Патенты с меткой «шероховатости»

Номер патента: 1758409

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Алиев, Ахадов, Кадырметов, Селищев, Шлимак

МПК: G01B 5/28

Метки: отверстий, поверхности, шероховатости

...привод передвижения датчика, элементы базирования и механизм блокировки.Элементы базирования и механизм блокировки обеспечина,от постоянный контакт датчика с контролируемой поверхностью. что исключает предварительную 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 настройку датчика, Автоматический отвод датчика от поверхности детали после контроля позволяет предохранить его от повреждений.Предлагаемая компоновка деталей и узлов измерительной головки обеспечивает возмокность ее ввода н отверстие, шероховатость поверхности которого подлежит контролю на любом участке по всей длине,На фиг,1 изображена измерительная головка, общий вид; нэ фиг.2 - сечение А-А на фиг.1; на фиг,3 - сечение Б-Б на фиг.1; на фиг.4 - сечение В-В на фиг.1; на фиг,5 - сечение...

Номер патента: 1762110

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Зуев, Иванов, Осипович, Полев

МПК: G01B 7/12, G01B 7/34

Метки: диаметра, емкостное, металлического, объекта, поверхности, шероховатости

...устройстве для измерения шероховатости поверхности и диаметра металлического объекта, содержащем корпус, размещенный в нем датчик шероховатости, который выполнен в виде закрепленного на упругом элементе металлического электрода с нанесенным на его рабочую поверхность слоем диэлектрика, измеритель диаметра, выполненный в виде закрепленных на корпусе электродов, на которые нанесен диэлектрический слой, и присоединенный к датчикам измерительный блок. Электроды датчика шероховатости и измерителя диаметров выполнены в виде призм с углом а, выбираемым в диапазоне от 20 до 175.На чертеже представлена принципиальная схема устройства,Измеритель диаметров содержит корпус 1, на торце которого жестко закреплен измеритель диаметров 2,...

Номер патента: 1762235

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Брянцева, Калантаров, Карпова, Чурилов

МПК: G01N 33/34

Метки: бумаги, картона, образца, шероховатости

...установлена контактная пластина 8 для взаимодействия с измерителем (на чертеже показан контактный элемент измерителя). Направляющие 4 пластины 5 и направляющие 7 контактной пластины 8 параллельны между собой. При этом обе пластины 5 и 8 соединены между собой вертикальной тягой 9 с возможностью одновременного продольного перемещения пластины 5 под образец и контактной пластины 8. Кроме того тяга 9 нижним концом входит в отверстие, выполненное в пластине 5, что обеспечивает вертикальное перемещение тяги 9 вместе с контактной пластиной 8 и оптической головкой 1, для перемещения которой служит маховичок 10,В качестве измерителя может быть использован профилометр-профилограф с блоком записи, а контактным элементом в этом случае будет...

Номер патента: 1765005

Опубликовано: 30.09.1992

Автор: Руденко

МПК: B27N 3/16

Метки: древесно-волокнистых, плит, шероховатости

...поверхности, принимается приемником 3 и направляется на преобразователь 8, где преобразовывается в электрический сигнал, пропорциональный интенсивности зеркально отраженного излучения. С выхода преобразователя 8 усиленный сигнал передается на первый аналоговый вход микро- ЭВМ 10,Диффузно отраженный поток излучения, интенсивность которого в основном зависит от цвета отражающей поверхности, принимается приемником 4 и направляется на преобразователь 9, где преобразовывается в электрический сигнал, пропорциональный интенсивности диффузно отраженного излучения, С выхода преобразователя 9 усиленный сигнал передается на второй аналоговый вход микро-ЭВМ 10,Таким образом, на первый и второй аналоговые входы микро-Э В М 10 поступают...

Номер патента: 1768967

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Князев, Ложкин, Семченко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...первого зеркала, а центры отверстий другого ряда - с оптической осью, являющейся зеркальным отражением оптической оси от второго и третьего зеркал. При этом отверстия одного ряда расположены по окружности диска так, что они не лежат на одном радиусе с отверстиями другого ряда, что обеспечивает поочередное прохождение пучков, объектив, расположен между диском и фотоприемником так, что фокус объектива совпадает с плоскостью фотоприемника, а его оптическая ось параллельна оптическим осям, проходящим через центры отверстий одного и другого рядов диска.На иг.1 представлена схема устройства; на фиг,2 - изобракение диска,Устройство содеркит источник излучения (лазер) 1, линзу 2, плоское зеркало с отверстием 3, плоские зеркала 4, 5,...

