Пробка для измерения отверстий интерференционным методом
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 439694
Авторы: Ветвинский, Янушкевич
Текст
439694 ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(51) М. Кл б 01 Ь 11/ Ст 01 Ь 9/02 с присоединением заявктПриоритет -осударственный комитатСовета Министров СССРпо делам изобретенийи открытий 531.717.12:531 715.1 (088.8) но 15,08,74. Бюллетень3 ублик ата опубликования описания 25.03,75(72) Авторы изобретения Э, П, Янушкевич и А, А, Ветвинский 4) ПРОБКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТВЕРСТ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫМ МЕТОДОМПредлагаемая пробка относится к области измерительной техники, а именно к технике измерения отверстий.Известна пробка для измерения отверстий интерференционным методом в прозрачном материале, выполненная из непрозрачного материала,Для повышения точности измерения отверстий в непрозрачном материале предлагаемая пробка выполнена из прозрачного материала и снабжена внутренней, расположенной под углом к ее оси плоской отражающей поверхностью; кроме того, на пробке нанесены поперечная и продольные риски.На фиг, 1 изображена предлагаемая пробка, введенная в измеряемое отверстие (вид в направлении, перпендикулярном оси и вдоль внутренней отражающей поверхности); на фиг. 2 - то же, вид сбоку,Предлагаемая пробка состоит из двух склеенных между собой частей 1 и 2, выполненных из прозрачного материала (например стекла), Склеенные поверхности имеют плотное зеркальное покрытие 3 и расположены под углом приблизительно 45 к оси пробки,Для удобства отсчета интерференционных полос на рабочей поверхности А пробки нанесены поперечная риска 4 и две продольные диаметрально противолежащие риски 5.Рабочая поверхность А и торцы Б лиров анны ми, (индекаль с измеряемым отпробки вы сом б обо верстием),Пробка м рения отвер Пробку вв кашивают в коса образу которых при 10 ки появляет виде полос ров отверст щью указ рцы пробкполнены п значена де ожет быть применена для изместпй следующим образом.одят в отверстие детали б и перенем, (фиг, 1). В результате пере- ются воздушные клинья, за счет подсветке со стороны торцов пробся интерференционная картина в равной толщины. Разность размеия и пробки определяют с поанных полос, наблюдаемых сквозьи,мо то 15 Таким образом, с помощьюпробки возможно измерять разо выполненного в непрозрачном использованием интерференцио 20 что значительно повышает точнои позволяет осуществлять пх в л ральных сечениях и направления предлагаемои ер отверстия. материале, с нных полос, сть измерений юбых диаметПредмет изобретени 25 пт интеряся тем, звтерения , она вы-снабже. 1. Пробка для измеренияференционным методом, отлчто, с целью повышения тоотверстий в непрозрачном иполнена из прозрачного мат отверст ичаюи 1 а чности т териале риала(71) Заявитель Харьковский государственный научно-исследовательский институметрологии439694 Риг 1 Г/7 Б Составитель Л. Лобзо фиг на внутренней, расположенной под углом к есосп плоской отражающей поверхностью,2. Пробка по и. 1, отличаюшпяся тем, что, на ней нанесены поперецная н продольные риски. дактор Л. Василькова Тек ред Г. Двори Корректор А. Дзесоваказ 6540 Изд.1901 Т ЦНИИПИ Госу Совета Минист по делам изобретен Москва, 7 К, Раушзраж 760 Подписноедарственного комитетаров СССРй и открытийкая наб., д. 4/5 Обл. тип, Костромского управления издательст полиграфии и книжной торговли
СмотретьЗаявка
1312092, 03.03.1969
ХАРЬСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕТРОЛОГИИ
ЯНУШКЕВИЧ ЭРЛЕН ПАВЛОВИЧ, ВЕТВИНСКИЙ АНДРЕЙ АНДРЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/12
Метки: интерференционным, методом, отверстий, пробка
Опубликовано: 15.08.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-439694-probka-dlya-izmereniya-otverstijj-interferencionnym-metodom.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Пробка для измерения отверстий интерференционным методом</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения параметров хроматографического пика
Следующий патент: Способ измерения деформаций
Случайный патент: Держатель подвижного контакта электрического выключателя