G21K 1/06 — с использованием дифракции, отражения или преломления, например монохроматоры

Номер патента: 106058

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Финагин

МПК: G21K 1/06, G21K 3/00

Метки: интенсивности, лучей, модулированных, рентгеновских

...монокристалл, приводимый в колебание растяжение-схкатие переменным напряжением, От зтого монокристалла модулированный по интенсивности пучок лучей отразится на неподвижный монокристалл - фильтр, выделяющий (также путем отражения) лучи одной .".,лины На чертеже показана схема устройства для осуществления предложенного способа,Немодулированное излучение из окна Т рентгеновской трубки проходит через коллиматор К в направлении Ь, и попадает под соответствующим углом на пьезоэлектрический монокристалл модулятор П, питаемый переменным напряжением от генератора Г. При колебании монокристалла П отраженный от него в направлении 5 е модулированный по интенсивности пучок параллельных лучей с разными длинами волн попадает на неподвижный...

Номер патента: 570111

Опубликовано: 25.08.1977

Автор: Гильварг

МПК: G21K 1/06

Метки: кристаллов, монохроматоров, фокусирующих

...соединяют за счет сил моопекупярного сцеплен:.я, Процесс соединенияведут в обеспыленной атмосфере.Кристалл-монохроматор изготовляют следуюшим образом. Кристапическую пластинунакладывают на .сферически вогнутою поверхность шаблона, резиновым контратипомс диаметром равным примерно 2/3 диаметра пластины прижимают центральнуючасть пластины к подложке с нажимом, достаточным дпя молекулярного сцепления ( зпСоставитель К. КононовРедактор Т. Фадеева Техред Н, Бабурка Корректор С. Патрушева Заказ 3065/45 Тираж 558 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Ф 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 3тического к.лтакта), а затем таким жеобразом...

Номер патента: 630647

Опубликовано: 30.10.1978

Автор: Никитенко

МПК: G21K 1/06

Метки: накопления, нейтронов, ультрахолодных

...тем, что в момент натуска ультрахолодцых нейтронов ферромагнитные пленки затвора нагровают до 25 темспературы выше точки Кюри, при этомдля пленок используют материал, удовлет- В С П и Ю 1 Ц Ц й Х С Л ОВ Ц Ю: Ь" Ж 1 т (гр. сос)30(1/ 9 2 Таким образом, предлагаемый опособ0 акопления УХН позволяет накопить нейтроны обои,; спиобувьк состояний и повысить:логсеть нейтроноз в лва раза. ср о р м у .-. а и з о б р е т е 1 г. 15 гг-Жб, 222 (1 сп сссг 2-2222 1 2 ЛЪ при котором ядерная часть, потенциала взд- Иимотецств 1 я м.ого меньше мггнитго. Заиопение условия Составге,-.е В, Дрылин Техре- А. КасышниковаКорректор И. Симкииа Редакт," Н, Коляда Зака ВТЯ 002 яд.,с 5 б: Тпраяк ос 26 Годписное Вг.:О Государственного ко.,г 1:.тете С 5 Р по деда...

Номер патента: 699571

Опубликовано: 25.11.1979

Авторы: Голикова, Кузьмина, Обдаленкова, Сапожникова, Чернобережский, Янклович

МПК: G21K 1/06

Метки: анализаторов, рентгеновского, спектра

...с содержанием от 1,21810до 4,06 ХХ 10г на литр воды, и процесс осажденияведут при рН от 5,0 до 6,0. В качестве регулятора рН используют хлорную кислоту илигидроокись натрия.Т. к, перхлорат-ион обладает наименьшей способностью к комплексообразованию,он не обеспечивает максимальную регулярность структуры анализатора при высокомсодержании металла в отражающих плоскостях.На фиг. 1 приведены сравнительные кривые результатов химического анализа, нафиг, 2 - сравнительные кривые рентгеноспектральных параметров анализаторов.Электролит готовят следующим образом.Берут 2,43 10- г перхлората свинца, помещают в мерную литровую колбу, доливают водой примерно до 980 мл, тщательноперемешивают. Затем измеряют рН полученного раствора и доводят...

