Патенты с меткой «масс-спектрометр»

Номер патента: 550877

Опубликовано: 05.03.1978

Авторы: Ануфриев, Бронштейн, Мамырин, Рафальсон

МПК: G01N 27/62

Метки: двухступенчатый, магнитный, масс-спектрометр, многолучевой

...Другиегазы с большими массовыми числами визвестном масс-спектрометре не могутбыть аналиэированы двухлучевым методом, что сильно снижает точность иувеличивает время их анализа.Для расшерения диапазона массовыхчисел, увеличения точности и экспрессности анализов как чистых газов,так и газовых смесей в предлагаемоммасс-спектрометре, ускоряющие промежутки модулятора расположены сзади плоскости 180-градусных Фокусовпервой ступени, .выходная щель второйступени установлена в плоскости Фоку.сов второй ступени под углом Р кплоскости фокусов первой, определяемым зависимостьюаъ- ", цъък м где Е - расстояние модулятора отплоскости Фокусов первойступени,- радиус выходной траектро 6рии второй ступени,- радиус траектории первойступени, проходящей...

Номер патента: 516306

Опубликовано: 05.03.1979

Авторы: Каратаев, Мамырин, Шмикк

МПК: G01N 27/62

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...различием пу-тей, проходимых ионами в поле ны516 306 О"ОнасисООмнн,Формула изобретения 35 40 76 Ф 3 ираж 1089 Подпис НИИПИ Заказ 875/б Филиал ППП Патент талкивающего импульса) с точностью до членов второго порядка малости. В частном случае за источником, в направлении, противоположном направлению на детектор, расположены по крайней мере четыре электрода с приложенными постоянными потенциалами, удовлетворяющими условиям где Оф - разность потенциалов междукрайним электродом и выходным электродом ионизационной камеры;О- разность потенциалов междулюбым промежуточным электродом ивыходным электродом иониэационнойкамеры;Онин - минимальная энергия ионов;выходящих иэ ионизационной камеры;Ощс- максимальная энергия ионов,выходящих иэ...

Номер патента: 721869

Опубликовано: 15.03.1980

Авторы: Гликман, Кельман, Павличкова

МПК: H01J 39/36

Метки: масс-спектрометр, призменный, фокусировкой, энергии

...3 72Целью изобретения является повышение разрешающей способности массспектрометра.Цель достигается тем, что в предлагаемом масс-спектрометре поверхности полюсов отклоняющего магнитного элемента наклонены друг по отношению к другу, так же как и поверхности электроаов электростатических отклоняющих элементов, причем края полюсов и электродов представляют собой прямые линии, сходящиеся в одной точке. Поверхности полюсов отклоняющего магнита и поверхности электродов отклоняющих электростатических элементов лежат на плоскостях, пересекающихся по одной и той же прямой, причем электрические и маг- нитные элементы лежат по разные стороны от плоскости, проходящей через эту прямую перпенпикулярно к срепней плоскости, а края полюсов и...

Номер патента: 764011

Опубликовано: 15.09.1980

Авторы: Кузема, Пакулин

МПК: H01J 49/30

Метки: магнитронный, масс-спектрометр

...3, 4, 5также могут быть поданы и постоянные напряжения. Магнит 7 создает магнитное полев анализаторе и источнике ионов. Наличиез 5магнитного поля в источнике ионов препятствует расплыванию электронного пучка иуменьшает энергетический разброс выходящих ионов, тем самым способствуя увеличению разрешающей способности.Масс-спектрометр работает следующимобр.азом. Вышедшие из источника 1 ионы двигаются в масс-анализаторе либо по инерции, либо в ускоряющем или тормозящем (в зависимости от напряжения источника 15 питания на электроде 2 относительно коллекторов, которые мы всегда предполагаем находящимися под нулевым потенциалом) электрическом поле по криволинейным траекториям, радиусы которых зависят от отношения заряда частиц к ее массе. При...

