Патенты с меткой «меры»

Номер патента: 150241

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Корндорф, Мотыль

МПК: G01D 5/347

Метки: меры, положения, риски, фиксации, фотоэлектрическое, штриховой, экране

...пластину с диафрагмой, фотодатчик, сигнал от которого через усилитель передается на исполнительное устройство, и измерительный прибор, не исключают влияния параллакса и имеют ограниченную область применения,В предложенном фотоэлектрическом устройстве этот недостаток устранен тем что в колебание приводится не специальная пластина сндиафрагмой, а сам фотодатчик, непосредственно на которыи нанесена диафрагма, т. е. для модуляции светового потока применяется колебание фотосопротивления, укрепленного на якоре вибратора. Изображение риски штриховой меры перемещается по экрану и определение момента совпадения центра колебаний фотосопротивления с центром изображения риски производится по измерительному прибору.На чертеже представлена схема...

Номер патента: 209578

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Всесоюзный, Гурь

МПК: G01R 17/10, G01R 27/26

Метки: емкости, индуктивности, меры, образцовой, посредством

...устройства для реализацспособа,Устройство содержит мост 1 для сравнения индуктивности с емкостью и активнымисопротивлениями, снабженный цепью защитного экранирования 2 и выходного трансформатора 3, трансформаторный мост 4 высокойточности для измерения емкости при помощиобразцовой меры емкости или набора меремкости, имеющих отношения 1:0,1:0,01 и 2т, д., генератор 5 и индикатор б.Измерение индуктивности производитсяследующим образом. Измеряемую индуктивность подключают к клеммам 7 и уравновешивают на мосту 1 с помощью сопротивлений 8, 9 или 10 и плеча сравнения 11 - 2 б, а затем плечо сравнения 11 - 2 б переключают переключателем 27 всхему трансформаторного моста 4, одновременно переключают генератор 5, индикатор б и экран 28 плеча...

Номер патента: 248248

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Бабицкий, Джохадзе, Кобринский, Корндорф, Московский, Полунов

МПК: B23Q 15/00, G01B 11/00

Метки: меры, металлорежущихстанках, наведения, сканатор, устройств, фотоэлектрических, штрих

...наведения на штрих меры в метал. лорежущих станках, содержащие корпус, электромагнитную возбудительную систему и пружину-якорь, один конец которой неподвижно закреплен в корпусе, а на другом, свободном конце, размещен фоторезистор.Предложенное устройство в отличие от известных снабжено ударной массой, укрепленной на свободном конце пружины, а фоторезистор размещен на этой массе, и двумя жесткими ограничителями, между которыми симмегрично расположена ударная масса.Такое выполнение сканатора позволяет повысить точность наведения на штрих меры.-а чертеже представлена схема сканатора.Гибкая пружина 1 укреплена в зажимах 2, установленных в корпусе 3 сканатора, а на другом конце пружины - ударная масса 4, на которой размещен фоторезистор...

Номер патента: 278792

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Гиржман, Измерительных, Мамонов, Новосибирский

МПК: G01R 27/26, H01F 17/00

Метки: значениями, индуктивности, малыми, меры

...подключение мер коаксцальцой конструкции с разделением токовых и потенциальных клемм и размещением их во взаимпо перпендикулярных плоскостях, благодарячему влияние токовой цепи на потенциальнуюсведено практически до исчезающе малых значений.5 На фиг. 1 изображена конструкция описываемых мер ццду(тивностц, выполненная в виде отрезка коаксиальной линии; ца фцг. 2 -конструкция описываемых мер индуктивцостцв виде отрезка спиральной линии.О Прц малых значениях цндуктцвцостц (10 9++ О-о гн) в качестве внутреннего электродаиспользуется гладкий проводящий стержень,а при значениях цндуктивностц от 10-. гн ивыше используется спираль из провода цлц5 ленты, намотанных на изоляционный стержень.Потенциальные клеммы образуются ццлцндрцчсской...