Номер патента: 714506

Опубликовано: 05.02.1980

Авторы: Безирганян, Ростомян

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, монохроматор, рентгеновского

...не ленточный, сфокусированный монохроматический пучок,На фиг, 1 показано циклическое расположение отражающих поверхностей кристаллов 1, когпа их-число равно четырем,входное 2 и выходное 3 окна, расположение атомных плоскостей 4, углы 5 асимметричностей отражений и ход лучей, новясняющий сущность фокусировки в плоскости,Первичный широкий пучок 6, содержащий непрерывный и характеристическийспектры, через вхопное окно 2 падает напервый кристалл, Из-за асимметричностиотражений на всех гранях угол отраженияскольжения меньше угла падения скольжения, После первого цикла правый 7 илевый 8 края пучка 9 становятся оченьблизки друг другу и к фокусу 10, показанных в увеличенном масштабе 11 на фотопластинке 12.На фиг, 2 пояснена сущность...

Номер патента: 728166

Опубликовано: 15.04.1980

Авторы: Балаханов, Пустовойт

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, модуляции, реализации

...монокрйсталлы ЫОЬХЫЬОЗ В 1 аесао и ДР,Примером выполнения модулятора 2может служить образец фоточувствительного пьеэополупроводниковогомонокристалла сульфида кадмия длиной4 юю, шириной 1,5 мм, толщиной30 мкм, на концы которого нанесеныойические индиево-галлиевые контакты3 и 4. Ось симметрии кристалла С 4лежит вдоль длинной стороны. Вдольэтого же направления прикладывается35 40 4550 55 Формула изобретения 60 65 5 10 15 20 25 ЭО электрическое поле от источника 5,Дифракция излучения происходит наплоскости (1010), которая выходит наповерхность кристалла, или на плоскости (0002). Источник света 8 расположен над кристаллом и освещает его.Концентрация носителей в образцесоставляет величину 10 ю - 104 см з,при частоте генерации фононов от...

Номер патента: 737992

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Безирганян, Дрмеян

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, монохроматор, рентгеновского, фокусирующий

...расстояния точкираспространения от асимНпот гиперболы.Если облучать кристалл расходя-щимся пучком рентгеновских лучей, товозбуждаются все точкКраспространения (все участки поверхностей) в об-ласти отражения данного рефлекоа. "При этоМ потоки энергии перпендикулярны дисперсионным поверхностям всоответствующих точках, как-"это показано на Фиг. 2, где стрелками пока=занй"направления потоков энергии;Как .видно из этой фигуры, йотокиэнергии волн, возбужденных в тьчкаа 4распространения верхней ветви дисперсионной поверхности, расходятсяони не фокусируются, а потоки энер- .гии волн, возбужденных в точках распространения нижней ветви, дисперсиоиной поверхности, Фокусируются - происходит сужение волнового фронта.При этом коэффициент...

Номер патента: 771734

Опубликовано: 15.10.1980

Авторы: Межевич, Мезенцев, Мясников, Ханонкин, Шаензон, Шеффер

МПК: G21K 1/06

Метки: монохроматор, рентгеновский, фокусирующий

...7 приводитсяв действие через рукоятки привода20. Для обеспечения максимальногоизгиба монокристаллические пластины8 установлены в обжимающих стальныхпластинах 21. С целью фиксации наложения центральной образующей изогнутой пластины в держателе 7 установлен упор 22 (Фиг. 3),Монокристаллические пластины 7устройства связаны между собой механизмом, позволяющим одновременноизгибать их и осуществлять радиальное перемещение в соответствии сдлиной волны рентгеновского излучения, фокусируемого в точку так, чторасстояние источник-фокус монохроматора остается постоянным при различных радиусах изгиба кристаллови различных диаметрах апертурногоотверстия тубуса устройства (фиг. 1и 2),Отражающие поверхности диспергирующих элементов расположены...

