Патенты с меткой «шероховатости»

Номер патента: 1620831

Опубликовано: 15.01.1991

Авторы: Егоров, Черемискин

МПК: G01B 11/30

Метки: оптической, параметров, поверхности, шероховатости

...период (шаг) и интервал корреляции шероховатости, а по рассеянной мощности определяют величину среднеквадратичного отклонения поверхности. лом к неи, падающего излучения и ховатости, П лируемой и оптический в лучения изм основной м угол р, изме сти рассеян от угла расс лучают инд рой опреде плоскости По максима плоскости и ределяют в затем измеряют интенсивность и рассеянного от поверхности определяют параметры шероредварительно на базе контрооверхности создают планарный олновод. Острый угол падения иэеняют до момента возбуждения оды в пленке, затем фиксируют ряют зависимость интенсивно- ного излучения основной моды еяния в плоскости падения, поикатриссу рассеяния, по котоляют функцию спектральной шероховатости поверхности....

Номер патента: 1620832

Опубликовано: 15.01.1991

Автор: Якименко

МПК: G01B 11/30

Метки: оптическое, поверхности, шероховатости

...установленного с возможностью перемещения вдоль оптической оси схемы, система оптического отображения предназначена для жесткой связи с контролируемой поверхностью, а схема формирования когерентных световых пучков и система оптического отображения установлены так, что их оптические оси составляют между собой Угол 9, где 0 (6 с 90 О2соз 8 р)55 Изобретение относится к измерительной технике и предназначено дляконтроля качества обработки поверхности изделий,Цель изобретения - повышение производительности измерения за счетобеспечения возможности непосредственной визуализации степени разрушения интерференционной картины и, следовательно, соотношения между характерным размером неоднородностей контролируемой поверхности и...

Номер патента: 1634982

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Каратеева, Карпусь, Кирпа, Сторчак

МПК: G01B 5/28

Метки: поверхности, шероховатости

...профилометрирования определяют проекции глубины сечения профиля на осях Х и У, т,е.Ри Р 8, относительную опорную длину профиля как отношение суммы участков базовой длины отсекаемой профилем шероховатости к базовой длине и среднее арифметическое отклонение профиля. На основании результатов профилометрирования строят круговую опорную поверхность в пространственных декартовых координатах. Выбирают направление оси Х совпадающим с направлением обработки. На координатной плоскости ХОУ или параллельных ей плоскостях в направлении профилографирования откладывается глубина сечения профиля.Проекции глубины сечения профиля на осях Х и У определяются углом профило графирования щ;, Значение опорной длины профиля определяется только его формой в...

Номер патента: 1647242

Опубликовано: 07.05.1991

Авторы: Бузников, Лахтанов

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, оптический, поверхности, среднеквадратичной, шероховатости

...1 монотического света, поляризационный затор 2 и фоторегистратор 3. Плоско- опускания анализатора 2 совпадает с остью, включающей линию визироваперпендикуляр к контролируемой прости 4. На чертеже указан диапазон углов отражения О, равный 55 - 90, в котором производится измерение интенсивности параллельно поляризованной компоненты1647242 Составитель Л. ЛобзоваРедактор В. Данко Техред М.Моргентал Коррек Шаро аказ 1388 Тираж 393 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по.изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская нэб 4/5 кий.комбинат "Пате оизводственно-изда жгород, ул.Гагарина,отраженного излучения, Направление отражения, соответствующее О, = 55, называется направлением зеркального отражения (угол обозначен О...

Номер патента: 1649241

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Жданов, Коузова

МПК: G01B 5/28

Метки: образец, шероховатости

...частиц и их плотность можно плавно менять, изменяя условия конденсации, например количество осажденного металла. Тем самым обеспечивается возможность приготовления серии образцов с параметром Я, отличающимся на любую наперед заданную величину, По той же причине повышается точность воспроизведения рельефа при копировании образца.Пример изготовления образца на полированных стеклах, покрытых слоем аморф. ного углерода и дисперсной пленкой олова, Параметр шероховатости Я стекол, измеренный рефлектометрическим методом, составляет 1,7 и 1,1 нм соответственно до и после нанесения углерода. Олово нанесено вакуумным испарением на подложки, нагретые до 420 К (0,85 Тпл), Меняя количество осажденного металла, можно регулировать...

