Способ измерения диаметров малых отверстий

(51)5 6 11 12 БРЕТЕНИЯ ОПИСАНК ПАТЕНТУ ыи коопе ати Изобретение ной технике и мо машиностроении имущественно при ных подшипников, и т,д.Известен спос малых отверстий прибора, заключа навливают деталь ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБР ЕТЕ НИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР"Индикатор" при Всесоюзном научно-исследовательском институте средств измерения в машиностроении(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРОВМАЛЫХ ОТВЕРСТИЙ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано вмашино- и приборостроении при изготовлении миниатюрных подшипников, часовыхкамней, фильер и т,п. Цель изобретения -повышение точности и производительностиизмерений. На станке оптического прибора,например микроскопа, размещают прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов шкалыс визирной линией прибора. Затем на пластину устанавливают деталь с измеряемым относится к иэмерительжет быть использовано в и приборостроении, преизготовлении миниатюр- часовых камней, фильер об измерения диаметров при помощи оптического ющийся в том, что устас измеряемым отверстиотверстием и наблюдают в поле зрения прибора изображения штрихов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия. Если штрих шкалы лежит в диаметральном сечении отверстия, то он отражается без искривления, т,е. его изображение остается прямолинейным, если штрих смещен относительно диаметрального сечения отверстия, то изображение штриха искривлено в поле зрения, причем форма и величина искривления зависят от того, с какой стороны и на каком удалении относительно диаметрального сечения расположены штрихи. Совмещают прямолинейный отраженный штрих растровой шкалы с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль 3 прямолинейного штриха. Повышение точности измерений достигается за счет того, что цлрихи отражаются от цилиндрической поверхности изделия, а не от его кромки, а совмещение линии измерения с диаметральным сечением производится по обьективному критерию: по форме отраженных д штрихов, Центрирование по растровой шкале позволяет повысить точность измерений.2 ил.ч (Л ем на столик оптического прибора, находят диаметральное сечение отверстия, совмещают с ним визирную линию прибора и определяют диаметр отверстия,Недостатками известного способа являются невысокая точность измерений из-эа кривизны цилиндрической поверхности отверстий, большая трудоемкость процесса измерений, обусловленная сложностью поиска диаметрального сечения отверстия, 177503940 45 50 55 Цель изобретения - повышение точности и производительности измерений,Цель достигается тем, что перед установкой детали размещают на столике оптического прибора прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов растровой шкалы с визирной линией прибора, устанавливают деталь на прозрачной пластине, наблюдают в поле зрения прибора изобретения штрихов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия, выбирают из совокупности наблюдаемых штрихов прямолинейный штрих, совмещают его с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль выбранного штриха,На фиг, 1 изображена принципиальная схема оптического прибора, реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 - вид совокупности изображений штрихов, наблюдаемых в поле зрения оптического прибора.Оптический прибор содержит источник . света 1, конденсор 2, столик 3, на котором размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 и деталь б с измеряемым отверстием 7, визирную сетку 8 и окуляр 9,Способ измерения диаметров малых отверстий осуществляется следующим образом.На столик О оптического прибора, например, универсального или инструментального микроскопа, размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 с мелким шагом, например, 20 мкм, таким образом, чтобы один из центральных (серединных) штрихов, шкалы 5 был совмещен с визирной линией визирной сетки 8, Это обеспечивает совмещение штрихов растровой шкалы 5 пластины 4 с линией измерения прибора, После этого на пластину 4 устанавливают деталь б с измеряемым отверстием 7, при этом в поле зрения окуляра 9 появляются отраженные изображения штрихов растровой шалы 5 (фиг. 2).Это связано с тем, что, как правило, прецизионные отверстия имеют высокое качество обработки цилиндрической поверхности отверстия, благодаря чему такая поверхность имеет хорошие отражательные свойства. Поэтому от цилиндрической поверхности отверстия 7 (но не от фаски отверстия) отражаются штрихи растровой шкалы 5, при этом проявляется важное свойство; если штрих шкалы 5 лежит в диаметральном сечении отверстия 7. то штрих отражается без искривления; если штрих незначительно смещен относительно диаметрального сечения отверстия 7. то иэображение штриха искривлено в поле зрения, причем форма и величина искривле 5 10 15 20 25 ОО 35 ния зависят от того, с какой стороны и на каком удалении лежат штрихи относительно диаметрального сечения, что позволяет точно и легко совместить центральный штрих растровой шкалы 5 с диаметральным сечением отверстия 7, так как во-первых, штрих, совмещенный с диаметральным сечением отверстия 7, отражается от поверхности отверстия 7 беэ искажения его формы, т.е, прямолинеен, во-вторых, по обе стороны от этого штриха лежат штрихи, концы которых изогнуты симметрично в разные стороны, что облегчает оценку именно того одного штриха, который совмещен с диаметральным сечением отверстия 7. После этого пластину 4 с деталью б перемещают таким образом, чтобы прямолинейный отраженный штрих растровой шкалы 5 совместился с визирной линией сетки 8, затем производят измерение диаметра отверстия 7 вдоль прямолинейного штриха шкалы 5.Данный способ измерения диаметров малых отверстий обеспечивает повышение точности измерений эа счет того, что штрихи отражаются от цилиндрической поверхности отверстия, а не от его кромки, а совмещениелинии измерения с диаметральным сечением производится по объективному критерию: по форме отраженных штрихов. При необходимости точность измерения диаметра отверстий может быть повышена за счет применения растровых шкал с более мелким шагом. Центрирование по растровой шкале позволяет повысить производительность измерений,Формула изобретения Способ измерения диаметров малых отверстий при помощи оптического прибора, заключающийся в том, что устанавливают деталь с измеряемым отверстием на столик оптического прибора, находят диаметральное сечение отверстия, совмещают с ним визирную линию прибора и определяют диаметр отверстия, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и производительности измерений, перед установкой детали размещают на столике оптического прибора прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов растровой шкалы с визирной линией прибора, устанавливают деаль на прозрачной пластине, наблюдают в поле зрения прибора изобретения штрихов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия, выбирают иэ совокупности наблюдаемых штрихов прямолинейный штрих, совмещают его с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль выбранного штриха.водственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Пр Заказ 3947 ВНИИПИ Гос Тираж Подписноеарственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раущская наб 4/5