Номер патента: 1770734

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Зинченко, Криков, Лущин, Ривкин, Семенов

МПК: G01B 7/34

Метки: поверхности, шероховатости

...и образцом с обеих его стооон,Последовательность формирования этих электрических сигналов может быть произвольной,Физическая сущность предлагаемого способа заключается в следующем. При деформации пьезоэлектрического образца на его поверхностях возникает электрический заряд вследствие прямого пьезоэффекта, причем измеряемым является заряд, образующийся в приповерхностном слое. Условия его образования, как и условия его снятия для измерения, в этом случае находятся в сильной зависимости от профиля приповерхностного слоя, в частности от его шероховатости, неплоскостности и неплоскопараллельности. Так, например, при измерении пьезомодуля 033 статическим методом на безэлектродньх пьезокерамических заготовках, их подвергают механическому...

Номер патента: 1775601

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Бронников, Прилипко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...и направлением наблюдения, углу между плоскостью зеркального отражения и плоскостью наблюдения, а такжепо величине амплитуды отдельного гауссового процесса в составе функциикорреляции определяют величину среднеквадратического отклонения профиля отсредней линии и из всего набора гауссовыхпроцессов формируют набор величин среднеквадратического отклонения профиля отсредней линии,При выполнении пространственных условий выбора точки наблюдения - 1 0(йфункция временной корреляции излучения,рассеянного движущейся со скоростью Чповерхностью, в точке наблюдения будетиметь вид набора гауссовых процессов16 О-С И)-, 1+созрсоз Осоз ф3 и ф 3 и Осоз ф Х ,Х Х ехр( - (соз ф + соз О) - 4 соз ф о( ) хЛ 2х ехр ( -- (зи ф+ зи 0 - 2 зи ф х2 Л 2 2Л 22 272х зи...

Номер патента: 1781537

Опубликовано: 15.12.1992

Авторы: Емельяненко, Зайцев, Рыжков

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...пучок, измеряют мощность отраженного пучка в пло скости, перпендикулярной отраженному пучку, в точках с координатами (О, 0); (г, 0); (2 г, 0); (О, г), определяют значения средне- квадратической высоты неровностей поверхности 6, коэффициент отражения 25 оптического излучения Й и угол 1 отклонения контролируемой поверхности от заданной плоскости для данной точки поверхности, перемещают контролируемую поверхность без изменения ее ориентации и производят 30 измерения величин Ь, й и 1 для любой точки поверхности по всей площади. Если освещение контролируемой поверхности производят оптическим излучением с заранее заданным гауссовским распределением 35 мощности а 11 учке, значения 1, В и 1 определяют по формулам где Ч 1, Чг, Чз, Ч 4- значения...

Номер патента: 1790739

Опубликовано: 23.01.1993

Автор: Сысоев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...чувствительность способа,Цель изобретения - повышение точности измерений и расширение диапазона измеряемых шероховатостей.Поставленная цель достигается тем, чтов известном способе измерения шероховатости, в котором облучают многохроматическим излучением поочередно поверхностьобразца сравнения и поверхность контролируемого иэделия, определяют величиныинтенсивностей отраженного от поверхностей в зеркальном направлении излученияи измеряют шероховатость поверхности изделия, с целью повышения точности измерения и расширения диапазонаизмеряемых шероховатостей, используютпри облучении линейно поляризованное излучение, а при приеме излучения - анализатор, определение величин интенсивностейпроводят при двух взаимно ортогональныхположениях...

Номер патента: 1795272

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Захаренко, Кальда, Новиков, Семенюк

МПК: G01B 13/22

Метки: изменения, поверхности, шероховатости

...корпус 1, расположенные внутри негокамеру и установленный с возможностью перемещения вдоль оси корпуса 1 нагружающий шток 3 с накид ной гайкой 4, крышку корпуса 2, измеритель давления 5, входное сопла 6, пробку 7 для сброса воздуха или газе из корпуса, нижний образец 8 с эталонной поверхностью, закрепленный к основанию корпуса винтами 25 10, верхний образец 9, представляющий собой исследуемое торцевое уплотнение, гайки 11 для крепления крышки 2 к корпусу 1, уплотнения 12, 13 для обеспечения герметичности конструкции, манжету 14. 30Устройство работает следующим образом.В корпус 1 устанавливают нижний образец 8 с эталонной поверхностью, Между образцом и основанием корпуса 1 устанав ливают прокладку 12 для герметизации внутреннего объема...