Номер патента: 805419

Опубликовано: 15.02.1981

Авторы: Болдырев, Буйко, Имамов, Ковальчук, Ковьев, Лобанович, Миренский, Шилин

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, монохромато-pa, рентгеновского

....содержит две параллельныемонокристаллические пластины, установленные на общем основании 2 1,Недостатком такого монохроматораявляется то, что он позволяет проводить измерение в весьма ограниченномдиапазоне длин волн и порядков отражения,Цель изобретения - расширениефункциональных возможностей изготавливаемых монохроматоров.Поставленная цель достигается тем, что в способе изготовления монохроматора рентгеновского излучейия, заключающемся в формировании из одной монокристаллической пластины щели с параллельными стенками, исходную пластину закрепляют на параллельных опорных поверхностях по обеим сторонам пластины таким образом, что части поверхности и:;астины, обратные по отношению к частям ее поверхности, закрепленным на опорных...

Номер патента: 758933

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Воробьев, Диденко, Каплин, Розум, Савельев

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, электромагнитного

...заряженной частицы; й - радиус кривизны кристалла,=(Л) ф.Частоту электромагнитного излучения регулируют путем или простого механического изменения радиуса изгиба кристалла при постоянной энергии, или изменения энергии электронов при постоянном радиусе изгиба. 4 О Диапазон получаемых частот лежит от жесткого ультрафиолетоного до рентгеновского излучения. Анализ условий каналиронания дает требуемую величину радиуса кринизны КсмЪ 10 4 ЕМэВ д 5 и толщины кристаллической пластины д см 1 й 10 ЕМэВ 1 при ограничении на угловой разброс па ающ го пучка ,электронов дЧ %1 / Е МэВ. Интенсивность получаемого излучения 50е с2/3 в2 б тем больше, чем меньше радиус кривизны кристалла. Кристаллическую пластину необходимовырезать так, чтобы...

Номер патента: 873281

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Габриелян, Гильварг, Петрашень, Суходольский, Чуховский

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, коллимирующий, монохроматор, рентгеновского

...отражения от кристалла 1 пучок попацает на изогнутый моно- кристалл 2. Отраженный от первого монокристалла 1 пучок имеет угловую и спектральную расходимости, соответствующие угловому диапазону дифракции 35 для данного дифракционного отраженияИИ 1 что эквивалентно наличию мнимого точечного источника 5Второй изогнутый монокристалл 2 установлен таким образом, что40 1 4от кристалла 1. Дифракционное уширение отражаемого от монокристалла 2 рабочего пучка определяется выражениемФ=(4 Я ь )Предлагаемый монохроматор также позволяет увеличить интенсивность рабочего пучка в узком угловом интервале, тем самым сокращая время эксперимента по сравнению с двух(трех) кристальными коллиматорами с плоскими монокристаллами.Пример реализации. Для коллимации...

Номер патента: 735101

Опубликовано: 15.12.1981

Авторы: Белокурова, Вахрущев, Земсков, Кожух, Трунов

МПК: G21K 1/06

Метки: кристалл-монохроматор, нейтронов, тепловых

...по толщине кристалла приводит к увеличению напряжения в решетке германия и изменению постоянной кристаллической решетки вдоль направления градиента концентрации кремния.При концентрации кремния на отражающей поверхности выше 8 ат. % неудалось вырастить монокристалл твердого раствора. Получающиеся поликристаллы . непригодны для использования в качестве кристаллов-монохром аторов тепловых нейтронов, так как дают раасеяние, характерное для дифракции тепловых,нейтронов,на поли- кристалле. Увеличение градиента концентрации кремния свыше 9,5 ат. %/см также приводит к тому, что,выращенный кристалл имеет сильно разориентированную поли- кристаллическую структуру и непригоден к использованию в качестве кристалла-монохроматора тепловых...

