Патенты опубликованные 07.08.1988
Датчик параметров вращения вала
Номер патента: 1415049
Опубликовано: 07.08.1988
Автор: Вохмянин
МПК: G01B 7/30, G01P 13/00
Метки: вала, вращения, датчик, параметров
...1 установлен магниточувствительный элемент,выполненный в виде катушки 5 индук"тивности. Эта катушка должна быть установлена вблизи оси вращения вала 2,что повьппает чувствительность датчика.Для определения также и направле Ония вращения вала 2 датчик может бытьснабжен второй радиально изогнутойферромагнитной пластиной 6 и второйкатушкойиндуктивности, идентичными первьп и расположенными взаимно45симметрично относительно вертикального положения втулки 1.Датчик параметров вращения валаработает следующим образом,При измерении количества оборотови скорости вращения низкоскоростного 50вала в датчике (фиг,2) при поворотевтулки 1, приводимой во вращениевместе с валомпостоянный магнит 3благодаря магнитному взаимодействию55с радиально изогнутой...
Индуктивный датчик положения
Номер патента: 1415050
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Куделя, Михайлов, Омельченко, Петров, Пожидаев, Путников, Тепляков, Уваров
МПК: G01B 7/30, H02K 29/12
Метки: датчик, индуктивный, положения
...и поочередно насыщаются, благодаря чему на обмотке 9 согласующего трансформатора 8 появляется высокочастотный сигнал Ц, модулированный по фазе и амплитуде (фиг.2). Частота огибающей модулированного сигнала равна частоте вращения ротора. При инвертировании фазы сигнала Б, которое происходит в момент времейи, когда один из магнитопроводов выходит из насыщения, а другой насьццает" ся под действием поля вращающегося постоянного магнита 1, фазочувствительный усилитель-демодулятор 11 обеспечивает изменение полярности напряжения на выходе Фильтра 16 и соответствующее ему изменение направле ния токов, протекающих пр входным цепям силовых транзисторов 19 и 20, Обмотка 10 положительной обратной связи способствует быстрому перемагничиванию...
Гониометр для измерения кристаллов
Номер патента: 1415051
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Горохова, Любалин, Третьяков
МПК: G01B 9/10
Метки: гониометр, кристаллов
...в кристаллодержателе 7 так, чтоодна иэ его осей параллельна оси вращения столика 2. Включают осветитель9 и задают им ось вращения столика 2.Перемещая каретку 6 по двум взаимноперпендикулярным направлениям, с помощью центрирующих салазок 4 центрируют измеряемую грань, приводя ее наось столика гониометра. После чеговключают второй осветитель 1 О и приводят его световой пучок на измеряемую грань кристалла 13 перемещая дуговой сектор 8.Перемещают измерительный узел(второй осветитель 10 и экран 11)вдоль дугового сектора 8 до.тех пор,пока центр световой картины, формируемой отраженным пучком осветителя5510 от контролируемой грани кристалла5, на экране 11 не совместится с егоцентром (центром отверстия, через которое работает осветитель),Ло...
Способ определения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1415052
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Арефьев, Илюхин, Канашкин, Старостенко
МПК: G01B 11/00
Метки: линейных, объекта, перемещений
...Ь - величина линейного пе-,; 25 ремещения объекта в направлении от распространения пучка 1.Способ осуществляют следующим образом,Излучение лазера 1 направляют на два непрозрачных экрана.2 и 3, каждый шириной Ь (например, два микро- провода одинакового сечения), один из которых 2 закреплен на контролируемом объекте, а другой 3 - на неподвижной поверхности. При этом шири 35 на щели между экранами постоянна и составляет 1, а расстояние между экранами вдоль направления распространения света является искомым линейным размером Ь. Падающее излучение дифрагирует на экранах 2 и 3 с образованием интерференционно-дифракционной картины 5 в фокальной плоскости линзы 4.45 При отсутствии линейного смещения экрана 2 (Ь = О) интерференционно-ди"...