Номер патента: 1795277

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Бережной, Голуб, Гулин, Кривошеев, Лаврова

МПК: G01B 21/30

Метки: измерительный, комплекс, поверхностей, шероховатости

...поворота 11 обеспечивает поворот механизма сканирования в диапазоне от 0 до 60 с шагом 0,5блок светофильтров 4 состоит иэ диска 24 с отверстиями, выполненными на равном расстоянии друг от друга по окружности, светофильтров 25 с различными коэффициентами пропускания, размещенными в отверстиях диска 24 и привода вращения 26, состоящего из двигателя, выходной вал которого связан через зубчатую передачу (на рис. не показана) с осью диска 24.Блок поляризации 5 состоит из полуволновой пластины и поляроида (на рис. не показаны) и обеспечивает излучение линейно-поляризованного излучения, необходимого только для контроля многослойных поляризационных зеркал,Фотоприемное устройство 8 размещено на кронштейне 27, смонтированном на стойке 23 и...

Номер патента: 1796053

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Мельников, Соловьянов

МПК: G01B 7/34

Метки: шероховатости

...запоминание максимального значенияамплитуды положительного импульса, а амплитудный детектор б минимума - абсолютного максимального значенияотрицательного импульса,45 В схеме 7 сложения осуществляетсясложение абсолютных значений амплитудэтих импульсов, Результат сложения пгпэх ввиде аналогового сигнала присутствует навходе схемы 7 после каждого интервала из 50 мерения, Компаратор 8 преобразует аналоговую величину напряжения п щах,поступившего к нему на первый вход от схемы 7 сложения и характеризующего максимальную величину неровности участка, в55 импульсы, ширина которых пропорциональна этой величине, Для чего на второй входкомпаратора 8 подается пилообразное напряжение с интегратора 9 частотой порядка0,01 с, В момент окончания...

Номер патента: 1796892

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Минин, Морозов, Умнов

МПК: G01B 7/34

Метки: поверхности, шероховатости

...образованием твердой фазы электропроводной жидкости, а именно идущих на охлаждение контролируемой поверхности, что, в конечном итоге, усложняет процесс контроля,Цель изобретения - упрощение способа определения шероховатости за счет исключения затрат на Создание твердой фазы контактирующей с поверхностью контроля электройроводной жидкости,Поставленная цель достигается тем, что между электродом и контролируемой повер1796892 оставитель А, Морозехред М,Моргентал тор С. Шекмар актор Г. Бельс Тираж Подписное енного комитета по изобретениям и открытиям при 13035, Москва, Ж. Раушская наб., 4/5 аказ 643 ВНИИПИ Госуда НТ СС роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 3хностью размещают способную к затверде, ванию...

Номер патента: 1796897

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Менделеев, Сковородько

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...состоит из последовательно соединенных относительно направления шероховатости, вычислителя 9 и индикатора 10 шероховатосовпадающего с направлением шлифова- сти поверхности иэделия, а блок 5 сравне. ния и полирования изделия. Так, например, ния выполнен в виде компаратора иоповорот на 90 плоскости поляризации ли управляемый ключ 4 - в виде реле. Источник нейно-поляризованного излучения, падаю- -6 опорного напряжения выполнен в виде щего йа шероховатую поверхность класса, стабилизированного блока напряжения с приводиткизменениюинтенсивностиатра- возможностью регулировки выходного наженного сигнала на 20 и тем самым к пряжения;Другой пример конкретного выполнения, реализующего схему, приведенную на фиг,1, представлен блок-схемой на...

Номер патента: 1797686

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Мельников, Сорокина

МПК: G01B 7/34

Метки: шероховатости

...амплитуд этих импульсов. Результат сложения Ивы в виде аналогового сигнала присутствует на вы. ходе блока 10 после каждого ийтервала измерения, зйачение которого определяется по сигналу механизма 2 перемещения щупа, преобразованному задзтчиком 11 интервала значений. При этом сигнал об окончании интервала измерения в: виде короткого импульса поступает в блок 3 математической обработки и является для работы последнего разрешающим импульсом, а также этот сигнал поступает и в блок 7 обработки аналоговых сигналов, Причем этот сигнал поступает после прохождения механизмом 2 перемещения щупа заданного участка трассы. в рассматриваемом случае через 8 мм, а именно, в момент сОвераения одного полного оборота двйгателеммеханизма 2...