Номер патента: 785908

Опубликовано: 07.12.1980

Авторы: Пакулин, Цирлин, Шерешевский

МПК: H01J 49/30

Метки: магнетронный, масс-спектрометр

...питания 17, Электрически изолированные друг от друга части внутреннего электрода 14 ионизационной камеры 8 подключены к тому же источнику питания 17 через источники 6 и 7 модулирующего напряжения соответственно. Коллектор 3 подключен к регистрирующему устройству 18,Масс-спектрометр работает следующим образом.Электроны, эмиттируемые катодом 11, проходят через ионизационную камеру 8 и попадают на коллектор электронов 12 Молекулы газа в ионизационной камере 8 ионизируются электронами. Образующиеся ионы под действием ускоряющего электрического поля, которое создается источником 17 между ионизационной камерой 8 и наружным сетчатым электродом 2 анализатора масс 1, ускоряются и двигаются в направлении коллектора 3 по криволинейным...

Номер патента: 788226

Опубликовано: 15.12.1980

Автор: Пакулин

МПК: H01J 49/00

Метки: магниторазрядный, масс-спектрометр

...постоянного тока другая клемма которого заземлена через измерительный прибор 9,М агниторазрядный масс-спектрометр работает следующим образом.При подаче на катоды 3 и 4 постоянного отрицательного напряжения от источника 8 между цилиндрами 1 и 2 возникает разряд, ток которого пропорционален давлению газа. При низких давлениях (менее 10мм рт.ст.) разряд локализуется в узких прианодных слоях, в которых падает почти все анодное напряжение. Электроны, дрейфующие вокруг оси и колеблющиеся вдоль магнитного поля, продвигаются к анодам лищь в результате редких неупругих столкновений с атомами газа. Ионы двигаются иэ слоев почти радиально и, попадая в электростатическую ловушку, многократно осциллируют между анодами, медленно, с тепловой...

Номер патента: 801137

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Ганзбург-Преснов, Соколов

МПК: H01J 49/00

Метки: масс-спектрометр

...отсекаются крайние лучи ионного пучка, имеющие максимальные координаты и углы расходимости и, как правило, малую 40 интенсивность. Однако указанная коллимация невыполнима, если вертикальный кроссовер пучка, формируемого источником ионов, расположен в труднодоступном месте и является мнимым. Поэтому в предлагаемом массспектрометре при помощи собирающей линзы искусственно создают действительный вертикальный кроссовер в легкОдОступном месте прОизвОдят в 50 нем коллимацию пучка, а затем сформированный пучок транспортируют через масс-анализатор. Транспортировка ионного пучка осуществляется другой собирающей линзой. Коллиматор вертикального размера пучка устанавливается между этими линзами в месте кроссовера ионного пучка, а второй...

Номер патента: 801139

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Кузема, Пакулин, Цирлин, Шерешевский

МПК: H01J 49/30

Метки: магнетронный, масс-спектрометр

...крышки4 и 5 изолированы друг от друга,например, с помощью изолирующихпрокладок 8 и 9 и соединены с клеммами соответственно отрицательнойи положительной полярности источника 10 питания,Масс-с; ектрометр работает следующим образом,Под действием ускоряющего напряжения (источник которого на чертежене показан), гриложенного междуанализатором 2 масс и источником7 ионов, ионы двигаются в направлении коллектора б круговым сходящимся потоком по криволинейным траекто.риям, радиус кривизны которых зависит.от скорости и массы иона ивеличины магнитного поля, создаваемого магнитом 1. При модуляции ускоряющего напряжения (источник которого на чертеже не показан) траектории ионов изменяются таким образом, что ионы заданной массы то попадают, то не...