Номер патента: 301521

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Полунов, Романов

МПК: G01B 11/00

Метки: интерполяции, меры, шага, штриховой

...компаратор 18 и счетчик 19, Индексом 20 на чертеже обозначена штрихо 20 вая мера.Устройство работает следующим образом.Осветитель подсвечивает щелевую диафрагму, связанную со сканирующим прибором, который имеет закон сканирования, близкий к 25 линейному; оптическая система формируетсканирующий световой луч; а светоделительный блок расщепляет сканирующий луч на три части. В первой части сканируется штриховая мера. Объектив б собирает излучение, ЗО прошедшее через меру, на фотоприемник 7,сигнал с которого усиливается усилителем 8.3Во второй части луча сканируется носитель реперного знака. Световой поток собирается объективом 10 на фотоприемнике 11, усилитель 12 усиливает сигнал фотоприемника 11. В третьей части сканируется оптический...

Номер патента: 323646

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Высоцкий, Ховский

МПК: G01B 11/02, G01B 9/04

Метки: меры, микроскоп, положения, фотоэлектрический, штриха

...(нониуса). Конвест жен изоо Предлагаемое устройство относится к области измерительной техники, а именно, к приборад 1 для проверки штрихового измерительного инструмента, содержащего шкалу и индекс (нониус),Известен фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры, содержащий оптическую систему наведения на штрих и отсчетиое устройство.Микроскоп перестанавливают для последовательного наведения на штрих шкалы и штрих-индекс с отсчетом несовпадения штрихов по перемещению самого микроскопа,Работа с помощью известного устройства является малопроизводительной, и, кроме того, в измерение вносятся погрешности за счет установки,Предлагаемый микроскоп позво.пяет измерять величину несовпадения штриха и пприха-индекса (ноииуса) за...

Номер патента: 383078

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Фатеев

МПК: G10L 15/02, G10L 19/02

Метки: вычисления, меры, подобия, речевых, ячейка

...базе нулевое напряжение, д транзистор 9 инвертора 4 открыт за счет смещения на базе, образуемого соответствующими со противленияхн.При поступлении сигнала отрицательнойполярности на базу транзистора 7 он булст открываться пропорционально этому снп;длу.Смещение на базе транзистора 9 инвертора 20 4 уменьшится, и он закроется на соответствующую велпчи;у. Сигнал отрицательной полярности, поступающий на его базу, будет открывать этот транзистор, т. с. вызьвать действие, обратное действию сипала на базе тран зистора 7 (торпожен е).При возрастании отрицательного нд 1 ртзксния нд коллекторе транзистора 9, нд тт же величину возрастает напрякение и на ко дон саторе 10. Заряд его в этом слу лс произойдет 30 по цепи кондеп 10 - трднзистс)р 11...

Номер патента: 364770

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Корд, Ограничивает, Однако, Особенности, Происходит, Соединение, Соединенных, Создающими, Увеличени, Увеличение, Улучшени, Целью, Что

МПК: F16B 5/06

Метки: 298768, авт, виде, выемками, выполненных, давлением, заполненной, известно, ка5, краев, листов, листов1по, меры, основному, охвата, помощи, с.в, соединение, фигурной, эластичных, элементов

...авт. св.298768 известно соединение листов при помощи эластичных элементов, выполненных в виде фигурной камеры, с выемками для охвата краев листов, заполненной под давлением газом, жидким или отвердевающим составом.Однако в известном соединении при заполнении камеры, в особенности вязкими наполнителями, происходит ее продольное удлинение и увеличение поперечного сечения, что усложняет подбор длины соединителя, ухудшает товарный вид соединения из-за местных вопучиваний камеры и ограничивает степень жесткости соединения.С целью устранения указанных недостатков фигурная камера армирована кордом,На чертеже показано предлагаемое соединение. Соединение состоит из листов 1 и 2, соединенных армированной кордом 3 камерой 4, имеющей полости б,...

Номер патента: 470028

Опубликовано: 05.05.1975

Авторы: Клейман, Линкер, Самойлович, Фертик

МПК: H01S 1/00

Метки: газовая, квантовой, меры, пассивной, частоты, ячейка

...рабочего перехода атомов рубидия от температуры буферная смесь составлена из двух газов; неона и аргона.Для обеспечения хорошей воспроизводимости параметров ячеек при их изготовлении требуется сложное оборудование, так как давление каждого газа при наполнении ячейки должно выдерживаться с высокой точностью. Это связано с тем, что неон и аргон имеют сильно зависящие от давления и отличающиеся друг от друга коэффициенты смещения частоты,Целью изобретения является уменьшение сдвигов частоты квантового О - О перехода атомов рубидия, обусловленного давлением буферных газов, компенсация зависимости частоты О - О перехода от температуры, снижение требований к точности составления и воспроизведения состава газовых смесей, повышение...

