Патенты с меткой «шероховатости»

Номер патента: 1262280

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: параметров, поверхностей, сверхгладких, шероховатости

...а также ловушку 13 зеркально отраженного от изделия излучения.Способ измерения осуществляется следующим образом. Монохроматический параллельный пучок от источника 1 излучения, пройдя через модулятор 2, поляризатор 3, ослабители 4 интенсивности, диафрагму 5 и бленду 8, падает на поверхность измеряемого изделия 6, установленного на вращающемся столике 7. Поворотом столика 7 устанавливается угол ф падения излучения. Приемник 10 излучения имеет возможность поворачиваться в плоскости падения так, чтобы измерять отраженный поток излучения 1(0) под различными углами отражения Й, отличными от зеркального, так как при этом имеется возможность измерять индикатрису рассеяния в плоскости падения.При отражении от шероховатой поверхности изделия 6,...

Номер патента: 1265027

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Аверченков, Горленко

МПК: B23Q 15/00

Метки: обеспечения, параметров, поверхностей, технологического, шероховатости

...блок 11 расчета показателей износостойкости и блок 12 расчета модели процесса изнашивания. Электронно-вычислительное устройство 3 запрограммировано для вычисления определенного комплекса как стандартизованных, например К, Км.с, 8 и 5 в, так и нестандартизованных параметров шероховатости, оказывающих влияние на процесс приработки, на составление модели процесса приработки, выявление номенклатуры параметров или комплексного параметра шероховатости (обобеспечения методами множественного регрессивного анализа, а также оптимизации условий механической обработки для заранее намеченного плана обработки заготовок и приработки изготовленных деталей.Система работает следующим образом.На станке 1 по заранее намеченному плану, например полного...

Номер патента: 1265473

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Кайнер, Пучкова, Щербатых

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: визуальный, высот, диапазоне, заданном, микронеровностей, оценки, плоской, поверхности, шероховатости

...4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для оценки шероховатости плоской поверхности в задан ном диапазоне высот микронеровнос. тей,Цель изобретения - повышение точности оценки и оценки не только плоских, а также и криволинейных поверхностей, путем повышения объективности оценки, поскольку оценивается наличие или отсутствие интерференционной картины, а также за счет использования жидкости в качестве элемента, предназначенного для получения интерференционной картины.Визуальный способ оценки шероховатости поверхности осуществляется: следующим образом.Предварительно подбирают ряд жидкостей, составляя его последовательно от жидкости, дающей интерференционную картину при наименьших...

Номер патента: 1270561

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Зверев, Иванов, Янчукович

МПК: G01B 15/08

Метки: поверхности, шероховатости

...рентгеновскоеизлучение, например, для возбужденияатомов с атомным номером, меньшим13 -М -частиц, для возбуждения более 50тяжелых атомов - мягкое рентгеновскоеизлучение, источниками которых могутбыть рентгеновские трубки, радиоизотопные источники, ускорители заряженных частиц. Энергию первичного излучения выбирают такой, чтобы его проникающая способность была одного порядка с характерными размерами шероб 1 1ховатостей, но большей энергии иониэации, соответствующей внутреннейоболочки атома для мягкого рентгеновского излучения, и большей 1 МэВ дляд;частиц, Угол падения первичного излучения выбирают в пределах 10-309что повышает чувствительность измерений, Угол регистрации вторичного характеристического рентгеновского иэ-а,лучения должен...

Номер патента: 1272108

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Витенберг, Терехов, Торчинский

МПК: G01B 11/30

Метки: анизотропных, металлических, параметра, поверхностей, рефлектометрический, тел, шероховатости

...корреляции, среднего угла наклона боковых сторон неров"ностей, среднего шага неровностей,а также за счет исключения при измерении эталонных образцов.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующегопредлагаемый рефлектометрическийспособ,Устройство содержит источник 1 монохроматического света, поляризатор2, приемник 3 зеркально отраженногосвета, регистрирующую аппаратуру 4,угловую шкалу 5.Рефлектометрический способ измерения шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел осуществляют следующим образом, 30На контролируемую шероховатую поверхность б из источника 1 монохроматического света через поляризатор2, поляризующий свет в вертикальнойплоскости, направляют световойоток 35с длиной волны известной...