Устройство для измерения параметров глубоких отверстий
Номер патента: 1415053
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Богатырев, Вяткин, Соколов, Спешков, Ширкунов
МПК: G01B 11/12
Метки: глубоких, отверстий, параметров
...в измеряемомотверстии с помощью роликов 18, Измерительные рамки 9 и 1 О подключены ксумматору 19 и дифференциальному усииндицируется на индикаторе 22, Разностный сигнал рамок пропорционален измеряемой непрямолинейности и индицируется иа индикаторе 23, 1 ил,лителю 20 отсчетного узла, а фотоэлектрический датчик 3 - к усилителю 21 рассогласования, к выходу которого подключен следящий электродвига" тель 6. К выходу сумматора 19 подсоединен индикатор 22 измеряемых диаметров, а к выходу дифференциального усилителя 20 - индикатор 23 измеряемой непрямолинейности.Устройство работает следующим образом. Источник 1 света материализует своии лучом прямую, относительно которой определяется непрямолинейность измеряемого отверстия. Корпус 2, опираясь...
Устройство для измерения деформаций материалов
Номер патента: 1415054
Опубликовано: 07.08.1988
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций
...ирасширение технологических возможностей путем измерения деформаций движуЩегося материала.На чертеже изображено устройстводля измерения деформаций материалов.Устройство содержит источник 1 све та, нерегулярный световод 2, первыйолоконный цилиндрический элемент 3,первый оптически прозрачный растр 4,первый регулярный световод 5, второйрегулярный световод 6, второй оптически прозрачный растр 7, второй волоконный цилиндрический элемент 8 иоторегистратор 9.1Устройство работает следующим обфазом,Пучок света (показан стрелками)фт источника 1 света проходит черезнерегулярный световод 2, первый волоконный цилиндрический элемент 3 и 30Ьсвещает первый оптически прозрачныйрастр 4. Далее изображение первогоЬптически прозрачного растра 4...
Оптически чувствительный анизотропный модельный материал
Номер патента: 1415055
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Платонов, Сапожников, Ульянов
МПК: G01B 11/16
Метки: анизотропный, материал, модельный, оптически, чувствительный
...в= 39 - = 1 Ч = 0 33,ф 45Материал изготавливается склейкойслоевшпона между собой, затем полученный аниэотропный пакет приклеивают к полимерной эпоксидной основе, представляющей собой пластинки. Меняя количество и ориентацию слоев,а также толщину пластинок .основы, получают модельный материал, которыйподобен по упругим характеристикам конструкционному углепластику с опре"55 деленной укладкой.Материал на основе древесного шпона обладает более широким диапазоном 2свойств; например, для моделированиястеклопластика на основе нити из волокна ВМ 1 можно использовать бук иликлен, Кроме того, предлагаемый материал по отношению к известному проявляет новое свойство, облегчающеемоделирование по подобно упругих характеристик. Это свойство...
Устройство для измерения углов призм
Номер патента: 1415056
Опубликовано: 07.08.1988
Автор: Дегтярев
МПК: G01B 11/26
...на фиг.2 - 7 схемы поясняющие процесс измерения предлагаемым устройством.Устройство содержит основание 1, автоколлиматор 2, устанонленный на 1 основании 1, столик 3, предназначен ный для установки на нем контролируемой призмы, вал 4 для размещения столика 3, платформу 5, соосно расположенную со столиком 3, и зеркало 6, установленное на платформе 5.У20 3 и платформу 5 на угол 180 -с 1, в том же направлении (фиг.4) . При этом общий угол поворота платформыо5 равен 2 (180 -К) . Устраняют Фиксирование между столиком 3 и платформой 5, вновь возвращают столик 3 в исходное положение поворотом на угол, равный (180 -Ы)по часовой стрелке (фиг.5) . Затем опять фиксируют платформу 5 и столик 3 между собой, В третий раз поворачивают их совместно...
Способ фотометрического контроля многослойных покрытий
Номер патента: 1415057
Опубликовано: 07.08.1988
МПК: G01B 11/26
Метки: многослойных, покрытий, фотометрического
...благодаря использованию для контроля излучения с длиной волны, большей, чем рабочая,и связанной с ней известной зависимостью, и прекращению напыления очередного слоя по достижении контрольным образцом определенного коэффициента пропускания.Контроль толщины пленок в процессе напыления многослойного покрытия, 20содержащего чередующиеся слои двухвеществ, имеющих показатели преломления и и и (и аи ), производится следующим образом.Используются два контрольных образца, на которые напыление веществ,составляющих покрытие, производитсяодновременно с напылением на рабочуюподложку. Накаждый контрольныйобразец напыляют все слои толькоодного из веществ, для чего контрольные образцы попеременно экранируют. В процессе напыления облучают...