Номер патента: 542211

Опубликовано: 05.01.1977

Авторы: Дегтярев, Лобанов, Луйк, Слуцкер

МПК: G10L 15/02

Метки: вычисления, единиц, меры, подобия, речевых

...11 и 12, связанныхс зарядной емкостью 15, напряжения отсутствуют. На входы связанные с делитепями напряжения 9 и 10, поступаютпостоянные напряжения, В результате навыходе компаратора 11 вырабатываетсянапряжение, закрывающее ключ 7, а навыходе комларатора 12 - напряжение открывающее ключ 8.Соответственно с возрастанием уровнясигнала на входе пикового детектора 2возрастают уровни сигналов. на ег о выходе и на выходе эмиттерного повторителя3. После прохождения максимума уровеньсигнала на выходе пикового детектора2 начинает уменьшаться, а уровни сигналов на выходах пикового детектора 2 сэмиттерного повторителя 3 сохраняютсяна уровне максимального значения входного сигнала. При этом емкость пикового детектора 2 не разряжается, поскольку...

Номер патента: 544536

Опубликовано: 30.01.1977

Авторы: Бабицкий, Тресвятский

МПК: B23Q 15/00

Метки: меры, металлорежущих, наведения, сканатор, станках, устройств, фотоэлектрических, штрих

...чцкц, один из которых через последо сосдццсццые усилитель ц подстроен ратор, и друой через последователь цепные усилитель, подстроечный ген ццвертор подключены к соответствую дам сумматора с трансформаторным вторичная обмотка которого соедине ратором гармонических колеонатор обеспечивает необходилинейности сканирования.На чертеже приведена структурная электрическая схема предложенного сканатора.Сканатор для фотоэлектрических устройств наведения на штрих меры в металлорежущих станках содержит жесткие ограничители 1, пьезодатчики 2 и 3; пьезодатчик 2 через последовательно соединенные усилитель 4, подстроечный генератор 5, а также пьезодатчик 3 через последовательно соединенные усилитель 6, подстроечный генератор 7, цнвертор 8 подключены...

Номер патента: 580860

Опубликовано: 25.11.1977

Авторы: Асташев, Бабицкий, Тресвятский

МПК: B23Q 15/00

Метки: меры, металлорежущих, наведения, сканатор, станках, устройств, фотоэлектрических, штрих

...для фотоэлектрических уст 1 и йств наведения ня штрих меры в метяллор. -жущих станках содержит коргус 1, электромагнитную возбудительную систему. 2,6 пружину-якорь 3, один конец которой неподвижно закреплен в корпусе 1, а ня другом свободном конце пружины-якоря 3 разя ударная масса 4 несущая фотор;5 и расположенная симметрично5 между двумя жесткими огряничителял 1 и580660 15 формула изобретения Составитель Т. МаркинаковаТехред Н, Бабурка, КорректоР Й. Мельничен-едактор Л. аж 120 Подписноеовета Министрй и открытийб., д. 4/5 Заказ 4447/5 ИПИ Гос митетаизобрете арств ецкого по делам вв, Ж, Р 3035,квя иливл ППП Патент", г. Ужгород, ул, Проектн Между корпусом 1 сканаторв и ограничителями 6 введены вибраторы 7, выполненные...

Номер патента: 847237

Опубликовано: 15.07.1981

Авторы: Андрианов, Овчаренко, Студенцов

МПК: G01R 33/09

Метки: магнитнойиндукции, меры, постояннойэкранированной

...ЦР, /- , в =уВИгидромагнитное отношениеатомов рабочего вещества,5 1 О 15 2 О 25 ЗО 35 40 Параметрический резонанс наблюдается при значениях постоянной маг нитной индукции Во, удовлетворяющихсоотношению иы3 Вопри и = О, + 1, .2Резонанс и-го порядка описывается и-а-членом суммы (1 ), причем график зависимости амплитуды сигнала резонанса И-го порядка от значения магнитной индукции В, имеет вид лоренцевой кривой дисперсии с шириной,ЬВ=2 Г/;, пересекающей ось абсцисспри значениях магнитной индукции, удовлетворяющих условию (2).Поэтому равенство амплитуды резонансного сигнала нулю является индикатором выполнения условия (2) и позволяет при существенных значениях величин Щ и , " определить значение магнитной индукции Ва. В частности,...

