Способ измерения линейных параметров детали на микроинтерферометре
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1682765
Автор: Кайнер
Текст
)5 6 01 В 11/00 Е ОП НИ е едовательтут средств ка МИИ - 4. ОМО, 1970, ИНЕЙНЫХ РОИНТЕРхах издел ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬС(56) Микроинтерферометр ЛиннИнструкция к пользованию. Лс, 15 - 20,(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛПАРАМЕТРОВ ДЕТАЛИ НА МИФЕРОМЕТРЕ Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля профиля сложной формы.Цель изобретения - повышение информативности,Способ осуществляется следующим образом.Устанавливают на столике микроинтерферометра МИИэталонную деталь и получают ее проекционные иэображения по двум направлениям в пределах резкой фокусировки и интерференционное изображение по третьему, . Фиксируют эти изображения на одном прозрачном позитиве, который используют в микроинтерферометре в качестве экрана.Устанавливают на столике микроинтерферометра исследуемую деталь и получают на экране ее проекционные и интерференционное иэображения. С помощью микро(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля положения объекта по трем координатам. Целью изобретения является повышение информативности. На одном прозрачном позитиве фиксируют проекционные и интерференционное изображения эталонной детали. На этот же позитив. проецируют проекционные и интерференционное изображения исследуемой детали. Микрометрическими винтами совмещают рактерные точки интерференционны ображений и по отсчетам винтов опре яют линейные параметры детали. винтов совмещают проекционные и интерференционное изображения эталонной и исследуемой деталей нз экране.Определяют смещения изображений исследуемой детали относительно изображений эталонной детали на позитиве и используют полученные данные при определении параметров исследуемой детали.Формула изобретения Способ измерения линейных параметров детали на микроинтерферометре, заключающийся в том, что устанавливают деталь на столике микроинтерферометра, получают ее интерференционное изображение и определяют параметры исследуемой детали, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения информативности, перед установкой исследуемой детали устанавливают на столике эталонную деталь и получают ее интерференционное проекционные1682765 Составитель В. КостюченкоТехред М.Моргентал Корректор С, Шевкун Редактор В. Данко Заказ 3401 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, улХагарина, 101 изображения, фиксируют на одном прозрачном позитиве интерференционное и проекционные изображения, после установки исследуемой детали используют этот позитив в качестве экрана, на котором получают ее проекционные и интерференционное изображения, с помощью микровинтов микроинтерферометра совмещают проекционные и интерференционное иэображения исследуемой детали с соответствующими иэображениями на позитиве, определяют смещения изображений иссле дуемой детали относительно изображенийэталонной детали на позитиве и используют полученные данные при определении параметров исследуемой детали.
СмотретьЗаявка
4734988, 03.07.1989
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И КОНСТРУКТОРСКИЙ ИНСТИТУТ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЯ В МАШИНОСТРОЕНИИ
КАЙНЕР ГРИГОРИЙ БОРИСОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/00
Метки: детали, линейных, микроинтерферометре, параметров
Опубликовано: 07.10.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1682765-sposob-izmereniya-linejjnykh-parametrov-detali-na-mikrointerferometre.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения линейных параметров детали на микроинтерферометре</a>
Предыдущий патент: Способ определения остаточных напряжений в изделии
Следующий патент: Способ бесконтактного измерения расстояний
Случайный патент: Роторный пленочный аппарат