Патенты с меткой «тонкихпленок»

Номер патента: 295037

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Библ, Чист

МПК: G01N 25/18

Метки: теплопроводности, тонкихпленок

...поток вдоль полярной осп диска, измеряют давление газа в сосуде, удельную мощность падающего на исследуемый образец излучения, величину радиометрической силы и 25 по отношению произведения давления газа наудельную мощность лучистого потока к радио- метрической силе судят о величине теплопроводности тонких пленок.Сущность предлагаемого способа заключает ся в следующем.295037 Составитель В. С. Агапова Текред Л, Я, Левина Корректоры: М. Коробоваи А. Абрамова Редактор А. В. Корнеев Заказ 729/3 Изд.311 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская паб., д. 45 Типография, р. Сапунова, 2 ь15 вакуумной ка .ере создают необходимое разрелсенпе, величину давлеппя газа Р в...

Номер патента: 302656

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Изобретен

МПК: G01N 25/18

Метки: активности, температуропроводности, тепловой, теплопроводности, тонкихпленок

...10 о,я), выделяется узкая полоска. При пропускании через металлическую пленку прямоугольного импульса тока на последней выделяется постоянная тепловая мощность. Для тонкой диэлектрической пленки, пренебрегая тепловодом в воздух (так как е воздуха е пластины) и вследствие малой длительности импульса (1 100 .цкеек), пренебрегая отводом тепла на краях пленки, тепловую задачу можно представить как нагревание бесконечной теплоизолированной пластины, на поверхности которой действует постоянный тепловой поток (д=сопй).Температура регистрируется в одной координате по изменению сопротивления металлической пленки. Приращение температуры в месте расположения металлической пленки, вызванное воздействием прямоугольного импульса тока,...

Номер патента: 815484

Опубликовано: 23.03.1981

Авторы: Бабуркин, Конев, Любецкий, Пунько

МПК: G01B 11/06

Метки: тонкихпленок

...Наличие тонкой пленки на поверхности подложки сильно влияетна условия возбуждения и распространейия поверхностной волны вдольгр 4 ницы раздела "подложка-воздух",а следовательно, на изменение поляризационных характеристик отраженнойволны по отношению к падающей,В этом же зазоре "призма-подложка" происходит обратное преобразование поверхностей волны в объемную,которая под углом падения отражается от основания призмы 7 и попадает 35 40 50 60 в призму 4 полного внутреннего отраже ния, которая направляет отраженноеизлучение в анализатор 5, соединенный с приемником 6, где измеряют грани этой призмы ориентированы перпендикулярно падающему и выходящему из нее излучению.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для...