688, 16.04.1984
ИСТРИНСКОЕ ОТДЕЛЕНИЕ ВСЕСОЮЗНОГО ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКОГО ИНСТИТУТА ИМ. В. И. ЛЕНИНА
ДЕРЕВЩИКОВ ВИТАЛИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, оболочек, цилиндрических
Опубликовано: 07.12.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1196687-sposob-opredeleniya-deformacijj-cilindricheskikh-obolochek.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций цилиндрических оболочек</a>
Способ измерения световых характеристик источников света
Номер патента: 864019
Опубликовано: 15.09.1981
Автор: Буняев
МПК: G01J 1/18
Метки: источников, света, световых, характеристик
...рабочими характеристиками.Задатчик-поогнозиметр реализуется, например, в виде стабилизаторас изменяемым выходным напряжениемот переменного резистора,Светоприемные элементы выбираются.с высокой чувствительностью к пня"мым лучам и малой к отраженным. Этимобеспечивается высокая точностьизмерений при диагностировании и прогнозировании светораспределения испытуемых источников света по световымхарактеоистикам.Нормированный световой поток поямых (параллельных)лучей, сфоомиоованный рассеивающей оптической системойи ослабленный светофильтром, проецируется в координатах на матрицу светоприемных элементов с автоматическойФиксацией центоа светового пятна.Преобразование оптической информациисветопоиемными элементами в электрическую...
Приспособление к фотометру для непосредственного отсчета световых характеристик источников света
Номер патента: 47832
Опубликовано: 31.07.1936
МПК: G01J 1/44
Метки: источников, непосредственного, отсчета, света, световых, фотометру, характеристик
...истинной световой отдаче испытуемой лампы,Таким образом, второй метод исполь. зования предлагаемого приспособления дает возможность получать непосредственный отсчет световой отдачи по прибору 4 и мощности - по прибору 5.Сопротивление б на фиг. 1 включено для ограничения силы тока через потенциометр 1; 7 - приципиально изображенный кубик Люммера и Бродхуна и 8 - каретка фотометра Вебера,На фиг. 2 показан второй вариант предлагаемого устройства. Здесь: 1 - потенциометр, движок которого сцеплен с кареткой фотометра, как и у потенциометра 1 на фиг. 1; 2 - сопротивление, последовательно включенное в цепь фотометрируемой лампы; 3 - трансформа тор, имеющий три обмотки; 4 - вольтметр; 5 - купрокс к нему,Схема работы приспособления в...
Способ регистрации локального светового потока на световом фоне
Номер патента: 550537
Опубликовано: 15.03.1977
Авторы: Замора, Маринец, Осыка
МПК: G01J 1/42
Метки: локального, потока, регистрации, светового, световом, фоне
...Рд, Для всех других значений потоков, меньших Р, (например, Рь Р 9., Р), рабочая точка на характеристиках ФЭУ перемещается по прямой 1, обеспечивая постоянство выходного сигнала.Таким образом, по известному способу нельзя поддерживать максимально-возможный коэффициент усиления ФЭУ для каждого значения суммарного потока, что является существенным недостатком при регистрации локального светового потока на фоне интенсивного пространственного шума, изменяющемся в большом диапазоне (порядка 40 - 60 дБ), так как при этом величина и качество информационного сигнала являются значительно меньшими по сравнению с максимально возможным. Чем меньше величина потока (Р(Р,( (Р,(Р), тем больше разность между реализуемым по известному способу...
Способ монтажа эластичных диафрагм в полостях мембранных устройств
Номер патента: 217162
Опубликовано: 20.04.2006
Авторы: Блейз, Взоров, Вишняков, Карасик, Кащенко, Крицын, Панфилов, Переплетчиков
МПК: F16K 99/00
Метки: диафрагм, мембранных, монтажа, полостях, устройств, эластичных
Способ монтажа эластичных диафрагм в полостях мембранных устройств, основанный на предварительном нагружении эластичной мембраны, отличающийся тем, что, с целью повышения работоспособности устройства, диафрагму нагружают сжатым газом, давление которого в процессе монтажа увеличивают до рабочего, после чего объект монтажа закрепляют в заданном положении.
Фотоэлектрический прибор для измерения площади кож и тому подобных материалов
Номер патента: 82585
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Гапанович
МПК: G01B 11/28
Метки: кож, площади, подобных, прибор, тому, фотоэлектрический
...2 расположены два матовых стекла 8 и 4, между которыми помещена измеряемая кожа или иные материалы 5. Световой поток, проходя через не затемненные материалом 5 участки молочного стекла, а затем через диафрагму б и светофильтр 7, попадают на основной фотоэлемент 8, возбуждая в последнем фото- токи. Противотактно основному фотоэлементу 8 включен компенсационный фотоэлемент, освещаемый от вспомогательного источника света 10, перед которым, с целью отсчета величины площади измеряемой кожи в момент компенсации, установлена диафрагма 11 с поводком 12. Поводок 12 перемещается по шкале 18, отградуированной в единицах площади по образцам-эталонам. Светофильтр 14 предназначен для смягчения светового потока. Параллельно фотоэлементам 8 и 9...
Предыдущий патент: Система компенсации угловых смещений объекта для двухлучевых интерференционных измерителей перемещений
Следующий патент: Способ контроля качества поверхностей оптических деталей
Случайный патент: Непрерывный способ получения полиамидов