Устройство для контроля отверстий в деталях
Номер патента: 1415058
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Ажичаков, Голянская, Пронкин
МПК: G01B 11/26
...7 переменной ширины с контактным наконечником 8, установленным в центрирующем узле 6 с воэможностью осевого перемещения и вра"щения, Фотоэлектрический преобразова тель 9 и отсчетно-регистрирующий25, образом.В первое контролируемое отверстиедетали 11 устанавливают центрирующий узел 6. При этом наконечник 8контактирует с проверяемой поверхностью детали 11.Устанавливают излучатель 1 так,чтобы его ось совпала с осью вала 3и центрирующего узла 6. При измерении вращают призму 4 с постояннойскоростью для сканирования луча поокружности и создают измерительнуюбазу в виде эталонной цилиндрическойповерхности. В процессе сканированиялуч.периодически прерывается реперным знаком 5 и маркой 7, что регистрируется отсчетно-регистрирующим блоком 1 О в...
Способ определения вместимости цилиндрических резервуаров
Номер патента: 1415059
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Каримов, Хусаинов, Ямилев
МПК: G01B 11/00
Метки: вместимости, резервуаров, цилиндрических
...с перекрытием сетки его зрительной трубы, при нулевом значении ее углового отклонения в вертикальной плоскости.Измеряют расстояние АО, высоту расположения точки А от днища и ба" зовое расстояние (С), спроектированное на днище резервуара, например, спомощью оптических центриров тео55 долитов.Для измерения действительных радиусов и высот вышерасположенных отФ носительно гочки А, поясов последова тельно для каждой измеряемой образующей восстанавливают вертикальные диаметральные плоскости, которым принадлежат точки размещения теодолитов 1 и 2, исходная точка и данная измеряемая образующая, Световую марку, образуемую проекцией светового луча лазера, направляют по вертикали от исходной точки А вверх (например, на шов между кольцевыми...
Способ измерения относительной дисперсии сечений капилляров
Номер патента: 1415060
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Арчаков, Ефименко, Малахов, Науменко, Попов, Романов, Солдатов, Чертилина
МПК: G01B 13/00
Метки: дисперсии, капилляров, относительной, сечений
...в капиллярах однозначно связан с разбросом площадей сечения капилляров. Это обс тоятельство позволяет из дисперсии времен прохождения каналов веществом меткой однозначно получить относитель. ную дисперсию площадей сечений каналов. 5Скорость движения вязкой среды в капилляре подчиняется закону Пуазейля: 1 1йз ю Ч АБ( щв) Ю (ее еввевв) ( ) б, 1, Б 2,35 е,. (4) относительную дисперсию проходных сечений капилляров в пучке. Здесь 5/.- Б - относительная дисперсия, 3,полуширина пика на полувысоте.П р и м е р. Для измерения используют хроматограф ЛХ 1-80, Вязкая сре да аргон, вещество-метка метан,детектор 5 пламенно-ионизационный.Пучок 4 из 200 капилляров внутренним диаметром100 мкм включают между устройством 2 ввода и детектором 5, создают...
Пневматический способ измерения среднего диаметра капиллярных трубок
Номер патента: 1415061
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Пистун, Стасюк, Теплюх
МПК: G01B 13/10
Метки: диаметра, капиллярных, пневматический, среднего, трубок
...З 5ходного давления поддерживают постоянное давление воздуха, которое повеличине меньше меньшего постоянноговходного давления. Давление на выходекапиллярной трубки 1 измеряют макометром 10. Перепады давлений на капиллярной трубке определяют в первомслучае как разность между показаниями манометров 5 и 10, а во второмманометров 7 и 10, После этого с 45помощью микрокалькулятора рассчитывают внутренний диаметр капиллярнойтрубки 1 по формуле128(Ц 10 1 01(01 О )0,25где Й - внутренний диаметркапиллярной трубки;1 - длина проходного канала капиллярной трубки55р - коэффициент динамической вязкости воздуха, протекающего через проходной каналкапиллярной трубки;ЬР 1 и 1 Р перепады давленийна капиллярной трубке соответственно припервом и втором...
