Карецкая

Номер патента: 1803018

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Карецкая, Корнаков, Морозова, Ниловская, Шевелуха, Штильман

МПК: A01N 57/20

Метки: растений, роста, ярового, ячменя

...до уборки урожая,При этом оценивали уменьшение длины стебля, продуктивное кущение, озерненность главного колоса, массу 1000 зерен, общий урожай,Обработку проводили раствором препарата в дозах 0,25-3,75 кг/га, а также стандартными препаратами ХЭФК и смесью ССС+кампозан в опытах сравнения, а также водой в контрольном опыте.Полученные результаты для различных доз препарата представлены в таблице,Из данных таблицы видно, что предлагаемый способ обработки в диапазоне концентраций препарата 0,50-3,75 кг/га позволяет повысить устойчивость растений и полегание на 36-64)ь при значительном сокращении длины стебля. Использование меньших норм расхода (0,25 кг/га) не приводит к ретардантному эффекту.Анализ структуры урожая, приведенный в таблице,...

Номер патента: 1438522

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, фокусировкой, энергии

...4-6,Каждый электрод зеркала представляет.собой две идентичные, параллельныедруг другу пластинь 1, расположенные 25симметрично относительно средней плоскости,обращенные друг к другу боковыеповерхности пластин соседних электродов имеют цилиндрическую форму. Главная оптическая ось масс-спектрометра 30в поле зеркала обращена выпуклостьюк оси О этих поверхностей. В массспектрометре нд фиг. 2 выходная щельисточника .ионов 1 расположена вглавной фокальной плоскости зеркалас электродами 4-6. В масс-спектрометре, изображенном на фиг. 3, выходнаящель источника ионов 1 расположенав главной Фокальной плоскости первого по ходу пучка зеркала с электродами 4"6. Входная щель приемника 2ионов расположена в главной фокальной плоскости второго...

Номер патента: 1550589

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/44

Метки: электростатический, энергоанализатор

...отклоняются иначе и в щель приемника не попадают. Изменяя энергию настройки анализатора, можно снять энергетический спектр. Чтобы дисперсия по энергии накапливалась от каскада к каскаду, должно выполняться следующее правило: в том случае, когда пучок между двумя соседними каскадами параллелен, они должны отклонять его в одну и ту же сторону, если пучок собирается в промежуточный фокус - в разные. Линейная дисперсия по энергии анализатора, показанного на Фиг. 1 ц 2, определяется равенством В = (01 + 20) щ + + 04, где 0и Б - линейные дисперсии по энергии первого и четвертого каскадов; 2 Б- суммарная дисперсия идечтичных второго и третьего каскадов, щ- линейное увеличение четвертого каскада. Линейные увеличения первого щ ,и четвертого щ...

Номер патента: 1541119

Опубликовано: 07.02.1990

Авторы: Карецкая, Лаптев

МПК: B65B 13/00

Метки: пакета, формирования, цилиндрических

...пакета иэцилиндрических изделий осуществляют следующим образом.При формировании пакета 1 цилиндрические иэделия 2 подают на роликовый конвейер 3 с помощью транспорте ра 4. По конвейеру 3 изделйя 2. перемещаются при помощи привода 5. Наконвейере 3 изделия 2 обвязывают побоковой поверхности обвязочным элементом 6, который после обвязки сваривают вдоль образующей цилиндрической поверхности. После сформированияряда 7 из изделий 2 привод 5 совершает увеличенный ход и выполняется ещеодин сварной шов (не показан) на расстоянии 5-10 см от последнего. Груп 30пу из изделий 2 отрезают от обвязочного элемента б, После этого формируют следующий ряд 7 изделий 2. Помере формирования второго ряда 7 первый ряд 7 устанавливается в рабочейзоне...

Номер патента: 1525774

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/48

Метки: ионами, магнитного, масс-спектрометр, многократным, поля, прохождением

...системы; обеспечивает свободу движения ионов по в сему конно-оптическому тракту,.на их пути не встречаются ни сетки, ни щели. Это сводит к минимуму рассеяние и выбивание вторичных частиц,74бкостью. Механическая сборка предлагаемого масс-спектрометра значительно проще, так как пучок входит в электрическое поле свободно и не должен каждый раз точно попадать в узкую щель, как в прототипе. Неизбежные погрешности механической сборки легко ликвидируются электрической юстировкой, В предлагаемом приборе отсутствуют эффекты, связанные с многократным прохождением ионов через узкую щель, - рассеяниеионов и выбивание вторичных заряженных частиц, что обеспечивает высокое разрешение у основания спект,ральных линий,формула изобретения...

Номер патента: 1471234

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Гликман, Голоскоков, Искакова, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/48

Метки: электростатический, энергоанализатор

...на Фиг. 2, Примеры конкретных отражающих электростатических систем даны в таблице. Предполагалось, что потенциал равен нулю в той точке пространства, где равна нулю скорость заряженной частицы.В первых четырех системах, приведеннык в таблице, источник и приемник располагаются на одинаковом расстоянии от ребра двугранного угла, в последней - на разных, Р - относительная дисперсия в направлении оси 2 - определяется как отношение линейной дисперсии в этом направлении к проекциям отрезка, соединяющего источник и приемник, на ось 2.Как следует из расчетов, в предлагаемом устройстве с возрастанием двугранного угла К величина Р 00 увеличивается и при К = бО относительная дисперсия примерно в три раза превышает относительную дисперсию,...

