Фрих-Хар

Номер патента: 1728743

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Ашихмина, Богатиков, Садовская, Томашпольский, Фрих-Хар

МПК: G01N 23/00, G01V 9/00

Метки: восстановительной, выявления, магме, минералообразования, среды

...К; 3- втечение 1 ч при 1070 К; 4 - в течение 1 ч при 1270 К(по оси абсцисс - температура в К, по оси ординат - выход вторичных электронов в условных единицах).На фиг. 3 - температурная зависимость выхода вторичных электронов для скола породообразующего кристалла пироксена с острова Фогу, где 1- окисленные (невосстановленные) участки; 2 - участки, обогащенные восстановленными формами элементов.На фиг, 4 - температурная зависимостьвыхода вторичных электронов для частицвулканического лунного стекла, где 1 - 5окисленные (невосстановленные участки); 2- участки, обогащенные восстановленнымиформами элементов.Способ определения восстановительной среды минералообразования в магме 10состоит в следующем,Сначала отбирают пробу; свежие не измененные...

Номер патента: 1326970

Опубликовано: 30.07.1987

Авторы: Ашихмина, Богатиков, Лубнин, Томашпольский, Фрих-Хар

МПК: G01N 23/227

Метки: восстановительной, выявления, магме, минералообразования, среды

...поверхности,На первом этапе спектроскопического анализа подбирают условия регистрации оже-спектров - энергиюи ток электронного зонда. Оптимальным считается ток, при котором спектроже-электронов не изменяется завремя регистрации спектра. Это свидетельствует об отсутствии химических ч структурньгх превращений в образце. Для уменьшения вероятностиизменения состава за время записиспектров последние регистрируЮтсяс помощью аналогового устройства -мультиплексора, что позволяет наряду с ускоренной записью спектров вы"являть детали тонкой структуры ожелиний и их энергии с точностью+ 0,5 эв,На втором этапе с помощью шагового сканиронания электронным зондомдиаметром 5-15 мкм выявляют наиболеехарактерные детали тонкой структурыи энергию...