Способ определения деформаций поверхности объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
35 УДАРСТВЕЙНЫЙ КОМИТЕТ ЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И(54) (57) СНОСОВ (",Щрщрщрщщ ЕФОРМАНИЙ ЙОВБРЖНОСТВ ОВЪНКф, ттт 3 а аРРуют цвухэсао 66 й 3 иойиук ФВМЪфмМекта, фисдуют. мэоо ажение, оарещаавг иойфест ивтефее, .нционных аоцос, до ещуойу оеРеаэцефориапии, о. т и: и ч а в ж.й 3 Ьа тем, что, с иенце асеииюаЮ ФЖ;ВвиаЪ МВ 4 ниФЫуют на рваазных расстааав еи олограммы:, обынва,: и иамераот обасть . локалиааще инйрферееивойных,(:21) 3402293/25-28(71) Московский орцена Октябрьской . рРеволюции и орцена .: Труцового Крао- ре. ного Знамени институт стали и спла- ляютвов .с1 1Изобретение относится к измерениям деформаций поверхностей деталей с по мощью голографической интерферометрии.Известен способ опрецеления 4 ефор маций поверхности объекта, заключаю шийся в той, что регистрируют цэук экспозиционнуй голограмму объекта, восстанавливают голограмму, получают . интерферограмйу, по которой опрецелиют перемещения точек поверхности объев. та и расстояние от голограммы цо ли нии полной локализации интерференцион ных полос по которым опрецелают цеормации 1 1.Нецостатком этого способа являет ся то, что в нем необкоцнмо экатери ментально определять линии полной локализации, что связано с большой погрешностью. Кроме того, требуется предварительная информация о попе перемещений точек поверхности обьек та.Наиболее близким к изобретению но технической сущности является способ определения цеформапии поверхности объекта, заключающийся в том, что ре гистрирукт цвухэкспозиционную гологр му объекта, однократно фиксируют вос становленное изображение, определяют контраст интерференциониых по лос при различной ширине вхоцной шьли регистрирующей системы, по кото рому определяют цеформации 2.Нецостатком этого способа является необкоцимость. прецезнонных измерений ширины входной шепи, что усложняет прове цение эксперимента. Кроме того, возможность опрецеления цеформаций лишь при найичии цостаточио большого числа интерференционных полос не меньшего числа исслецуемых точек на по верхности объекта; что не позволяет получить высокую точность измерений,Цепь изобретении - повышение точ ности определения цеформаций.Поставленная цепь цостигаегся тем, что согласно способу опрецепения це формаай поверхности обьекта, заключающемуся в том, что регистрируют цвукэкспознционную голограмму обьев та, фиксируют восстановленное иэобра жение, опрецепяют контраст интерферен ционных полос, по которому опрецепают деформации, восстановленное изображение фиксируют на раэличнык расстояниях от голограммы обьекта,и измериют область покализащи интерференаонных полос.На фиг. 1 изображена оптическая схема регистрации цвухэкспоэиционной 033859 ггопограммы 1 на фиг. 2 - схема фиксации восстановленного изображения.Скема регистрации цвухэкспозиционной голограммы соцержит светоцепитепь 1,первый микрообъектяв 2, обьект 3, пеь,ввую линзу 4, первое зеркало 5,. второезеркало 6, второй микрообъектйв 7,вторую линзу 8 и фотопластинку 9, Схема фиксации восстановленного иэображещ ния соцержнт голограмму 10, регистрирующую систему 11, и восстанавливак- щий лазерный пучок 12.Способ осуществляетси слецуюшимобразом.С применением оптической схемы(фиг, 1) регистрируют цвухэкснознционную голограмму объекта. Затем изображение с голограммы 10 восстанавливаютпосредством ее освещения лазерным йуч, ком 12 (фиг, 2), Это восстановленное иэображение фиксируют, например, по оптичеокой схеме (фиг. 2) с помощью регистрирующей системы. 11 на различных расстояниях от голограммы 10 объекта. Изд 5 меряют область локализации интерферен щвнных полос и отмечая положения от ам голограммы 10 цо регистрирующей сиотемы 11, при которых контраст полосравен нулю по всему восстановленномузО изображению (ноложение 1, фиг. 2) иконтраст полос отличен от нуля по всему восстановленному иэображению (псьпожение ,фнг. 2), опрецеляют цеформащпо по формуле35 С 3 1Е=ЛО 2гце Ъ - цпина волны излучения лазера- расстояние от первой гинэы 4цо фотопластинки 9;Эо - диаметр первой линзы 4,с " размер восстанавливающеголазерного пучка:- расстояние от голограммы1цо регистрирующей системы,на котором контраст полосравен нулю по всему восстановпенному изображению:5 О6 - расстояние от голограммыцо регистрирующей системы,на котором контраст полосотличен от нуля по всему воостановпенному изображению,Затем перемещают восстанавпиваюший пучок по голограмме на расстояние,превышающее размер пучка ц (фиг, 2),и опрецепиют цеформацию в слецующейточке вСоставитель Б. Евстратоактор Н. Бобкова Техрец О.Неце ректор А.Повх,Зака 608/43Тираж 602 Поцпи ВНИИПИ Госупарственного комитета СССР по цепам изобретений и открытий 113038, Москва, Ж 38, Раушскан наб. ц, 4/8филиал ППП Патент", г. Ужгороц, уп 11 роектнаи 310338894Прецлагаемый способ поеволиет знь., лиет исключить особоточиые измерении,; чительио повысить точность опрецеления которые требуют прецизиониык устройств,
СмотретьЗаявка
3402293, 26.02.1982
МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ И ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ СТАЛИ И СПЛАВОВ
БАХТИН ВЯЧЕСЛАВ ГЕННАДЬЕВИЧ, КУДРИН АЛЕКСАНДР БОРИСОВИЧ, ПОЛУХИН ПЕТР ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, объекта, поверхности
Опубликовано: 07.08.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1033859-sposob-opredeleniya-deformacijj-poverkhnosti-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций поверхности объекта</a>
Предыдущий патент: Датчик перемещений
Следующий патент: Поляризационно-оптический способ определения напряжений в резьбовом соединении
Случайный патент: Рамочная антенна