Патенты с меткой «масс-спектрометр»

Номер патента: 1651327

Опубликовано: 23.05.1991

Автор: Манагадзе

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...ограниченной сетками 3 и 4,и образованные ионы удерживаютсяэлектростатическим полем до включениявыталкивания, после чего ионы сэнергией ф 30 эВ начинают двигатьсяв области; ограниченной сетками 4 и 5,получив дополнительно 200 эВ, далее,пройдя через область дрейфа и отклонившись в поле электродов, ионы отражаются в поле рефлектрона и попадают надетектор..Величина напряжения Н выбираетсяэкспериментально по максимуму сигнала и наилучшего разрешения.В режиме регистрации ионов сеточная сборка 2, 3 и 4 используетсяв качестве электростатического затво 45ра. В этом режиме на прибор подаютсяте же напряжения, что и в режиме нейтрального газа за следующим исключе нием провод 7 отключен, диафрагма бсоединена с корпусом: в ждущем режиме50сетка...

Номер патента: 1661870

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Грабовский, Еременко, Оксенойд, Пятахин, Рамендик, Сотниченко, Файнберг, Хромов

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, лазерного, лазерный, масс-спектрометр, масс-спектрометрического

...тока и предыдущим его значением из фиксатора 28 тока, которое определяет величину следующего приращения в регуляторе 32 приращений, полученную в сумматоре 33 приращений и вызывающую перемещение объектива 2 на этувеличину, По мере. приближения к максимальному значению тока разность и, следовательно, величина приращения уменьшаются, при прохождении че 1661870рез максимум тока знаки разности и перемещения сменяются на противоположные,обеспечивая установление максимальногозначения тока. Сигнал окончания поискамаксимума тока вырабатывается компаратором 30 окончания цикла в случае, еслиразность лежит в пределах, вырабатываемых формирователем 34 допустимых пределов изменения тока, исходя изнестабильности тока и числа импульсов усреднения из...

Номер патента: 1674290

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Кельман, Мит

МПК: H01J 49/30

Метки: ионами, магнитного, масс-спектрометр, многократным, поля, призменный, прохождением

...направляется на магнитную призму 1. Магнитная призма разлагает ионный пучок по массе и энергии, после чего он отражается первым ионным зеркалом и направляется в электростатическую призму, Электростатическая призма компенсирует разброс ионов по углам, образовавшийся после прохождения магнитной призмы из-за неоднородности ионов по энергии, вследствие чего все ионы с одинаковой массой, но с небольшим различием по энергии, движущиеся до поступления в магнитную призму 1 по параллельным траекториям, после прохожде 1674290ния электростатической призмы вновь идут параллельно друг другу. Таким образом устраняется ограничение разрешающей способности прибора, связанное с разбросом по энергии в ионном пучке, т,е. достигается фокусировка по...

Номер патента: 1677736

Опубликовано: 15.09.1991

Авторы: Елохин, Кузьмин, Протопопов, Рябов

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...предлагаемого устройства сводится к следующему (фиг,2).В момент, когда на выходе резонансного усилителя 6 высокочастотное напряжение проходит через ноль со стороны своих отрицательных значений, блок формирования прямоугольных импульсов 10 вырабатывает временной импульс той же частоты, что и частота высокочастотного напряжения, длительностью не более 0,1 длительности периода высокочастотного напряжения, Этот импульс подается на первый вход 18 устройства 11 совпадений, Обычно частота высокочастотного генератора составляет величину от одного до нескольких мегагерц, Независимо работающий задающий генератор 12 прямоугольных импульсов вырабатывает на своем первом выходе 14 импульсы внешнего запуска блока питания лазера (обычно...