Устройство для измерения толщины
Номер патента: 1415062
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Коротин, Орлов, Усанов
МПК: G01B 15/02, G01N 27/26
Метки: толщины
...Относится к контроль - но-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины с помощью СВЧ-техники.5Цель изобретения - расширение диаОазона измерений,.На чертеже представлена конструкция устройства для измерения толщины и схема включения активного элемента. 10Устройство содержит отрезок полосковой линии 1, в центральной части которой размещен активный элемент 2, и своим основанием 3 соединенный с Вторым отрезком, выполненным в виде 15 коаксиальной линии 4, Полоска 5 по" лосковой линии 1 электрически соединена с центральным проводником 6 коаксиальной линии 4, длина которого больше длины внешнего проводника 7. 20 Коаксиальная линия 4 снабжена диэлектрической вставкой 8, размещенной между центральным 6 и внешним 7...
Волоконно-оптический преобразователь перемещений
Номер патента: 1415063
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Данилов, Макитрин, Мерзляков, Федоров
МПК: G01B 21/00
Метки: волоконно-оптический, перемещений
...светодиодов 4 и 8. Светодиоды 4 и 8 первой и второй группы 2 и 6 оптически сопряжены с световодами 5 и на выходе их формируется световой поток в виде импульсного сигнала, который, отразившись от поверхности объекта 14, попадает на фотодиод 10, который оптический сигнал преобразует в электрический и затем после усилителя 11 сигнал подается на каскад 12 с управляемой инверсией, с которого сигнал поступает на ФНЧ 13, Поскольку частота среза ФНЧ 13 значительно ниже частоты переключения мультивибратора 1, то функция преобразования определяется средним суммарным током всех светодиодов 4 и 8 (первой и второй группы 2 и 6 управляемых источников тока). Поэтому среднее значение напряженияна выходе ФНЧ 13 пропорционально линейной зависимости от...
Процессор неразрушающего контроля
Номер патента: 1415064
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Баграмов, Зарубин, Мельников, Щербак
МПК: G01B 21/00
Метки: неразрушающего, процессор
...на вход БВИ 8, где,преобразуясь в сигнал управления,1 еформирует управляемое зеркало 5.излучение когерентного источника 1формируется формирователем 2 в волйу с плоским фазовым фронтом, котоРая разделяется в оптическом блоке 3на волны опорную 25 и информативную26. Волна 25 приходит на голограмму6, сохраняя плоский фазовый фронт,а волна 26 модулируется по пространственной фазе управляемым зеркалом 5И также направляется на голограмму6. Волны 25 и 26 дифрагируют на гоЛограмме 6, образуя шесть порядков,дифракции из которых в оптическомпереходнике выделяют две пары волн2 и 28, которые направляются навход телевизионной камеры 10, гдеобразуют интерференционную картину.В свою очередь, волны 29 и 20 направляются на экран, где также...
Измеритель перемещений
Номер патента: 1415065
Опубликовано: 07.08.1988
МПК: G01B 21/00
Метки: измеритель, перемещений
...подсчитывают целое число интерференционных полос. После окончания перемещения вычислительный блок выполняет следующие действия:1. Опрашивает состояние счетчика 8 импульсов. Число, находящееся к этому моменту в счетчике импульсов (Б), есть целое число интерференционных полос, прошедших перед окном фо-., топриемника при перемещении измерительного отражателя 4 из точки А в точку В.2. Подсчитывает дробную чать ин терференционной полосы, Для этоговычислительный блок, непрерывно следя за значением счетчика 8 импульсов, подает с управляющего выхода электрический сигнал на пьеэокорректор 19, По этому сигналу пьеэокорректор увеличивает длину референтного плеча до момента изменения значения на счетчи ке 8 импульсов. В момент изменения...