Номер патента: 515386

Опубликовано: 15.12.1981

Авторы: Жернова, Нестеров, Соколов, Федоровский

МПК: G01T 1/16

Метки: градуировки, материал, меры, образцовой, радиометров

...х значительным погрешностям (до 30%) при градуироьке (повер ке) радиометров в диапазоне от 5 ХХ 10 8 Кц/кг до 1 10 - " Кц/кг и нике.Целью изобретения является повышениеэффективности градуировки путем приближения эквивалентности образцовой меры 25 х контролируемым пробам по коэффициентам передачи энергии и ослабления у-излучения для энергии уизлучения свььше 100 кэВ.Цель достигается, тем, что в качестве ЗО полимерной основы используется полиэти515386 Фо р мул а изобретения Хлористый калий 6,04 Окись магния 19,46 Полиэтилен 59,5 Хлористый калий 0,01 - 7 Окись магния 23 - 30 Пол,иэтилен Остальное Составитель Т. Горчакова Техред Л. КуклинаКорректор С. Файн Редактор Л. Павлова Заказ 22/34 Изд.649 Тираж 749 Подписное НПО Поиск...

Номер патента: 934361

Опубликовано: 07.06.1982

Автор: Кочев

МПК: G01N 29/04

Метки: акустической, меры

...величины этого отклонения, измеряют время распространения акустических волнв этой заготовке и уменьшают длинузаготовки до такой величины, при которой акустические волны распространяются в ней за заданное время, припуск к заданной длине заготовки акустической меры выбирают из соотношения между остаточной деформацией иизменением скорости распространения,акустических волн в ней, а уменьшение длины заготовки осуществляют засчет пластической деформации на величину выбранного припуска,Способ изготовления акустическоймеры осуществляется следующим образом.Вырезают из промышленного полуфабриката, например, стального прутка, экспериментальный образец; Последовательно деформируя его измеряют время распространения в нем ультразвука и величину...

Номер патента: 1041868

Опубликовано: 15.09.1983

Автор: Кочев

МПК: G01N 29/00

Метки: акустической, меры

...осуществлении поверочных работ в измерительной технике . нераэрушаюшего контроля.Известен способ изготовления акусти ческой меры, заключающийся в том, ч изготовляют акустическую меру в вице твердого цилинцрического волновоца с напряженно деформированным поверхностным слоем и аттестуют ее по скорости распространения ультразвука 1Однако неоанороаность конструкционных материалов, используемых цля изготовления акустических мер, обуславлива ет непостоянство скорости ультразвука цля разных мер комплекта, даже изготовленного иэ одного полуфабриката (прутка). Погрешность воспроиэвецения скорости ультразвука в пределах оцного комплекта КМТ 176 Мдостигает 0,23 цля стали 40 К 13 - 0,27 аля Д 16 Т и 0,7% цля Л 63, что не позволяет обе печить...

Номер патента: 1084698

Опубликовано: 07.04.1984

Авторы: Андрусяк, Владимиров, Местечкин, Яворенко

МПК: G01R 27/02

Метки: меры, многозначной, поверки, постоянного, сопротивления

...зажимы вспомогательной меры сопротивления через нуль-индикатор подключены к входу потенциометраНа чертеже представлена блок-схема устройстваУстройство содержит зажимы 1-1 и 1-2 для подключения многозначной поверяемой меры 1 сопротивления, которые соединены с контактами 2-.1 и 2-2 соответственно двухпозиционного переключателя 2, общий вход 2-3 которого подсоединен к первому выходу плавнорегулируемого источника стабилизированного напряжения 3, например, типа Ф 704 б или В -13. Второй выход источника стабилизированного напряжения 3 подключен к первому токовому зажиму 4-1 вспомогательной однозначной образцовой меры сопротивления 4, номинальное сопротивление которой на несколько порядков, например на два или три, меньше...