Номер патента: 1649264

Опубликовано: 15.05.1991

Автор: Кизеветтер

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, поверхности, шероховатости

...с угловой скоростьюи перемегде 0И формула изобретения Бесконтактный способ определения высоты шероховатости поверхности, заключающийся в том, что направляют лазерное излучение .на исследуемую поверхность, перемещают исследуемый образец, измеряют характеристики рассеянного излучения, по которым определяют высоту нероховатости, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и производительности определения, исследуемый образец одновременно с его перемещением вращают вокруг оси, перпендикулярной плоскости поверхности исследуемого образца, перемещение исследуемого образца производят параллельно плоскости его поверхности на величину, за время одного оборота равную диаметру лазерного луча, а угловую скоростьвращения задают из...

Номер патента: 1649267

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Квалкаускас, Юркаускас

МПК: G01B 13/22

Метки: пневматический, шероховатости

...способом.На поверхность контролируемого объекта 1 устанавливают штатив 2, в котором закрепляют плоскую пружину 3 с малоинерционным преобразователем 4 деформации )ружины, Выполненным, например, В Виде полумоста из тензопреобразователей. На свободном конце пружины крепят пьезокерамический элемент 5, Преобразоьатель 4 электрически соединяют через усилитель 6 к узлу 7 регистрации, а. элемент 5 электрически соединяют с высокоточным генератором 8, обеспечивающим колебания тока с частотой 100 - 1000 кГц.Под действлем колеоаний поверхности элементов 6, скрепленной с пружиной 3, происходит колебани 8 пру)киньи Воздушного слоя между пружиной и контролируемой поверхностьо, что создает "ГазовуО подушку", толщина которой зависи) От...

Номер патента: 1657950

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Бучковский, Гуминецкий, Житарюк

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...соэ, ц/1+ совк, М=з 10 бр./эггар.ф1,25. 1,г ,Ф(2)/Ф(1), М, 2,в после измерений з 1, эг на исследуемых поверхностях опрееляют Вя по формуле Яя=;(1-М/А(Ф(2)-МФ(1 . 1 ил,вания полученных результатов в измерениях на исследуемых деталях.На чертеже представлена принципиальная схема устройства для реализации предлагаемого способа,Устройство содержит источник 1 излучения, фотоэлектрический приемник 2. Позицией 3 обозначена исследуемая деталь,Способ осуществляют следующим образом.На предметный столик гониометра (не показан) помещают деталь 3 с известным параметром Яя и облучают от источника 1 излучения исследуемую поверхность пучСреднеквадратичное отклонение йя микронеровностей от средней линии профиля определяют по формуле1 - Мдет 30 / 1 з...

Номер патента: 1663411

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Зубков, Овчинников

МПК: G01B 7/34

Метки: мягких, поверхности, шероховатости

...нулевое измерение получают начальное значение параметра Вв 1 шероховатости поверхности. Затем нна близких к начальному участках исследуемой поверхности, на которых гарантируются равные условия измерений, 1663411проводят дополнительно не менее двух аналогичных измерений при других скоростях перемещения датчика (Ч 2 и Чз) и.определяют дополнительные начальные значения исследуемого параметра - Ва и ВЬа, По полученным данным строят зависимость начального значения параметра шероховатости от скорости перемещения контактного датчика (фиг, 2) и путем ее экстраполяции на нулевую скорость перемещения получают фактическое значение исследуемого параметра К шероховатоФсти. Постоянное усилие Р, с которым датчик контактирует с исследуемой...

Номер патента: 1663423

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Вяткин, Киселев, Куракин, Лигачев, Панарин, Семенов

МПК: G01B 21/00

Метки: дифференциального, методом, оптических, параметров, поверхностей, светорассеяния, шероховатости

...излучения лазера 1 отклоненасветоделителем 3 на фотодатчик 4, напряжение с которого подается на блок 5 стабилизации мощности лазера. Управляющийсигнал с блока 5 стабилизации мощностипоступает на управляющий вход блока питания лазера 1,Часть излучения, прошедшая светоделитель 3 в направлении оси лазера 1(падающий луч), пройдя последовательно черезамплитуцный преобразователь 6, поляризатор 7, первый пространственный фильтр 8,падает под углом Ипд на образец 26, укрепленный в держателе 9. Часть отраженногоизлучения, проходя через второй пространственный фильтр 10, регистрируется ФЭУ11, при этом сумма углов Ирег регистрацииизлучения и 6 Ъад падения постоянна и равна 90 О. Напряжение с ФЭУ 11 (с нагрузочного резистора 25, фиг.2)...