Номер патента: 801140

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Дубинский, Украинский, Черепин

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...указанным образом позволяют получить, наряду с центральным квадрупольным каналом, четыредополнительных монопольных канала,примыкающих к вершинам квадрата.В результате аналитические возможности .устройства значительно расширяются, поскольку появляется возможность одновременно анализироватьдо 5 самостоятельных пучков.На чертеже схематически изображено предлагаемое устройство,Устройство содержит масс-анализатор, состоящий из 16 электропроводных нитей 1, помещенных в экран 2,источники ионов, приемники ионов исистему питания (не показаны)Нити 1 объединены в группы, каждая из которых содержит по 4 расположенных аксиально симметрично электропроводных нити, при этом центрысимметрии каждой группы находятся надиагоналях квадрата на...

Номер патента: 817800

Опубликовано: 30.03.1981

Авторы: Дубинский, Украинский, Черепин

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...аксиально симметрично на диагоналях квадрата на расстоянии от центра, равном 1/4 длины диагонали, а гео метрические размеры электродов и экрана выполнены в соотношении 21 = 0,1855 - 0,1862 20 На чертеже схематически изображено предлагаемое устройство.Устройство содержит источники ионов (не показаны), масс-анализатор, состоящий из четырех цилиндричес ких электродов 1 круглого сечения, помещенных в экран 2 квадратного сегде г - радиус электрода,2 Ь - длина стороны квадрата,Кроме того, для одновременноймногоканальной сепарации ионов, в 2устройство введены дополнительно почетыре ионных источника и приемникаионов, каждая пара которых установлена на од.ой оси, причем, указанные оси совпадают с осью соответЗОствующего тракта анализатора,...

Номер патента: 824343

Опубликовано: 23.04.1981

Авторы: Кузинец, Пакулин, Цирлин, Шерешевский

МПК: H01J 49/30

Метки: магнетронный, масс-спектрометр

...4 ионов находятся внутри корпуса 12, служащего вакуумной камерой.Ионизационная камера 7, катод 10 и коллектор 11электронов подключены к источнику 13питания. Коллектор 2 подключен к изметельному усилителю 14,Масс-спектрометр работает следующим образом.Электроны, эмиттируемые катодом 10, проходят через ионизационную камеру 7 и попадают на коллектор 11 электронов; Молекулы газа в ионизационной камере 7 ионизуются электронами и под действием ускоряющего электрического поля, которое создается источником .13 между ионизационной камерой 7 и наружным сетчатым электродом 5. анализатора 1 масс, ускоряются и двигаются в направлении коллектора 2 по криволинейным траекториям под влиянием магнитного поля, создаваемого магнитом 3. Все ионы, попадающие...

Номер патента: 843027

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Богданов, Тер-Акопьян

МПК: H01J 49/26

Метки: масс-спектрометр

...система состоит из двухили более дипольных магнитов и одной или более квадрупольнйх электронных линз, причем изображение, создавае" мое этой системой, служит для диспергирующей системы в качестве объектной щели источника.Союз Советских Соцнапистических Республик(23) Приоритет . -Государственный комитет СССР ло делам изобретений и открытий(71) Заявитель 54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСАЖДЕНИЯ СЛОЕВ ИЗ ГАЗОВОЙ ФАЗЫ Изобретение относится к изготовлению установок для осаждения слоев из парогазовой фазы с лучистым нагревом и может быть использовано в производстве полупроводниковых приборов и интегральных схем для проведения процессов эпитаксиального наращивания кремния,. нитрида кремния, низкотемнературного осаждения леги. рованных слоев 810 и...

Номер патента: 851547

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Калинин, Самсонов, Сысоев, Филатов

МПК: H01J 39/42

Метки: масс-спектрометр

...электродами необходимо для предотвращения накопления электрических зарядов на поверхности диэлектрика и чтобы избежать искажений электрического поля анализатораКроме того, изготовление электродов в виде пленок возможно производить, например, напылением требуемых материалов на пластины из диэлектрика, что существенно упрощает изготовление электродов. Использование при изготовлении электродов, например, фотолитографии значительно увеличивает точность изготовления по сравнению с прототипом.На фиг. 1 изображена схема предлагаемого масс-спектрометра; на фиг,2 анализатор прибора, разрез.Масс-спектрометр состоит из источника 1 ионов, диспергирующего магнита 2, устройства 3 для формирования электрического поля, детектора 4, вакуумной камеры 5,...

