Космына
Способ получения монокристаллов высокотемпературных сверхпроводников
Номер патента: 1723847
Опубликовано: 28.02.1994
Авторы: Бабийчук, Космына, Некрасов
МПК: C30B 29/22, C30B 9/12
Метки: высокотемпературных, монокристаллов, сверхпроводников
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ МОНОКРИСТАЛЛОВ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫХ СВЕРХПРОВОДНИКОВ на основе сложных оксидов, включающий расплавление исходных компонентов в тигле, выдержку, кристаллизацию путем медленного охлаждения, отделение кристаллов и последующее быстрое охлаждение до комнатной температуры, отличающийся тем, что, с целью увеличения размеров кристаллов, их выхода и удобства извлечения, расплавление и кристаллизацию проводят в двойном тигле, внутренний из которых имеет отверстие в дне, отделение кристаллов ведут путем подъема внутреннего тигля со скоростью не более 3 мм/ч, после чего проводят быстрое охлаждение со скоростью не более 60oС/ч.
Способ получения высокотемпературного сверхпроводящего материала
Номер патента: 1526290
Опубликовано: 30.11.1993
Авторы: Воронов, Космына, Некрасов, Семиноженко, Ткаченко
МПК: C30B 29/22, C30B 9/06
Метки: высокотемпературного, сверхпроводящего
...материала с высокой плотностью. При этом обеспечивается увеличение размеров материала за счет разращивания слоя по диаметру и толщине, Материал представляет собой монолитную массу, состоящую из кристаллов размерами 30-50 мкм, которая в целом обладает сверхпроводящими свойствами, Концентрация основного вещества в материале составляет 95-97.Прекращение процесса кристаллизации при 1200-1210 С и извлечение материала из расплава (слой, образованный на поверхности, еще не примерз к стенкам тигля) обеспечивает целостность размеров поликристаллического материала, так как при этом исключается операция выбивания и отделения этого слоя материала от застывшего раствора - расплава.Размеры поликристаллического слитка составляат: диаметр 15 мм,...
Способ выращивания высокотемпературных сверхпроводящих монокристаллов на основе
Номер патента: 1522792
Опубликовано: 30.11.1993
Авторы: Воронов, Космына, Машков, Некрасов, Прокопович, Семиноженко
МПК: C30B 29/22, C30B 9/06
Метки: выращивания, высокотемпературных, монокристаллов, основе, сверхпроводящих
..."РИФ", Нагревают со скоростью 80 С/ч до 1280 С, при этом шихтурасплавляют и расплав выдерживают 10 чдля полной гомогенизации, затем охлаждают со скоростью 3 С/ч до 1140 С и далееохлаждают со скоростью100 С/ч до комнатной температуры. Монокристаллы отделяют от застывшего расплава механическимпутем. Размеры монокристаллов 0,7 х 0,7 хх 0,3 мм, 2,3 х 2,3 х 0,4 мм. Выход монокристаллов составляет 7,6/ что намного превосходит выход кристаллов поспособу-прототипу ( 1 ).П р и м е р 3. Выращивание монокристаллов Мб Ва 2 Сц 07 - д.В платиновый цилиндрический тигельдиаметром 60 мм загружают исходные вещества в количестве, г; Кб 20 з 39,08; ВаСОз99,28; СцО 61,64, что соответствуетс оста ву, м ол, /,: 75 М б В а 2 С оз 07-4,25 (0,5 ВаО - СцО).Тигель...
Способ выращивания высокотемпературных сверхпроводящих монокристаллов на основе
Номер патента: 1515789
Опубликовано: 30.11.1993
Авторы: Космына, Машков, Прокопович, Семиноженко
МПК: C30B 29/22, C30B 9/06
Метки: выращивания, высокотемпературных, монокристаллов, основе, сверхпроводящих
...отношение размеров кристаллов вдоль оси с и размерам вдоль оси а составляет 0.16. а для предлагаемого способа 0.9.Параметры монокриствллов 40 45 50 УВаэ хЗгСоэОт-д.НоВаэ.хЗгСцзОт-д оптимальны (температура сверхпроводящего перехода - Тс соответственно равна 85 и 80 К) и получены беэ дополнительной термообработки. Ширина сверхпроводящего переРазмеры монокристаллов составляют0,7 х 0,7 х 0,6 мм, вдоль направления оси с размер составляет 0,6 мм, отношение размеров вдоль оси с к размеру вдоль оси а составляет 0,86.П р и м е р 3, Выращивание монокристаллов 08 аг-хЗгхСозОт-д.8 платиновый цилиндрический тигельдиаметром 60 мм загружают исходные ве щества в количестве, г: б 20 з 53,15; ВаСОз96,94; ЗгСОз 21,66: СцО 78,25; что соответствует...