Номер патента: 854190

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Воробьев, Каплин, Розум, Савельев

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, источник, электромагнитного

...электромагнитцого излучсция, включающем источник реля пьчс Гских здряженцых частиц, изопутый моцокр(1- сталл, закреплеццый ца держателе с окнами для пропускация пучка заря)кециых частиц и электромагцитцого излучеция, моно- кристалл изогнут с перемеицым иепостоянцым) радиусом кривизны, а выходной коллиматор выполнен подвжцым с возможностью есо перемещения в диапазоне углов, предельно ограниченном касательными к изогнутым кристаллограф)гческим плоскостям в точках их исрсссчецця с вхс),.иой и выходной поверхностями моиокристалла.Принцип работы предлагаемого устройства заключается в следующем.Дви)кение рсг 5 тивистской час типы с энергией Е по искривленнымрдектори 5 м вызывает электромагиитиос излучеиие, 1 дстота которого...

Номер патента: 869496

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Воробьев, Розун, Таратин

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, электромагнитного

...позитроны, имеют значительно большие длины каналирования по сравнению с электронами и могут с большей эффективностью быть использованы .-,ля получения квазисинхротроннопо электромагнитного излучения при каналировании в изогнутых монокристаллах, На фиг.показано сечение монокристаллической мишени плоскостью ХОЯ; на фиг, 2 - общий вид мишени.Пучок релятивистских позитронов Р направляю. по касательиоГ (на фиг. 1) к изогнутым кристаллографическим плоскостям монокристалла кремния в точке выхода их на облучаемую поверхность в пределах критического угла каналирования ф= (Л е/др Е) - /, где дрмежплос. костное расстояние, Л - атомный номер кристалла, Минимальный радиус кривизны изгиба кристалла, для которого еще возможен эффект каналирования,...

Номер патента: 1010661

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Балаханов, Пустовойт

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, модуляции

...скорость дрейфа носителей в этом поле больше фазовой скорости звукаБлагодаря электронфонониому взаимодействию возбуждается генерация акустических фононов. Излучение, направленное на кристалл под углом Брэгга, претерпевает дифракцию двух типов: без взаимодействия с фононом, которая дает структурные дифракционные максимумы, и включающую взаимодействие с фоновом, которая дает сателлиты структурных дифракционных максимумов в направлениях, отличных от направления дифракционного максимума.В предлагаемом способе расширение функциональных возможностей осуществляется благодаря использованию свойств сетеллита, заключающихся в том, что с помощью изменения концентрации носителей в зоне проводимости можно управлять положением сателлита, Изменение...

Номер патента: 1010662

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Заико, Кузьмицкий, Чеботарев

МПК: G21K 1/06

Метки: изгиба, монохроматора, пластины, фокусирующего

...для обеспечения высокой чувствительности настройки. Поэтому качество фокусировки зависит от точности изготовления устройства, так какдаже незначительный перекос в установке нагрузочных опор приводит к от-,клонению изгибаемой пластины от нужного профиля, и, следовательно, к ухудшению фокусировки.55 Цель изобретения - повышениеточности фокусировки,Поставленная цель достигается тем,что в устройстве для изгиба пластины 60фокусирующего монохроматора, содержа-.щем корпус с установленными в немдвумя парами опор, одна из которыхжестко закреплена в корпусе, а вторая подвижна, в корпусе смонтирован 65 силовой упругий элемент, установленный с возможностью взаимодействия с подвижными опорами, контактная поверхность которых выполнена...

Номер патента: 1012350

Опубликовано: 15.04.1983

Авторы: Кшевецкий, Шафранюк

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, монохроматор, рентгеновского

...происходит монохроматизация.Целью изобретения является достижение высокой степени монохроматизации рентгеновского излучения вблизиФиксированной длины волны,Указанная цель достигается тем,что в монохроматоре рентгеновскогоизлучения, выполненном в виде монокристаллического блока, содержащего,по крайней, мере, три последовательно отражающих поверхности, отража ющие поверхности вырезаны таким образом, что нормали к ним лежат вразных плоскостях. На фиг, 1 показана геометрическаясхема монохроматора, на фиг. 2 - зависимость интенсивности монохрома 5тизированного С К-излучения отр 1температуры монохроматора,На Фиг, 1 отражающие плоскости(111), (113), (115), (131) монохроматора вырезаны в одном монолитном10 монокристаллическом блоке таким...

