Способ определения деформации поверхности образца

Номер патента: 1250954

Опубликовано: 15.08.1986

Авторы: Лагутин, Лапыгин, Шкатов, Якубович

МПК: G01M 10/00, G01P 5/00

Метки: визуализации, картины, модели, поверхности, течения

...этом объема камеры 17. Поршень 13 выполнен большей площади, чем .поршень 5. Они образуют мультипликатор давления, что позволяет получить заданное управляющее усилие для вытеснения визуализирующего состава из камеры 4 при использовании рабочего давления невысокой величины (например, из магистрали технологического воздуха).Нагревательные элементы 6 и 7, электроды 9 и 10 и электропневмоклацан 15 подключены к источнику питания посредством электрических цепей - пинии связи 19 к блоку 20 управления, осуществляющему коммутацию включения элементов 6 или 7 (возможна и их совместная работа), формирование команд на включение электропневмоклапана и выключение нагревателей при замыкании цепи между электродами 9 и 10. Емкость 3 выполнена в виде...

Номер патента: 771462

Опубликовано: 15.10.1980

Авторы: Денисов, Некит

МПК: G01B 9/08

Метки: неплоскостности, полосы, прокатываемой, растр

...растра;с 1 ф-большая ось эллипса;дтп - малая ось эллипса;А -угол между малой осью эллипса и нормалью к плоскости 5 растра.На фиг. 1 представлен растр для контроля неплоскостности прокатываемой полосы; на фиг. 2-схема расположения растра.Растр состоит из рамки 1, на боковыхсторонах которой крепятся гребенки 2, между зубьями которой натянуты нити 3, имеющие в поперечном сечении форму эллипса,малая ось которого совпадает с направлением освещения растра.Контроль величины неплоскостности производят следующим образом.Растра устанавливают под острым угломк оси проката и освещают под углом с( источником 4 света.Интерференция растра и его теневогоизображения на поверхности 5 прокатывае мой полосы дает муаровую картину.фкисирование муаровой...

Номер патента: 625791

Опубликовано: 30.09.1978

Авторы: Денисов, Некит, Тулупов

МПК: B21B 38/02, G01B 9/08

Метки: неплоскостности, полосы, прокатываемой, растр

...нитей должен быть равен половине расстояния между зубьями гребенки. Сетка допустимой неплоскостности 3 наносится В ре.м;тате ОкрашиВання пеко торых нцтеи растра в контрастный цвет.Расстояние между окрашсннымн нитями определяется по формулеВ=еиФормула представляет собой зависимость между искривлением (всплеском) муаровой полосы в месте дефекта и величиной прогиба поверхности. Допустимая 25 В;.,Винна прогиба поверхности оговарив а ется ГС СТО. ,контроль величшы неплоскостности производят следующим образом.Растр устанавливают под углом Р к оси 30 прокатки полосы и освещают источникомСоставитель С. РокотянТскрсд Н. Рыбкина Корректор И, Позняковская Редактор Г. Яковлева Заказ 1634,9 Изд ,ъ 023 Тирак 1045 1-1 ПО Государственного...

Номер патента: 97370

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Саркин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: исследуемой, методом, образцом, поверхности, сравнения, чистоты

...не отличит поверхность более низкого класса от поверхноспи более высокого класса.Сущность изобретения состоит в том, что предлагается сопоставлять не сами поверхности, а изображения интерференционных картин сравниваемых поверхностей.На фиг. 1 дана схема прибора для осуществления предлагаемого способа определения чистоты поверхно"ти; на фиг. 2 в по зрения окуляра.Две одинаковые микроинтерференционные системы Линника образуют на поверхностях образца а и контролируемой детали б интерференцианные картины, изображения которых сводятся через систему призм в поде зрения окуляра.Сопоставляемые детали - а - образец чистоты и б - подлежащая кантролю деталь - устанавливаются в приборе, состоящем из источников света в, эталонных зер 1 кал г,...

Номер патента: 563563

Опубликовано: 30.06.1977

Авторы: Тагиев, Якубов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, плоских, поверхности

...замыкающую электрод с растром на детали,15 На чертеже изображено предложенное устройство.Устройство содержит блок осветителя, выполненный в виде люмпнесцентного преобразователя, включающего стеклянную подлож у 1, на которую последовательно нанесеныпрозрачный электрод 2, люминесцентный слой 3 и защитная диэлектрическая пленка 4. Диэлектрическая пленка 4 находится в гальваническом контакте с растром исследуемой де тали 5, Люминесцентный преобразовательвключает также электрическую цепь 6 с источником переменного тока, замыкающую электрод 2 с растром детали 5. Картину поля деформаций исследуемой детали наблюдают 30 с помощью блока регистрации, включающегоКорректор А, Степанова Редактор Л, Чепайкина Заказ 1622/12 Изд,570 Тираж 907 Подписное...