Номер патента: 1186937

Опубликовано: 23.10.1985

Автор: Лаанеотс

МПК: G01B 7/06

Метки: меры, покрытия, толщины

...(фиг.З) с радиусом кривизны В, В середине части подложки 1 может быть выполнен плоский участок 3 для настройки на ноль толщиномеров покрытия, тогда покрытие 2 нанесено на базовущ поверхность подложки 1 так, что верхняя поверхность покрытия 2 совпадает с поверхностью участка 3. Прочие размеры меры определяются, исходя из размеров и характеристик датчиков поверяемых толщиномеров.Способ изготовления меры толщины покрытия осуществляется следующим образом,Изготавливают иэ нуязого материала подложку, Базовую поверхность подложки выполняют цилиндрической или сферической и осуществляют до.водку указанной поверхности - обрабатывают по следующим требованиям: шероховатость по парамет 30 40 где ; - толщина покрытия в точкена расстоянии 0, от...

Номер патента: 1271963

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Кравченко, Лях, Медвидь, Сабан

МПК: E21B 45/00

Метки: каната, меры, наработки, талевого, участка

...кодс выхода счетчика 1 числа перегибовталевого каната поступает на входцифроаналогового преобразователя 2.Вумножителе 4 происходит перемножение величины натяжения, фиксируемойдатчиком 3 натяжения, и числа перегибов талевого каната, Результат свыхода умножителя 4, представленныйв аналоговом виде, поступает на. входаналого-цифрового преобразователя 6,цифровой код с выхода которого подается на первый вход сумматора 7. Впоследнем проводится сложение теку -щего значения ресурса наработки талевого каната с общей величиной ресурса наработки, хранимой в виде кодав основном регистре 9,При разгрузке талевой системы навыходе дифференциатора 14 появляетсяотрицательный импульс, который черездиод 12 производит запись информациис выхода сумматора 7...

Номер патента: 1348642

Опубликовано: 30.10.1987

Автор: Рогов

МПК: G01B 21/00

Метки: выработки, динамической, информации, меры, поверке, расположении, штриха

...а, (6)д огде 7 - компенсирующий интервал;Ч - скорость перемещения меры,аЬ, - изменение расстояния междушкаловой поверхностью и мик42 где50 5 13486роскопом соответственно вначале и конце расчетногоучастка1(ьЬ) - функция влияния изменениярасстояния на регистрируемоерасположение штриха.Данная зависимость выводится на основании того, что среднее значение функции влияния Г(ьЬ) на расчетномл участке, равное интегралу Г(ьЬ)с 1 Л,Во связано с временным интервалом Ь ,тсч., на который смещается из-эа изменения расстояния между шкаловой поверхностью и микроскопом, коэффициентом масштабного преобразования 1/Ч, Таким образом, алгебраическое суммированиес , компенсируетотсЧ (Вид функции Г(ьЬ) влияния изменения расстояния между микроскопом и...

Номер патента: 1368809

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Андрусяк, Дуфанец, Лысый

МПК: G01R 27/02

Метки: меры, многозначной, поверки, сопротивления

...1 В. Для уменьшения изменения количества положений декад показание Бц выставляют методом девяток, т. . напряжение 1 В устанавливают следующим образом;цйи Оф 99999 (10) Е. (2) иАналогично выставляют показаниена входе 4-1 (первого ряда декад) компенсатора 4, т.е.Цо = 0,99999 (10) В. (3)Затем регулировкой выхода ИОН 2 уравновешивают показание компенсатора 4.13При этом значение падения напряжения на Кя катушки 3 установлено с погрешностью отсчета 6 компенсатора 4, т.е.Р = Т(0 5 --1007)1 10хи13(4)После этого переводят переключатель 5 в положение контактов 5-1-2 и 5-2-2 и регулировкой сопротивления МС 6 уравновешивают показание Б компенсатора 4. При этом в случае достаточной плавности (дискретности) регулировки МС, погрешность 6 Оя о =...

