Способ определения шероховатости поверхности

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 19) (13) 59 1 В 15 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ЛЬСТВУ о- от ги ексушин тгено а и меВып.7. -СР5.10.84. свидетельство С С 01 В 15/60, руемую пов поверхност ; зарегистри вторичного чения одно 1 ил нос шероховатость т по отношению тенсивностей тического излунтов покрытия.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯТИ ПОВЕРХНОСТИ ОВАТ р еделнных арактери из элем онт"в частГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ К АВТОРСКОМУ СВИД(71) Челябинский электрометаллческий комбинат(57) Изобретение относится к рольно-измерительной. технике ности к рентгенооптическим методам контроля качества поверхности, и м жет быть использовано в различных раслях промышленности, например в шиностроении, металлургии Целью изобретения является измерение шер ховатости поверхности из многокомп нентных материалов с достаточной т ностью за счет устранения влияния различных по химическому составу о разцов на результат. Первичное изл чение два раза с разной энергией с ответственно направляют на контролИзобретение относится к измерительной технике, в частности к рентгенооптическим методам контроля качества поверхности, и может бытьиспользовано в различных отрасляхпромышленности, например в машиностроении, металлургии,Целью изобретения является измерение шероховатости поверхности из многокомпонентных материалов с достаточной точностью за счет устранениявлияния различных по химическомусоставу образцов.На чертеже изображена схема устройства измерения шероховатости поверхности.Устройство включает источник 1гамма-или рентгеновского излучения,исследуемый образец 2 и устройство 3 20вьделения и измерения интенсивностифлуоресцентного характеристическогоизлучения, где- угол падения первичного излучения,угол отбора флуоресцентного характеристического излу чения.Способ осуществляютследующим образом.Первичное излучение. от радиоактивного источника 1 или рентгеновской 30трубки направляют под угломна по)верхность исследуемого образца 2.Флуоресцентное характеристическоеизлучение отбирают под угломи егоинтенсивность измеряют устрдйством3 вьделения и регистрации. В качестве такого устройства можно использовать, например, кристальный монохроматор, пропорциональный счетчик с последующим выделением характеристического излучения пороговыми устройства-ми и т.п,Энергию первичного излучения выбирают исходя из получения максимальной 45 чувствительности для данного интервала шероховатости поверхности образцаи достаточную для возбуждения выбранного флуоресцирующего элемента. Энергию изменяют напряжением на рентге 50 новской трубке с помощью селективных фильтров сменой изотопов и т.п. Для получения максимальной чувствительности измерений углы Ч и м выбирают минимальновозможными.Измеряют интенсивности флуоресцентного характеристического излучения образца при двух значениях энергии первичного излучения и сравнивают их отношение с градуировочной характеристикой, построенной для образцов известной шероховатости поверхности. Для получения максимальной, чувствительности энергию первичного излучения в первом случае устанавливают минимально необходимую для воз-. буждения флуоресцирующего элемента, во втором случае - максимально возможную.Результаты экспериментальной проверки показали возможность измерения шероховатостн поверхности ниже б класса чистоты при уменьшении и отсутствии влияния различных по химическому составу образцов на результат, При определении шероховатости поверхности для легких сплавов (алюминиевые, магниевые и т.п.) возможно расширение диапазона в сторону высших классов чистоты за счет малых энергий характеристического излученияФормула изобретенияСпособ определения шероховатости поверхности, заключающийся в том, что контролируемую поверхность облучают пучком первичного ионизирующего излучения, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения и определяют величину шероховатости, о т л,и ч а ю щ.и й с я тем, что, с целью измерения шероховатости поверхности из многокомпонентных материалов, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения одного из элементов, входящего в состав поверхности, изменяют энергию первичного излучения, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения того же элемента, а шероховатость поверхности определяют по отношению зарегистрированных интенсивностей./ Составитель В. Парнасова Техред М.Ходанич Корректор С. Шекма гре кт каз 769/4 роизводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектна 1 Тираж 680ВНИИПИ Государственного комипо делам изобретений и о 035, Москва, Ж, Раушская на Подписита СССРрытийд. 4/5