Номер патента: 1666921

Опубликовано: 30.07.1991

Автор: Смирнов

МПК: G01B 11/30

Метки: зеркальной, параметров, поверхности, шероховатости

...металлических поверхностей иэделий, не имеющих регулярной составляющейшероховатости, Цель изобретения - повышение производительности определениясреднеквадратичного отклонения и периодакорреляции высот неровностей, являющихся параметрами шероховатости. Способ определения параметров шероховатостизеркальной поверхности заключается в том,А 2,1666921 А 1 что освещают исследуемую поверхность параллельным монохроматическим световым пучком под острым углом 00 к ее нормали, измеряют интенсивности световых потоков, отраженных исследуемой поверхностью,и по отношениям этих интенсивностей к интенсивности зеркального отражения судят о среднеквадратичном отклонении и периоде корреляции высот неровностей. Измерение интенсивностей 1 и 1 световых...

Номер патента: 1668865

Опубликовано: 07.08.1991

Авторы: Витенберг, Ланде, Подхалюзин, Терехов, Торчинский

МПК: G01B 11/30

Метки: металлической, поверхности, шероховатости

...в трых сколов их поверхасширение чет обнаруической поток сначала измеряют интенсивность 1 г отраженного в обратном направлении горизонтально поляризованного света и по отношению инГостей - судят о наличии сколов, а1 гг1 вввкола определяют иэ соотношений СОВ(зг/и) - Созе/п)СОБОЛЬ/и) зом.От источника 1 монохромати та с длиной волны (, направляю поток 6 через поляризатор 2 н контролируемой поверхности 5 ность отраженного световог проходящего через анализато рируют приемником 4. Направ товой поток сначала пол вертикальной плоскости и изме ивность 1 в, отраженного в обратном на1668865 впф)впф) Г гг вц совф) -сОзф)ссай) 1 гг ( 31 П /и 5 и о/и сов(л/и) - созф/п)соя(р,/и) Составитель Л. Лобз Техред М,Моргентал ректор Л, Бески дактор О. Голова...

Номер патента: 1672208

Опубликовано: 23.08.1991

Авторы: Дейко, Лукашевич, Сметанин

МПК: G01B 13/22

Метки: плоской, поверхности, шероховатости

...переводится в режим свободного скольжения по образцу, пересекает луч фотоэлемента и его фотодиод 8 включает коммутатор 9, после чего включается регистратор вольтметра 10 и происходит отсчет величины напряжениясигнала нэ выходе усилителя 6, приведшего к пуску ползуна.При калибровке полэуна частота генератора 5 подстраивается в резонанс с собственными колебаниями ползуна,благодаря чему возможно понижение требуемой мощности сигнала с выхода усилителя 10 15 Помимо этого, возбуждение полэуна с собственной резонансной частотой позволяет усилить степень подавления его фрикционных автоколебаний и тем самым повысить точность и надежность измерений, делая отсчет вольтметра 10 однозначным и повторяющимся при множестве проб,Чем больше шероховатость...

Номер патента: 1680496

Опубликовано: 30.09.1991

Авторы: Бондаренко, Вахтеров, Зайцев, Ряховская, Хатилович

МПК: B27N 3/16

Метки: древесных, плит, степени, шероховатости

...измерения шероховатости, т,е. повышается точность.Устройство для контроля степени шероховатости древесных плит работает следуэощим Образом.Излучение от источника Освещения, направленное под определенным углом к измеряемой поверхности так, чта часть лучей, Отразившись, падает, на фотоприемник 7, другая часть принимается фатогэриемээикам 2. Величина образующегося при этом фото- тока фотоприемника 2 пропооцианальна э 1 роникающим лучам между опорной плабтиээайэ 3 и измеряемой поверхностью, на которую накладывается эта опорная пластина, т.ечем больше шероховатость поверхности, тем больше проникающее действие лучей на фотоприемник 2.Однако неоднородность поглощения лучей древесными плитами с различным сО" отавам и цоетностью может приводить...

Номер патента: 1682770

Опубликовано: 07.10.1991

Авторы: Нестеренко, Сахно

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...лучом и оптической осьюизменяется в пределах а 1 - аг Положительная формирующая линза 5 фокусирует. эти лучи на выходной торец световода 6 так, 45что угол а между лучом за положительнойформирующей линзой 5 и оптической осьюизменяется за промежуток времени Ь Т впределах ( - а 1 - а 2 ) В результате эффекта симметризации пучка лучей в световоде6 пучок за выходным торцом световодапредставляет собой полый конус с вершиной в центре выходного торца и углом привершине, изменяющимся в пределах4а 1 - а 2 за промежуток времени ЬТ, Положительная фокусирующая линза 7 фокусирует полученный конический пучок наисследуемую поверхность 10 так, что за нейобразуется пучок в виде полого конуса с вершиной на исследуемой поверхности 10 и углом между...