Номер патента: 871052

Опубликовано: 07.10.1981

Авторы: Александров, Галль, Павленко, Саченко, Фридлянский

МПК: G01N 27/62

Метки: масс-спектрометр

...масс"спектрометра. 4 ОМасс-спектрометр включает источник 1 ионов, электростатический кон"денсатор 2, промежуточную диафрагму3, экран 4 первого края, электромагнит 5 с полюсными наконечниками секторной формы, экран 6 второго краяи приемник 7 ионов.Масс-спектрометр работает следующим образом.Из источника 1 ионов выходит пу"чок ионов, ограниченный по вертикаливысотой И щели. В электростатичес".ком цилиндрическом конденсаторе 2пучок разлагается в спектр по энергиям, фокусируясь по горизонтальномууглу в области диафрагмы 3, послечего попадает в секторное поле элект"ромагнита 5. Размеры ионнооптическихэлементов схемы с учетом действиякраевых полей. обоих фокусирующих элементов вЫбраны таким образом, чтобы 0обеспечить двойную фокусировку и...

Номер патента: 873306

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Фишкова, Шпак

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...создании магнитногополя нужной конфигурации, что дополнительно приводит к снижению дисперсии,Цель изобретения - повышение разрешающей способности. масс-спектрометра,Цель достигается тем, что в массспектрометре заряженных частиц, содержащем источник ионов, анализаторв виде электромагнита, приемник ионови схему питания, ярмо электромагнитаанализатора выполнено в виде двухпластину образующих прямой двугранныйугол, и соединено с полюсом, расположенным симметрично относительно плоскости, проходящей через ребро двугранного угла и делящий его пополам,причем ось источника ионов на входев анализатор находится на расстоя 35нии, составляющем 0,2-0,6 расстояния от ребра двугранного угла до полюса.Магнитное поле предлагаемого масс 40спектрометра...

Номер патента: 873307

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Фишкова, Шпак

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...Далее пучок попадает в магнитный анализатор .2; в котором происходит разделение пучка по массам таким образом, что при данной гиле магнитного поля ионы одинаковой массы попадают в приемник 5. При этом электростати.ческие линзы 3 и 4 осуществляют фокусировку по углу одновременно в горизонтальной и вертикалвной плоскостях. При использовании в схеме спектрометра в качестве фокусирующих ас- тигматичных электростатических.линз 3 и 4 (фиг. 1) квадрупольных линз и при режиме работы анализатораЬ = 2,01 О 08 Ь ф ХО Оф 231, и ХО = -0,2) увеличение прибора в плоскости дисперсии МА = 0,44, а общая длина пути ионов от источника до уриемика 5 = 2,8 Ь . Тогда Ощ = " = 12 мм/м на 1 Х изменения массы, где д, - угол между осью приемника 5 и осью Е....

Номер патента: 522690

Опубликовано: 23.10.1981

Авторы: Кельман, Назаренко, Якушев

МПК: B01D 59/44

Метки: масс-спектрометр, призменный

...щели источника и приемника ионов, перпендикулярно к средней плоскости, 65 С противоположной стороны магнитной призмы, также симметрично отиосительно плоскости 00, установлена система плоских ионных зеркал (электроды 9 и 10) так,что угол между эффективными отражающими поверхностями этих зеркал Оа и оо и гранями призмы равенЯ с4 йВыходящий из каждой точки щели источника расходящийся гомоцентральный пучок ионов после прохождения коллиматорной линзы формируется в объемный параллельный пучок, При этом потенциал на среднем электроде 5 линзы должен быть подобран так, чтобы она работала в режиме анаморфота.Элек. трод 6 заземлен. Электрод 4 является общим как для линзы, так и для отклоняющей телескопической системы.По тенциал на него...

