Способ измерения толщины окисной пленки
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 723362
Авторы: Бухтиярова, Павлов, Фокеев
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ щ 723362(22) Заявлено 230578 (21) 2624613/22-02с присоединением заявки Мо(51)М. Кл.2 С 01 В 11/06 Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий(72) Авторы изобретения А,М, Павлов, С.И. Фокеев и Л,Б. Бухтиярова Всесоюзный научно-исследовательский институт метиэной промышленности (ВНИИметиэ)(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ОКИСНОЙ ПЛЕНКИя точных иэмере готовление больотреэных участки,о прифов 2 Изобретение относится к способамизмерения толщины окисной пленкина поверхности проволоки и можетбыть и спольз овано на металлургических и метиэных заводах для определения толщины окисной пленки на поверхньсти горячекатанной или термической обработанной стальной углеродистой проволоки,Известен способ измерения толщины окисной пленки, включающий отделение окисной пленки, изготовлениеметаллографического глифа, замертолщины окисной пленки под микроскопом (1) .Недостатком этого способа является большая трудоемкость и сложностьсохранения окисной пленки на поверхности при подготовке шлифов для замера толщины пленки под микроскопом. Механически непрочная окиснаяпленка на поверхности проволоки иэуглеродистой стали при отрезке образца, а также при механическойобработке шлифа выкрашивается, чтозначительно снижает выход годногопри изготовлении таких шлифов,Кроме того, в связи с неравномерной толщиной окисной пленки подлине проволо длний необходим ишого числа шлков проволоки.Белью изобретения является снижение изготовления металлографического шлифа,Это достигается тем, что в пред 10 ложенном способе измерения толщиныокисной пленки, включающем отделение окисной пленки от поверхностипроволоки, изготовление металлографического шлифа, измерение толщиныокисной пленки, перед изготовлениемметаллографического шлифа проводяториентацию частиц окисной пленки воднородном магнитном поле,П р и м е р, Определяют толщинуО окисной пленки на поверхности горячекатанной проволоки диаметром6,5 мм из стали марки БСтОм поГОСТ 14085-68, отбирают окиснуюпленку от 3-х участков одного мотка(массой 500 кг) проволоки знакопеременным изгибом; затем частицыокисной пленки помещают в магнитноеполе с индукцией, равной 6500 гс(применяют постоянный магнит скоэрцитивной силой 470 эрстед),что7233 б 2 По известному способу По предлагаемому способу Характеристики Отбор окисной пленки (образцы с окисной пленкой) 15 Ориентировка частиц окисной пленки вмагнитном поле Заливка ориентированных частиц окиснойпленки (образцы с окисной пленкой)БАКР 90 10 15 Замеры толщины, окисной пленки на микроскопе МИМ (фЭпиквант) 25 10 Общее время изготовления шлифов и замеров толщины окисной пленки 58 120 Формула изобретения Со ст авит ель Л Суя э ова Техред О,Легеэа Корректор В, Бутяга Редактор Козлова Заказ 411/30 Тираж 801 ПодписноеПНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий1.13035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Филиал ППП фПатент, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 бы частицы заняли вертикальное положение. Не снимая магнитного поля, производят заливку ориентирован ных частиц окисной пленки самотвердеющей пластмассой АКРи обрабатывают застывший шлиф с частицами окисной пленки последовательным шлифованием на станке модели 3881 и полированием на станке модели Подготовка образца и обработка нашлифовальном станке Полировка на полировальном станке Способ измерения толщины окисной пленки, включающий отделение окисной пленки от поверхности проволоки, изготовление металлографического шлифа измерение толщины окис ной пленки, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью снижения трудоемкости изготовления металло 3881 Б, После этого замеряют толщину окисной пленки с использованием оку лярмикрометра на микроскопе типа Эпиквант при увеличении х 500. 5В таблице приведена сравнительная трудоемкость изготовления шлифов для измерения толщины окиснойпленки,графического шлифа, перед изготовлением металлографического шли фапроводят ориентацию частиц окисной40 пленки в однородном магнитном поле.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Жук Н,П, Курс теории коррозиии защиты металлов, М., Металлургия",1976, с. 434-435.
СмотретьЗаявка
2624613, 23.05.1978
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕТИЗНОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
ПАВЛОВ АЛЕКСЕЙ МИХАЙЛОВИЧ, ФОКЕЕВ СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ, БУХТИЯРОВА ЛЮДМИЛА БОРИСОВНА
МПК / Метки
МПК: G01B 11/06, G01N 1/28
Метки: окисной, пленки, толщины
Опубликовано: 25.03.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-723362-sposob-izmereniya-tolshhiny-okisnojj-plenki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины окисной пленки</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения перемещения и натяжения ленточного носителя
Следующий патент: Датчик уровня
Случайный патент: 2-(п-толиламинометиленамино)-6-фенил-1, 3-оксазин-4-он, проявляющий анальгетическую активность