Способ определения неравномерности шага растровых шкал

Номер патента: 1080006

Автор: Кайнер

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 3 сМ) С 01 В 5 14 ЛИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ Эй Н АВТОРСКОМУ ЕТЕЛЬСТВ оптичесоение",прототип ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИИ(71) Всесоюзный научно-исследователский и конструкторский институтсредств измерения в машиностроении( 54 ) ( 5 7 ) СПОСОБ ОП РЕДЕЛЕНИЯ НЕРАВНОМЕРНОСТИ ШАГА РАСТРОВЫХ ШКАЛ, заклюающийся в том, что выбирают две идентичные шкалы, совмещают их одну сдругой, рассматривают полученнуюкомпозицию на просвет и по ргрностивеличин светопропускания судят опогрешности шага, о т л и ч а ю - ищ и й с я тем, что, с целью повышения производительности, первый штриходной шкалы совмещают с последнимштрихом другой и последний штрих.одной шкалы совмещают с первым штрихом другой.1080086 Составитель В,РомановТехред О.Неце Корректор М.ДемчикЮ Редактор М.Дылын Заказ 1323/42 Тираж 587 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Х(-35, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам проверки растровых шкал.Известны способы определения погрешностей растровых шкал, заключаю" щиеся в том, что поверяемую и об раэцовую шкалы устанавливают на компаратор, совместно перемещают упомянутые шкалы мимо отсчетных микроскопов компаратора и по разновременности прохождения отметок образцовой 10 и поверяемой шкал судят о погрешностях последней Г 1 3.Этот способ обеспечивает высокую точность, однако малопроизводителен и требует сложной дорогостоящей аппаратуры.Наиболее близким к изобретению является способ определения неравномерности шага растровых шкал, заключающийся в том,что выбирают две идентичные шкалы, совмещают их одну с другой,рас.- сматривают полученную композицию на просвет и по разности величин светопропускания судят о погрешности шага. Для получения более полной информации 25 шкалы совмещают несколько раэ, сдвигая одну относительно другой на целое число шагов Г 2 3.Однако известный способ характерируется недостаточной производительностью, вызванной необходимостью выполнения нескольких совмещений.Цель изобретения - повышение производительности.Цель достигается тем, что согласно способу определения неравномерности шага растровых шкал, заключающемуся в том, что выбирают две идейтичные шкалы. совмещают их одну с другой, рассматривают полученную композицию на просвет и по разности величин светопропускания судят о погрешности шага, первый штрих одной шкалы совмещают с последним штрихом другой и последний штрих одной шкалы совмещают с первым штрихом другой.Способ определения неравномерности шага растровых шкал заключается в следующем.Для проверки равномерности шага выбирают две идентичные шкалы, например шкалу и ее реплику, либо две реплики, полученные с одной и той же шкалы. Обе шкалы совмещают так, чтобы первый штрих первой шкалы совпал с последним штрихом второй и наоборот, последний .штрих первой шкалы совпал " с первым штрихом второй. Для этб 1 о необходимо одну из шкал повернуть на 180 О вокруг оси, перпендикулярной ее плоскости. Полученную композицию рассматривают на просвет. В случае равномерного нанесения отметок светопропускание будет одинаковым по всей длине композиции. В случае наличия накопленных на части шкалы ошибок наблюдается неравномерность светопропускания, а при ошибке большей 1/2 шага растрамуаровая картина.Предложенный способ позволяет производительно отбраковать шкалы с накопленной на части длины ошибкой и не требует сложной оснастки

Смотреть

Заявка

3306610, 23.07.1981

ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И КОНСТРУКТОРСКИЙ ИНСТИТУТ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЯ В МАШИНОСТРОЕНИИ

КАЙНЕР ГРИГОРИЙ БОРИСОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 5/14

Метки: неравномерности, растровых, шага, шкал

Опубликовано: 15.03.1984

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1080006-sposob-opredeleniya-neravnomernosti-shaga-rastrovykh-shkal.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения неравномерности шага растровых шкал</a>

Похожие патенты