Номер патента: 879677

Опубликовано: 07.11.1981

Авторы: Герценштейн, Хованович

МПК: H01J 49/38

Метки: масс-спектрометр, омегатронный

...пространственной неоднородности магнитногополя в значительной степени исключается,Число оборотов Я резонансногоиона равно: Высокочастотное поле группирует 25ионы в сгустки, причем сдвиг фазмежду скоростью иона и полем равен,согласно формуле (4): и поэтому в качестве условия резонанса Ь:О можно взять" Условие (10) устанавливается методами микрофазометрии: подается наэлектроды ионного источника небольшое переменное напряжение низкойчастоты, тем самым модулируется скорость ионов и тем самым время пролета: где о, - коэффициент модуляциимр1) - частота модуляции. 5 О Для переменной компоненты фазы имеем; При синхронном детектировании переменной компоненты фазы с низкочастотным напряжением, подаваемым на ионный источник, можно определить...

Номер патента: 900348

Опубликовано: 23.01.1982

Автор: Савосин

МПК: H01J 49/26

Метки: ввода, масс-спектрометр, образцов

...валом 7 с напрессованным подшипником 8 качения, барабанустановлен в подшипниках9 качения и монтируется на фланце 10 рабочей камеры, а привод перемещения держателей монтируется на корпусе 11 рабочей камеры, сильфон 4 одним концом закреплен накорпусе 11 рабочей камеры, а другим - напромежуточном валике 12 в виде цилиндрической цапфы, расположенным в пазу жесткой муфты 6. Ведущий вал 3 имеет изогнутую часть, которая размещена в опоре внутри промежуточного валика 12, угол поворотабарабана 1 ограничен двумя фиксаторами 13,расположенными на разном расстоянии отцентра барабана 1 и жестким упором 14,закрепленным на фланце 1 О рабочей камеры. В конструкцию барабана. входит промежуточная гильза 15 и торрированная пружина сжатия...

Номер патента: 905916

Опубликовано: 15.02.1982

Авторы: Агафонов, Кузьмичев, Фаерман

МПК: H01J 49/26

Метки: ввода, веществ, воздухе, контейнер, масс-спектрометр, неустойчивых

...и вакуумном шлюзе, куда помещается контейнер, в результате чего не требуется применение специального устройства для его вскрытия.Выбор величины зазора обусловлен тем., что при величине зазора (5 мкм самопроизвольное вскрытие контейнера может быть затруднено попаданием в зазор микрочастиц, а также необходима повышенная точность при изготовлении контейнера,. при величине зазора р 50 мкм повышается возможность проникновения воздуха,. что нежелательно при анализе ве .ществ, неустойчивых на воздухе. При 40 4550 55 нарушении отношения длины контейнера к внешнему диаметру внутреннейцилиндрической емкости 13=2-6, контейнер самопроизвольно не открывается, и повышается возможность проникновения воздуха в контейнер. Выбор толщины стенок в...

Номер патента: 957318

Опубликовано: 07.09.1982

Автор: Кузьмин

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...пучке все молекулы, его образующие, уже имеют направленную начальную скорость, которая может быть весьма существенной, как, на- з 5 пример, в случае сверхзвуковой струи. Эта скорость по порядку величины соответствует требуемым скоростям движения ионов вдоль анализатора. Вследствие того, что молекулы нейтральны, они проходят краевое поле анализатора без потерь и дискри В минаций. Ионизация этих молекул осуществляется внутри анализатора на его оси за пределами влияния его краевых полей, например, лазерным излучением ионизатора. Образованные при этом ионы сохраняют начальные скорости, которыми обладали исходные молекулы, движутся в поле анализатора, разделяются по массам и регистрируются.Влиянием краевых полей анализатора можно пренебречь...

