Патенты с меткой «масс-спектрометр»

Номер патента: 860638

Опубликовано: 23.07.1983

Авторы: Галль, Кузьмин, Махов, Павленко

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...с металлическими динодами, предназначенный для работы с относительно большими ионными токами, располагают параксиально анализатору, целесообразноза оптически прозрачной обкладкой.первого конденсатора установить 15 цилиндр Фарадея, соосный анализатору, а между выходом анализатораи входом в первый конденсатор науровне торца большей обкладки этогоконденсатора установить вторичноэлектронный умножитель канальноготипа, обращенный входным отверстием к оси анализатора. При этом дляэлектрического управления выводомионов на любой из трех приемниковионов конденсаторы должны быть соединены с источником напряженияпостоянного тока через коммутатор.При этом большие обкладки конденсаторов должны быть соединены с .одним подвижным контактом коммутатора,...

Номер патента: 1046800

Опубликовано: 07.10.1983

Авторы: Александров, Иванов, Мамырин

МПК: H01J 49/40

Метки: время-пролетный, масс-спектрометр

...и нитевидный катод, пространство дрейфа и приемник ионов, в электронную пушку устанавливаются три дополнительных плоских щелевых электрода, размещенных между тремя упомянутыми электродами и камерой ионизации, все шесть электродов располагаются таким образом, что оси их щелей параллельны нитевидному катоду инаходятся е ним в одной плоскости,перпендикулярной плоскостям всехэтих электродов, нитевидный катод расположен посредине между наружнымпервым и следующим - вторым электродами при условии, что.ф; - толщина "го электрода.В предлагаемом масс-спектрометремагнитная Фокусировка электронногопучка заменена электростатической,которая обеспечивается введением вэлектронную пушку трех дополнительных щелевцх электродов между тремясуществовавшими и...

Номер патента: 1051619

Опубликовано: 30.10.1983

Авторы: Игнатенко, Кочеев, Суханов

МПК: H01J 49/40

Метки: масс-спектрометр, радиочастотный

...= 1(Схема содержит корпус 1 и изолированные друг от друга и от корпуса 1 плоские сеточные электроды 2, делитель 3 напряженйя, подключенный к блоку 4 питания и соединенный с электродами 2 анализатора, формирователь 5 бегущей волны электрического поля, выполненный по схеме ион-. ного разрядного сдвигового регистра, соединенный через конденсаторы б с электродами 2 анализатора, высокочастотный генератор 7, тормозной сеточный электрод 8, соединенный с блоком 4 питания, коллектор 9 ионов, соединенный с регистрирующей аппаратурой 10, моноэнергетичный поток ионов 11, поступающий из ионного источника на вход анализатора.Устройство работает следующим . образом.Моноэнергетичный поток ионов непрерывно поступает в анализатор. Делитель 3...

Номер патента: 1061193

Опубликовано: 15.12.1983

Авторы: Гартманов, Коган, Кошевенко, Павлов

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр

...массанализатор, состоящий из постоянного магнита с плоскими полюсниками,разделенными зазором, электростатического цилиндрического конденсатора, и приемник с коллимацион ной щелью, паралледьные обкладкамконденсаторов оси симметрии выходного окна первого конденсатора ивходного окна второго конденсатора лежат в плоскости, проходящей 65 через середину зазора магнита,параллельную его полюсникам, и параллельны между собой, а обкладкиконденсаторов выпуклостью направленыв противоположные стороны, при этомсоотношение ширины коллимационной,щели В и радиусов кривизны обкладокконденсатора масс-анализатораиудовлетворяют неравенству 0,008 с(Э 4)Ра угол о,кривизйы обкладок конденсатора энер гоанализатора и угол о(г кривизныобкладок...

Номер патента: 1061194

Опубликовано: 15.12.1983

Авторы: Бусыгин, Каллестинов, Ульмасбаев

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...а приемник ионов помещен в дополнительном патрубке, расположенном под углом 2 сС к оси симметрии масс-спектрометра.Электроды поворотного конденсатора представляют собой две параллельные металлические сетки.10 На чертеже представлена схемапрздлагаемого масс-спектрометра.Масс-спектрометр содержит в камере анализатора импульсный ион.ный источник 1, бесполевое про странство 2 дрейфа, два зазораконденсатора 3 и 4 отражателя, приемник 5 ионов и поворотный сетчатый конденсатор, представляющий собой две плоские параллельные сетки 20 6 и 7, расположенные под углом ок оси симметрии камеры анализатора Сетка 7 постоянно заземлена,Сетка 6 с помощью электронного ключа 8, запускаемого сигналом с источника ионов через блок 9 задержки,...