Номер патента: 1073803

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Корнеев

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, монохроматизации, рентгеновского, синхротронного, фокусировки

...синхронного рентгеновского излучения содержит корпус 1, на котором установлены пара источников нагрузки 2. В корпусе 1 расположена пара опор 4, передаточные элементы 5 средств приложения 10 нагрузки к паре подвижных опор 4,передаточные элементы б средств приложения упругой нагрузки к паре подвижных опор.4 с пружинными элементами 7 и расположенный между парами 1.5 опор 3 и 4 фокусирующий кристалл-монохроматор 8.Подвижные .опоры 4 выполнены в виде круглых валОв с опорными концевыми участками и центральным участ ком, расположенным от них с эксцентриситетом е . Длина центрального участка выполнена не меньше ширины фокусирующего кристалла-монохроматора 8 в месте их контакта. Опорные кон.цевые участки подвижных опор 4 установлены в паре...

Номер патента: 1100641

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Аветисян, Безирганян

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, линейно, поляризованного, рентгеновского

...излучения.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу получения линейно поляризованного рентгеновского излучения, основанному на дифракции первичного рентгеновскогопучка на кристалле"монохроматоре,производят пространственную селекциюдифрагированного излучения в угло вом диапазоне между углами полногоотражения компоненты излучения с6 поляризацией и компоненты с Г-поляризацией.При этом, в случае параллельного 10 первичного пучка пространственнуюселекцию излучения осуществляют путем ориентирования кристалла-монохроматора относительно падающегопучка в указанном угловом диапазоне.15 Кроме того, в случае расходящегосяпервичного пучка пространственную селекцию излучения осуществляют путемустановки на пути дифрагированногопучка...

Номер патента: 1009234

Опубликовано: 30.04.1986

Авторы: Воробьев, Потылицын, Розум

МПК: G21K 1/06, H05H 9/00

Метки: гамма-излучения, источник, линейно-поляризованного

...достигаетсятем, что в известном источнике линейно-поляризованного пучка-излучения, включающем источник пучка ре-лятивистских электронов и монокрис таллический радиатор, радиатор выполнен из монокристалла, структуракоторого имеет сдвоенные атомные це"почки, ориентированного так, чтоугол 0 между направлением сдвоенных 45 атомных цепочек.и осью пучка электронов лежит в пределах 0 4 0где 1, - критический угол каналирования,На чертеже дана функциональная 50 схема предложенного источника.Пучок релятивистских электроноввылетает из источника 1. На оси пучка установлена система коллиматоров2, формирукщая квазипараллельный 55 пучок электронов с угловой расходи"мостью меньше критического угла каналирования3 10где Е - атомный номер кристалла;о 1...

Номер патента: 1189272

Опубликовано: 23.11.1986

Автор: Агамалян

МПК: G21K 1/06

Метки: нейтронного, пучка, спектра, формирователь

...биологии, биофизики, коллоидной химии, физики полимеров ифизики твердого тела.Цель изобретения - повышение светосилы.Сущность изобретения поясняетсячертежом, на котором схематическипредставлен формирователь спектранейтронного пучка, содержащий нейтроновод-поляризатор 1, спин-флиппер2 (адиабатический переворачивательспина), нейтроноводную вставку 3 сполупроводниковым пли диэлектрическим покрытием, магнитный резонатор4, вставку 5 с немагнитным покрытием,нейтроновод-анализатор б.Стрелкой на чертеже показано направление пучка тепловых нейтронов.В качестве анализатора и полярзатора в данной схеме используютсяидентичные изогнутые по Окружностиполяризующие нейтроноводы.Устройство работает следуощим образом,Реакторное излучение...