Номер патента: 1684831

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Горшков, Мордехай, Николаев, Тальрозе

МПК: H01J 49/38

Метки: ионно-циклотронный, масс-спектрометр, резонансный

...(разрешающей способности, чувствительности) проводилось моделирование электрических полей на ЭВМ, Для возбуждения циклотронного движения ионов х клеммам возбуждающей цепи подводится переменное радиочастотное напряжение в результате которого в ячейке возникает электрическое поле, величина которого определяется граничными условиями на электродах ячейки и уравнением Лапласса,Эффективность поля возбуждения огределяется величиной энергии приобретаемой ионами за период обраше ияИ(г) "(огай Ц с 1)сгде интегрирование производится по окружаности Сг, Численное моделирование показывает, что величина приобретаемой ионом энергии эа период в пределах 107 не зависит от радиуса вращения ионов г (при изменении г от 0 до 957 от радиуса ячейки К) и...

Номер патента: 1690023

Опубликовано: 07.11.1991

Авторы: Иванов, Мамырин, Федичкин

МПК: H01J 49/08, H01J 49/26

Метки: анализа, газового, масс-спектрометр

...продуктов реакции будет равно отношениюР 1 ЯгРг 0116 АРассуждая аналогичным образом, можно получить, что давление продуктов реакции о камере анализатора будет меньше посравнению с их давлением в камере катода31о 0 116, А Раэ .Следовательно, результирующееуменьшение давления в камере анализатора продуктов реакции на катоде в заявляемом устройстве по сравнению с известным(т,е, увеличение достоверности анализа и)будет равно,оз(0,116 А о51При проектировании масс-спектрометра на основе заявляемого изобретения ставилась цель достичь повышениядостоверности анализа за счет уменьшения5 10 в камере анализатора давления продуктов реакции на катоде в 100 О раз,Площадь отверстия камеры катода определялась размерами поперечного сечения...

Номер патента: 1705917

Опубликовано: 15.01.1992

Авторы: Горьковой, Локшин

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...функцией вида Ц(г)=аг 2+Ьг+с, либо экспоненццальной-о 2Функцией вида а е +Ь (1-е 2) . Экс 50 периментально установлено, что наилучщим образом поле ускоряющего электрода на длине выражается с помощью экспоненциальной аппроксима.ции. учитывая, что апертура ускоряю 5 щего электрода существенно меньге величины г и проникновением в нее поля электродо масс-анализатора можно пренебречь, считая, что в точкег=О и ц масс-анализатора спадает до нуля, справедливо, допущение, что декременгы затухания вдоль оси г поля ускоряющего электрода (Ю и зату- ханця в противоположном направлении поля, создаваемого на оси масс-анализатора потенциалом его электродов- равны между собойМ, =(5=К/1,(4) а кроме тог 1, ослабление поля ускоряющего электрода в...

Номер патента: 1711260

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Вайсберг, Голубовский, Дубинский, Походня, Черепин, Швачко

МПК: H01J 49/26

Метки: вторично-ионный, масс-спектрометр

...на внутренней поверхности пОлого электрода 13. В этом режиме работы масс-анализатора применение сетчатого отражателя позволяет устранить фон, который в случае сплошной поверхности отражателя создается вторичными электронами и эмиттируемыми ею под действием неотразившихся положительных ионов и других частиц, прошедших через анализатор 5. Ускорение к электроду 10 положительные ионы выбивают из него электроны, которые после ускорения к ускоряющему электроду 15 регистрируются фотоумножителем 19.10 20 ройству электрод 13 позволяет измерятьионные токи без энергоанализа и усиленияфотоумножителем, что повышает динамиче 30 35 В режиме анализа отрицательных ионов необходимое распределение потенциала вионно-оптическом тракте...

Номер патента: 1714719

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Грачев, Гречко, Коваль

МПК: G01N 35/02

Метки: анализе, ввода, газовыделения, масс-спектрометр, проб

...2 со стеклянными ампулами 3, электромагнит 4 с толкателем 5, позволяющим через систему тяг перемещать приемное полукольцо б с отсекателем 7 вокруг центра 8 на неподвижный нож 9. В полукольцо б поочередно попадает каждая из ампул 3, исследуемый газ из которой (после разрушения стеклянной оболочки) проходит по трубопроводу 10 в азотную ловушку и далее на анализ.Устройство работает следующим образом,В держатель 2 укладывают в нужной последовательности ампулы 3 с исследуемым веществом, При этом нижнюю ампулу размещают в полукольце б, Объем герметизируют и откачивают, Для разрушения стеклянной оболочки ампулы, лежащей на полукольце б, включают электромагнит 4, который за счет втягивания толкателя 5 перемещает полукольцо б с ампулой 3 и...