Номер патента: 1076983

Опубликовано: 28.02.1984

Автор: Тарантин

МПК: H01J 43/30

Метки: масс-спектрометр

...цель достигается тем, что в масс-спектрометре, содержащем .источник ионов, за которым установлен дипольный магнитный анализатор с межполюсным зазором в форме клина, усеченного двумя плоскостями, ортогональными к образующей и к плоскости симметрии клина, электростатический анализатор типа электростатическое зеркало", диафрагму и коллектор ионов, входная-выходная прямолинейная граница магнитного анализатора установлена параллельно оси симметрии электростатического анализатора и гребень клиновидного,1(Ф "-0 52 й/(й),где Й - число пар проходных отверстий в диафрагме, расстояние междувходным и выходным отверстиями вкаждой наре проходных отверстий привходе в электростатический анализатор равно с 3-5,401 и каждое последующее входное...

Номер патента: 1081705

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Гликман, Дразнинас, Карецкая, Кельман, Сайченко

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, призменный, фокусировкой, энергии

...ахроматизирующий элемент. Линейная дисперсия 0 д определяется формулойРв =Рч 1 - рр - )где 0 - угловая дисперсия магнитной призмы;-заднее фокусное расстояние фокусирующей линзы;Чи -углы падения и преломления пучка для преломляющей системы, расположенной после магнитной призмы;В случае двумерного магнитного поля 0 = 1 рК, где, - угол падения пучка на магнитную призму 2.Однако в известном устройстве не полностью используется возможность увелиличения дисперсии за счет ахроматизирующего элемента, так как полученный выигрыш дисперсии частично теряется при последующем прохождении пучка через фокусирующую линзу. Это существенно снижает удельную дисперсию прибора, а следовательно, его разрешающую способность и чувствительность, Кроме того,...

Номер патента: 1091257

Опубликовано: 07.05.1984

Авторы: Карецкая, Кельман, Сайченко

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр

...элементработает в режиме ионного зеркала,Величина угла падения пучка на зеркаО оло лежит в интервале 20-45 . Отношение ширины пластин, образующих электроды зеркала, к расстоянию междуними для крайних электродов равнопримерно 3, для средних лежит в интервале от 1 до 6. Отношение длиныпластин к расстоянию между ними зависит от угла падения ионного пучка илежит в интервале от 10 (для меньшегоугла) до 20 (для большего угла),Удельная дисперсия по энергии у такого зеркала В Несколько раз больше дисдисперсии секторного магнита, поэтому при взаимной компенсации этих дисперсий электростатический элемент может быть сделан значительно меньшемагнита и,следовательно, уменьшеныОбщие размеры масс-спектрометра и повьштена его удельная...

Номер патента: 1095272

Опубликовано: 30.05.1984

Авторы: Ковалев, Ларин, Мотовичев, Сучков

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...масс-спектрометр включает в себя вакуумированную вре- б 5 мяпролетную трубу 1, в которой соосно расположены твердотельный источник 2 ионов с источником 3 первичного пучка, коллимирующее отверстие 4,детектор 5 ионов, электростатическуюотражающую систему 6, фильтр 7 низких энергий, плоские электроды 8-13.Устройство работает следующим образом,Излучение лазера Фокусируется наобразец из источника 3 первичногопучкаОбразованный под действием импульса излучения пакет ионов с энергиями до тысячи эВ распространяетсяв бесполевом пространстве дрейфа внаправлении отражающей системы 6,.Ионы с энергиейс ЧБ ) - потенциал электрода 8) отражаются в направлении детектора и движутся в бесполевом пространстве до фильтра 7 низких энергий....

Номер патента: 723980

Опубликовано: 07.06.1984

Авторы: Кельман, Павличкова

МПК: H01J 49/32

Метки: магнитный, масс-спектрометр, призменный

...образованного вращением трапеции вокруг оси, параллельной ее основаниям и проходящей через точку (в дальнейшем именуемую центральной) 10 пересечения продолжений ее боковых сторон, с двумя плоскостями, проходящими через ось вращения под небольшим углом друг к другу, в кольце, двумя плоскостями, проходящими через ось вращения, вырезан клиновидный участок, освобождающий место для межполюсного зазора. Таким образом, межполюсной зазор приобретает клиновидную форму, а поверхности полюсов-форму трапеций. Высота этих трапеций должна быть достаточно большой по сравнению с расстоянием между полюса ми для того, чтобы параллельные оси вращения края полюсов были удалены 25 от зоны прохождения ионного пучка на расстояние не менее, чем в 4 раза...