Способ контроля профиля сечения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1415066
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Горбачев, Кондратова, Самсонов, Семилетов
МПК: G01B 21/20
...источников 1 и2 излучения с плоскостью искривленияотверстия. ПЗС-линейка 3 осуществляет считывание оптических полей, отраженных от внутренней поверхностиотверстия, преобразует их в электрические сигналы, которые поступаютна вход блока 5 преобразования, навыходе которого формируются два значения сигналов, соответствующих двумоптическим полям,Разность этих двух значений вычисляется в сумматоре 6 и поступаетв блок 7 регистрации. Вращением платформы 8 с помощью привода 9 добиваются, чтобы значение ширины одного изоптических полей приняло значение максимума, Тогда по двум значениям ширины (по их разности) судят о кривизне оси отверстия.Способ осуществляют следующим образом,С помощью двух точечных источников1 и 2 излучения освещают...
Уровнемер
Номер патента: 1415067
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Воронов, Епифанов, Космына, Некрасов, Суздаль
МПК: G01F 23/00, G01F 23/24
Метки: уровнемер
...10 с частотой работы первого блока 8 синхронизации сравнивается с помощью первой схемы 11 сравнения цифровой информации с заданным значением на первом задающемустройстве 12,Допустим, термопара 3 находитсянад расплавом и движется вниз, Результирующая информация реверсивного счетчика 10 после выделения разности фазовых сдвигов равная (С, )дц(Т ) = М. Эта величина в каждыйцикл работы первого блока 8 синхронизации сравнивается с помощью первой схемы 11 сравнения и первого задающего устройства 12 с величинойМ. При движении термопары 3 надрасплавом МИизменения состояния первой схемы 11 сравнения непроисходит,В момент касания термопарой расплава результирующая информация реверсивного счетчика 10, пропорциональная разности фазовых сдвигов,...
Промежуточный механизм весов
Номер патента: 1415068
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Баранов, Коновалов, Кох, Шаталов
МПК: G01G 23/00
Метки: весов, механизм, промежуточный
...хвостовик собачки 4, которая отводится от храпового колеса 5. После открытия арретира 7 приложенная к тяге 6 нагрузка наклонит гирьный рычаг 1 . При этом регу лируемый упор 3 отойдет от хвостовика собачки 4, которая поц действием собственного веса повернется и, войдя в зацепление с храповым колесом 5, застопорит его и связанный с ним механизм 2 управления встроенными гирями. Механизм весов в другом исполнении работает следующим образом. 0После открытия арретира 7 приложенная к тяге б нагрузка наклоняет гирьный рычаг 1. При этом регулируемый упор 3 отойдет от углового рычага 9, который под действием пружины 10 по 4 вернется и переместит стопор (защелку) 8, эакленив штангу механизма 2 управления встроенными гирями.Если нагрузка,...
Устройство для поверки тензометрических весов
Номер патента: 1415069
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Дмитриев, Калинин, Килин, Козубский, Куценко, Надэмлинский, Седин
МПК: G01G 23/01
Метки: весов, поверки, тензометрических
...части тяги 1, подподвеска 5 двигается вверх и отрывается от поверхности образцовых гирь4, повисая на тяге 1 (фиг.2). Вэтот момент к поверяемым весам прик14150ладывается известная сумма масс подвески 5 и гидроцилиндра 6 с захватом7, На этом прекращается подъем подвески 5 и одновременно с окончанием5перемещения подвески 5 вверх датчик8 положения подвески вырабатываеткомандный сигнал Р поступающий навход задатчика 9 массы подвески, который генерирует на выходе в цифровом коде сигнал Р, соответствующий сумме масс подвески 5 и гидроцилиндра 6 с захватом 7. Сигнал Рпоступает на вход вычитания сумматора 11, на отдельный вход которогоодновременно поступает сигнал Р.аналого-цифрового преобразователя15 поверяемых весов, также равныйсумме масс...
Оптический вибропреобразователь и способ его установки
Номер патента: 1415070
Опубликовано: 07.08.1988
Метки: вибропреобразователь, оптический, установки
...витков пружины 3, и не образуется непрерывная винтовая поверхность,образующая резьбу 12, соответствующую предварительно изготовленнойрезьбе 2 в теле исследуемого конструкционного элемента 1. После этого ввинчивают оптический вибропреобразователь в отверстие в теле конструкционного элемента 1 по резьбе 2 до расчетной глубины, затем выворачивают резьбовой элемент 18 из оптического нибропреобраэователя поддерживая ключами эа лыски 22 цилиндрические втулки 4 и 5 от взаимного проворота, извлекают из центрального ступенчатого отверстия стягивающий резьбовой элемент 18 и произно-я дят тарировку оптического вибропреобразователя.з14150Так как оптический вибропреобразователь представляет собой две инерционные массы, соосно установленные...