Номер патента: 1384943

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Костава, Отаришвили, Поцхишвили

МПК: G01B 11/26

Метки: меры, пирамидальности, угловой

...столи 25 ка, отношение вертикального отклоне-,ния автоколлимационных изображенийотраженного и переотраженного излучений будет постоянно и равно4 ЬК=-,-=230В случае неперпендикулярности осивращения к плоскости столика это отношение нарушается,Поворачивая затем столик 3 с угловой мерой 5 на угол К, многократно переотражают излучение между поверхностью угловой меры и зеркалом 2,при этом горизонтальная проекция и-гооотражения составляет 90 к плоскости40 зеркала 2, в результате чего пучкив прямом и обратном ходе совпадают,При наличии угла Ь между вертикальюи измерительной плоскостью, уголмежду выходным и входным пучками ав 45 токоллиматора будет равен 2 пЬ.12 пдК = - , = и2 ьВ случае неперпендикулярности оси вращения к плоскости стола...

Номер патента: 1406730

Опубликовано: 30.06.1988

Автор: Чернов

МПК: G01R 27/00, H03H 11/40

Метки: имитатор, меры, сопротивления, управляемой, электрического

...ему с коэффициентом передачи управляемого делителя 5 выходное напряжение, воспроизводимое устройством между клеммами 1 и 2.Имитатор работает следующим образом.При подключении имитатора клеммамии 2 к источнику тока (не показан) подводимый к клемме 1 ток Л на входе ОУ 3 компенсируется током от источника питания ОУ через образцовый резистор 4 цепи обратной связи (в соответствии с принципом работы ОУ, охваченного цепью отрицательной обратной связи). В результате на выходе ОУ 3 (и на связанном с ним сигнальном входе управляемого делителя 5) возникает напряжение, равное падению напряжения на резисторе 4:и, =,)К,где К - сопротивление образцового резистора 4.Тогда на выходе управляемого делителя 5 будет напряжение, определяемое его...

Номер патента: 1411574

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Герберене, Дзетавяцкас, Ушинскас

МПК: G01B 11/00

Метки: измерительной, меры, растровой, юстировки

...кольцевых зон технологической метки 5 не совПадает с осью вращения измерительной растровой меры 4, то в этом случае сигнал на фотоприемнике минимальный.При смещении измерительной растровой меры 4 в положении, при котором центр кольцевых зон совпадает с осью вращения измерительной растровой меры, кольцевые зоны технологической 5 О метки 5 совпадают с кольцевыми эонами кодовой маски 2, и сигнал нг фотоприемнике 3 наибольший,Сигнал на Фотоприемнике 3 определяется взаимно корреляционной функцией пропускания технологической метки 5 и кодовой маски 2, При выполнении технологической метки 5 и кодовой маски 2 в виде псевдошумовой последовательности взаимно корреляционная функция имеет большую крутизну (резкое изменение сигнала при взаимном...

Номер патента: 1538044

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Вихрев, Соловьев

МПК: G01B 11/26

Метки: меры, поверки, угловой

...стекла оптических клиньев 3 и 4 .Устройство работает следующим образом.55Предварительно устанавливают на валу 13 контролируемого угломерного датчика 12 многогранную призму 1,44 4Гчисло граней которой соответствуетвыбранному для контроля угловому шагу, затем напротив многогранной призмы 1 неподвижно устанавливают Фотоэлектрический автоколлиматор 2, между многогранной призмой 1 и Фотоэлектрическим автоколлиматором 2 неподвижно устанавливают два оптическихклина 3 и 4, направляют излучение источника через коллимирующую систему,состоящую из конденсора 6 и объектива 5, оптические клинья 3 и 4, которые делят пучок на два пучка, уголмежду которыми приблизительно равенцентральному углу между смежнымигранями многогранной призмы 1....

Номер патента: 1594595

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Куратов, Мочалов

МПК: G10L 15/02

Метки: меры, образцов, речевых, сходства

...первый регистр7последовательно соединенные междувйходом первого сумматора 3 и входомблока выбора экстремума буферное запфминающее устройство 8 и второй регистр 9. Регистры 5, 7 и 9 и буферноез вспоминающее устройство 8 через синхровходь соединены с блоком 10 упрвления, снабженным синхровходом,который вместе с входами блока сравнения векторов признаков объединенво входы устройства, Выход устройства соединен с вторым входом третьего ЗОсумматора, выходы первого 7 и второго9 регистров соединены с инверснымивходами соответственно первого и вто".рого сумматоров.Перечисленные связи элементов устройства для измерения меры сходстваречевых образов позволяют сократитьофъем вычислений и оборудования прираспознавании слуховых образов путемсокращения...