Номер патента: 1103301

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Колотилин, Самодуров, Шеретов

МПК: H01J 49/42

Метки: гиперболоидный, ловушки, масс-спектрометр, типа, трехмерной

...вдоль большой полуоси образующих кольцевой электрод эллипсов 2).Недостатком такого устройства является большая площадь области попадания электронного потока на кольцевой электрод. Это обусловлено тем, что электроны при прохождении вдоль кольцевого электрода подвергаются воздействию расфокусирующей силы в вертикальной плоскости. В горизонтальной плоскости на электроны действует фокусирующая сила, В результате воздействия этих сил отпечаток электронного потока на поверхности кольцевого электрода, расположенный напротив входного канала, выглядит в виде линии, находящейся в вертикальной плоскости. Максимальные размеры этого отпечатка оказываются порядка характерных размеров электродной системы анализатора. Ясно, что такие большие...

Номер патента: 1128308

Опубликовано: 07.12.1984

Авторы: Гринько, Дудченко, Кузема, Лялько, Савин

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...призмы определяются из условияф,Н,ггнгде г, и Н, - радиус центральнойтраектории ионов, исоответствующая емунапряженность магнитного поля дополнительнойпризмы;И 1 - аналогичные параметрыосновной призмыНа чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого массспектрометра.Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 ионов, дополнительную аксиально-симметричную магнитную призму 2, электростатическую линзу 3, основную магнитную призму 4 и приемник 5 ионовМасс-спектрометр работает следующим образом.Ионывьппедшие из ионного источника 1 в виде расходящегося пучка, поступают в дополнительную магнитную призму 2 и разделяются в ее неоднородном магнитном поле по величине отношения массы иона к его заряду. Ионы...

Номер патента: 1101076

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Зернов, Кельман, Мит, Назаренко, Якушев

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр, призменный

...линз, образованных электродами 3, 4 и 5, телескопических систем с электродами 5, 6 и 7, вось миуголыюй магнитной призмы 8, вокруг которой расположены семь электростатических систем, Каждая электростатическая система состоит изэлектродов 9, 10 и 11. Электроды 9 и 10 образуют две симметрично расположенные цилиндрические линзы,электроды 10 и 11 - два также симметрично61 л7 0 1 УЫ 06 ),М я а следующемх пересечениедовательново втором зелинзе первой до по ни о емы второ 3 1101расположенные ионных зеркала. ЛинииОН, ОН 2 и т.д. являются осями симметрии для электростатических систем и одновременно биссектрисами углов полюсных наконечников магнитной5призмю, Каждый электрод состоит издвух идентичных параллельных пластин, симметрично...

Номер патента: 1173465

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Гартманов, Коган, Павлов, Харченко

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...Ч, имеющая то же направление после прохождения заряженными частицами магнита, где Ч - исходная скорость иона.Ограничение отношения Чцч у/Ч дает воэможность, используя предлагаемую конструкцию масс-анализатора, проводить масс-анализ ионных потоков одновременно в широком диапазоне их исходных потоковых энергий (скоростей) с хорошим разрешением по М/Е.При 1/д ( 50 нарушаются условия для одновременной регистрации частиц определенной массы в широком диапазоне исходных потоковых скоростей и ухудшается разрешение прибора, При 1/д) 200 уменьшается чувствительность прибора.Таким образом, указанные отличительные признаки в совокупности позволяют масс-спектрометру при наличии малой величины составляющей начальной скорости частиц, ограниченной...

Номер патента: 1182629

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Ануфриев, Бронштейн

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...поля и частоты модулирующего напряжения в соответствии с требуемой для выбранных масс разрешающей способностью. Оператор или автоматическое устройство устанавливает для данной массы такую частоту генератора, которая соот - ветствует номеру гармоники ь необходимому для получения нужной разрешающей способности, и .одновременно переключает бесполевые камерымодулятора так, чтобы общая длина 1 камер ( 1 = 1,2,3) определялась соотношением,(2) 45 Например, для разрешения мультиплетов гелия и водорода (24 а. е.м) требуется небольшая разрешающая способность (до 2000), целесообразен выбор меньшего значения гармоники п 1, а для разрешения дублета Хе"СС 191 гз(129 а.е.м) требуется разрешающая способность 70000, целесообразен выбор большего...

