Кайнер

Номер патента: 290165

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Кайнер, Телешевский

МПК: G01B 9/04

Метки: микроскоп, наведения, объекта, фотоэлектрический, штрих

...микроскоп состоит из микроинтерферометра 1, представляющего собой двухлучевой интерферометр, одним из зеркал которого является штрих - объект 2,Интерференционная картина, создаваемая микроинтерферометром, проецируется на рабочую поверхность позиционно чувствительного фотоприемника 3, В качестве фотоприемника используются фотоэлементы с продольным фотоэффектом. Фотоприемник включен в балансную электрическую схему, с выхода тсоторотт сигнал поступает в электронный блок 4 и далее ца стрелочтцяй индикатор 5.Наведение на штоцх объекта производится следх ющим образом. Если проФпль тптриха и.теет ось сттютетритт. то его ицтерференционцое цзоораи:ение пмсет вид полос с симметрцчнт.тми искривлениями. Тогда прц совпадении...

Номер патента: 251962

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Кайнер, Переверзев

МПК: G06K 9/68

Метки: распознавания, цифр

...Л. А. Утехина Техред 3, Н, Таранеико Корректор Р, И. Крюцкова Заказ 113,16 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по дедам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 знак скачка) и в виде четырех независимых кодов подаются на дешифратор, имеющий дЛя приведенной дискретизации бХ 8 Х 4 ХЗ= =576 выходов.Каждому возможному сочетанию кодов на входе дешифратора соответствует появление электрического сигнала на одном из его выходов.Электрические сигналы, появляющиеся на выходе дешифратора, сравнивают с эталонными значениями, задаваемыми, например, матрицами проводимостей, причем такое сравнение может осуществляться как последовательно с накоплением результатов сопоставления,...

Номер патента: 238798

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Кайнер, Марков

МПК: G01B 11/30

Метки: визуальный, оценки, шероховатости

...картины оценивают класс чистоты поверхности.Способ осуществляется следующим образом.Плоскопараллельная стеклянная пластина накладывается на контролируемую поверхность, при этом образуется воздушный клин и наблюдается интерференционная картина, которая возникает только при наличии шероховатости, соответствующей 9 классу чистоты и выше.Это явление объясняется оптическими свойствами поверхности: при классе чистоты по. всрхности ниже 9 рассеивание отраженных интерферирующих лучей так велико, что визуально нельзя увидеть и оценить интерференционную картину на поверхности детали. При повышении класса чистоты поверхностиизменяется (уменьшается) рассеивание интерферпрующих лучей и в связи с этим заметно изменяется яркость...

Номер патента: 233944

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Кайнер

МПК: G01B 9/02, G01D 13/02

Метки: визирования, оптической, системы, шкалы, штриху

...систему для зображения попереч триха шкалы и совм ия с вершиной или ой профиля штриха. Спосо штриху инте рфе тем, что 15 ванин с ференц зрения филя ш зирован 20 ной точОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 18.Х 11.19671204903/25-2 СПОСОБ ВИЗИРОВАНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМ ПО ШТРИХУ ШКАЛЫИзвестны способы визирования оптической системы по штриху шкалы (объекта) с использованием интерференционной системы. Для применения таких способов штрихи должны быть изготовлены по специальной форме и особого качества, причем используемая при этом аппаратура является сложной, а точность визирования оптической системы па штрих невысокая.Предложенный способ отличается от известных тем, что, с целью повышения...

Номер патента: 213357

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Кайнер

МПК: G01B 5/12, G01D 5/44

Метки: 213357

...к корпусу уровнем с круглой ампулой.Это позволяет, найдя минимум и максимум, последовательно зафиксировать по уровню эти положения, а при повороте следить за его неизменностью, что обеспечивает более высокую точность,На чертеже изображен предлагаемый прибор (общий вид),Прибор для измерения диаметра отверстий содержит диаметрально расположенные жесткий и чувствительный наконечники 1, передаточный механизм и отсчетное устройство (на чертеже не показаны), К корпусу 2 шарнирно прикреплен уровень 3 с круглой ампулой 4,5 Найдя по отсчетному устройству нутромера положение линии измерения нутромера относительно диаметра отверстия, фиксируют соответствующее положение пузырька уровня, Затем совмещают линии измерения10 во второй плоскости и...