Номер патента: 1597668

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Агеев, Блоха, Климовицкий, Милославский, Северин

МПК: G01N 1/28

Метки: градуировки, меры, микроскопов, приготовления, проверки, разрешающей, способности, тест-объекта, увеличения, штриховой, электронных

...объект можно использовать для щ проверки разрешающей способности прибора, оценив размер частичек или промежутков между ними по известному прокалиброванному значению увеличения микроскопа. П р и м е р. Использовалась равнобедренная прямоугольная призма иэ стекла Тфс показателем преломления п=1,78 и газовый лазер с длиной волны Л, =441,6 нм. Измеренный азотным газовым лазером с длиной волны Л=337 нм период сформированной решетки составил 175 .нм, что практически совпапо с расчетным значением по указайной формуле. формул а и з о бр ет енияСпособ приготовления штриховой меры тест-объекта для градуировки увеличения и проверки разрешающей способнос-ти электронных микроскопов, включающий нанесение светочувствительного слоя на подложку из...

Номер патента: 1597669

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Гурина, Календин, Климовицкий, Морозова, Северин

МПК: G01N 1/28, G01N 23/225

Метки: виде, градуировки, меры, микроскопов, приготовления, тест-объекта, увеличения, штриховой, электронных

...вешества от точечного источника испаренияпод углом, близким к углу 9 , Этообеспечивается определенным расположением точечного источника, установленного на расстоянии от поверхностирешетки, равном 1 = а . сСдф.При этом на меньшей грани зуба,на которую впоследствии наносится 15оттеняющий слой, обуславливающий качество и периодичность структуры,происходит сглаживание рельефа имикронеровностей кромки зуба, выз"ванных механическими деформациямии повреждениями в процессе нарезания зуба на поверхности стекла.Одновременно нанесенный промежуточныйслой исключает искажение периодичности, связанное с механическими деформациями реплики в процессе ее отделения,20 П р и м е р. На очищенную дифракционную решетку из точечного источЗО ника испарения...

Номер патента: 1124819

Опубликовано: 07.08.1991

Автор: Француз

МПК: H01L 39/22

Метки: абсолютной, градуировки, магнитного, меры, многозначной, потока, сверхпроводящей

...фазы колебаний ВЧ-поля за время действия прямоугольного импульса напряжения.Известно, что вольт-амперная характеристика перехода Джозефсона, помещенного во внешнее электромагннтное ВЧ-поле, приобретает ступенчатый характер с участками нулевого511дифференциального сопротивления (сту=пенями) при напряжениях71=пЕ,где п=0,1,2, - целое число;Е - частота колебаний ВЧ-поля.Такая ступенчатая вольт-ампернаяхарактеристика перехода Джозефсона используется для градуировки меры.Если электрический ток через переход Джозефсона близок к нулю, рабочая точка на вольт-амперной характеристике находится на ступени с п=О, Путем подачи на переход соответствующих скачков тока можно скачком смещать рабочую точку на вольт-амперной характеристике со ступени с...

Номер патента: 1684615

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Агеев, Блоха, Климовицкий, Милославский, Северин

МПК: G01N 1/28, G01N 23/225

Метки: калибровки, меры, микроскопов, приготовления, увеличения, штриховой, электронных

...2 п зи рогде и - показатель преломления стекла,рь - угол при вершине призмы, Механизм светочувствительности тонких пленок Ао основан на обратимом фото- лизе, в процессе которого под действием интерференционного светового погя происходит, перенос массы из максимумов в минимумы интерференции. При этом другой особенностью этих пленок является то, что помимо голографической решетки образуется самозарождающаяся дополнительная решетка со штрихами, параллельными плоскости падения и периодомб 2=п созуЬПоявление этой решетки связано с взаимодействием падающей волны с поверхностными волнами, рассеянными пленкой. При больших углах падения (уЪ50) инкремент роста дополнительной решетки значительно превышает инкремент для других возможных...