Способ определения деформаций зеркальной поверхности объекта

Номер патента: 1055961

Авторы: Бушуева, Щербаков

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН сю 6 01 В 11 П ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙописдние изоьееК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Московскод ордена Ленина, орденаОктябрьской Революции и ордена Трудово-.го Красного Знамени высшее техническое .училище им, Н.Э.Баумана(84) (87) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯДЕФОРМАЦИЙ ЗЕРКАЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА, заключающийся в том,что фиксируют информативные точки, наобъекте, выбирают базовые точки на экране, деформируют объект, из фиксированнойточки наблюдения регистрируют положенияотражений базовых точек от зеркальнойповерхности до и после деформации объекта, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с анц ю повышения точности определения,перемещают базовые тощи до и после деформации объекта до совпадения их зображений с. изображениями информативныхточек на поверхности объекта, измеряюткоординаты рждой базовой точки, по рвэности котоаах определяют деформации.10859Изобретение относится к исследованиюдеформаций объектов с зеркально-отражающей поверхностью.Известен способ определения деформаций зеркальной поверхности пластин,заключающийся в том, что фиксируют базовые фигуры на экране, регистрируют ихотражения из фиксированной точки наблюдения, деформируют объект, регистрируют отражения базовых фигур от деформи 10рованной поверхности из точки наблюденияи по изменению геометрии изображенийбазовых фигур определяют деформации 1.1 ХОднако этот способ не позволяет измерять деформации в произвольно заданных цточках, так как при деформации изображения узловых точек базовых фигур смещаются и обычно не совпадают с произвольно заданными точками.Наиболее близким к изобретению потехнической сущности является способопределения деформаций зеркальной поверхности объекта, заключающийся в том,что фиксируют информативные точки наобъекте, выбирают базовые точки на экране, деформируют объект, из фиксированной точки наблюдения регистрируют положения отражений базовых точек от зеркальной поверхности до и после деформации объекта и по их разности определяют деформации 2 .Однако известный способ не позволяет измерять углы поворота нормалейв произвольно заданной точке и в произвольных сечениях зеркальной поверхности, поскольку в зависимости от кривизны З 5эеркальнои поверхности изображения базовых точек в этой поверхности смеща-,ются, принимают нерегулярную структуру, неконтролируемы и могут не находиться в области, интересуюшей исследо-.40ва тели,Бель изобретения - повышение точности определения деформаций.Для этой цели согласно способу оп 45ределения деформаций зеркальной поверх 61 3ности объекта, заключающемся в том, что фиксируют информативные точки на объекте, выбирают базовые точки на экра не, деформируют объект, из фиксированной точки наблюдения пегистрируют положения отражений базовых точек от зеркальной поверхности до и после деформации объекта, перемещают базовые точки до и после деформации объекта до совпа- дения их изображений с иэображениями . информативных точек на поверхности объекта, измеряют координаты каждой базовой точки, по разности которых оп ределяют деформации.На чертеже показана схема реализа ции способа.Способ осуществляется следующим образом еНа зеркальной поверхности объекта 1 фиксируют информативные точки В1 выбирают базовые точки С.; на экране 2, деформируют обьект 1 иэ фиксированной точки наблюдения А например фотокамеры 3, регистрируют положения отражений базовых точек С и С от зеркальной поверхности до и пос 3 е деформации объекта 1, перемещают базовые точки С до и после деформации объекта 1 до совпадения их изображений с изображениями информативных точек 8 на поверхности объекта 1, измеряют координаты каждой базовой точки С1и С , по разности которых с применением обычно применяемых формул определяют деформации.По сравнению с известными предложен. ный способ позволяет определить деформации зеркальной поверхности объекта в . произвольных точках и сечениях. Это по. вьппает точность определения деформаций в произвольной точке и позволяет сократить трудоемкость измерений и повысить производительность экспериментальных исследований.1088961 Составитель Б. ЕвстратовТехред Т.фанта Корректор И. Эрдейи Реда кто ей з 9285 ал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная,1 Тираж 602 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/

Смотреть

Заявка

3474764, 26.07.1982

МОСКОВСКОЕ ОРДЕНА ЛЕНИНА, ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ И ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ВЫСШЕЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ УЧИЛИЩЕ ИМ. Н. Э. БАУМАНА

ЩЕРБАКОВ ЮРИЙ КОНСТАНТИНОВИЧ, БУШУЕВА ВАЛЕНТИНА ВИТАЛЬЕВНА

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, зеркальной, объекта, поверхности

Опубликовано: 23.11.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1055961-sposob-opredeleniya-deformacijj-zerkalnojj-poverkhnosti-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций зеркальной поверхности объекта</a>

Похожие патенты