Номер патента: 1436148

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/44

Метки: анализатор, зеркалом, электростатическим, энергетический

...ширины и потенциала дополнительного электрода - увеличивается число свободных параметров, подбирая значения которых можно компенсировать сферическую аберрацию при стигмати ческом изображении, а в результате предлагаемого взаимного расположения источника, детектора и зеркала удается увеличить дисперсию устройства.На фиг.1 дана проекция энергоанакак электростатическое зеркало, Врезультате прохождения этих полейпучок фокусируется в горизонтальноми вертикальном направлениях и разделяется па энергии. Изменяя потенциалы 1 и 1 пропорционально У, можносфокусировать на входном окне детек- .тора 5 частицы с той или иной энер-гией и таким образом снять энергетический спектр исследуемого пучка заряженных частиц.В качестве примера привецем...

Номер патента: 1091257

Опубликовано: 07.05.1984

Авторы: Карецкая, Кельман, Сайченко

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр

...элементработает в режиме ионного зеркала,Величина угла падения пучка на зеркаО оло лежит в интервале 20-45 . Отношение ширины пластин, образующих электроды зеркала, к расстоянию междуними для крайних электродов равнопримерно 3, для средних лежит в интервале от 1 до 6. Отношение длиныпластин к расстоянию между ними зависит от угла падения ионного пучка илежит в интервале от 10 (для меньшегоугла) до 20 (для большего угла),Удельная дисперсия по энергии у такого зеркала В Несколько раз больше дисдисперсии секторного магнита, поэтому при взаимной компенсации этих дисперсий электростатический элемент может быть сделан значительно меньшемагнита и,следовательно, уменьшеныОбщие размеры масс-спектрометра и повьштена его удельная...

Номер патента: 1081705

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Гликман, Дразнинас, Карецкая, Кельман, Сайченко

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр, призменный, фокусировкой, энергии

...ахроматизирующий элемент. Линейная дисперсия 0 д определяется формулойРв =Рч 1 - рр - )где 0 - угловая дисперсия магнитной призмы;-заднее фокусное расстояние фокусирующей линзы;Чи -углы падения и преломления пучка для преломляющей системы, расположенной после магнитной призмы;В случае двумерного магнитного поля 0 = 1 рК, где, - угол падения пучка на магнитную призму 2.Однако в известном устройстве не полностью используется возможность увелиличения дисперсии за счет ахроматизирующего элемента, так как полученный выигрыш дисперсии частично теряется при последующем прохождении пучка через фокусирующую линзу. Это существенно снижает удельную дисперсию прибора, а следовательно, его разрешающую способность и чувствительность, Кроме того,...

Номер патента: 591107

Опубликовано: 30.08.1982

Авторы: Бобыкин, Карецкая, Кельман, Федулина

МПК: H01J 49/44

Метки: анализатор, зеркалом, электростатическим, энергетический

...3.5 Анализатор состоит из электродов 1 и 2,имеющих форму полых прямых призм, обращенные друг к другу грани которых представляют собой части соосных круговых цилиндров с радиусами Р 1 и йг К 30 электродам приложены потенциалы ро и р,.внутри электрода 1 или за его пределами размещены источник 3 заряженных частиц, детектор электронов 4 и ограничивающая диафрагма 5. В обращенных друг к другу стенках электродов вырезаны отверстия 6 и 7.Анализатор работает следующим образом.Пучок электронов, выходящий из источника 3, пройдя через диафрагму 5, которая щ ограничивает величину его поперечных размеров, падает на зеркало под значительным углом к его оптической оси МУ. На второй электрод 2 подается задерживающий потенциал, достаточный для того, д...

Номер патента: 645223

Опубликовано: 30.01.1979

Авторы: Бобыкин, Галль, Карецкая, Кельман, Невинный, Павленко, Расторгуев, Холин, Шутов

МПК: H01J 39/00

Метки: анализатор, заряженных, частиц, энергии

...продольной плоскости, Пары пластин разделены между собой щелевыми зазорами. Пары пластин 3, 4, 5, 6 и 7 разделены прямолинейными щелевыми зазорами, а пары пластин 1, 2, 3, и 7, 8, 9 - щелевыми зазорами, образованными цилиндрическими поверхностями.Источник 10 заряженных частиц и приемник 11 размещены вне электростатического поля и могут находиться как под различными, так и под одинаковыми потенциалами,Анализатор предлагаемого типа может иметь варианты с ускорением или замедлением заряженных частиц в области центральной пары пластин 4. Электродная система анализатора может быть выполнена геометрически симметричной относительно взаимно перпендикулярных плоскостей системы или симметричной относительно продольной плоскости и несимметричной...