Номер патента: 1281881

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Абаринов, Вешников, Голубев

МПК: G01B 13/22

Метки: детали, плоской, пневматический, поверхности, шероховатости

...к машиностроейию и может быть использовано для измерения и контроля шероховатости плоских поверхностей в условиях цехов промышленных предприятий. рировочным зависимостям определяютвеличину шероховатости плоской поверхности 1. Формула изобретения Составитель В. ГордеевТехред Н.Глущенко Редактор А. Шишкина Корректор О. ЛуговаяПодписное Заказ 7251/35 Тираж 676 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Цель изобретения - повышение производительности измерения.На чертеже изображено устройство, реализующее предлагаемый способ. 10Для измерения шероховатости контролируемую плоскую поверхность 1...

Номер патента: 1295215

Опубликовано: 07.03.1987

Авторы: Ивановский, Попов, Симакина, Скакун, Слепцов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...излучения, выходящил из источника 1 монохроматического излучения, модулируется модулятором 2, проходит диафрагму 3 и направляется на измеряемую поверхность изделия 7. Зеркально отраженное излучение, пройдя линзу 13 иослабляющий светофильтр 18, собирается линзой 13 на поверхности матового 5стекла 23 перед входным окном Фотоприемника 6. Два диффузно отраженныхпотока, рассеянных в различных на.правлениях по отношению к зеркально 15 2отраженному пучку, собираются линзами 11 и 12 иа поверхности матовых стекол 21 и 22 перед фотоприемниками 4 и 5, Светофильтры 16 и 17 служат для выравнивания сигналов. Фотоприемники 4 - 6 соединены с электронным блоком 26 обработки сигнаЛов, Используя результаты измерения трех потоков излучения, определяют...

Номер патента: 1298528

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Жмурин, Кочетков, Мелай, Мельников, Трушин

МПК: G01B 7/34

Метки: металлических, поверхностей, шероховатости

...содержит также блок 9коррекции, подключен ый к третьемувходу блока 6 согласования., подключенный к блоку 9 коррекции черезусилитель 10 блок 11 позиционирования емкостного датчика. Блок 11 позиционирования емкостного датчикасостоит, в свою очередь, из искателя12, соединенного с генератором 13импульсов, генератора 14 развертки,соединенного с генератором 13 импульсов через последовательно соединенные фильтр 15 и усилитель 16 преобразователя 17 сигналов выход преФ40образователя 17 сигналов образуетвыход блока 11 позиционирования емкостного датчика,Устройство работает следующим образом,Пластины 2 датчика 1 являются одной из обкладок измерительного конценсатора, другой обкладкой является деталь, Сигнал с датчика 1 поступает через...

Номер патента: 1298535

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Клиентов, Лазарева, Поклад, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...контролируемого образца в положение измерения,В случае значительных размеровобразца его устанавливают неподвижно, а с трехкоординатным механизмом12 перемещения связывают стойку систочником 1 излучения, оптическойсистемой 2 и фотоприемником 3.Излучение, посылаемое источником1, проходит формирующие линзы 13 и14, отражается от полупрозрачнойпластины 15 и объективом 16 направляется на контролируемый образец.Отраженный от образца поток собирается объективом 16, проходит полупрозрачную пластину 15, линзы 17 и18 и разделяется светоделительнойпризмой 19 на два пучка, Один пучоклинзой 20 проецируется на фотоприемник 3, а другой линзой 21 направляется в окуляр 22 визуального канала.Визуальный канал служит для выбора начальной точки...