Номер патента: 671582

Опубликовано: 30.09.1982

Автор: Спивак-Лавров

МПК: H01J 49/00

Метки: масс-спектрометр, призменный

...- - электродов лежат па координатных поверхностяха их границы совпадают с полуплоскостямигде у, д, ф - сферическая система координат, связанная с изображенной на рисунке декартовой системой координат х, у, г соотношениями х = г з 1 п д сов ф, у = г з 1 п д з 1 п ф, г = г сов О. Плоскость хг является плоскостью симметрии призмы и всего прибора в целом,В конусовидной призме создаются совмещенные электрическое и магнитное поля, скалярные потенциалы которых зависят только от угловых переменных О и ф. В таком поле все траектории ионов, движущихся в средней плоскости ху с одинаковыми энергиями и образующих на входе в призму параллельный пучок, будут подобны, что и обеспечивает их параллельность на выходе из призмы. При этом вовсе не...

Номер патента: 974458

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Зернов, Кельман, Мит, Назаренко, Якушев

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, призменный

...линзыбыла совмещена с плоскостью щели источника 1 ионов е. Потенциал на среднем электроде электростатическойтелескопической системы рассчитывается так, .чтобы удовлетворить усло-вию ее телескопичности. Потенциал Она общем для линзы и электростатичес.кой телескопической системы электроде, угол У и угол О - входа пучка в каждую призму магнитной дисперсионной системы должны удовлетворятьравенству= (1 + 3 сд . с )Ч,Вторая электростатическая телескопическая система 3, примыкающая к нейфбкусирующая линза 4 и щель 5 приемника ионов находятся в такой же кон-структивной взаимосвязи, что и истЬчник 1 и электроды. Магнитная диспергирующая система расположена между первой и второй электростатическими системамиЗ. В отличие от прототипа она...

Номер патента: 985846

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Андрианов, Задорожный, Юдин

МПК: H01J 49/26

Метки: масс-спектрометр

...подключен вход усилителя 7 управления током катода, источник 8 переменного тока, откоторого залитан управляемый преобразователь 9 переменного напряжения в постоянное, управляющий вход которого соединен с выходом усилителя 7 управления током катода 10 ионнзацнонной камеры 11.Устройство работает следующим обре=ч ЗОМеУсилитель 1 сравнивает падение напряжения на измерительном элементе 2 обусловленное протекающим через него током эмиссии катода 10, с потенциалом источника 3 опорного напряжения,45С помощью переменного резистора изме рительного элемента 2 осуществляется ручная регулировка рабочего тока термсьлектронной эмиссии.Ускоренные с помощью ионизирующего 5 О напряжения электроны попадают на ионизационную камеру 11, а часть электронов,...

Номер патента: 989613

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Колотилин, Сафонов, Шеретов

МПК: H01J 49/48

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...= 2 т 1пш1 во1 д - фаза входа иона в поле;одна из координат х, у, г.35При о К и 0 (К (электроды вытянуты вдоль оси г) рабочие точки на диаграмме стабильности по координате га и с находятся вблизи начала2координат. В этом случае время движения ионов Т в такой системе равно1Вггде р = а + - ,245 ,При а ф 0 и с 1, соизмеримом с а, (прямая 1 на Фиг. 1)1рг-.а и Т = -1 Гат,е. время движения ионов в ионном 50 зеркале пропорционально, как и в обычных времяпролетных масс-спектрометрах, квадратному корню из массы.При а = 0 (ось 0 )р- , а время% - р55 т.е. в этом случае наблюдается линейная зависимость времени движения ионаот его массы, что является большимпреимуществом по сравнению с обычнымивремяпролетными масс-спектрометрами.Можно показать, что...

Номер патента: 993362

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Гартманов, Коган, Павлов

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр

...входного окна здесь должна быть малой. 20Повышение чувствительности, определяемое ростом геометрического фактора толька за счет увеличения площади входного окна, приводит к существенному увеличению размеров и ве са масс-спектрометра, что недопустимо в условиях космического эксперимента, или к ухудшению его разрешающей способности.30Цель изобретения - повыениечувствительности и увеличение разрешающей способности масс-спектрометрапредназначенного для космическихисследований. 35Указанная цель достигается тем,фчто в масс-спектрометре, состоящем.,Ускоряющих пластин, электростатического энергоанализатора, масс-анали; затора, содержащего электростатический конденсатор и постоянный магнит,и приемника с выходной целью, обкладки...