Номер патента: 1798621

Опубликовано: 28.02.1993

Авторы: Лубнин, Талалаев, Трифанов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, неплоскостности, поверхности, шероховатости

...служащие визуальным датчиком годности, звуковую головку 12, генератор 13 звуковой частоты.Схема (фиг, 3) содержит генератор 1 задающих импульсов, приемное устройство 2, излучатель 3 инфракрасного излучения, приемник 4 инфракрасного излучения, объективы 5, диафрагмы 6, фланец волновода 7,Способ контроля шероховатости поверхности осуществляется следующим обра 1798621зом. Излучение от источника 2 инфракрасногоизлучения направляется в канал волновода 5 посредством обьектива 3, Проходя через канал вол новода лучи многократно отражаются от его поверхности, на входе отраженные лучи фокусируются объективом 4 и попадают на фотодетектор 7, в качестве которого использован кремниевый светодиод, работающийв фотовольтаическом режиме, С...

Номер патента: 1803723

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Берман, Заборцев, Петров, Щербинский

МПК: G01B 7/34

Метки: датчик, емкостный, шероховатости

...1 соединен с измерительным прибором. Земляной контакт разъема 4 соединен с корпусом 5, При установке опоры базирования корпуса 5 на контролируемое изделие 6 пружина 7 прижимает емкостной датчик к поверхности изделия 6.Скользящая с малым допуском посадка штока 2 внутри корпуса 5 обеспечивает стабильность ориентации электрода относительноопоры базирования и поверхности изделия6. Электрический контакт корпуса 5 с изделием 6 обеспечивает заземление.Прокладка 3 выполнена в виде плосковыпуклой линзы из пьезоэлектрика с высокой диэлектрической постоянной например,цирконата-титаната свинца, Выход датчикашероховатости соединен со входом измерительного блока.Датчик работает следующим образом.Датчик устанавливают опорой базирования на...

Номер патента: 1807308

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Гончаров, Карпенко, Чурак, Шахло, Шостко

МПК: G01B 11/30

Метки: дистанционного, изделия, поверхности, шероховатости

...и опорный, Опорный пучок с первого выхода второго светоделителя 6, переотражаясь от первого отражателя 9, поступает на первый вход оптического смесителя световых пучков 12. Измерительный пучок с второго выхода второго светоделителя 6, переотражаясь от второго отражателя 10, поступает на вход оптической управляемой линии задержки 11. С второго выхода синхронизатора 17 на второй вход счетчика импульсов 18 поступает импульс установки в начальное состоянйе и устанавливает счетчик 18 в нуль, С третьего выхода синхронизатора 17 на второй вход вентиля 19 поступают тактовые импульсы, которые с выхода вентиля 19 поступают на первый вход счетчика импульсов 18. Счетчик импульсов 18 считает тактовые импульсы, поступающие с выхода вентиля...

Номер патента: 1810751

Опубликовано: 23.04.1993

Авторы: Зимняков, Полькина, Рябухо, Ткаченко, Федулеев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...5 интерференционных полос. Разность фазмежду когерентными пучками в интерферометре блока 3 можно изменять во времени, например, путем смещения одного из зеркал интерферометра или путем сдвига час тоты одного из пучков, например, спомощью движущейся дифракционной решетки или акустооптической ячейки.С фоторегистратора 6 сигнал направля.ют в блок 7, где проводят обработку этого 15 сигнала таким образом, что на выходе блока7 формируется сигнал, пропорциональный величине контраста интерференционных полосЮ20 огде Овых - сигнал на выходе блока 7,К - коэффициент пропорциональности,Ч - контраст интерференционных полос,Ж - амплитуда изменения средней интенсивности спекл-модулированного рассеянного поля,Ьо - среднее по времени значение...

Номер патента: 1816963

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Борисов, Крит, Лузин, Паволоцкий, Цвелев

МПК: G01B 7/34

Метки: поверхности, шероховатости

...так и с гладкой поверхности, изготовленной из того же материала. По разнице этих коэффициентов судят о шероховатости поверхности. 1 ил. определения шероховатости поверхности может быть реализован с помощью устройства, изображенного на чертеже. Это устройство содержит вакуумную камеру, в 00 которую помещен металлический кожух, выполняющий функции коллектора 4 вторич- (ных ионов, входную диафрагму 1 и сО электрод-супрессор 2. Образец 3, шерохо- (ватость поверхности которого контролиру- ( ) ется, помещен в металлический кожух, электрически изолированный как от образца 3, так и от корпуса вакуумной камеры, внутри которой выполняется обработка и в сопутствующее ей определение шероховатости поверхности. Ионный пучок 5 попадает на образец 3...