Анализатор вибраций вращающихся деталей
Номер патента: 1415071
Опубликовано: 07.08.1988
МПК: G01H 1/08
Метки: анализатор, вибраций, вращающихся
...с частотой Р с датчика 2 вибраций поступает на первый вход блока 6 измерения, на второй вход которого приходит сигнал с частотой где Р - частота вращения ротора;Р - промежуточная частота;И 1,2,3 - номе сс е м р и л дуе ой гармоники,Обработанный в блоке 6 измерениясигнал поступает на блок 7 регистрации. Частота сигнала, поступающегона второй вход блока 6 измерения,синхронно перестраивается с .частотойопорного сигнала Р , который формируется датчиком 3 оборотов. Опорныйсигнал формируется в блоке. Если частота Р опорного сигнала меньше нижоней граничной частоты Р полосы зах 1вата 520 Гц), на вход первогоделителя 10 через коммутатор 9 посту"пает с выхода генератора 4 сигналчастотой Р Анализатор входит всинхронизм относительно частоты Р...
Интерференционный способ измерения малых ультразвуковых сигналов и интерференционное устройство для его осуществления
Номер патента: 1415072
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Гусаков, Кондратьев
МПК: G01H 9/00
Метки: интерференционное, интерференционный, малых, сигналов, ультразвуковых
...пластина 7, на пути лучей,отраженных снетоделительной пластиной 7 и прошедших через нее, - фотоприемники 8 и 9 соответственно.Сигналы с фотоприемников 6 и 9 подаются на входы дифференциального усилителя 1 О, который управляет работойисцолнительного элемента 11.Способ осуществляют следующимобразом.Часть излучения лазера 1 посред- д 5ством светоделительной пластины 5отводится на фотоприемник 6, который вырабатывает электрический сигнал, пропорциональнья интенсивностиизлучения лазера 1, подаваемый далеена один из входов дифференциальногоусилителя 10.При этом сигнал с дополнительногофотоприемника 6 не зависит от оптической фазы интерферометра. На нторой 55вход дифференциального усилителя 10подается сигнал с фотоприемника 9,величина...
Виброметр для измерения амплитуды вибраций
Номер патента: 1415073
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Баканов, Вильдтгрубе, Ерофеев, Сергеев
МПК: G01H 11/02
Метки: амплитуды, вибраций, виброметр
...ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измери-, тельной технике и может быть использовано для визуального измерения ,амплитуды вибраций.Цель изобретения - повышение чувствительности виброметра путем выполнения корпуса и инерционного тела в виде коаксиальных цилиндрических стаканов, зазор между которыми частично заполнен жидкостью.На чертеже изображен виброметр для измерений амплитуды вибраций.Виброметр для измерения амплитуды вибрации содержит корпус 1, выполненный в виде цилиндрического стакаяа с прозрачным окном. В нижней насти корпуса 1 закреплен один иэ постоянных магнитов 2 магнитной прукины, второй магнит 3 которой эакреп,1 ен в нижней части инерционного .тела 4. Последнее выполнено в виде илиндрического стакана с нанесенной а...
Устройство для многоточечного контроля предельных значений температуры
Номер патента: 1415074
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Воробкевич, Заничковская, Кочан
МПК: G01K 5/62
Метки: значений, многоточечного, предельных, температуры
...контролируемых точках ниже заданной границы, все биметаллические пластины 3 замкнутся с контактами 4 минимальной 45 температуры и зашунтируют резисторы 1. Тогда сопротивление линии станет равным нулю К= О. При замыкании всех биметаллических пластин 3 с контактами 5 максимальной температуры 50 происходит шунтирование резисторов 1 равными по величине дополнительными резисторами 2, При этом сопротивление каждой пары параллельно соединенных резисторов уменьшится вдвое, а суммарное сопротивление линии составитя К и-ЧК, = -- (1+3+9++ 3 + 3 ).Если наблюдается перегрев сохраняемой продукции в нескольких точках ипереохлаждение в других точках, ачасть продукции хранится при температуре, лежащей в заданных пределах,суммарное сопротивление линии...