Способ получения сверхпроводящих пленок
Номер патента: 1610801
Опубликовано: 15.04.1993
Авторы: Дубовик, Космына, Семиноженко
МПК: C04B 35/00
Метки: пленок, сверхпроводящих
...суспензию с взвесью мелкой фракции в исходный бюкс, После отстаивания суспензии в течение 3 ч раствор сливают, а мелкую фракцию ВТСП просушивают, Размер зерна такой фракции б - 1 - 5 мкм.Рассчитывают навеску мелкой фракции В 1-ВТСП и А 9202 по формуле, например, для состава В 25 г 2,БСаолСц 20 з (В 2-ВТСП): (1- х)ВЫг 2,БСаоБСО 20 в + хА 902 (В 123 г 2,БСао,5 Сц 20 в)1- х (А 9202)х при опреде;,1610801 Формула изобретения Свойства сверх проводящих пленок, полученных по заявленному способу и поспособу-прототипу,Способ (пример) Температ. обх ига, С Скорость Скоростьнагрева оклажд град/ч град/ч Соле рж;наполнит,АггО г,мас. % Время выдержки, мин Ха акте истика пленок Тс ТС) 1 К микротвердость,ГПаСпособ прототип (поткжкя моно. 11 ет Нет...
Способ получения крупногабаритных монокристаллов ниобата лития
Номер патента: 1468025
Опубликовано: 15.03.1993
Авторы: Ефремова, Космына, Левин, Машков
МПК: C30B 15/00, C30B 29/30
Метки: крупногабаритных, лития, монокристаллов, ниобата
...после охлаждения, и, следовательно, предотвращает электрический пробой и образование трещин.Высохшая пленка электроизоляционного лака, покрывающая монокристалл, защищает его поверхность от загрязнения, Имея высокую электрическую прочность (20-60 кВ/мм) пленка электроизоляционнаго лака предотвращает электрические пробои по поверхности монокристалла нескомпенсированного заряда, возникающего при хранении монокристалла в обычных условиях из-за небольших колебаний температуры, и, следовательно, предотвращает образование трещин в кристалле.Способ получения состоит из следующей последовательности операций;1468025- вытягивание кристалла из расплава на затравку;- послеростовой отжиг и охлаждение выросшего кристалла до температуры окружающей...
Способ определения начала кристаллизации при выращивании кристаллов из раствора-расплава
Номер патента: 1589173
Опубликовано: 30.08.1990
Авторы: Воронов, Епифанов, Космына, Некрасов, Суздаль
МПК: G01N 25/04
Метки: выращивании, кристаллизации, кристаллов, начала, раствора-расплава
...фазового сдвига, коммутатор и блок синхронизации, реверсивный счетчик, схему сравнения изадающее устройство.Блок 4 управления содержит триггери согласующий блок.Блок 5 фиксации температуры содержит коммутатор, аналого-цифровойпреобразователь и регистр памяти.Блок б фиксации электросопротивлеиия содержит счетчик импульсов, схеМу сравнения, задающее устройство,блок синхронизации.20Блок 7 обработки информации со".держит вычислительное устройство тиПа "Электроника Д 3-28", входящее вуправляющую микросхему ВУМС.Блок 8 индикации содержит дисплей, у 5термопечатное устройство, схему звуковой сигнализации.Момент начала кристаллизации определяют следующим образом,При помощи блока 1 перемещений.измерительный электрод 3...
Уровнемер
Номер патента: 1415067
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Воронов, Епифанов, Космына, Некрасов, Суздаль
МПК: G01F 23/00, G01F 23/24
Метки: уровнемер
...10 с частотой работы первого блока 8 синхронизации сравнивается с помощью первой схемы 11 сравнения цифровой информации с заданным значением на первом задающемустройстве 12,Допустим, термопара 3 находитсянад расплавом и движется вниз, Результирующая информация реверсивного счетчика 10 после выделения разности фазовых сдвигов равная (С, )дц(Т ) = М. Эта величина в каждыйцикл работы первого блока 8 синхронизации сравнивается с помощью первой схемы 11 сравнения и первого задающего устройства 12 с величинойМ. При движении термопары 3 надрасплавом МИизменения состояния первой схемы 11 сравнения непроисходит,В момент касания термопарой расплава результирующая информация реверсивного счетчика 10, пропорциональная разности фазовых сдвигов,...