Номер патента: 1302136

Опубликовано: 07.04.1987

Авторы: Богатырев, Соловьева

МПК: G01B 5/28

Метки: профилометр, шероховатости, щуповой

...сво 25 бодный конец которого контактирует с упором 10, жестко закрепленным на ползуне 5, и двуплечего рычага 11, один конец которого контактирует со средней частью одноплечего рычага 9, электрически изолированной токопроводящей струны 12, один конец которой закреплен на основании 1, а другой - на другом конце двуплечего рычага 11, и пружины 13 растяжения, 35 один конец которой закреплен на основании 1, а другой - на другом конце ползуна 5. Щуповой профилометр работает сле дующим образом,В исходном состоянии основание 1 с помощью опор 2 и 3 фиксируют в заданном положении, а измерительную головку 8 вводят в контакт с иссле дуемой поверхностью 14. При этом ползун 5 неподвижен эа счет уравновешивания пружины 13 струной 12 через рычаги 9 и...

Номер патента: 1310339

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Самедов, Ушаков, Щербинский

МПК: G01B 17/08

Метки: ультразвукового, шероховатости

...и поправки (Д) на затухание от величины шероховатости (К ) изделия толщиной 50 мм; на фиг.2 изображены графики для нахождения поправки на затухание ультразвуковой волны по толщи 5 не иэделия. Способ ультразвукового контроля реализуется следующим образом.Прямой ультразвуковой преобразователь устанавливают на контролируемую поверхность изделия, нормально к ней излучают продольную ультразвуковую волну, принимают отраженные от дна изделия эхо-сигналы продольной 25 волны и поперечной, возникающей эа счет трансформации продольной волны иа шероховатой поверхности иэделия.Измеряют амплитуду их колебаний и вычисляют их разность (А - А). При распространении в металле изделия и отражения от донной поверхности учитывают разницу в затухании и...

Номер патента: 1312380

Опубликовано: 23.05.1987

Авторы: Гасан, Давыдов, Иоффе, Климов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...с фотоприемников 3, 4 и 11 (непоказ.1),1(роме того, устройство снабженоустановленной во втором цилиндрическом отражателе 12 Фокусирующей линзой 14, оптическая ось которой совпадает с осью, проходящей через центрпервого отверстия 5.Устройство работает следующимобразомИзлучение, посылаемое источником1 света, попадает на поверхность 8полупрозрачной пластины . и раздваивается, Отраженный пучок фокусирующей линзой 14 собирается наФотопри.емнике 3. Так как задний фокус Фоку 2380 2 40 светаи коллимирующую линзу, два ци 50 5 10 15 20 25 30 сирующей линзы 14 находится на образующей первого цилиндрического отражателя 7, то размер первого отверстия 5 мал, а величина его определяется диаметром пятна сфокусированного луча источника 1 света...

Номер патента: 1315801

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Гольдберг, Захаров, Клиентов, Ломакин, Перов, Поклад, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...линзы 2, фотоприемник 4 для регистрации зеркально отраженного излучения, фотоприемник 5 канала сравнения и блок обработки сигналов с Фотоприемников 1 не показан).Источник 1 излучения находится в переднем фокусе Р линзы, а фотоприемник ч расположен от плоской поверхности линзы 2 на расстоянии, равном половине ее заднего фокусного рас стояния, а именно 1/2.Устройство работает следующим образом,Пучок света, посылаемый источником 1 излучения, пройдя через прозшее покрытие в виде нечетного радиального растра, источник 1 излучениярасположен в переднем Фокусе линзы 2,Фотоприемник ч для регистрации зеркально отраженного излучения находится на расстоянии, равном половинезаднего фокусного расстояния линзы 2,а источник 1 излучения и фотоприемники ч...

Номер патента: 1315803

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Дмитриев, Зиновьев, Злодеев

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...которого должна быть больше минимального рабочего расстояния Ь ,. Минимальное рабочее расстояние. Ьми,определяется условиями измерений и должно выбиР.ораться.из неравенства Ь, -.= так как при несоблюдении этого неравенства нельзя определить внешний радиус 2, торца приемного ВОСК 5 для диффузной составляющей исходя иэ формулы (2), Световой поток от источника 1 света, после преобразования его коллиматором 2 в параллельный световой поток, подается на входной3 1315803торец передающего ВОЖ 3 под угломМ к нормали торца, величина которого выбирается в зависимости от рабочего расстояния Ь до исследуемой поверхности 12 и размеров приемопереда 5ющего торца 11 трехпучкового ВОЖ.Угол о ввода излучения в передающийВОЖ 3 задается с помощью...

