Патенты с меткой «толщиныкристаллических»
Устройство для контроля толщиныкристаллических пластин впроцессе доводки
Номер патента: 813133
Опубликовано: 15.03.1981
Авторы: Иоффе, Кузнецов, Родионов
МПК: G01B 11/06
Метки: впроцессе, доводки, пластин, толщиныкристаллических
...показана), наклоняющуюся вокруг горизонтальной оси. Пластины вырезаны параллельно оптической оси, ориентированы друг относительно друга так, что их главные сечения взаимно перпендикулярны и закреплены в оправе так, что главное сечение одной из пластин параллельно 60 формула изобретения нераторы опорных напряжений,.выхода.ми связанные соответственно с первыми входами Фазометра и синхронного детектора, вторые входы которыхподключены к выходам соответствующихселективных усилителей.На фиг. 1 изображена схема предлагаемого устройства; на Фиг. 2положение интерференционных максимумов при различных толщинах кристаллической пластины (в - порядокинтерференции, Ер- рабочая длинаволны света); окружностями, эллипсами и прямыми линиями...