Швелер
Способ измерения диаметра отверстия
Номер патента: 773429
Опубликовано: 23.10.1980
Авторы: Семида, Швелер
МПК: G01B 11/12
...в свободном пространстве.На чертеже приведена диаграмма, поясняющая способ измерения. Способ осуществляется следующимобразом. Электромагнитной волной облучаютиз точки 1 измеряемое отверстие 2, с другой стороны которого получают комбинированную дифракционную и интерференционную картину. Затем опре 1 р деляют амплитуду излученной волныв точке 3 свободного пространства.При этсв. измерение амплитуды интерференционного сигнала нечетных гармоник ведут по максимальной амплитуде в точке 4 с одновременным изменением длины волны облучения до значения длины волны А , при которой амплитуда интерференционного сигнала нечетных гармоник в точке 4 равна удвоенному значению амплитуды электромагнитной волны в точке 3 свободного пространства. Диаметр О...
Устройство для измерения барометрической высоты
Номер патента: 607122
Опубликовано: 15.05.1978
Авторы: Данильченко, Наумов, Семида, Швелер
МПК: G01L 7/12
Метки: барометрической, высоты
...ультразвуковых колебаний, и связанный по входу с приемниками, вычислитель 7 барометрической высоты полета, по входу связанный с выходом импульсного формирователя, а по выходу - с прибором 8 для индикации барометрической высоты полета.Устройство работает следующим образом.Источник 1 ультразвуковых колебаний периодически посылает в камеры 2 и 3 импульсы, причем в камере 2 давление соответствует высоте полета, а в камере 3 создается давление на уровне земли, В силу разных значений давлений в камерах 2 и 3 время прохождения импульсами расстояния от источника 1 до приемников ультразвуковых колебаний неодинакокое. Приемники выделяют эти импульсы в про607122 формула изобретения Составитель Т. РокачевскаяТехред О. Луговая Корректор Л....