Устройство контроля параметров игольно-платинных изделий

ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Всесоюзный научно-исследовательский институт трикотажной промышленности(57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретенияповышение точности и помехоустойчивости контроля. Контролируемая область изделия освещается торцовым илибоковым осветителями 1,2. Из отраженного от изделия оптического сигнала фильтром 8 выделяется информация,характеризующая дефект и эталон. С помощью зеркала 24 сигнал направляетсяв эталонный канал 10 и канальныйблок 17 дефектов, каждый из каналовкоторого формирователями 18-18 выделяет из оптического сигнала составляющие, харктеризующие определенныйтип дефекта. Оптические сигналы преобразуются в электрические фотоприемниками 14, 19-19 и сравниваются всхемах 22-22сравнения. Схемы 22-22сравнения формируют положительный импульс в том случае, если степень отклонения дефекта от нормы меньше допустимой, и отрицательный импульсв противоположном случае. Аналогичносуществляется работа устройства прииспользовании торцового канала. 1 ил.Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля параметров игольно-платинных изделий,Целью изобретения является повышение точности и помехоустойчивостиконтроля за счет выделения из оптического сигнала информационных составляющих .дефекта и эталона. 10На чертеже приведена блок-схемаустройства,Устройство содержит торцовый 1 ибоковой 2 осветители, каждый из которых состоит из объектива и источника 15света, торцовый 3 и боковой 4 анализаторы, каждый из которых состоит изобъектива и точечного фотоприемника,блоки 5 и 6 управления торцовым 1 ибоковым 2 осветителями, торцовый 7 и 20боковой 8 пространственные фильтры,торцовый 9 и боковой 10 эталонные каналы, каждый из которых состоит изоптически связанных Формирователя 11(12) эталонного распределения интенсивности, координатно-чувствительногофотоприемника 13(14) и нормирователя15(16) эталонных каналов, и-канальный блок 17 дефектов, каждый из и каналов которого содержит оптическисвязанные йормирователь 18 распределения интенсивности сигнала дейектаи координатно-чувствительный Фотоприемник 19, нормирователь 20, первуюгруппу схем 21 сравнения, число которых равно числу каналов блока 17 дефектов и первый вход каждой из которых связан с выходом нормирователя 20блока 17 дефектов, а второй вход - свыходом нормирователя 15 торцового 40эталонного канала 9, вторую группусхем 22 сравнения, число которыхравно числу каналов блока 17 дейектов и первый вход .каждой из которыхсвязан с первым входом первой группы 45схем 21 сравнения, а второй вход -с выходом нормирователя 16 боковогоэталонного канала 10, коммутатор 23,входы которого связаны с выходамипервой и второй групп схем.21 и 22сравнения, полупрозрачные зеркала 24,предназначенные для оптическ о сопряжения торцового 1 и бокового 2осветителей, торцового 3 и бокового 4анализаторов, торцового 9 и бокового 10 эталонных каналов и и каналовблока 17 дефектов, непрозрачное зеркало 25, оптически связанное с боковым пространственным Фильтром 8. Устройство работает следующим образом,Перед началом работы производитсянастройка устройства: устанавливаются с помощью коммутатора 23 комбинации и последовательность работы эталонных каналов и каналов дефектов.Необходимость различных комбинаций работы каналов вызвана наличием большо-го числа видов дефектов на контролируемом изделии (трещин, царапин, сколов, ржавчины, заусенцев и др.).Каждое конкретное состояние коммутатора 23, установленное перед началомработы, ориентирует работу данногоустройства на контроль определенноговида дефекта, Коэффициенты усилениянормирователей 15 и 16 устанавливаются также в зависимости от вида дефекта и степени допустимого его отклонения от нормы; После настройки изделие подается в зону контроля, и контролируемая область облучается одним.из осветителей (1 или 2). Освещениеконтролируемой поверхности торцовым 1или боковым 2 осветителями, обуславливается видом дефекта или типом конт:ролируемой поверхности с целью получения максимальной пространственноймодуляции оптического сигнала. Еслиодин из каналов выбран для анализадефектов, другой канал может быть использован для анализа отражающей способности. В этом случае сигнал от детали принимается за счет отраженияот одного из полупрозрачных зеркал 24,преобразуется точечными фотоприемниками торцового 3 или бокового 4 анализаторов в электрический сигнал и через блоки 5 или 6 управляет яркостьюисточников света торцового 1 или бокового 2 осветителей. Предположим, чтодля контроля дефекта используется боковой канал. В этом случае сигналосветителя 2 отражается от иэделия ичерез полупрозрачное 24 и непрозрачное 25 зеркала попадает в боковойпространственный фильтр 8, пропускающий на выход только те части сигнала,которые являются характерными дляэталона и дефекта, С выхода