Номер патента: 1239767

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Агафонов, Фаерман

МПК: H01J 49/04, H01J 49/26

Метки: ввода, веществ, воздухе, контейнер, масс-спектрометр, неустойчивых

...надежности за счет уменьшения влияниявозможного перекоса цилиндрическихчастей крьппки и корпуса, а такжеза счет создания потока паров лету Очей жидкости, предотвращающего попа"дание воздуха в корпус контейнера иобеспечивающего необходимое давление для надежного сбрасывания крышкипри откачке камеры шлюза масс-спектрометра.На Фиг,1 и 2 представлен контейнер для ввода в масс-спектрометрвеществ, неустойчивых на воздухе,Контейнер содержит корпус 1 и крышОку 2, снабженную дополнительной емкостью 3. В корпус, выполненный изкварца и снабженный устройством 4для его крепления, вплавлена проволока нагревателя 5. Дополнительная емкость 3 крьппки 2 содержит инертнуюк исследуемому веществу жидкостьб, Исследуемое вещество 7 помещают вкорпусе 1...

Номер патента: 1241303

Опубликовано: 30.06.1986

Авторы: Дубенский, Новикова, Шмикк

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...потенциалами всех предыдущих электродов. 14 Мс)КО ф41,ин - соответственно максимальная и минимальная энергии ионов в дрейфе,а расстояние между электродами должно удовлетворять выражениюВведение трех дополнительных сетчатых электродов позволяет уменьшить длительность д 1 ионных пакетов на входе детектора и увеличить разрЕшающую способность ВПМ примерно в пять раз, а также увеличить чувствительность, т.е получить на выходе детектора 3 сигнал, уровень которого больше, чем у известного масс-спектрометра, при одинаковом парциальном давлении в приборе ис" следуемого газа или паров вещества.Сравним , - величину импульса ионного тока на входе детектора известного масс-спектрометра и 1г величину импульсного тока на входе детектора предлагаемого...

Номер патента: 1247973

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Александров, Галль, Голиков, Печалина, Холин

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...факторов в приборах, рассмотренных выше, Отсутствие дисперсии по энергии позволяет также сделать вывод, что потери ионного тока будут крайне незначительны, вследствие чего ожидается значительный выигрыш в чувствительности даже по сравнению с прототипом.Дополнительным преимуществом предлагаемых приборов является возможность уменьшения габаритов без потери временной дисперсии, т.е. создания высокочувствительных малогабаритных масс-спектрометров.В качестве конкретного варианта можно рассмотреть времяпролетный массспектрометр, электроды которого с целью упрощения конструкции выполнены коаксиальными, в виде квазиконических поверхностей с общим основанием, описываемых уравнением(г)2 в -2-К 1 и,=С 1=1,2, (4)с 1 2 с 1где г=Гх УК. -...

Номер патента: 1256107

Опубликовано: 07.09.1986

Авторы: Алиев, Исмаилов, Нуриев, Олейников, Сысоев, Татур

МПК: H01J 49/34

Метки: масс-спектрометр

...14. После прохождения плоскости диафграмы, в которой установлены кити 12, пакет практически также не подвергается воздействию краевого по" ля, так как краевое поле проникает 55 внутрь электростатического анализатора только на расстояние, примерно равное расстоянию между нитями в плос 07 2кости окна, а оно выбирается равным1-1,5 мм. Это позволяет уменьшитьрасстояние, на кгтором может влиятькраевой эффект в 10-50 раз, В силутого, что переходная область краевого поля локализована практически впределах толщины диафрагмы 2-4 мм,действие линзового эффекта пренебрежимо мало, так как, с одной стороны,потенциалы вблизи средней окружностианализатора малы по сравнению с ускоряющим потенциалом, а с другой стороны, протяженность краевого...

Номер патента: 1274029

Опубликовано: 30.11.1986

Авторы: Маньковский, Пругер, Ривлин, Штейнберг

МПК: H01J 49/26

Метки: ввода, масс-спектрометр, неполярных, органических, примесей, растворов

...бензола к измерению ацетона.Использование заявляемого способа позволит повысить контроль качества 30 очищенной воды, сбрасываемой в водоем, и тем самым обеспечить нормальную работу очистных сооружений. Формула изобретения35 разом.Дроба вводится в проточную ячейку 1 и через мембрану 2 направляетсяк масс в спектромет.Металлический шток 4 через пластинку из пористого тефлона 5 в зависимости от состава пробы растягивает мембрану до необходимой проницаемости.П Р и м е р. Проведен в лабораторных условиях анализ ацетона и бензола - веществ, часто встречающихся встоках промпредприятий в количествах 1-100 мг/л,По данным источника, выбранногов качестве прототипа, проницаемостьйсиликоновой резины по ацетону в 10раз хуже, чем по бензолу,Для...

