Способ приготовления штриховой меры тест-объекта для градуировки увеличения и проверки разрешающей способности электронных микроскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1597668
Авторы: Агеев, Блоха, Климовицкий, Милославский, Северин
Текст
2 п зп ЧУгол падения ( лучей 7 и 8 связанс углом о( при вершине призж соотношением (=1/2 Р-) .Серебро, находившееся до облучения сверху пленки А 8 С 1, в процессе облу О чения распределяется по всей толщине пленки и на границах А 8 С 1- воздух и АяС 1 - призма, Облученный образец помещают в эксикатор с параьи иода, образующимися при сублимации иода из небольшого кусочка кристаллического иода, помещенного на дно зксикатора, Поверхностный, слой серебра иодируют при комнатной температуре до его полного превращения в Ая 1, Затем образец 20 помещают в раствор фотографического фиксажа, промывают водой и высушиваютПутем цифрактометрических измерений контролируют период полученной серебряной решетки, Далее в вакууме напы ляют на решетку угольную пленку толщиной порядка 1 О нм, которую затем отделяют вместе с реыеткой с помощью желатины. Полученный образец закрепляют на столика объектов и помещают 30 в электронный микроскоп. Выведя последний на рабочий режим, получают сфокусированное иэображение штрихов и производят съемку полученного изображения. Измерив расстояние между иден" 35 тичными линиями, калибруют увеличение микроскопа. Так как штрихи полученной решетки состоят из частичек серебра размером от 3 до 100 нм, то данный объект можно использовать для щ проверки разрешающей способности прибора, оценив размер частичек или промежутков между ними по известному прокалиброванному значению увеличения микроскопа. П р и м е р. Использовалась равнобедренная прямоугольная призма иэ стекла Тфс показателем преломления п=1,78 и газовый лазер с длиной волны Л, =441,6 нм. Измеренный азотным газовым лазером с длиной волны Л=337 нм период сформированной решетки составил 175 .нм, что практически совпапо с расчетным значением по указайной формуле. формул а и з о бр ет енияСпособ приготовления штриховой меры тест-объекта для градуировки увеличения и проверки разрешающей способнос-ти электронных микроскопов, включающий нанесение светочувствительного слоя на подложку из прозрачного материала, запись гологра 4 оческой решетки путем облучения светочувствительного слоя лучом лазера и проявление голографической решетки путем химической обработки светочувствительного слоя, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей тест-объекта при уменьшении времени его приготовления, в качестве подложки используют равнобедренную призму с алюминиевым зеркалом на одной из ее граней, и светочувствительный слой наносят на ее основание, при этом облучение светочувствительного слоя осуществляют через вторую грань призмы перпендикулярно к ее поверхности, в качестве светочувствительного слоя используют последовательно нанесенные пленки хлористого серебра толщиной 100 нм и серебра, толщиной1015 нм, а проявление голографической решетки проводят путем обработ" ки светочувствительного слоя парами иода при комнатной температуре до полного иодиравания пленки серебра и последующей выдержки в фотофиксаже.1 59 7668 Составитель В. Гавр Теехред, М. Ходаниц . Редакт аректор М,Ш Заказ 3046 Тираз 498 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС113035, Москва, Ж, Раущская наб., д. 4/5оизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 10
СмотретьЗаявка
4460483, 18.06.1988
СУМСКОЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "ЭЛЕКТРОН"
СЕВЕРИН ВИТАЛИЙ МИХАЙЛОВИЧ, КЛИМОВИЦКИЙ АНАТОЛИЙ МИРОНОВИЧ, АГЕЕВ ЛЕОНИД АФАНАСЬЕВИЧ, МИЛОСЛАВСКИЙ ВЛАДИМИР КОНСТАНТИНОВИЧ, БЛОХА ВАЛЕНТИН БОРИСОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28
Метки: градуировки, меры, микроскопов, приготовления, проверки, разрешающей, способности, тест-объекта, увеличения, штриховой, электронных
Опубликовано: 07.10.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1597668-sposob-prigotovleniya-shtrikhovojj-mery-test-obekta-dlya-graduirovki-uvelicheniya-i-proverki-razreshayushhejj-sposobnosti-ehlektronnykh-mikroskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ приготовления штриховой меры тест-объекта для градуировки увеличения и проверки разрешающей способности электронных микроскопов</a>
Предыдущий патент: Способ приготовления гистологических препаратов лимфоузлов
Следующий патент: Способ приготовления тест-объекта в виде штриховой меры для градуировки увеличения электронных микроскопов
Случайный патент: Устройство для определения количества токопроводящих включений в конденсаторной бумаге