йильтра 8оптический сигнал разделяется с помощью зеркала 24 на два пучка, одиниз которых направляется в боковойэталонный канал 10, а другой - ви-канальный блок 17 дефектов. Формирователь 12 выделяет из сигнала тучасть света, которая присуща эталону,приемник 14 преобразует ее в электрический сигнал, а нормирователь 16 усиливает этот сигнал. Второй пучок света от зеркала 24 с помощью зер 5 кал распределяется между каналами блока 17 дефектов. В каналах с помощью формирователей 18 -18" выделяется часть оптического сигнала, присущая дефекту, приемники 19-19" преобразуют оптический сигнал в электрический, нормирователи 20-20 " усиливают сигнал в соответствии с нормой дефекта. Затем сигнал с выхода эталонного нормирователя 16 сравнивается на схемах 22 -22 со всеми выходными сигналами нормирователей 20-20", и в зависимости от этих сигналов на выхо.дах схем 22-22" сравнения появляются положительный или отрицательный им пульсы. Положительный импульс формируется на выходе схемы 22 сравнения в том случае, если степень отклонения . дефекта от нормы меньше допустимой, а отрицательный - больше, т.е. при 25 наличии брака на выходе схемы сравнения Формируется отрицательный сигнал. Коммутатор 23 пропускает на выход сигнал только от той схемы 22 сравнения, канал которой задействован.3 для обнаружения данного дефекта, Для обнаружения специфического дефекта (или группы дефектов) могут быть задействованы несколько каналов. В этом случае Факт наличия дефекта определяется по комбинации сигналов.Бып рассмотрен процесс обнаружения дефекта с помощью бокового эталонного канала. То же самое происходит при обнаружении дефекта с помощью 40 торцового канала, причем не исключена последовательная или параллельная работа обоих каналов в сложной ситуации по обнаружению дефекта или комбинации дефектов. 45Таким образом, введение дополнительных блоков и связей позволяет увеличить точность и помехоустойчивость устройства, так как в устройстве анализ ведется только по тем составляющим оптического сигнала, которые несут информацию о дефекте, что является залогом повышения точности. Помехоустойчивость в устройстве увеличивается за счет того, что из анали 55 за исключаются те части сигнала, которые не несут информации об эталоне и дефектеи являются также источниками помех. Формула из о бр ете ния Устройство контроля параметров игольно-платинных изделий, содержащее первый оптический канал, предназначенный для размещения по нормали к контролируемой поверхности и состоящий из оптически связанных осветителя и фотоприемника, блок обработки, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено вторым оптическим каналом, предназначенным для размещения под углом к контролируемой поверхности и состоящим из оптически связанных осветителя и фотоприемника, блоками управления осветителями первого и второго оптических каналов, соответственно, первым и вторым пространственными фильтрами, оптически связанными с первым и вторым оптическими канала ми соответственно, первым и вторым эталонными каналами, каждый из которых состоит из оптически связанных формирователя эталонного распределения интенсивности и координатно-чувствительного фотоприемника, нормирователя, вход. которого связан с выходом координатно-чувствительного фотоприемника, первыйи второй эталонные каналы оптически связаны с первым и вторым пространственными фильтрами соответственно, п-канальным блоком дефектов, каждый канал которого оптически связан с первым и вторым пространственными Фильтрами и состоит из оптически связанных Формирователя распределения сигнала дефекта и координатно-чувствительного фотоприемника, нормирователя дефекта, вход которого связан с выходом координатно-чувствительного фотоприемника, а блок обработки выполнен в виде первой и второй групп схем сравнения, число которых в каждой из групп выбрано равным числу каналов блока дефектов, коммутатора, первый вход каждой из схем сравнения первой группы связан с выходом нормирователя дефекта соответствующего канала блока дефектов и с первым входом каждой из схем сравнения второй группы, второй вход каждой из схем срав" нения первой группы подключен к выходу нормирователя первого эталонного канала, второй вход каждой из схем сравнения второй группы связан с выходом нормирователя второго эта"5 1375954 лонного канала, выходы каждой изсхем сравнения первой и второй групп связаны с входами коммутатора, первый и второй выходы которого подключены к первым входам блоков управления осветителями первого и второго оптических каналов, вторые входы которых подключены к выходам фотопри 5емников первого и второго оптических каналов. Составитель О.НесоваТехред М.Ходанич,Редактор В.Бугренкова Корректор С.Шекмар Тираж 680 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5 Заказ 7 б 9)41 Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород,ул.Проектная, 4