Способ изготовления образца для контроля микроскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(19) 01 М 1 ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И (ЛНРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР(56) М.Ж 1 дд, МЖгоя 1 ср.273-284. 8Д.Левина Р 11 ю 17, 1962,ег "Ор 1 ся дп Мегго еяя, Нем - Лог 1 с - 1.о1963, р.267.ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦА КРОСКОПОВтение относится к оп остроению и может бы для контроля микроск ктивов по качеству и изобретения - улучш оду,Йоп,сть исопов зобраение Изобретение относится к оптическ му приборостроению и может быть исольэовано для контроля микроскопов и микрообъективов по качеству изобраслоя крем-,а и высуят на по си креи ния жения.Цель изобретения - улучшение качества образца путем повышения однородности распределения частиц латекса по поверхности образца.Способ включает следующую последовательность взаимосвязанных операций.Наносят на подложку слой двуокиси кремния толщиной 50-300 нм путем ее испарения в вакууме. Охлаждают подложку до 0-10 С. Наносят на подложкуоповерх слоя кремния водную суспензиюо латекса и высушивают ее при 5-10 С. напылеицы лате ирки, С зом обо изобрамикроскон и я об а дл отовления обра роскопов, включ еклянную подло контроля микнасение на ку води Р. Н. 81 а Регяашоп Рг ей Ьу Мо 11 е (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ МИ (57) Изобре кому прибор польэовано и микрообъе жения, Цель НОМУ С 8 ИДЕТЕЛЬСТ качества образца путем повышения однородности распределениячастиц латек са по поверхности образца. Цель достигается тем, что в способе изготовления образца для контроля микроскопов, включающем нанесение на стеклян ную подложку водной суспенэии латекса, высушивание суспензии, нанесение на подложку слоя алюминия толщиной 30-100 нм путем его испарения в ваку уме с последующим удалением" частиц пу тем протирания, перед нанесением водной суспензии латекса на подложку наносят слой двуокиси кремния толщиной 50-300 нм путем ее испарения в вакууме с последующим охлаждением подложки до температуры 0-10 С, а высушивание проводят при температуре 5"10 С. Наносят на подложку поверх ния водную суспенэию латек шивают ее при 5-10 С. Нано ложку поверх слоя двуок ния и латекса слой алюм толщиной 30 - 100 нм путем ния в вакууме. Удаляют час са с поверхности путем про мощью полученного таким об разца по качеству оптическ жения контролируют качеств нов и иикрообъективов.Формула из обреСоставитель В, СячиновТехред Л.Сердюкова Корректор И.Эрдейи Редактор И,Касарда Заказ 537 Тираж 347 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул, Гагарина, 101 3 163134суспензии латекса, высушивание суспензии, нанесение на подложку алюминия тогщиной 30"100 нм путем его испарения в вакууме с последующим удалени- .5 ем частиц латекса, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью улучшения качества образца путем повышения однородности распределения частиц латекса по поверхности образца, переднанесением водной суспензии латексана подложку наносят слой двуокисикремния толщиной 50-300 нм путем ееиспарения в вакууме с последующим охлаждением подложки до температуры0-10 С, а высушивание суспензии проводят при 5-10 С.
СмотретьЗаявка
4665739, 23.03.1989
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1705
ГЕРЛОВИН БОРИС ЯКОВЛЕВИЧ, ЛЕВИНА МАРГАРИТА ДАВИДОВНА
МПК / Метки
МПК: G01M 11/02
Метки: микроскопов, образца
Опубликовано: 28.02.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1631341-sposob-izgotovleniya-obrazca-dlya-kontrolya-mikroskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления образца для контроля микроскопов</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля качества волоконно-оптической заготовки кольцевого преобразователя
Следующий патент: Стенд для испытания транспортных средств
Случайный патент: 341237