Номер патента: 1322089

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Антонов, Владов, Дегтярев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...движуще-. гося изделия 7. Оптико-сканирующий 45 блок 2 обеспечивает сканирование сфокусированного лазерного луча в перпендикулярном движению изделия 7 направлении. При этом луч последовательно пробегает периметр выпукло-криволинейного или замкнутого изделия 7 со скоростью, на порядок большей скорости движения изделия 7. В этом случае луч практически успевает пробежать периметр, который принимают за базовую длину, без искажения, за счет колебаний скорости движения изделия, что дает постоянство базовой длины. При взаимодействии сканирующего в поперечом направлении с большой скоростью азерного луча с выпукло-криволинейой или замкнутой поверхностью изделиясказывается деполяризующее действие ероховатости поверхности. Диффузнотраженный...

Номер патента: 1326881

Опубликовано: 30.07.1987

Авторы: Калинин, Польщиков, Потапова

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...излучения светодиодов, поскольку излучение каждого светодиода в направлении, параллельном 45 оптической оси объектива 6 для фокусировки падающего излучения, собирается этим объективом в точке заднего фокуса, совмещенном с точкой О контролируемой поверхности 10, которая освещается каждым светодиодом под определенным углом к нормали к контролируемой поверхности 10, при этом в точку О поступает свет, излучаемый каждым светодиодом в одном и том же направлении, т.е. используется один и тот же участок индикатрисы излучения светодиодов, а на фотоприемник 9 поступает излучение, отраженное или 81 4рассеяннОе контролируемой поверхностью 10 только в точке О, На выходе фотоприемника 9 появляется сигнал, пропорциональный по амплитуде величине...

Номер патента: 1330463

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Мелькумова, Шкуратов

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, оптический, поверхности, шероховатости

...средней высоты шероховатости поверхности от отношения Брюстеровского максимума коэффициента поляризацииР возникающей при отражении света от исследуемой поверхности к дополнительному максимуму Р . 304632по известной Формуле коэффициент поляризации отраженного света;Р, -РРР +Ри5Изменяя положение осветителя 1,подобным образом получают значениякоэффициента поляризации Р во всемдиапазоне фазовых углов у, вычисляютотношение Р, /Р , а затем по тарировочной зависимости определяют среднюювысоту шероховатостиПредлагаемый способ пригоден дляизмерения шероховатости поверхностикак прозрачных, так и непрозрачныхобъектов и. не накладывает ограничений на размеры поверхностей измеряемых объектов.На фиг, 1 изображена схема устройства, для...

Номер патента: 1332204

Опубликовано: 23.08.1987

Авторы: Борейко, Вылегжанин, Заводчиков, Поплавский, Таганов, Таганова, Яркин

МПК: G01B 11/30, G01N 21/88

Метки: высоты, шероховатости

...обеспечивает измерение шаго С = 4 2 4 Убсоя /Л М 44 где б 456 сов в =б среднеквадратичная высотанеровностей фугол: падения излучения наобразец,сдлина волны света,коэффициент, зависящий ототклонения приемной системы.от угла зеркального отражения ( 3 ) 1). у50 Расстояние 2, ст плоскости изображения сменных объективов 2 до объектива 11 приемной системы соответствует расстоянию практической бесконечности 2Р /Л, где й - поперечныйразмер изображения источника, создавого параметра шероховатости, что позволяет измерять высоту неровностейпо контрасту спекл-структуры беэ при 5влечения других способов а также даЭет полную информацию о параметрах шероховатости - шаговом и высотном, Измерение шага основано на принципе оптики спеклов: максимальный...