Номер патента: 1693376

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Витушкин, Гинкул, Михайлов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...нанесена тарированная вкала шероховатости поверхности. Поверхность 10 грани, на которой выполнена линза 7, - зеркальная.Устройство работает следующим образом,Излучение от исто Рникасвета проходит через отверстие диафрагмы 2 и фокусируется линзой 3 на зеркале 4. При медленном перемещении всего измерительного устройства по контролируемой поверхности 11 изделия щуп 5, повторяя профиль микронеровностей поверхности 11, отклоняет зеркало 4 на определенныЙ угол п, величина которого пропорциональна максимальной высоте микронеровностей, На угол 2 р отклоняется падающий нд зеркало 4 тонкий луч света. Далее луч света проходит цилиндрическую линзу 7 и, преломляясь, разворачивается на угол у, Попадая на отрдженнуо линзу 8, луч разворачивается нд...

Номер патента: 1698640

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Седельников, Ульянов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...поляризации света и скорости движения поверхности изделия 8 ортогональны. Рассеянное излучение, проходящее через микрообъектиа 3, с помощью светоделительного кубика 2 направляют на микрообъектиа 4 и снова локалиэуют в точке микрообъектива 4, идентично микрообъективу 3, Расстояние от точки фокуса микро- объектива 4 до диафрагмы 6, т,е, плоскостимального падения луча лазера 2 на поверхность изделия 8, С помощью поляризатора 5 в рэсс 8 Янном иэлуч 8 нии выделяют единственную,компоненту полл, соответствующую исходной поляризации лазерного излучения. 5 С помощью диаФрагмы 6 с малым отверстием, находящейся непосредственно за поляризатором 5, выделяют в дифракционной картине а области зеркальной компоненты (наиболее крупный центральный спекл...

Номер патента: 1698641

Опубликовано: 15.12.1991

Автор: Юрина-Цымбал

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактного, поверхности, шероховатости

...в информационных иопорном пучках; б - диаметр пучкови ,сравнимый с базовой длиной шероховатости поверхности, гп - расстояние междуцентрами пучков, которое больше базовойдлины шероховатости повеохности; о - 5центр пучка , совмещенный с центром вращения поверхности 26 контролируемого из-.делия, Ь - центр пучка , в которыйсфокусирован пучок ,Способ осуществляют следующим об- Оразом.Контролируемую поверхность 28 вращают с постоянной скоростью и освещаютдвумя монохроматическими хогарентнымилинейно поляризованными пучками света с 15взаимно ортогональной поляризацией, сформированными лазером 1, четвертьволновойпластиной 2, полупоозрачным зеркалом 9,линзой 10, призмой Волластона 11, призмой 12 и микрообъективами 16 и 15 так, что 20на...

Номер патента: 1700358

Опубликовано: 23.12.1991

Автор: Егоров

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, параметров, поверхности, шероховатости

...излучения, а также за счет определения параметров шероховатости; пространственного периода, амплитуды гармонических составляющих и среднеквадратичного отклонения поверхности от плоскости.На фиг.1 изображена принципиальная схема устройства для определения параметров шероховатости поверхности; на фиг.2 - то же, вид сверху.Устройство содержит источник 1 излучения, поляризатор 2, фокусирующую систему 3, первый оптический элемент 4 связи (призма), диэлектрический слой 5, второй оптический элемент 6 связи, выполненный в виде плоского полукруга радиуса Я 1, третий оптический элемент 7 связи, выполненный в виде полусферы с плоским основанием радиуса Яг первый слой 8 иммерсии, второй слой 9 иммерсии, первый приемник 10 излучения, второй приемник...

