Испытательные тесты для контроля микроскопов

Номер патента: 91875

Автор: Бурмистров

ZIP архив

Текст

36 9875 Класс 42)т, 35 л СССР Мчись 1ПИСАНИЕ ИЗО К АВТОРСКОМУ СВИИьИЮТЕБ ),ЧТЕНИЯЕЛЬСТВУ Ф. Л. Ьурмистро 1 ТРОЛЯ МИКРОСКОЛОЗ ПЫТАТЕЛЬНЫЕ ТЕСТЫ ДЛ,", Д;)7;);) В 31)сх)/3.3 СС:(. аянле/) Окт)Г)1) ПРЕЛЛВГаа)ТС 5 НС//ЫТсТЕГН 1/ЫС ТСС/31;Г/51 Е)НТРОЛЯ Х 1 НЕР)ГЕОН3.ВЫПОЛНЕННЫЕ В 33/ДЕ СНСТС)Ы НтРИХОВ, НВНЕССННЫХ На ;РОР;ИУ 1 )СНОВН РВСНОЛОЖСН 1 Х 3 1 ВВЛИНЫХ Нс 31 Рс 1 В,СИНЯХ 31 Н 3 НсХХс 1 Ч 1ХГ) ОР 5/ДСС.ОТ;331 ЧИ. ОННСЫВВЕ)11 Х ИГНЫТс 11 СГН//Х ТС СТОБ ЛГ 151 ЕОНТРОГ 51 ХПЕР)СОНОВ ВВЕЛ/ОЧВЕТС 5 В ОХ/, ЧТО ОНТНГСЕВ 5 ТОЛПИва ВСС НТРНХОВ ).1Нс 1 ЕОВс) Н ОТЛИЧВСТС 51 ОТ ОН11 ЕС ЕО Т ННЫ Нро /СЖ ) ТЕ1, Н 1 01 ГНесеа 51 тс);/пнг/а езж;О 0 н/тРнха 1/ынОГИ 1 енс ПСРсх/сн)/он ПО вс(Й сГ91875увеличений п "1 РЯЗ 4 ай разрешающей способности, второй тест фиг. 2) с,у)кРт Для прове)тки ОГ 1 тпческОЙ толшин 11 фазовой пластки 3 ЗГО- тОвлсцнОГО мпк 1)оскопа кя)к,."ыЙ Ооъектив имеет сВОю Группу штри хо 3), 3 трееиЙРвы фРг. 3) служит ля нял)Яки фязОвых микрос.0- пов ц приспособлений цри пх эксплуатаци.Олииаковая сптпчсска 51 толщина нд элементах тестов первого и третьего полуцдетс 5 травлением слабой Ре выше 5 "о) плавиковой кцс;отОЙ или Быще;ЯчБ 3 ием слдбымР растворами 1 ру 1 х кис;От азотной, серной, уксусной и лр,), а фазовой клин ца штрихах второго теста получается полированием с изменением времеи полировки илаио от конца к концу.1 рдвлсцис, Быщелдчвапис п 1 олировдцие произволятся по рисуцкам пз метдллпческого хрома, коцдецсироваРРого и вакууме ш фоОГ 3)дфпЧСС 1(ИС Ц;ООРЯЖСЦИЯ 1 ССОВ Цс ХРОМ ИРОВЯПП 1 Х СЛ 05 Х Ко;1. гОИ,ОБ 13;Смол., рУГс слои ( воск и рдзлицыс Грмпт 11) цри цсОбхо,Тимох ллитсги цом травлении и осооенцо выцслачивди осгаот от с.кла, 3 1 остепеццым опускаисм Б кСлоту фазового клип;1 пс и)лу чаются 3 з-зд действия капиллярных сцл ца смдч 133 схост, сгеклд в х ких 1 ромсжугкх (е)к (у птр 1 хя 13. ) )р 3 с 3 елль,.,л 51 пог 31 р(13.13 ии фдзоОГО кли 133 т 11)к( цс Го )5 1 С 51 пз.