Номер патента: 1350492

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Абдрашитов, Антонов, Владов, Дегтярев

МПК: G01B 11/30

Метки: боковых, изделия, поверхностей, шероховатости

...регулировки оптико-сканирующего блока 2.45Способ определения шероховатостибоковых поверхностей изделия осуществляется следующим образом.Лазерный луч от лазерного генератора 1 однократно с помощью блока 21 50регулировки разворачивают посредствомоптико-сканирующего блока 2 на всюширину боковых поверхностей изделия7. Верхние направляющие зеркала 3 и4 направляют лазерные лучи на боковые 5 Вповерхности движущегося изделия 7.Нижние направляющие, зеркала 5 и 6возвращают после первого отражениязеркально отраженные лазерные лучи снова к контролируемым поверхностям иэделия 7. После второго взаимодействия зеркально отраженные лучи возвратятся верхними зеркалами 3 и 4 снова к контролируемой поверхности и т,д, При каждом отражении от контролируемых...

Номер патента: 1352194

Опубликовано: 15.11.1987

Автор: Домород

МПК: G01B 7/34

Метки: поверхности, шероховатости, электропроводящих

...;:Ср 51 лс 10 жст быть ВриОс;3 ии 6,цк)ЕГСТР 3111 (.О БС"1 РО(.111 ЦИ В .(10 (.ХС 10 И СРс 511(1151 (11 1ксЗ(11 с) ТКО 5 13;5)ЯЛс 1 с ИОБ(рх ицстси кццтрцг ирчсм 01 ) Оцьскта 33 Э 310 ицО (Н)РсЗс (ИС ИцксЗ(1 И) .(, ИО 06 Осч и( ст 33 5 к)т СГ 1 лчк) и 1(1 Оцр (1- ЗОМ.1 с 1(ОИТрц;13 р Сч 10 105 р 10 ГЫС,1( 351К ) (К 15 Р М (.1111 И ;3 а 10 111 3 К( , 11) 111 )3 3 О.1(13 с 1 И БОЗ;3 СИ(. Г 5 К) Г Ис И( (1 ЭРО:5(- , ИМ, СОЛ(РЖа вИМ Чс,1) ( ИСГОЧИК ИцСКЦ.ЬИОО Ис 1 ИРЯЖц 5 Иц 1051 ИИ(10 ГЦК 3Р с С И Ы.1 И Т С, 1 Ь 1 с С Г (1,1, 151 И О, 1 1( И5 с 3Р ( ) 5 ( )- э 5 цс ицк 3:5 и) . ЧгИР каи 1 .Р 1;с 3, эгктри:5 кнцс 5 Б ирцсс( ра( цы,с ии, 40 СТ 513 Вс 3 К)1(.5 15 06)ГсСТИ И 3 ИООГ 1 ЬИ,1 1( О ццрцлицст 3 эгсктричсскцГО ицгя Вбг из 1 м икрц СТ...

Номер патента: 1352202

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Антонюк, Нестеренко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...Световод 7 установен так, что его входной торец 15 размещен в выходном зрачке первой и второй линз 3 и 6, а выходной торец 16 оптически связан через плоские зеркала 8 и 9 с приемниками 10 и 11 излучения.Устройство работает следующим образом.Пучок света от источника 2 излучения поступает на первую линзу 3, а затем отражается сканирующим зеркалом 4 на вторую линзу 6 так, что в фокальной плоскости (между зеркалом 4 и линзой 6) линзы 6 образуется перемещающееся изображение источника 2 излучения. Линза 6 создает в выходном зрачке системы линз 3 и 6 параллельный пучок лучей. Угол между осью этого пучка и оптической осью системы линз 3 и 6 пропорционален углу поворота зеркала 4, В плоскости выходного зрачка системы линз 3 и 6 установлен...

