Шкала для измерительных систем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 737784
Автор: Кайнер
Текст
Еп етфтеи.но тте,.1 от р И 7784 оюз Советски к И В СВИДЕТЕЛЬС АВТОРСКО ид-ву -ьное к авт. ополнит М. Кл.2б 01 Р 13/02 Заявлено 30.06.75 (21) 2150942/18-10 м заявкиприсоедине ударствеиный комите СССР делам изобретений и открытий.085 (088.8) 30.05 юллетеньата опубликования описания 05.06.871) Заявител н ан и М Сен 4 КАЛА ДЛЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ(5 ло- ер не- мее го то ой СоциалистическикИЗО Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в отсчетных устройствах измерительных приборов.Известны шкалы и сетки, изготовляемые из разного цвета стекол, которые затем склеиваются слоем к слою канадским бальзамом 1.Известны шкалы для измерительных систем, выполненные в виде прилегающих один к другому дискретных элементов с различными физическими свойствами 12. Недостатком известных шкал, сужающобласть их применения, является ограниная дискретность, обусловленная невозмностью получения точного прилегания сев. Кроме этого точность изготовленияментов шкал снижается вследствие подвженности материалов, образующих слои,линейным объемным, температурным иханическим деформациям, возникающимобработке.Целью изобретения является повышеточности и дискретности шкалы.Поставленная цель достигается тем,дискретные элементы представляют сослои несмешивающихся жидкостей. 2На чертеже изображена конструктивная схема шкалы, где указаны герметичный кор пус 1, отдельные слои 2, 3, 4 и т,д образованные из несмешивающихся жидкостей и прилегающие друг к другу. Эти слои служат делениями шкалы или делениями и интервалами между ними.Граничащие между собой слои должны обладать различными, например, оптическими или электромагнитными свойствами.При изготовлении шкалы корпус последовательно заполняют слоями жидкости, толщину которых можно аттестовать посредством измерений на интерференционном компараторе, если слои отличаются оптическими свойствами.Если слои отличаются электромагнитными свойствами, то для аттестации может быть использована, например, система с емкостным преобразователем.Предлагаемые шкалы позволят повысить точность и дискретность отсчетов, так как использование в качестве слоев жидкостей обеспечивает более точные измерительные поверхности и прилегание соприкасающихся слоев (слой жидкости является естественным эталоном плоскостности).737784 Формула изобретения с Мироич ставитель ред К. Шу ж 801 ного ком ений и Раушска Ужгород,Абрамова22 Редактор Заказ 264 фр Корректор М.Подписноеитета СССРоткрытийя наб., д. 4/5ул. Проектная, 4 ех ир с ПИ Госу о делам Москва, ПП Пат Н арственизобретЖ - 35,т, г. 1303иал Ф 3Предлагаемые шкалы позволят расширить область применения за счет обеспечения различной дискретности до 0,1 мкм при любой толщине слоя и возможности отсчета делений различными средствами; оптическими, фотоэлектрическими, индуктивными, емкостны м и. Шкала для измерительных систем,выполненная в виде прилегающих один к другому дискретных элементов с различными физичес 4кими свойствами, отличающаяся тем, что, сцелью повышения точности и дискретности,дискретные элементы представляют собойслои несмешивающихся жидкостей,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе.1, Справочная книга оптика-механика,йод ред. Л. Г. Титова. Л.-М.,ОНТИ НКТПСССР, Гл. ред. литературы по машиностроению и металлообработке,1937, ч, П, с. 479.2. Авторское свидетельство СССРтй94285, кл, 6 01 Р 13/02, 06,12.51 (прототип),
СмотретьЗаявка
2150942, 30.06.1975
БЮРО ВЗАИМОЗАМЕНЯЕМОСТИ В МЕТАЛЛООБРАБАТЫВАЮЩЕЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
КАЙНЕР ГРИГОРИЙ БОРИСОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01D 13/02
Метки: измерительных, систем, шкала
Опубликовано: 30.05.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-737784-shkala-dlya-izmeritelnykh-sistem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Шкала для измерительных систем</a>
Предыдущий патент: Способ и устройство преобразования измерительной информации
Следующий патент: Устройство для записи информации
Случайный патент: Вертлюг для бурения скважин