Номер патента: 1297122

Опубликовано: 15.03.1987

Авторы: Стрепетов, Франк

МПК: G21K 1/06

Метки: изображения, нейтронного

...и 8 и попадают в плоскость иэображения, проходящую через точку А, где и регистрируются. Положение зеркал и радиусы их кривизны вблизи оси (параксиальные радиусы кривизны) задаются исходя иэ требуемого значения оптического увеличения, желаемого взаимного расположения объекта и его иэображения так, как это обычно делается при расчете любой оптической системы. После того, как эти параметры определены, требование выполнения условия (1) требует и вполне определенной формы поверхностей обоих зеркал (2). Расчетом проверено возможное разрешение объектива в проецирующем режиме с увеличением х 25 и полем в плоскости объекта 0,75 х 0,75 см при использовании монохроматических 40 45 50 55 диусы кривизны, составляющие0,79196 см.Для прохода лучей в...

Номер патента: 1324072

Опубликовано: 15.07.1987

Авторы: Голуб, Корнев, Михайлов, Циглер

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, рентгеновского, фокусировки

...10, перемещение которых осуществляется нажимным винтом 1. Пластины 10 поджаты пружинами 12, а их боковое смещение ограничено направляющими 13. С целью исключения прохождения рентгеновского пучка вдоль оси коллиматора в каждом корпусе установлены экраны 14, выполненные в виде перегородок.Устройство для фокусировки рентгеновского излучения работает следующим образом.При приложении нагрузки от винта 11 передаточные элементы, выполненные в виде пластин 10 с двумя канавками, преодолевая сопротивление пружин 12, прижимаются к подвижным опорам 9, передающим нагрузку на зеркала 8. При взаимодействии зеркал 8 с подвижными опорами 9 и неподвижными опорами соответственно 4, 5 и 6, 7 возникают моменты сил, которые осуществляют изгиб зеркал, в...

Номер патента: 1334182

Опубликовано: 30.08.1987

Авторы: Буцевицкий, Карасева, Русинов, Стрепетов, Франк

МПК: G21K 1/06

Метки: микроскоп, нейтронный

...в вертикальном направлении. После отражения в оборачивающей системе нейтроны фокусируются в плоскости иэображения, где и регистрируются регистратором 8. В качестве примера конкретного вы О полнения приведены данные нейтронного микроскопа со следующими техническими характеристиками и конструктивны-, ми параметрами.Нейтронное оптическоеувеличениеЧисловая апертураЛинейное поле в пространстве предмета 0,3 мм Расчетное разрешение 5 мкмРасстояние от предмета до первогозеркала по оси АРадиус К, первогосферического зеркала 14,2 ммРадиус К второгосферического зеркалаРасстояние В пооси второго сферического зеркаладо первого зеркала оборачивающейсистемы 12,2 ммВертикальное смещение Н (для света)Расстояние С отоборачивающей системы до...

Номер патента: 1368924

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Алмалиев, Баткин, Ивакин, Копытин

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, ренгеновского

...более 1 кэВ газовой мишени, атомы которой находятся в возбужденном состоянии, причем плотность возбужденных атомов М и энергия возбужденного состояния 15 Е связаны соотношением Сущность способа состоит в том, 20 что число рентгеновских квантов М , возникающих при взаимодействии возбужденных атомов с электронами с энергией Е , превышает согласно (1) число таких же квантов М, рожденных 25 при взаимодействии электронов с атомами в основном состоянии, т.евеличины, определяемыевероятностями естественного распада и распада возбужденных состояний при столкновении с электронами;заряд электрона;- масса электронаскорость света,- постоянная Планка.Г -Е а Г - М тоМ стаФМ, если Е /М6,4,см Предлагаемый способ можно реализовать в устройстве, содержащем...

Номер патента: 1492384

Опубликовано: 07.07.1989

Авторы: Воробьев, Каплин, Мун

МПК: G21K 1/06

Метки: излучение, кристалла, рентгеновское, фокусирующего

...пластины. Длину пластиныкоторую целесообразно использовать в данном способе, можно оценитг по формуле, учитывающей многократное рассеяниеЕ1 макс(Ь1,. зги о) ф (2)Выбор Ьмакс производят из условия, чтобы из-за многократного рассеяния не происходило выбываниепучка электронов при прохождении через пластину толщиной Ь, Здесь Ь - радиационная длина, Е - энергия электронов, Е - 2 11 эВ. Например, для пластины 81 и Е =ГэВ величина макс - 1-5 см,Излучаемые рентгеновские фотоныс частотами в диапазоне Мо - (д,+ бйЗ)испытывают поглощение в материалепластины, которое определяется линейным коэффициентом поглощения( ( 6 Э ), С учетом этого эффектатолщину пластины целесообразно ограничить как Ь - 1Кроме того, толщина пластиныдолжна...

