Способ определения деформаций

Номер патента: 1064128

Авторы: Евстратов, Евстратова, Кузьменко

ZIP архив

Текст

.3(50 6 01 В 11/ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И (ЛН СВИДЕТЕЛЬСТВУ ВТОРС(71) Харьковский орденалитехнический институт(56) 1. Авторское свидеталР 227665, кл. 6 01 В 11/16,2, Проблемы прочности,с. 10-15 (прототип),лубления пирамидальной формы, измеряют координаты характерных точекуглублений, деформируют образец, вновизмеряют координаты характерных точек и по разности координат определяют деформации, о т л и ч а ю щ и йс я . тем, что, с целью повышения точности определения деформаций, выпол.няют углубления с контуром основанияв виде ромба, острый угол которогоравен 30-60 О, угол между большейдиагональю и .направлением главной деформации составляет 30-45 ; а в качестве характерных точек используютразличимые после деформации вершиныромба,а на, поИ.Ленин Леним.В тво СС1967.76, Р 54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРАЦИЙ, заключающийся в том, что набразце выполняют четырехгранные угРЫТИЙИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕИзобретение относится к измери-, .тельной технике, а именно к,измерению картины распределения локальных деформаций при нагружении образцов, и может быть использовано для иссле 5 довання тонкой структура поля деформаций при различных видах и условиях нагружения образцов.Известен способ определения деформаций, заключающийся в том, что на образец наносят совокупность точечных меток, деформируют образец,: . измеряют расстояния между. метками и по ним определяют локальные деформации Г 13.Однако точность определения дефор,5 маций согласно данному способу определяется минимальным диаметром наносиьвх меток и не может быть сделана достаточно высокой.Наиболее близким к предлагаемому 20 по технической сущности и достигаемому. эффекту является способ определения деформаций, заключающийся в том, что на образце выполняют четырехгранные углубления пирамидальной Формы, измеряют координаты характер яых точек углублений - точек пересечения диагоналей контура отпечатка, дефорйируют образец, вновь измеряют координаты этих характерных точек .и по разности координаты. определяют деформации 2 3.Однако и этот способ не дает требуемой точности Определения деформаций., так как характерные точки могут смещаться на различные величины при деформации самого углубления. Цель изобретения - повышение точности определения деформаций,Укаэанная цель достигается тем, 40что согласно способу определеииядеформаций, .заключающемся в том,что на образце выполняют четырехгранные углубления пирамидальнойформы, измеряют координаты характерных точек углубленйй, дефОрмируютобразец, вновь измеряют координаты,характерных точек и по разности координат определяют деформации, выпол. няют углубления с контуром основания 50в виде ромба, острый угол которогоравен 30-60 0, угол между большей диагональю и направлением главной деформации составляет 30-450 а в качестве характерных точек используют различимые после деформации вершиныромба.На фиг.1 представлено одно изполученных углублений до нагруженияобразца, Общий внд, на фиг.2 - то же,после нагружения образца. Выбор значений углов фиг.1) объясняется тем, что ромбический отпечатокдеформируется с сохранением подобияпо отношению к первоначально нане,.сенному отпечатку, т.е. Углы при вершине ромба изменяются незначительно.Это повышает точность отсчета,так каксами вершины отпечатка при этом оказываются четко различимыми.Способ осуществляют следующим образом;На полированной поверхности образца в исследуемой зоне его поверхностивыполняют углубления, выдавливая ихчетырехгранным керном, имеющим формупирамиды с основанйем в виде ромба, острый угол которого равен30-бО 0, а большая диагональ ромба.наклонена под углом 30-45 0 к направле.нию главной. деформации. Такие жеуглы получаются у ромба, представляю-.щего собой контур основания углубления. Для образования сетки с точнымрасположением всех отпечатков кернение осуществляют с помощью градуированной пружины, а контроль эа правильным положением керна в моментвдавливания осуществляют с помощьюинструментального микроскопа. Предлагаемое направление У главной деформации должно быть заранее известно на основании проведенных теоретических или экспериментальных исследований.После получения всех углубленийв узлах сетки с заданными координатами измеряют координаты каждойиз вершин А,В,С, 3 .Яа фиг.1 для примера показано измерение координат Х 0 и У 0 для вершины С. После окончания измерений координат ва ненагруженном образце последний подвергают нагружению и вновьизмеряют координаты вервин деформированного углубления. На Фиг.2показано измерение координат Х и Удля вершины С, Разность координатодноименных вершин до и после нагружения образца используют для определения локальных деформацийв исследуемой зоне.Разрешающая способность предлагаемого способа получается на порядок выше, чем в известных способах, и может достигать значенийабсолютного порога чувствительности менее 2 мкм.Применение предлагаемого способапозволяет только при изготовлении штампов существенно повысить стойкость пуансонов н матриц эа счет,выбора более рационального, профиляинструмента.10 б 4128 к,Составитель Н. Тихред И.Асталош тор А.Мотыл еюю е 2 . Подписноеного комитета СССРй и открытий5, Раувк:кая наб , д. 4/5 ал ППП "Пат Проектная о г аказ 10506/42 Тнраа ВНИИПИ Государств по делам изобрете 113035, Москва, Ж аенко Корректор Л. П

Смотреть

Заявка

3488850, 01.09.1982

ХАРЬКОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. В. И. ЛЕНИНА

ЕВСТРАТОВ ВИТАЛИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, ЕВСТРАТОВА ТАМАРА ЛЕОНИДОВНА, КУЗЬМЕНКО ВИКТОР ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

Опубликовано: 30.12.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1064128-sposob-opredeleniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций</a>

Похожие патенты