Бейзина

Номер патента: 1438522

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, фокусировкой, энергии

...4-6,Каждый электрод зеркала представляет.собой две идентичные, параллельныедруг другу пластинь 1, расположенные 25симметрично относительно средней плоскости,обращенные друг к другу боковыеповерхности пластин соседних электродов имеют цилиндрическую форму. Главная оптическая ось масс-спектрометра 30в поле зеркала обращена выпуклостьюк оси О этих поверхностей. В массспектрометре нд фиг. 2 выходная щельисточника .ионов 1 расположена вглавной фокальной плоскости зеркалас электродами 4-6. В масс-спектрометре, изображенном на фиг. 3, выходнаящель источника ионов 1 расположенав главной Фокальной плоскости первого по ходу пучка зеркала с электродами 4"6. Входная щель приемника 2ионов расположена в главной фокальной плоскости второго...

Номер патента: 1550589

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/44

Метки: электростатический, энергоанализатор

...отклоняются иначе и в щель приемника не попадают. Изменяя энергию настройки анализатора, можно снять энергетический спектр. Чтобы дисперсия по энергии накапливалась от каскада к каскаду, должно выполняться следующее правило: в том случае, когда пучок между двумя соседними каскадами параллелен, они должны отклонять его в одну и ту же сторону, если пучок собирается в промежуточный фокус - в разные. Линейная дисперсия по энергии анализатора, показанного на Фиг. 1 ц 2, определяется равенством В = (01 + 20) щ + + 04, где 0и Б - линейные дисперсии по энергии первого и четвертого каскадов; 2 Б- суммарная дисперсия идечтичных второго и третьего каскадов, щ- линейное увеличение четвертого каскада. Линейные увеличения первого щ ,и четвертого щ...

Номер патента: 1525774

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/48

Метки: ионами, магнитного, масс-спектрометр, многократным, поля, прохождением

...системы; обеспечивает свободу движения ионов по в сему конно-оптическому тракту,.на их пути не встречаются ни сетки, ни щели. Это сводит к минимуму рассеяние и выбивание вторичных частиц,74бкостью. Механическая сборка предлагаемого масс-спектрометра значительно проще, так как пучок входит в электрическое поле свободно и не должен каждый раз точно попадать в узкую щель, как в прототипе. Неизбежные погрешности механической сборки легко ликвидируются электрической юстировкой, В предлагаемом приборе отсутствуют эффекты, связанные с многократным прохождением ионов через узкую щель, - рассеяниеионов и выбивание вторичных заряженных частиц, что обеспечивает высокое разрешение у основания спект,ральных линий,формула изобретения...

Номер патента: 1436148

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/44

Метки: анализатор, зеркалом, электростатическим, энергетический

...ширины и потенциала дополнительного электрода - увеличивается число свободных параметров, подбирая значения которых можно компенсировать сферическую аберрацию при стигмати ческом изображении, а в результате предлагаемого взаимного расположения источника, детектора и зеркала удается увеличить дисперсию устройства.На фиг.1 дана проекция энергоанакак электростатическое зеркало, Врезультате прохождения этих полейпучок фокусируется в горизонтальноми вертикальном направлениях и разделяется па энергии. Изменяя потенциалы 1 и 1 пропорционально У, можносфокусировать на входном окне детек- .тора 5 частицы с той или иной энер-гией и таким образом снять энергетический спектр исследуемого пучка заряженных частиц.В качестве примера привецем...