Номер патента: 1539863

Опубликовано: 30.01.1990

Автор: Ростомян

МПК: G21K 1/06, H01J 35/00

Метки: излучения, источник, резонансного, рентгеновского

...котор резаны грани 2 - 5 и другие геометрические параметры выреза в монокристалле 1, обеспечивают Формирование замкнутой траектории циркуляции пучка . рентгеновского излучения.Выполненный в виде прострельной мишени анод 7 источника рентгеновского излучения (остальные элементы этого источника не показаны.установлен перпендикулярно отрезку замкнутой тра-о ектории циркуляции пучка рентгеновского излучения, идущему в направлении циркуляции пучка от участка 8 выходной грани г между прорезями 6 к грани 2 выреза монокристалла 145Источник резонансного рентгеновского излучения работает следующим образом.Пучок ускоренных электронов направляют на прострельный анод 7 Размер Фокуса Р на аноде 7 не превышает размера проекции отражающего участка 8...

Номер патента: 1547036

Опубликовано: 28.02.1990

Авторы: Кондрашкина, Новиков, Степанов

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, коллимации, монохроматизации, рентгеновского

...помощьювторого монокристалла или щели, тотем самым ограничится спектральныйинтервал/ и соответственно расходимость ) в плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции. Кроме того, выбирая различные индексы вторичного отражения, можно изменять В,р итем самым изменять величину угловойрасходимости в плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции.Устройство для осуществления прецлагаемого способа содержит монокристалл 1 и устройство ограничения угловой расходимости рентгеновского пучка - щель 2, 11 онокристалл 1 установлен в положении брэгговского отражения падающего на него рентгеновскогопучка 3. В качестве устройства ограничения угловой расходимости можетиспользоваться как показанная на,фиг. 1 щель 2, так и второй монокристаал в положении...

Номер патента: 1621084

Опубликовано: 15.01.1991

Автор: Саркисов

МПК: G21K 1/06

Метки: отклонения, пучка, рентгеновского

...8 рентгеновода 6. Это необходимо тогда, когда толщина дистанционирующих прокладок 9 выбрана из условия касания поступаю 40 щего в рентгеновод 6 рентгеновского пучка 1 поверхности пластины 8.Устройство для отклонения рентгеновского пучка работает следу,ощимобразом.45Рентгеновский пучок 2 от источника 3 с помощью монохроматора 4 преобразуется в слаборасходящийся рентгеновский пучок 1, который после ограничения по ширине диафрагмирующей кромкой .5 поступает в рентгеновод 6, в котором испытывает многократные полные внешние отражения от зеркальной поверхности пластины 7 и выходит с противоположной стороны рентгеновода 6. При этом предварительно производят настройку рентгеновода 6 и пучка 1 таким образом, чтобы на выходе рентгеновода 6 пучок...

Номер патента: 1622908

Опубликовано: 23.01.1991

Авторы: Габриелян, Демирчян, Пискунов, Чуховский

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, рентгеновского, точечной, фокусировки

...кристалла.В соответствии с известными методами 10 анализа дифракционных интегралов, фокусные расстояния определяются из условий Когда радиусы изгиба кристалла Я и Ву 30связаны условием условия (2) и (3) выполняются на одинаковом расстоянии Ь от кристалла - происходит фокусировка точка в точку.Из (4) и (5) следует, что поскольку выражения для координат фокусной точки не зависят от длины волны падающего излучения, двухосноизогнутый кристалл с радиусами изгиба Ях и йу, связанными условием (б), ахроматически фокусирует вседлины волн в одну точку, определяемую условиями (2) - (5)Из общей формулы (1) можно определить распределение интенсивности отраженного излучения в окрестости фокусной точки и дифракционные размеры фокусного пятна...