Номер патента: 1702178

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Король, Маслов, Остафьев

МПК: G01B 11/30

Метки: образца, поверхности, полированной, шероховатости

...и вокруг оси, перпендикулярной плоскости падения и црохо 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 дящей через цен гр приемной ппощэдки фотоприемникэ.На чертеже пред 1 эпецэ пригшипиальнэя схема устройстваУстройс 1 во содержиг й 1 очник 1 когерентного излучения, обьекйв 2 дпя фокусировки падающего излучения, блок 3 перемещения образца, фотоцриемник 4, блок 5 обрэбот,. и информации н индикэции, систему сканирования, состоящую из приводов б и 7 поворота. Источник 1 когерентного излучения и обьектив 2 расположены на одной оптической оси, Блок 3 перемещения образца позволяет осуществпягь подвижки исследуемого образца 8 в плоскости, перпендикулярной плоскости падения луча, в двух взаимно перпендикулярных направлениях, при этом возможно проведение...

Номер патента: 1702179

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Большанини

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...материала, а также отсутствия влияния точности изготовления эталона на результаты измерения. Освещают световым потоком от источника 1 когерентного монохроматического излучения на поверхность исследуемой детали 15 со стороны среды с большим показателем преломления и под углом, величина которого не меньше критического значения для данного материала детали. Регистрируют величину сигнала, пропорциональную интенсивности 1 т рассеянного излучения, прошедшего контролируемую поверхность эа счет нарушения полного внутреннего отражения, и величину сигнала, пропорциональную интенсивности 1 О падающего излучения. Среднеквадратичную шероховатость О определяют по формуле16-1 т,4): 4 асов ч, где Л - длина волны когерентного источника; ч - угол...

Номер патента: 1711001

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Езерский, Калашников, Король, Маслов, Сыревич

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...перемещения светового луча вплоскости образца 3 при сохранении посто 35 я нного угла падения луча и нормали к поверхности образца в контролируемых точках,Управление механизмом 2 осуществляетсяпосредством механической связи с выхода7 блока 8, который тактируется по входу 9 с40 выхода синхронизатора 10, При этом управление записью значений отсчетов индикатрисы рассеяния в контрольных точкахосуществляется при помощи дозатора 12циклов контроля, управляемого сигналами,45 синхронными с тактами перемещения светового луча, с выхода 11 блока 8 калиброванного дискретного перемещения. Процесссъема информации устройством состоит изМ циклов, в каждом иэ которых выполняется50 . тактов сдвига светового луча в плоскостиобразца на...

Номер патента: 1712782

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Комаров, Кривохижа, Лазаренко, Мельник, Таланчук

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...изобретения - повышение чувствительности устройства за счет улучшения разделения составляющих светового потокаа.Для этого, в устройстве для контроля шероховатости поверхности, содержащем регистратор, источник излучения, световод со скошенным торцом, перед которым расположен источник излучения, и фотоприемник с чувствительными зонами, разделенными зоной нечувствительности, и с отверстием, в котором расположен световод таким образом, что его ось перпендикулярна чувствительной площадке фотоприемника, чувствительные зоны фотоприемника выполнены асимметричными по отношению к оси световода в соответствии с границами поля облученности, определяемыми. из условия максимального использования отраженного потока излучения.На фиг, 1...

Номер патента: 1714363

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Коваль, Левченко

МПК: G01B 21/30

Метки: поверхности, шероховатости

...первые входы второго, (К+4)-го, (2 И+1)-го сумматоров 10, 54-59, к выходу второго масштабирующего усилителя 47 присоединены вход второй ячейки 8 памяти, к выходу которой присоединены параллельно вторые входы первого, (8+4)-го, , (1,5 И+1)-го сумматоров 9, 54 - 55, кроме того, к выходу второй ячейки 8 памяти присоединены через третий инвертор 66 параллельно вторые входы сумматоров с (1,5 К+ 2)-го по (2 М+1)-й 56 - 59, к выходу каждого из масштабирующих усилителей с третьего по И-й 48 - 53 присоединен вход соответственно (И+7)-й, , (2 М+4)-й ячейки 60 - 65 памяти, выход которой присоединен параллельно соответственно к третьему, , (М/2)-му входу второго сумматора 10, а выход ячейки памяти с (1,5 К+5)-й по (2 й+4)-ю 62-65...

Номер патента: 1725073

Опубликовано: 07.04.1992

Авторы: Егоров, Костромин, Трушля

МПК: G01B 15/00

Метки: поверхности, шероховатости

...волну направляют на поверхность исследуемого образца, отааженную волну преобразуют в электрический сигнал и по его значению судят о чистоте поверхности образца, на которой размещают открытый диэлектрический1725073 40 50 55 резонатор, а значение шероховатости определяют по изменению его собственной резонансной частоты.Помещение диэлектрического резонатора на проводящую металлическую повер хность приводит к резкому изменению значения резонансной частоты. Это связано с тем, что диэлектрический резонатор является открытой резонансной системой и его электромагнитное поле сильно подвержено 10 внешним воздействиям. Максимальной резонансной частотой резонатор обладает вне контакта с проводящей поверхностью и минимальной - когда он находится...