Номер патента: 197984

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Кайнер

МПК: G01B 3/22, G01B 5/12

Метки: 197984

...стержнями, отлчаюип)ся тем, что, с цсль 10 упрогцн 1151 устнонки нутро)ер 1 на 15 раз)Ср, стсржн выпо.пены фкспровННОЙдл 111 ы, 1 нх внутренние 1 орц 11 снаОжснь рабочей измертелПюй повсрхносьО, с которой НОнтактирует при настрО 1 кс кс.нбр-прОО- ка нли блок концевых мер. Известны нутромсры со стрелочным отсчетным устройством и радиально расположенными подвижным нзмергтсльпым и регулируемыми опорными стержн 5 м 1.Предлагаемый нутромер отличается от известных тем, что стержни выполнены фиксированной длины, а их внутренние торцы снабжены рабочей измерительной поверхностью, с которой контактирует при настройке калибр- пробка или блок концевых мер. Установка этого нутромера на размер упрощса.1-1 а фнг. 1 изображен нутромср, вид в...

Номер патента: 183407

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Кайнер, Марков

МПК: G12B 17/06

Метки: погрешностей, снижения, температурных

...исключаетсц лопередача между защит и стенками резервуара. теплопередача между цинимуму - использованию на, слюды и т, и. ет изобретепи Способ снижения температурных погрешностей прц измерении линейных размеров путем теплоизоляции от внешней среды, отличалэп 1 ийся тем, что, с целью улучшения теплоизоляции ц упрощения устройства, чувствительный элемент измерительного прибора, ца пример шкалу или ампулу уровня, помещают в вакуумированный резервуар. Способы снижения температурных погрешностей при измерении линейных размеров пу- тем теплоизоляции от внешней среды известны. Точные измерения производят в термостатированцых помещениях, а наиболее точные приборы вместе с измеряемым объектом помещают на время измерения в термоизолирующий чехол и...

Номер патента: 142437

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Кайнер

МПК: G01B 3/22, G01B 5/12

Метки: двумя, измерительными, индикаторный, наконечниками, нутромер

...наконечниками обеспечивает самоцентровку его внутри отверстия без специального элемента центрирования, благодаря чему им можно контролировать с высокой точностью диаметры малых отверстий. Для этой цели один измерительный наконечник нутромера выполнен с большим радиусом сферы, чем радиус контролируемого отверстия.На фиг. 1 изображен общий вид описываемого индикаторного нутромера; на фиг. 2 - расположение измерительных наконечников внутри окружности отверстия при контроле диаметра в заданном сечении.По своей конструкции описываемый индикаторный нутромер аналогичен серийному нутромеру и имеет два измерительных наконечника 1 и 2, но в отличие от серийного у описываемого нутромера они выполнены с различными радиусами сферы. Измерительный...

Номер патента: 121248

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Ароне, Кайнер

МПК: G01C 3/24

Метки: линейных, прибор, размеров

...объекте под углом а.Из точки К щель 5 отражается также под углом а и через оптические системы В и С щель 5 проектируется на шкалу в точки Ь и с. Положение щели 5 и ее проекций на шакале рассматриваются через отсчетныемикроскопы и измеряются отрезки ас, аЬ и Ьс с точностью до 0,001 мм,Теперь измеряемый размер Н, ограниченный световыми штрихами в точкеК на объекте и в точке Ь на шкале, связан с отрезками ас, аЬ и Ьс (тр-киасаКЬ, сКЬ и аКс) соотношением Н=аЬЯа=Ьс) 1 да или Н= -; из 21 дамерив аЬ, Ьс и ас и зная 1 да, (угол а постоянный для прибора, наиболееудобный 1 да=0,05 для размеров свыше 5 м, или 1 да=0,1 для размеровас асдо 5 м) находят Н= , = 10 ас или Н= =5 ас.2 0,05 2 0,1При наклоне плоскости на угол а (фиг. 3) очевидно, что...