Устройство для контроля продольного сечения отверстия детали
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 324487
Автор: Царев
Текст
5ОПИСАНИИЗОБРЕТЕНК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬ юз Советских Сониалистическ есоуолик ависимое от авт, свидетельств Заявлено 21,Х.1970 1484493/25-28) рисоединением заявки Уиоритет Ком тет оо деламиий и открытий изобр публиковано 2 З,Х 531.717.2 (088.8 1971. Бк)ллстсн ете МинистрСССР за 8.11.1а опубликования описан Авторзобретени 5 Л. И. Царевсоюзный научно-исследовательский и конструкторско-технологический институт природных алмазов и инструмента аявител СТРОИСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРОДОЛЬНО 10 СЕЧЕНИЯ ОТВЕРСТИЯ ДЕТАЛИУстройство относится к области контрольноизмерительной техш)ки и может быть использовано, В )астпост 5) для конт)ол 5 продольп- го сечения отверстий алмазных и твердосплВ- ных волок.11 звестно устройство для контроля продольного сечения отверстия детали, содержащее осветитель, оптическую систему, расположсн)у)о в ходе световых лучей и вкл)очаюгцую в себя объектив, окуляр, зеркала, цилиндрическую линзу, столик для крепления контролируемой детали и экран, на который проектируется продольное сечение отверстия детали. Через отверстие неподвижной детали пропускается колеблющийся пучок света. Колебание пучка осуществляется с помощью вращающегося зеркального барабана и сферического зеркала, а поворот изображений поперечных сечений отверстия, развернутых цилиндрической линзой, - с помощью призмы Г 1 ове.Недостаток такого устройства заключается в трудности контроля продольного профиля отверстий с соотношением их диаметра к высоте больше единицы (55 япр)отер, отверстий алмазных волок большого диаметра с малым весом алмаза, часовых камней) из-за больших аберраций, возникающих при прохождении колеблющегося пучка лучей вблизи краев линз объектива. Это снижает точность контроля,11 рсллягясмос устройсВо позполяст новысп Гь Гочность ктол 5 РОЛОльпоГО сссипя )твсрстп 5), имеюнего Отношение лиямстр к высоте оольше елнцы, Для этого опо спяб жено т)мной, к кОто)0) жестко прп.реилспь0ЪЕКТИВ, ЗЕРКЯЛЯ И Ц)Л 3 П)Л)ЕСК)5 ЛИП 35 И которя п)5 еет Воза)ожпост 1 Вящспи 5 ОВосптельно оси, перпендикулярной оси )Тверсти) ко 5 П ролируемой летали, и отюсптсльно неюл- О впжного зеркал, установленного внутри рамки.1-я фпг. 1 изображена принципиальная оптическая схема устройств и сечение по; в .1, поясняющее хол лучей от источник светя к 5 еполвиж 5 юму зеркалу, расположенному внутри рамки; на ф)ш. 2 - контролируемое отверстие В полол)иО) Сечении; пя фпг. 3 - изображение профиля контролируемого отверстия, полученное при вращении подвижной оптпче- О ской системы.Устройство содержит рамку 1, ихС)05 цх и)ВОЗ)ОЖПОСТЬ ВРЩЕИ 5 В ПОЛОВИНИКЯХ ) ОТ п)ВВОдя (пе )етсжях пе нокзп) . К кс жсстко прикреп,5 сп 1 зекял,) - /, Ооъектив 5 Я, цпл)5)лрпческяя лпГз 9, колснсор 1 ОЯпстури)я диафрГх)я 11 (ко)л"псо)апертурная диафрагм могут быть вынесены зя пределы рамки и расположены неподвик.но). Внутри рамки а кронштейне 12 закрен- О лево пеподвпж)юс зеркало 1,5.,1 ст 5)л 11 сКОИТОЛ 1 РУС)1 Ь 1)1 ОТВСРСТИСЪ ИаХОДПТС 5 Цс 1) ,1) ет и Ос столике 15. ОсВСГител ыс 1 51 часть с 1иствс Сост 0 т из 1 Сточикс 1 16 све 1 с, коллектора 17, полевой дис)ч)рсгмы 18, зеркал 19Я а также коцдеисора 10 и диафрагмы 11.Устройство содержит так)ке окуляр 20, пе- И)двцжцые зеркала 21 и 22 и экран 23.Изображение продольного сечения контролируемого отверстия па экране образуется следующим образом.Пучок лучей света от источника 1 б проходит коллектор 17, диафрагму 18, отражается19 и падает на зеркало 13, которое направляет пучок света по оси вращения рамки 1 через диафрагму 11. Отразившись последовательно от зеркал 5 и б, пучок света коцдецсором 10 ц зеркалом 7 направляется в отверстие контролируемой детали 14, располо)кеццой па столике 15.С помощью увеличительной системы, состоящей из объектива 8 и окуляра 20, зеркаламп 8 - 5, 21 и 22 поперечное сечение контролируемого отверстия проецируется ца экран 28 в увеличенном виде. При повороте рамки иа экран проециру)отея цоперечные сечения отверстия под разными углами, которые имеют вид фигур, по форме напоминающих эллипсы с углом наклона большой оси эллипса, равной углу поворота рамки,Прп введении в ход лучей линзы 9 произ- ВОДИТСЯ РЯСТЯ)(Кс ЭЛИ ПСОВ ВДОЛЬ ИХ ООЛЬП 1 ИХ Осси шириной, раВИОЙ малым Ося 1 эллипсов. 11 ри быстром вращении рамки иа экранепроисходит цоследователыое наложение полос и образование фигуры (см. фцг. 3), центральная часть которой ВСОЕ соответствует 5 продольному сечению контролируемого отверстия. Размеры цецтралыой части ограничены точками касания крайних касательных Во ц СЕ, соответствующих эллипсам с минимальным размером малой оси.10П редмет изобретения15 Устройство для контроля продольного сечения отверстия детали, содержащее осветитель, оптическую систему, расположенную входе световых лучей и включающую в себяобъектив, окуляр, зеркала, цилиидрическуо20 линзу, столик для крепления контролируемойдетали и экран, ца который проецируетсяпродольное сечение отверстия детали, Отличиюи 1 ееся тем, что, с целью повышения точности контроля продольного сечения отверстия,25 51 меОщего отношение диаметра к высоте больше единицы, оно снабжено рамкой, к котороижестко прикреплены объектив, зеркала и цилиндрическая линза и которая имеет возможность вращения относительно оси, перпецдиЗО кулярцой оси отверстия контролируемой детали, и относительно неподвижного зеркала,установленного внутри рамки,3 А гюг иг,.2 Фссг. 3 Составитсли Л. ЛобзоваН. Михайлова Техред Е. Борисова Коррсктор Е. Зими зсда ипографип, пр. Сапунов Ц (;) Заказ 2289Ц 11 ИИПИ Ь;овитст 3 5Рог Изд.ббо дела" изобрсгеии 1 Москва, Ж, Ра Тпрахк 448и открытий при Совсипская иаб., д. 4,5 ПодппсиосМииистров СССР
СмотретьЗаявка
1484493
Всесоюзный научно исследовательский, конструкторско технологнче, ский институт природных алмазов инструмента
Л. И. Царев
МПК / Метки
МПК: G01B 11/12
Метки: детали, отверстия, продольного, сечения
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-324487-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-prodolnogo-secheniya-otverstiya-detali.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля продольного сечения отверстия детали</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения диаметра движущейся проволоки в процессе изготовления
Следующий патент: Прибор для контроля профиля пера лопатки
Случайный патент: Состав для наплавки