Номер патента: 1725289

Опубликовано: 07.04.1992

Авторы: Назаренко, Секунова, Якушев

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр, многократным, отражением

...на линии СС пересечениясвзаимно перпендикулярных плоскостейсимметрии ионных зеркал (плоскостихг и ху),Масс-спектрометр работает следующим образом,Ионный пакет, вылетевший из источника ионов по направлению к одному из зеркал, отражается в нем и попадает в другое зеркало, отразившись вГ котором, снова попадает в поле первого зеркала и т.д. В процессе дрейфа ионный пакет расслаивается по массам и, отразившись многократнов поле ионных зеркал, попадает вприемное окно детектора, При этом дисперсия прибора равна 517252 ложены в свободном от поля пространстве между ионными зеркалами.Указанные зеркала создают свобод- ный для прохождения ионов ионно-оптический тракт. При этом полностью5 устраняются такие характерные для се" точных зеркал потери...

Номер патента: 1438522

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, фокусировкой, энергии

...4-6,Каждый электрод зеркала представляет.собой две идентичные, параллельныедруг другу пластинь 1, расположенные 25симметрично относительно средней плоскости,обращенные друг к другу боковыеповерхности пластин соседних электродов имеют цилиндрическую форму. Главная оптическая ось масс-спектрометра 30в поле зеркала обращена выпуклостьюк оси О этих поверхностей. В массспектрометре нд фиг. 2 выходная щельисточника .ионов 1 расположена вглавной фокальной плоскости зеркалас электродами 4-6. В масс-спектрометре, изображенном на фиг. 3, выходнаящель источника ионов 1 расположенав главной Фокальной плоскости первого по ходу пучка зеркала с электродами 4"6. Входная щель приемника 2ионов расположена в главной фокальной плоскости второго...

Номер патента: 1732396

Опубликовано: 07.05.1992

Автор: Манагадзе

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...работает следующим образом,Ионы, образованные на мишени 5, разлетаются в первом приближении изотропно и часть из них, двигаясь вдоль дрейфового участка; попадает сначала в фокусирующее поле иммерсионной линзы, включающую электроды б и 7, и далее в тормозящее поле рефлектора, ограниченного сетками 3 и 8. Отраженные ионы, вновь двигаясь вдоль дрейфового участка, испытав воздействие фокусирующего поля иммерсионной линзы и пройдя сквозь сеточную сборку 2. попадают на детектор 1. Взаимное расположение мишени 5, подложки 4 и электродов б и 7. а также напряжение на них можно подобрать такими, что ионы, вылетающие внутри угла ЗОО, фокусируются на защитную подложку, а на детектор попадают ионы прсимущественно одной кратности.Возможны...

Номер патента: 867219

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Держиев, Иванов, Комаров, Мищенко, Олейников, Рамендик, Сысоев

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...опроса и считывания,а распределитель содержит блок задания ширины каналов по закону Ь Ь 1/й.Структурная электрическая схемапредлагаемого устройства представленана цертеже.Устройство состоит из истоцникаионов 1, включающего разрядные электроды 2, сетку 3 и оптицескую систе"му ч, времяпролетного масс-анализа-тора 5, детектора 6, блока 7 питанияисточников ионов, усилителя-генератора 8, вакуумных насосов 9 и блокарегистрации 10, содержащего распреде.литель 11 с блоком задания шириныканалов, аналого-цифровые преобразо .тели 12, интеграторы 13 и блок 11опроса и считывания, причем сетка 3подключена ко входу усилителя-генератора В и расположена в источникеионов 1 между оптической системой 1и разрядными электродами 2, подключенными к блоку 7...