Номер патента: 995156

Опубликовано: 07.02.1983

Авторы: Зернов, Кельман, Мит, Назаренко, Якушев

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, призменный

...установлены коллиматорная линза (электроды 2 - 4) и электростатический анализатор энергий (электроды 5 и 6),магнитный анализатор 7, за которым расположен второй анализатор энергий, фокусируюшая линза и детектор 8 ионов. Параметры прибора подобраны так, что суммарная дисперсия электростатических энергоанализаторов равна по величине и обратна по знаку дисперсии магнитного анализатора. Вблизи магнитного анализатора расположено электростатическое зеркало (электроды 9 и 10). В зависимости от конструктивных особеннос 1 ей вместо изображенного на чертеже трехэлектродного зеркала может быть использовано двухэлектродное,Устройство работает следующим образом,Расходящийся пучок ионов, выходящий из источника 1, формируется коллиматорной...

Номер патента: 1005216

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Иванов, Козлов, Мамырин, Шмикк, Щебелин

МПК: H01J 49/40

Метки: время-пролетный, масс-спектрометр

...проходят в щель второго. электрода.Для увеличения плотности электронного тока, что ведет к увеличению чувствительности масс-спектромегра, в источ-нике ионов могут использоваться несколько электронных пушек, расположенных за первым электродом гак, что плоскости ленточных электронных пучков пересекаются по оси, параллельной оси лазерных лучей. В этом случае в первом электроде прорезается несколько шелей. 35На фиг. 1 изображена блок-схема времяпролетного масс-. спекгромегра; на фиг. 2 - консгрукпия источника ионов.Предлагаемое устройство состоит из импульсного источника 1 ионов, дрей- е фового пространства 2 и приемника 3 ионов. Источник ионов включает шелевой коллиматор 4, формирукпгий газовую струю. Иве днафрагмы 5 н 6 лазерных лучей....

Номер патента: 1014068

Опубликовано: 23.04.1983

Автор: Фишкова

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, тройной, фокусировкой

...электрод выполнен в виде двугранного угла величиной %2, ребро которого лежит в средней глоскости электромагнитного анализатора:, а грани расположейы симметрично относительно этой плоскости, при этом кратчайшие расстояния от ребра двугранного угла до полюсов электромагнита и до первого электрода электростатической системы равны между собой, а также равны расстоянию от первого электрода до плоской части ярма электромагнита.При указанном взаимном расположении полюсрв и электродов создается совмещенное в пространстве комбинированное электромагнитное неоднородное поле, изменяющееся по линейному закону, причем силовые пинии электростатического поля перпендикулярны магнитным силовым линиям (скрещенные поля).Для малых углов наклона пучка...

Номер патента: 1018176

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Ковряженков, Крот, Пакулин

МПК: H01J 49/42

Метки: магнетронный, масс-спектрометр

...масс-спектрометре, содержащем источник ионов, цилиндрический анализатор, размещенный на его оси коллектор ионов и магнитную систему, источник ионов размещен на торце анализатора и выполнен в виде двух соосных цилиндров, установленных между плоскими электродами, в одном из которых выполнена кольцевая щель, а другой соеди6,4мой 1 сточниха 21 ускоряющего напряжения.Масс-спектрометр работает следуюцом образом. Мегнитные потоки, создаваемые магйитцой системой, замыкаются через полюсные наконечники и шайбы таким образом, гто в источниках 1 и 2 ионов силовые линии магнитного поля(изображены на чертеже пунктирными линиями) направлены в источниках ионов по радиусам, а в анализаторе 5 - вдоль оси. При подаче на. электрод 9 высокого...