Термочувствительный элемент
Номер патента: 1415075
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Гурскас, Звягин, Попов, Соколов
МПК: G01K 5/62
Метки: термочувствительный, элемент
...и может быть использовано в измерительных устройствах, а также втерморегуляторах и термореле, работающих, при низких температурах,Цель изобретения - расширениедиапазона измерения в сторону низкихтемператур.На чертеже представлены графикитемпературных зависимостей относитель 61ных удлинений в(Т) монокристалла1Св Р 1, 106(МоО ) соответственно,для трех кристаллографических осей,а,Ьис,Термочувствительный элемент представляет собой биметаллическую пластину, активный слой которой выполнен измонокристалла твердого раствора замещения СЫу( )Ой(МоО ), где х = 0,04(двойной молибдат цезия с примесьюгадолиния), Второй (пассивный) слойбиметаллической пластины может быть,выполнен из любогочистого металла, 25например меди, коэффициент...
Способ определения температуры
Номер патента: 1415076
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Буряков, Вайнштейн, Васильев, Давыдов, Лебедев, Петров, Симонов, Цыгуткин, Шабанин
МПК: G01K 7/02
Метки: температуры
...металлаСпособ осуществляют следующим образом.В схему питания дуги (фиг.1) элек 55 тродуговой .печи 1 к ее короткой сети через трансформатор 2 и согласующий блок 3 подключают амплитудный анали.затор 4 (например, С 4-12, С 4-48, СК 428) высших гармонических составляющих (А) тока дуги. Через равные промежутки времени синхронно с записью показаний амплитудного анализатора осуществляют замер температуры жидкого металла с помощью термопары или другого известного прибора. После статистической обработки указанных замеров производят градуировку шкалы амплитудного анализатора в градусах Цельсия.Таким образом, при замере амплитудным анализатором и-й высшей гарионической составляющей тока дуги в каждый момент времени по указанной шкале получают...
Способ изготовления устройства для измерения температуры пресс-формы
Номер патента: 1415077
Опубликовано: 07.08.1988
Автор: Щиголь-Шенделис
МПК: G01K 7/02
Метки: пресс-формы, температуры, устройства
...на наружную цилиндрическую поверхность 9 корпуса 1 перпендикулярно его образующей.Поэтому при осевом деформировании отверстия 13 "закрываются" и стенка 14 корпуса 1, образующая контактную поверхность 5, приходит в соприкосновение с телом корпуса 1.Известными способами изготавливают обойму 2 и заготовку корпуса 1, Контактной сваркой соединяют термоэлектроды 3, образуя горячий спай 7. В заготовке корпуса 1 сверлят основное отверстие 12 для термоэлектродов 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 3 и дополнительные отверстия 13Величину хода деформирования корпусаподсчитывают по приведенной зависимости. Диаметр дополнительных отверстий 13 должен быть равен ходу деформирования, чтобы его стенки придеформировании сомкнулись. Отверстия13 располагают в...
Устройство для измерения прогрева и уноса теплозащитного материала
Номер патента: 1415078
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Кокурин, Корнеев, Куликов, Полунин, Сушков
МПК: G01K 7/04
Метки: прогрева, теплозащитного, уноса
...на кольцевых ступенях, а также выполнение уступов с боковой гранью, перпендикулярной их торцам, для обеспечения минимально допустимой длины изотермического участка,56 (где й - диаметр термозлектродов) с учетом электроиэоляции и расстояния между отверстиями под термоэлектроды позволяет соответственно в пределах одной ступени по ее высоте, а также на каждой ступени разместить большее количество термопар.Например, при семи ступенях диаметр устройства для й0,2 мм составит 32 мм, при этом в корпусе размещаются 28 термопар на разных уровнях, В общем случае увеличение диа" метра устройства с увеличением количества ступеней составляет 4 мм, а рост количества термопар с изотерми" ческими участками, начиная с четвертой ступени, превышает 4 шт...