Номер патента: 1730535

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Денисов, Корчагин

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...от припуска, Величину шероховатости при этом определяют традиционными способами. Эту характеристику определяют как семейство кривых, где в качестве определяющего параметра выбирают параметры, влияющие на наклон характеристики микровыравнивания (например, для электрохимический обработки - температура электролита, плотность тока, переменность режима тока, внешние магнитные поля и т. д.). Затем определяют исходную величину шероховатости также обычным способом в контрольной точке на детали партии однотипных деталей, изготовленных по одинаковой технологии. По снятым тарировочным характеристикам микровыравнивания назначают режим проведения обработки и необходимый припуск для получения заданной величины шероховатости, После этого ведут...

Номер патента: 1733925

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Комаров, Кравченко, Кривохижа, Лазаренко, Мельник, Моленко, Островский

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...изобретения - уменьшение поперечных габаритов и повышение информативности контроля,Для этого в устройстве для контроля шероховатости поверхности, содержащем последовательно расположенные источник излучения, световод со скошенным входным торцом, фотоприемник с чувствительными зонами, разделенными зоной нечувствительности, установленный соосно со световодом на его выходном торце, и регистратор, фотоприемник имеет форму полого цилиндра, а зоны чувствительности фотоприемника нанесены на его внутреннюю цилиндрическую поверхность, между зонами чувствительности расположена зона нечувствительности, выполненная зеркальной.Среди конструкций волоконных устройств для контроля шероховатости поверхности неизвестны такие, в которых зоны...

Номер патента: 1740991

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Битюков, Золотарев, Колодежнов, Сырицын

МПК: G01B 13/22

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...рабочей среды в -ом эксперименте настройки;у;= В); - величина абсолютноо зазора несущей прослойки рабочей среды в -м экс. перименте настройки.Настройка устройства (фиг, 1) осуществляется следующим образом. 15 20 25 30 35 40 45 50 55 В камеру повышенного давления 1 через подводящий штуцер 4 подается рабочая среда, например воздух с некоторым начальным минимальным) значением расхода 01,измеряемым расходомером (не показан) и устанавливается регулятором расхода. Далее рабочая среда через питающее сопла 3 в контрольной поверхности 2 поступает под контролируемую поверхность изделия 5. Величина 01 выбирается из условия свободного зависания изделия 5 на воздушной прослойке п 1= (На)г+ ЬЬ, когда измеряемый блоком 8 абсолютный зазор(Ьа) О,...

Номер патента: 1747886

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Басиров, Белов, Бочкарев, Запускалов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...по два на двух ок- блока 1. Световоды 2 и 3 передают отраженружностяхи "предназначенные" дляные световые потоки в фотоприемник 6, Мопропускания зеркальной и диффузной со- дулятор 7 позволяет последовательно ставйяЮщих отраженного светового потока, освещать фотоприемник 6 диффузно и зера блок обработки электрического сигнала 55 кально отраженными потоками и моделиросОстоит изпоследовательно соединвннЫх вать сигналы засветки дополнительного усилителя, ключевого узла, соединенного с фотодиода 9 от осветителя 8, Сигналы с фофотодиодом, делителя напряжений, лога- топриемника 6 усиливаются усилителем 10, рифмического усилителя и показывающего разделяются ключевым блоком 11, связан прибора.ным с фотодиодом 9, делятся в блоке деления...

Номер патента: 1747887

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Комаров, Кравченко, Кривохижа, Лазаренко, Мельник, Моленко, Пташник

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...перед скоЮ фотоприемником и контролируемым обьек том, выполнен в виде жгута волокон, опеченных на торце, обращенном к фотоприемнику, и образующих кольцевую зону вокруг осветительного световода на другом торшенным торцом которого помещен источник, фотоприемник с кольцевыми концентрично расположенными чувствительными зонами, разделеннйми нечувствительной. зоной, в отверстии которого помещен световод тэк, что его ось перлендикулярйа чувствительной площадке фотоприемника, а также помещеннйе в корпус и залитые компаундом выводы регистратораНедостатком такого устройства является низкая чувствительность, поскольку используется только небольшая часть рассеянной компоненты отраженного потока и вследствие неконцентричного распределения...