Номер патента: 1742901

Опубликовано: 23.06.1992

Авторы: Мордехай, Николаев

МПК: H01J 49/38

Метки: ионно-циклотронный, масс-спектрометр

...жгут положительных и отрицательных ионов в измерительной ячейке спектрометра. Для положительных ионов 5 10 20 25 30 35(при указанной на фиг. 1 полярности опорных напряжений) удержание происходит в центре измерительной ячейки в электрическом поле, аппроксимируемом гиперболоидальным, удержание отрицательных ионов осуществляется в непосредственной близости от торцовых сетчатых электродов вследствие их отражения от сильно неоднородного электрического поля, создаваемого наружным и внутренним торцовыми электродами. боковые электроды возбуждения 7, 8 подключают к генератору переменного радиочастотного напряжения с частотой, равной циклотронной частоте ас исследуемых ионов, для возбуждения их циклотронного движения.В результате действия...

Номер патента: 1755333

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Коненков, Толстогузов

МПК: H01J 49/42

Метки: анализом, ионов, масс-спектрометр, одновременным, отрицательных, положительных

...режиме уско 15 20 25 40 рождения иона. В этом случае через энергетический фильтр 2 пройдет основная масса 50 падение первичного пучка 10 ионовна образец 3 и осуществить сбор вторичных ионов по нормали к образцу 3, что повышает эффективность и локальность сбора вторичных ионов,На вь 1 ходэх квадрупольного энергетического фильтра 2 устанавливают иммерсионные доухэлементные линзы 4 с рения вторичных ионов. Укаэанные линзы 4 служат для фокусировки вторичных ионов на входную диафрагму диаметром0,58, где Во - радиус окружности, вписанной между вершинами электродов КФМ. После линзы 4 следуют коадрупольные фильтры б масс. На выходах КФМ устанавливаются выходные диафрагмы 7 диаметром и детекторы 8 и 9 ионов для детектирования и регистрации...

Номер патента: 1760577

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Егоров, Иванов

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...(М = 1,2). Однако и для них оно на практике не превышает +10 нс.Указанной стабильности времен пролета ионов, достигнутой благодаря совокупности перечисленных отличительных признаков, достаточно для того, чтобь 1 в течение длительной работы масс-спектрометра (практически постоянно) настройка ИАП оставалась оптимальной. Это обеспечивает достаточную точность измерения амплитуды пиков масс-спектра в течение длительного времени.Заявляемая совокупность признаков не известна, Введение во времяпролетный масс-спектрометр и подключение указанным образом измерителя интервала времени между фактическим и установленным при настройке временем пролета ионов реперного компонента является новым и применено впервые. Б результате появилась возможность...

Номер патента: 1773461

Опубликовано: 07.11.1992

Авторы: Бондаренко, Булат, Герман, Зубарев, Кныш

МПК: B01D 59/44

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...оси узла экстракции ионов. Кроме того, вакуумноплотный корпус аналитической камеры пробы выполнен составным из двух частей, разделенных вакуумным шибером, причем в первой части размещены источник первичных ионизирующих частиц и узел экстракции ионов, э во второй части (шлюзовой камере) - шток с держателем образцов, при этом вторая, часть корпуса выполнена быстросъемной с возможностью соединения с системой откачки.На фиг.1 и 2 приведена конструкция предлагаемого времяпролетного массспектрометра; на фиг.З - конструкция устройства смены держателей проб.Масс-спектрометр содержит вакуумноплотный корпус 1 источника ионов, соединенный с трубой 2 дрейфа и стартовым детектором 3. В конце трубы дрейфа установлен стоповый детектор 4, соединенный...