Номер патента: 1118229

Опубликовано: 07.02.1987

Автор: Манагадзе

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...кратера. В этом случае образованная при воздействии излучения плазма практически не выходит наружу ("зарывание"),Целью изобретения является увеличение чувствительности прибора и точности измерения.Ф Цель достигается тем, что в известном времяпролетном масс-спектрометре, содержащем импульсный источник ионов, детектор и рефлектор, расположенный перед детектором после пространства дрейфа, рефлектор выполнен в виде тора, расположенного коаксиально центральной оси массспектрометра, по которой также расположен детектор ионов, при этом на входе рефлектора расположена электростатическая отклоняющая система тороидальной конфигурации, а пространство дрейфа между источником ионов и рефлектором ограничено двумя коническими металлическими...

Номер патента: 1305795

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Борискин, Брюханов, Еременко, Лощинин, Рамендик, Скрипченко

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...пластины28, например 50 мм , вместо первоначального сечения пучка ионов в фокальной плоскости, равного, например, 40 0,03 мм . В результате этого микроканальная пластина 8 способна эффективно без насыщения регистрировать пульсирующие пучки ионов высокой плотности тока, создаваемые импульсным лазерным источником 1 ионов. Попадая в каналы микроканальной пластины 8, вторичные электроны размножаются и по выходу из микроканальной пластины 8 попадают на коллектор 9, где создают 50 регистрируемый сигнал, который поступает на вход интегратора. Поступающий на вход микропроцессора сигнал обрабатывается микропроцессором в реальном масштабе времени: выделяется максимум, определяется момент его наступления и сумма слагающих сигналов...

Номер патента: 1307492

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Горшков, Мордехай, Николаев, Тальрозе

МПК: H01J 49/38

Метки: ионно-циклотронный, масс-спектрометр, резонансный

...умножение частоты, достигнутое за счет специального соединения электродов детектора, позволяет расширить диапазон исследуемых масс, повышает отношение сигнала к шуму в спектрах, так как на высоких частотах электронная схема усилителя шу(1+А У - 4 Аф сов 2 ч,.с емкостной коэффициент, постоянный для данного устройства;частота циклотронного движения жгута ионов;отношение радиуса вращенияжгута ионов к радиусу ячейгде СО ки. 2 2мит меньше в 1/и по мощности для так называемого "фликер-шума".Повышение разрешающей способности в ИЦР спектрометре с предлагаемой ячейкой, является прямым следствием увеличения ча.стоты регистрируемого сигналаДействительно, огибающая регистрируемого сигнала имеет вид экспоненты, следовательно, Фурье-...

Номер патента: 1330675

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Горьковой, Кузьмин

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...электрод 4, устанавливаемый между каждой парой смежных,полеобразующих электродов и иоцно-оптической осью 2 анализатора, соединенцый электрически с общей точкой 5парафазцого выхода высокочастотногогенератора б.Работа устройства сводится к следующему, 30При возникновении поверхностногозаряда на изоляционных шайбах 3 между смежными электродами 1 ацализатора этот заряд в предлагаемом массспектрометре оказывается экранированным дополцительцьпьц электродами 4, потенциал которых равен потенциалу иоцно-оптической осц 2, анализатора.В результате исключается искажающее влияние потенциала поверхностного 40 заря"а ца рабочее поле анализатора.Положительный эффект по сравнению с прототипом состоит в том, что чувствительность...

Номер патента: 1525774

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/48

Метки: ионами, магнитного, масс-спектрометр, многократным, поля, прохождением

...системы; обеспечивает свободу движения ионов по в сему конно-оптическому тракту,.на их пути не встречаются ни сетки, ни щели. Это сводит к минимуму рассеяние и выбивание вторичных частиц,74бкостью. Механическая сборка предлагаемого масс-спектрометра значительно проще, так как пучок входит в электрическое поле свободно и не должен каждый раз точно попадать в узкую щель, как в прототипе. Неизбежные погрешности механической сборки легко ликвидируются электрической юстировкой, В предлагаемом приборе отсутствуют эффекты, связанные с многократным прохождением ионов через узкую щель, - рассеяниеионов и выбивание вторичных заряженных частиц, что обеспечивает высокое разрешение у основания спект,ральных линий,формула изобретения...