зд пслосттоГН 01 их твеРДОСТ 1.11 Г) с л м с т п 3 0 б р с т с и и 511. И(п 1 т(;ццье (.с 1;л 5 коптрол 51и к Г)оско 0, ы пол псцв иыс и Би;с системы штрихов, цацсссццых ца прозра цуо основу и рясполо)ксцньх рупца.1 и 0 чсть 11)см ияправлениям к кяжд 031 Группе, 0 : и ч 3 ю и и с с 5 с)1, чтО, с 1 сл 110 коцт)эол 51 фдзово 0 коцГрст 1 Б фдз 01 ых .икрОскопх и ф 1301)ых ПГ)3 способлепи 5 х ОпС С К 3 5 Т 0;1П 1и 13 С С , ЦТ Р 11 Х 0 Б Б и П , 11 С1 0 Д И 1 3 (0 и 01 0 Т,т 11 П 0 И ОТ ОцИЧСС(Оп ТОЛ 13 Ы ИРО.С)КУТИЛ 3.11.103,5 хс 1(ис 1 сцыт 33 ( л пых тестов д,:51 коитро;151 х кроскоОБ по и, 1, Бьпогцсццьх 1 Бц,с сис Г( мы 1 трихов цац(.спиых 3 П Р 03 Р 1 Ч Ц У 0 0 С О Б У И Р 11 С О,1 О Ж С Ц Ц Ы Х Г Р У П Ц Я ХО,П О 0 Ц 3 Ц Р 1 В Л С П И Я, О Г,1 П 1 с 10( С С 5 1 С), 10 С Ш,1 Ь 10 ПРОВЕРКИ ОПТИЧЕСКОЙ ТОЛЦИПЫ фЗОБОЦ П;13 С Цц Кп, 01 ИЧСС 35 ТОГ 1 пи 1 1 Ж:ОО ПТР ИХЯ Б 1 ЦО;ЦСЦ 3 ЦЛЯБО ЦЗ.СЯ 10 Сп(и ПО и(СЙ 1 С 1 О ДЛИПГХ,э, 1 илоз сисцис исцыГдтслих Гсстов;лЯ коцтроля микросо 1 ОБ 0 Г. 1, Б 11 ОЛНС 311 Х 33 3 ЛС 3)асио 10)СНЫХ ид позрдц 10 ос 0- ПЕ П Ц 13 ХХ 3 ЦОХ 1 0)ЯЛКС ПО;1 С, ОЛИЦЯК 0130 И ИЛИ Р 13 ОИ ГСО ЕРпческой формы, отл и и 3 ю пс сся т(м, Го, с цел,ю пялялк;1 фазопь х м к)ос,(и 03 и (1)3 (ОБ х 11 р исОГОГ)гсп 3 й) и аксп;уатд пцц со- С(;И 1( НОЛЯ 1(СГ 1 И.(ОТ РЯЗЛ 1 У 0 Оц Ч(СКУ 10 Т(ЛЦИПУ,В3 ай еаеЭи аай аР В Р В й Р а 3О В В РВ а В О йа В В О й О Р Са В И ВаеВОВС6йЭ йФВ В Фиг /Эе6ВИа3ВайвЮ йаааайа3 Вае эВа3е1Эа3 аВЮВайВРВЮВЭ 3, Ва16аВйа и ВВал ае 3 дО61 1еВЭ1а) 1РййеаВВ37, аиВВЭОЕаВ1ЭйвВ Фае(аюВВ йФ3Ваав эа в ве еаВе В й а ВаеОВ С га6е сВВ 1й й В аеаей йеЭВ Вв в с в в еВйс с 1ас й Вс ва Ф ю В в Ф е в йа ю э а В е в сссВее еВ

Смотреть

Заявка

04133, 15.10.1949

Бурмистров Ф. Л

МПК / Метки

МПК: G01M 11/02, G01N 21/41, G02B 21/14, G02B 27/52

Метки: испытательные, микроскопов, тесты

Опубликовано: 01.01.1951

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-91875-ispytatelnye-testy-dlya-kontrolya-mikroskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Испытательные тесты для контроля микроскопов</a>

Похожие патенты