Устройство для измерения остаточной деформации
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1226047
Авторы: Грушко, Лаврентьев
Текст
(51) 4 С 01 В 11/1 ИЯ САН ЕТ ЕЛЬСТ ВТОРСКОМУ СВ(54) УСТРОЙСТВ ТОЧНОЙ ДЕФОРМА (57) Изобретен испытаний мате использовано дл РЕНИЯ ОСТАДЛЯ ИЗМЕИИе относииалов ия исследьности м я к областжет быть вания темпетериалов при атурнои ста ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР О ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ(71) Физико-технический институт низ ких температур АН УССР(56) Авторское свидетельство СССР808837, кл. С 01 В 11/16, 1979,.Биргер И.А. Остаточные напряжения. - М.: Машгиэ, 1963, с. 75. циклическом воздействии температуры. Цель изобретения - повышение точности измерений. Устройство содержит измерительный микроскоп со столиком и промежуточную съемную подложку из ситалла с малым коэффициентом линейного расширения. Подложка выполнена П-образной формы с двумя выступами на концах, к которым при испытаниях крепятся концы исследуемых образцов, Наблюдая в микроскоп за изменением зазора между смежными концами двух образцов, получают данные о величине оста-, точной деформациипосле каждого температурного цикла. Устройство упрощает эксперимент и повышает точность из- Е мерений благодаря стабильности базы отсчета. 1 ил..Тимошенало Корректор Л,Пилипенко едактор Е.Пап каэ 2110/2 Тираж 610 НИИПИ Государственного по делам иэобретени 13035, Москва, Ж, Рписное омитета СССРи открытийшская наб.,4/ венко-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул.Проектная,.Произв Изобретение относится к испытаниям материалов и может быть использовано для исследования стабильности линейных размеров материалов после нескольких циклов воздействия температуры.Цель изобретения - повышение точности измерения при многократной смене температур на образце.Достигается эта цель путем обеспечения стабильной базы отсчета линейных размеров измерительным микроскопомНа чертеже представлено устройство с установленными в нем образцами, общий вид.Устройство для измерения остаточной деформации содержит измерительный микроскоп с предметным столиком не показан) ифпромежуточную съемную подложку 1 П-образной формы из ситалла с двумя выступами 2 и 3 на концах. К этим выступам в процессе испытаний закрепляют исследуемые образцы 4 и 5.Устройство работает следующим образом.Перед началом испытаний на промежуточную съемную подложку 1, выполненную из ситалла с малым коэффициентом линейного расширения, укладывают два исследуемых плоских образца 4 и 5 с зазором "а" между их свободными концами, равным 10-20 мкм. Концы образцов 4 и 5, обращенные к выступам 2 и 3, закрепляют связующим. Затем подложку 1 с образцами4 и 5 устанавливают на столик измерительного микроскопа и измеряютвеличину зазора. В дальнейшем подложку 1 с образцами 4 и 5 подвергаютнагреву и охлаждению в соответствиисзаданным режимом испытаний. Послекаждого цикла возвращают подложку 1на столик микроскопа и повторяют из мерения зазора. По этим данным определяют остаточную деформацию образцов после каждого цикла температурных испытаний Использование предлагаемого устройства позволяет повысить точность и упростить эксперимент, а также обработку результатов эксперимента. Ф о р м у л а изобретения Устройство для измерения остаточной деформации, содержащее измерительный микроскоп с предметным столиком для размещения образца, о т -л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измеренияпри многократной смене температурна образце, оно снабжено промежуточной съемной подложкой П-образной формы с двумя выступами на концах, выполненной иэ ситалла и предназначенной для размещения одновременно двухобразцов с закреплением одного конца каждого образца к соответствующему выступу подложки.
СмотретьЗаявка
3765725, 28.06.1984
ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУР АН УССР
ГРУШКО ВИТАЛИЙ ИННОКЕНТЬЕВИЧ, ЛАВРЕНТЬЕВ ФЛОР ФЛОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформации, остаточной
Опубликовано: 23.04.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1226047-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-ostatochnojj-deformacii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения остаточной деформации</a>
Предыдущий патент: Способ изготовления фотоупругого тензодатчика
Следующий патент: Устройство для измерения внутренних напряжений в тонких пленках
Случайный патент: Клапан с пневмо-гидроприводом