Способ изготовления объективов для аноптральных микроскопов

Номер патента: 872962

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Народницкий

МПК: G01C 23/00

Метки: коротковолновой, морской, неконтактного, поверхности, спектра, характеристик, части

...коротковолновой части спектра морской по-. верхности, основанному на облучении морской поверхности в вертикаль.ном направлении ультразвуковыми импульсами, приеме сигналов, рассеянных в обратном направлении, измерении коэффициента вариации амплитуд рассеянных сигналов, причем величина облучаемого участка морской поверх-1ности меньше, длины. морской волны, облучают иорскую поверхность парами ультразвуковых импульсовразнесенных по частоте, регистрируют функцию частотной корреляциии вычисляют характеристики коротковолновой части спектра по формуле где С " скорость распространения излучения в среде;Дт - частотный сдвиг;М(И) - функция частотной корреляции;- коэффициент вариации ампли туд рассеянных сигналов;1- среднеквадратичная...

Номер патента: 43751

Опубликовано: 31.07.1935

Автор: Бурмистров

МПК: G03B 3/04

Метки: инфракрасной, объектива, прибор, разбивки, спектра, фокусировки, части, шкалы

...линзой Е, коллиматора со щелью 5 и параболическим зеркалом с, и фотокамеры с вращающейся задней стенкой вокруг вертикальной оси О, проходящей через точку пересечения оптической оси испытуемого объектива О с плоскостью светочувствительной пластинки Р. Вращение задней стенки осуматической фокусировки найдутся проек.цией этих точек на прямую, пересекающуюся с линией, их соединяющей, под углом ; ясно, что действительно расстояния между штрихами шкалы будут в М раз меньше, если М есть масштаб графика. Если на снимке некоторые нужные линии не вышли (или их нет в спектре данного элемента), то положения штрихов шкалы соответствующих фокусировок можно найти интерполяцией, проведя другую координатную линию графика и спроектировав на нее точки...

Номер патента: 1015274

Опубликовано: 30.04.1983

Авторы: Араев, Горшков, Гузман, Кряхтунов, Лихачев, Лозбенев, Фомин, Хозяинова

МПК: G01M 11/00

Метки: линз, объектива, центрировки

...на каждую из поверхностей обьектива 10.Зеркалр 8 установлено пепенднкулярной аттической оси телескопической системы и преаназнечено для юстировкн подложки с зонными пластинами 6 в схеме контроля.Элементы 1 - 3 устройства формируют плоский волновой фронт и направляют 33 его на наклонное зеркало 4. Часть волнового фронта проходит зеркало 4 и поступает на подложку с зонными пластинами 6. Вторую часть волнового фронта зеркало 4 направляет на плоское зара .ло 8, Отраженные зеркалом 8 и поверкностью подложки с зонными пластинами 6 плоские волновые фронты поступают в обьектив 8, который формирует в плоскости экрана 9 изображения источ з ника света.Наклонами подложки совмещают оба иэображения. При этом плоский волновоф фронт падает на...

Номер патента: 58974

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Топопрец

МПК: G01J 3/14

Метки: спектра, ультрафиолетовой, фокально-монохроматор, части

...Расчеты показывают, что линза, изготовленная, например, из .аС 1 для одного и того же интервала длинволн дает фокусную разность в несколько раз ббл 1 ьшую, чем такая же кварцевая линза. Устранение сферической аберрации в этом случае может быть достигнуто так же, как это делается .в сложных линзах, Правда, для фокального монохроматора приходится решать задачу несколько необычного характера: исправление личзы на сферическую аберрацию не должно повлечь за собой уменьшения ее хроматизма. Условие это хорошо выполняется при следующей комбинациями линз: диспер .гирующая линза из МаС (или КС 1) и коррегирующая из 1 1, что и составляет сущность,предлагаемого изобретения.Пусть имеется линза, исправленная 1 на сферическую аберрацию, На...

Номер патента: 42321

Опубликовано: 31.03.1935

Автор: Вишневский

МПК: G01J 1/44

Метки: исследований, рентгеновской, спектра, спектроскопических, ультрафиолетовой, фиолетовой, части

...попадают в задерживающее электрическое поле, созданное между катодом и сеткою Я; те электроныу которых кинетическая энергия удовлетворяет уравнению: 2 ВР . . . . . . (2) (где У - разность потенциалов задерживающего поля), будут задержаны сеткою 5 и попадут на приемную" сетку Ю,. Все электроны больших скоростей пройдут через сетку Юз, попадут в ускоряющее поле и будут поглощены анодом А. Сетка 5; принимает на себя часть задержанных электронов и получает отрицательный потенциал. Сетка 51 включается в усилительную схему или а схему моста, в которой соответствующий указывающий прибор отмечает по. явление задержанных электронов, при данной разности потенциалов Р, а следовательно в спектре исследуемого света присутствует линия частоты ч,...