Номер патента: 1780132

Опубликовано: 07.12.1992

Автор: Мамырин

МПК: H01J 49/34

Метки: магнитный, масс-спектрометр, резонансный

...сторону от входной щели по сравнению с модулятором, т.к.в противном случае ионный пучок подойдет 5 не под прямым углом к линии щелей, как этонеобходимо для правильной работы магнитного резонансного прибора, а под острым, при этом на 180 от входной щели (где расположены щели модулятора) пучок ионов не 10 30 35 40 45 50 55 15 20 25 будет сфокусирован. Таким образом, каждый признак в предлагаемой конструкции необходим, а все вместе они достаточны для достижения целей изобретения.Автору неизвестна заявленная совокупность существенных признаков. Взаимовлияние всех отличительных признаков приводит к появлению новых возможностей: уменьшению зазора магнита и использованию в приборе внешних источников ионов с повышенным давлением...

Номер патента: 1803942

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Калашников, Коблев, Коненков, Могильченко, Силаков, Шагимуратов

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...дополнительного электрода не влияло на основное поле, создаваемое электродами 3 КФМ (рис. 2), Электрод 4 не будет оказывать существенного влияния, если он расположен от оси Е на расстоянии большем, чем го. Однако если электрод 4 удален на значительные расстояния от оси Е, то это требует значительных амплитуд Оо импульсного напряжения, прикладываемого к дополнительному электроду 4, Поэтому предпочтительным расстоянием Й от оси 2 расположения электрода 4 является радиус вписанной окружности го между центрами кривизны основных электродов 3 КФМ, как 40 45 50 55 5 10 15 20 25 30 Е (0,01 - 0,001)(2) где К=0,1 - коэффициент, учитывающий гебметрический фактор.Длительность импульса т выбирается 15 Из условия, чтобы при смещающем воздейфвии...

Номер патента: 2003199

Опубликовано: 15.11.1993

Авторы: Бочкарев, Колесников, Семкин

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...упр. поля а,чь= ч /аг(с) б 1 (2)ат - ускорение иона на участке 0 привозврате иона,ч - скорость на выходе ускоряющегопромежутка ба,50 55 времени) и каждый раз включается источник ионов 1. В динамическом режиме обеспечивается обработка задаваемых блоком управления 12 диапазонов масс с разрешающей способностью на 1 - 2 порядка более высокой, чем в статическом режиме, Это достигается за счет формирования генератором 10 управляющего переменного во времени поля в промежутке о 1, Закон управления синтезируется из условия компен сации разброса, времен прихода ионов с одинаковой массой в плоскость приемника 7, а также с учетом требования обеспечения постоянства ускорения, действующего на ионы на возвратном участке траектории 15 сбе 1, Это...

Номер патента: 1839274

Опубликовано: 30.12.1993

Автор: Черепин

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...от наружного 8 и внутреннего 9 электродов расположена входная диафрагма 5, а в противолежащей входной диафрагме 5 стороне кольцевого проводящего электрода 10 относительно центра сферы расположена первая промежуточная диафрагма или щель 11, диаметр или ширина которой больше диаметра входной диафрагмы 5, причем угловое расстояние между центрами первой промежуточной диафрагмы 11 и вгорой диафрагмой 5 составляет угол т - Э . Противоположно первой промежуточ;ой диафрагме 11 в кольцевом провод:.щем электроде 10 расположена вторая промежуточная диафрагма 12, диаметр которой больше диаметра входной диафрагмы 5, а центр ее находится в экваториальной плоскости под углом 20 относительно входной диафрагмы 5. По ходу ионного пучка, описывающего...

Номер патента: 1443686

Опубликовано: 30.03.1994

Авторы: Мамырин, Новикова, Шмикк

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР , включающий источник ионов, детектоp и камеpу дpейфа, внутpи котоpой вдоль всей ее длины коаксиально установлены электpоды в виде тел вpащения, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности путем увеличения коэффициента тpансмиссии ионов пpи сохpанении pазpешающей способности, внутpенней электpод выполнен из электpически соединенных эквидистантно pасположенных одинаковых стеpжней, пpичем входной и выходной тоpцы внутpеннего электpода pасположены в области выходного отвеpстия источника и входного отвеpстия детектоpа соответственно и соpазмеpны с ними, пpи этом максимальный попеpечный pазмеp стеpжней d удовлетвоpяет выpажениямd