Номер патента: 1816964

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Басиров, Белов, Бочкарев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...отражающая поверхность оптической системы 4, Часть этого диффузного потока после отражения от исследуемой поверхности вновь возвращается 45 оптической системой 3 в точку падения излучения, Таким образом между оптическими системами 3 и 4 осуществляется многократное отражение диффузной составляющей излучения, проходящего через 50 точку падения луча А. Через отверстие оптической системы 4 проходит зеркальная составляющая отраженного излучения и часть диффузной составляющей, обусловленной многократными отражениями между опти ческими системами 3, 4 и отражениями в точке А, Этот поток, обозначим его Ф, отражаясь от зеркала 6, направляется на фотоприемник 9. На фотоприемник 9 также направляется диффузно составляющая отраженного излучения под...

Номер патента: 1818526

Опубликовано: 30.05.1993

Авторы: Маврин, Прохоров

МПК: G01B 7/34

Метки: поверхности, шероховатости, электропроводной

...Новым в способе является то, что формирование диэлектрика конденсаторов осуществляют путем создания слоя диэлектрической жидкости на одной из обкладок, а другую обкладку каждого конденсатора выполняют в виде электрода, плавающего на поверхности диэлектрической жидкости. 1 ил. кладку 4 конденсатора выполняют в виде электрода, плавающего на поверхности диэлектрической жидкости, Электрод может быть выполнен из меди и иметь коробчатую форму.Аналогично, на эталонной поверхности, образуют эталонный конденсатор с такими же габаритными размерами в плане, Для его образования используют такое же количество диэлектрической жидкости,Емкости эталонного и измерительного конденсаторов могут быть измерены любым известным измерителем...

Номер патента: 1820206

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Большанина, Путилин, Старовойтов

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...на границу раздела излучения под угломобеспечивающим наименьшую полуширину максимума рассеяния, в предлагаемом способе используется линза с цилиндрической образующей, позволяющая менять угол падения излучения на границу в пределах 0-90,На фиг.1 представлено взаимное расположение контролируемой поверхности и цилиндрической линзы; на фиг.2 - схема реализации метода,Устройство включает в себя: 1 - источник когерентного монохроматического изаучения; 2 - модулятор (прерывательсветового потока); 3 - светоделитель, 4 -фотоприемник, 5 - цилиндрическую линзу,б - образец, 7 - предметный столик, 8 -фотоприемник, 9 - предусилитель, 10 - селективный измеритель отношения электрических сигналов, 11 -...

Номер патента: 1829570

Опубликовано: 10.03.1996

Авторы: Менделеев, Сковородько

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...повторяется.В устройстве реализуется парэллельнопоследовательный обзор поверхности 17, что позволяет повысить производительность контроля,В случае варианта устройства на фиг. 2 линейный поляризатор 7 формирует линейно поляризованное излучение, а зеркально отраженные контролируемой поверхностью 17 лучи направляются на линзу 9, формирующую параллельный пучок, который разделяется двулучепреломляющей призмой 8 нэ обыкновенный и необыкновенный пучки, падающие соответственно на фотоприемники 3 и 10, Электрические сигналы с фотоприемников 3 и 10 поступают в блок 4 регистрации, где вычисляется коэффициент деполяризации, как отношение этих сигналов.Вращением двулучепреломляющей призмы 8 совместно с фотоприемниками 3 и 10 вокруг оптической оси...

Номер патента: 1635687

Опубликовано: 10.07.2004

Авторы: Абульханов, Данилов, Федоров, Шпатаковский

МПК: G01B 5/28

Метки: шероховатости

Устройство для контроля шероховатости, содержащее волоконно-оптический преобразователь, зонд с закрепленной на нем головкой и установленным в ней волоконно-оптическим коллектором, отличающееся тем, что, с целью обеспечения возможности контроля шероховатости в жидкой среде, головка выполнена из соосных и вложенных друг в друга юбки с зигзагообразным окончанием и чехла с угловыми вырубками на большем из торцов, на юбке и чехле выполнены патрубки, предназначенные для соединения с пневмосистемой и подачи сжатого воздуха в объем между юбкой и контролируемой поверхностью и объем между чехлом, юбкой и контролируемой поверхностью соответственно, а волоконно-оптический коллектор размещен в юбке по...

Номер патента: 1839881

Опубликовано: 20.06.2006

Авторы: Азарова, Горбачев, Соловьева

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, образцов, поверхности, фотометрический, шероховатости

Бесконтактный фотометрический способ измерения высоты шероховатостей поверхности образцов, по которому на контролируемую поверхность направляют монохроматический поток излучения под углом, не превышающим 10°, определяют интенсивность J0 зеркально-отраженного излучения и интенсивность излучения J( 1), отраженного в направлении, отличном от зеркального, под заданным углом 1 определяют отношение заверенных интенсивностей отличающийся тем, что, с целью...