Номер патента: 1352207

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Воронков, Воронкова, Ермолов

МПК: G01B 21/30, G01N 29/00

Метки: изделия, поверхности, ультразвуковой, шероховатости

...коэффициенты, определяемые материалом контролируемого изделия.Ультразвуковой способ контроля шероховатости поверхности изделия реализуетсяследующим образом.Устанавливают на контролируемой поверхности изделия, например отливке из чугуна ЖЧЮХШ, УЗ-преобразователь, Излучают в изделие через слой контактнойжидкости импульс УЗ-колебаний и принимают УЗ-преобразователем отраженные в изделии эхо-сигналы. На экране УЗ-дефектоскопа наблюдается осциллограмма(фиг. 1). Измеряют длительностьь донногоэхо-сигнала и время Ь его прихода и выделяют на временной развертке интервал, начало которрго находится в точке 1 л - 1, аконец - в точке Ь. Определяют максимальный сигнал структурного шума в выделенном временном интервале и измеряютего амплитуду А...

Номер патента: 1357705

Опубликовано: 07.12.1987

Авторы: Антонов, Владов, Дегтярев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, отражающих, поверхностей, шероховатости

...от нихпо поверхностям й, Ь контролируемого изделия 11 и образуют разверткув виде полосы, поперечной его движению. ДифФузная составляющая отраженного луча, лежащая в телесномугле, имеющем направление, перпендикулярное к поверхностям с 1, Ь попадает на поляроиды 7 и 8, а, пройдячерез них, на фотоприемники 9 и 10.Зеркальная составляющая отраженного луча попадает на эталонные зеркала 5 и 6 и вновь направляется наконтролируемые поверхности а, Ь,а затем на зеркала 3 и 4, и далеепроцесс повторяется до полного рассеяния луча. При каждом акте отражения от контролируемых поверхностей д, Ь часть диффузно рассеянного луча попадает на фотоприемники 9 и 10. При этом интенсивность и степень деполяризации этих лучей возрастает по мере увеличения...

Номер патента: 1370442

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Гвритишвили, Доценко, Зукакишвили, Илларионов, Тюнин

МПК: G01B 5/28

Метки: шероховатости

...шероховатости.40Устройство работает следующим образом. выхода которого снимают сигнал, характеризующий шероховатость, с выхода усилителя 21 - сигнал, характеризующий волнистость. Регистрация иотсчет показаний обеспечиваются блоком 24, За счет балансиров 12, 13 ипружин 14, 15 измерение возможно напроизвольно ориентированных поверхностях. 3 ил. 2В исходном состоянии установочные опоры 2 и 3 размещают на измеряемой поверхности. При этом привод 5 удерживает каретку 4 в положении, при котором ощупывающая игла 10 и базовая опора 11 взаимодействуют с эталонной поверхностью 17. При измерении с помощью привода 5 перемещают каретку 4, ощупывающая игла 1 О и базовая опора 1 перемещаются по эталонной поверхности 17 и обеспечивают контроль...

Номер патента: 1374045

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Комаров, Кравченко, Краковецкий

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...контроля и снижение массогабаритных характеристик устройства для контроля шероховатости - достигается за счет снижения отношения сигнал/шум вследствие устранения постоянной составляющей сигнала, которая не несет информации о шероховатости поверхности, но увеличивает шум фотоприемника. 15На фиг.1 показано устройство и ход лучей в системе; на фиг.2 - светочувствительная площадка фотоприемника.Устройство состоит из источника 1 2 О излучения, световода 2, перед скошенным торцом которого помещен источник 1, фотоприемника 3 с концентрическими чувствительными зонами 4,5, разделенными зоной 6 той же формы, в от верстие которого помещен световод 2, и помещенных в корпус 7 и залитых. компаундом 8 выводов регистратора 9. Устройство...

Номер патента: 1375940

Опубликовано: 23.02.1988

Автор: Брауэр

МПК: G01B 5/28

Метки: поверхностей, шероховатости

...устройство для контроля, продольный разрез.Устройство состоит из корпуса 1, установленной соосно ему гильзы 2 с прорезью длящупа 3. Щуп 3 закреплен, 15 . в головке 4 винтом 5. В гильзе 2 установлен стержень 6, в прорези которого установлена пружина 7, закрепленная шпилькой . Пружина 7 подпружинивает головку 4 в направлении 20 перпендикулярном оси корпуса 1. На гильзе 2 выполнены впадины под ведущие кулачки гильзы 9 средства вращения, выполненного в виде предельной муфты, Кулачки предельной муфты 25 сжимаются пружиной 10 с усилием, регулируемым положением резьбовой втулки 11, На гильзе 9 укреплен маховичок 12. Корпус 1 имеет центрирующий поясок 13, на который устанавливается 30 контролируемая деталь 14. Корпус 1 при помощи втулки...