Номер патента: 1538194

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Исьянов, Ольховский, Черепин

МПК: H01J 49/42

Метки: исследования, масс-спектрометр, твердых, тел

...в б.пок 7 четырех квадрупольных линз, на электроды которого подают разнополярные потенциалы в соотношениях, обеспечивающих работу блока7, аналогично осесимметричной линзе,а величины этих потенциалов подобраны таким образом, чтобы ионы определенной энергии, например 20 эВ, Фокусировались на вход квадрупольногофильтра 8 масс.Вторичные электроны, попадая вмагнитное поле, создаваемое намагниченным электродом, отклоняются от осиблока 7 и не проходят на вход квадрупольного Фильтра 8 масс, В то же время ионы, не испытывая влияния магнитного поля, благодаря значительнобольшей массе иона по сравнению сэлектроном, Фокусируются на входквадрупольного фильтра 8 масс.В поперечной плоскости квадруполь.ной линзы, благодаря наличию двух5 15381...

Номер патента: 1594628

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Абрамов, Бандура, Высочкин, Иванов, Сурков, Сысоев

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...ми5 159462 шени 2 в наружную 1 О либо внутреннюю 11 его часть. Угол наклона р образующих элементов 9 выбирается при этом из интервала 40-50 , когдаоэмиссия ионов, образующихся при ударе микрочастицы, максимальна,Электрическое поле, создаваемое частями 10 и 11 данного элемента жалюзи и частями 10 и 11 соседнего элемента с меньшим радиусом основания,имеющи- ми соответственно потенциалы Бр, Б, , П , Бк, создаваемые йодключением к крайним электродам бло-. ков 8 питания, замедляет и поворачивает обратно ионы, движение которых в результате гидродинамическо" го разлета плазмы направлено в сторону, противоположную направлению от данного элемента жалюзи к вход ному окну анализатора 4, Пакет ионов, ускоренных электрическим полем, формируемым...

Номер патента: 1597965

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Игнатов, Кирьянов, Матанцев, Эрзин

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...образуемые в источнике 1 ионов и фокусируемые фокусирующими линзами 2, поступают в фокусирующую систему 3 прямого пучка ионов, состоящую из соосных цилиндров. Система примыкает к двух- зазорному рефлектору 4, в котором происходит фокусировка ионов по энергии. Ионы теряют в первом зазоре большую часть энергии (70) и с меньшей скоростью входят во второй зазор, где и происходит основной эффект Фокусировки ионов по энергии, т.е, ионы большей энергии проходят большее расстояние до отражения и большее расстояние до детектора, в результате чего они попадают в детектор в одно время с ионами меньшей энергии, прошедшими меньшее расстояние,Изобретение относится к масс-спектро. метрии, конкретно к времяпролетным массспектрометрам,...

Номер патента: 1600645

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Бернар, Жорж, Франсуа

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр

...в вертикальной плоскости (Фиг. 3 и 7), достигается при помощи шелевой линзы 22.На входе спектрометра перед входной шелью 3 установлены с одной стороны собирательная электростатическая линза 27, которая делает возмож в . ным управляемое послеускорение, а после нее - первый шестиполюсник 18. Линза 28 в вертикальном сечении пучка частиц служит для сужения потока частиц в точке, расположенной перед электростатическим сектором 4, Первый шестиполвсник 18 отцентрирован на уровне этого сужения.Шестиполюсник 18 установлен для компенсирования аберраций отверстий второго порядка, создаваемых электрЬ- статическим сектором 4 для траекторий, расположенных в радиальной плоскости. Прежде всего, он не оказывает никакого влияния на траектории,...

Номер патента: 1614050

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Волков, Коненков, Ляпин, Сомкин, Толстогузов

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...от первоначального направления. При указанной на фиг.1 полярности электродов положительные ионы через выходные щель 9 и диафрагму 5 конденсатора попадают в вытягивающее поле ВЭУ 15, а отрицательные ионы через щель 11 и диафрагму 7 на ВЭУ 16, Далее ионные токи, преобразованные с помощью ВЭУ в электронные, поступают на регистрирующую аппаратуру (непоказана).При больших величинах выходных тоководнополярных ионов целесообразно в качестве коллектора использовать цилиндр 21Фарадея. В этом случае регистрируемый пучок ионов проходит через квадрупольныйконденсатор без отклонения, что достигается установкой равного потенциала Оо навсех четырех электродах 12, и через щель 10и диафрагму 6 попадает в цилиндр 21 Фарадея,Выбор режима работы и...