Номер патента: 1375953

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Алексушин, Шульц

МПК: G01B 15/08

Метки: поверхности, шероховатости

...угломна по)верхность исследуемого образца 2.Флуоресцентное характеристическоеизлучение отбирают под угломи егоинтенсивность измеряют устрдйством3 вьделения и регистрации. В качестве такого устройства можно использовать, например, кристальный монохроматор, пропорциональный счетчик с последующим выделением характеристического излучения пороговыми устройства-ми и т.п,Энергию первичного излучения выбирают исходя из получения максимальной 45 чувствительности для данного интервала шероховатости поверхности образцаи достаточную для возбуждения выбранного флуоресцирующего элемента. Энергию изменяют напряжением на рентге 50 новской трубке с помощью селективных фильтров сменой изотопов и т.п. Для получения максимальной чувствительности измерений...

Номер патента: 1377576

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Загоскин, Миронов, Наумов

МПК: G01B 13/22

Метки: гидравлический, песочной, шероховатости, эквивалентной

...потериса 9 пограничного слоя1377576, шероховатости образца, как и над шероховатой поверхностью распределение скоростей изменяется при изменении шероховатости. Но измерение над гладкой поверхностью более точно поскольку можно измерять скорость вблизи стенки вплоть до ламинарного подслоя и даже внутри него.Аналогичные измерения и обработку результатов испытаний проводят с раз" мещением в потоке вместо испытуемого образца эталонов с различными песочными шероховатостями Кз и по результатам обработки строят указанную 15 на фиг.2 тарировочную зависимость относительной толщины б от величины песочной шероховатости Ку.Относительная толщина 0 определяО 20 ется по зависимости .9 = , где О ие, д соответственно толщина потери импульса при...

Номер патента: 1379618

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Давыдов, Иоффе, Климов, Красильщиков

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...не показан) обработки сигналов с фотоприемников 6, 7 и 8. Фотоприемник 6 сравнения и фотоприемник 7 для регистрации отраженного излучения установлены во втором цилиндрическом отражателе 4, 1 ил. 2ный на оси, точка пересечения которой с оптической осью коллимирующейлинзы 2 лежит на поверхности полупрозрачной пластины 5 со стороны источника 1 света, фотоприемник 7 длярегистрации зеркально отраженногоизлучения, расположенный на оси, точка пересечения которой с оптическойосью коллимирующей линзы 2 лежит наповерхности полупрозрачной пластины5 со стороны коллимирующей линзы 2,фотоприемник 8 для регистрации диффуэно отраженного излучения, расположенный на оптической оси коллимирующей линзы 2 за источником 1 света,рассеиватель 9 для...

Номер патента: 1388767

Опубликовано: 15.04.1988

Автор: Боровский

МПК: G01N 19/02

Метки: анизотропии, оценки, плоских, поверхностей, шероховатости

...поверхностью контртело, состоящее из двух независимых частей.Затем осуществляют движение контртела по исследуемой поверхности так,что обе части контртела перемещаются 20в одной плоскости, параллельной базовой плоскости шероховатости исследуемой поверхности. Движение осуществляют в различных направлениях,при этом измеряют разность сил сопротивления перемещению каждой. частиконтртела. По отношению этихразностей, полученных для каждогонаправления, судят о степени анизотропии. 30Одна из частей контртела, первойсоприкасающейся с материалом поверхности в направлении движения контртела, срезает выступающие выше плоскости перемещения частей контртеланеровности, Сила сопротивления перемещению этой части складывается изсилы ее адгеэии к...