G01N 23/22 — измерением вторичной эмиссии

Номер патента: 458748

Опубликовано: 30.01.1975

Авторы: Кохов, Мамиконян, Мамыш, Мильчаков, Щекин

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, проб, рентгенорадиометрического, сложного, состава

...концентрации.чае насыщенной пробы интенсивность ристического излучения т-го определяеемента запишется, как:С;(7) Составитель К. КононовРедактор Т. Пилипенко Техред Г. Дворина Корректор Н. Стельмах Заказ 509/11 Изд,1059 Тираж 902 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 Для а; имеем аналогичное (3) выражение, за исключением того, что массовые коэффициенты поглощения берутся для 1-го элемента.В свою очередь, интенсивность рассеянного пробой излучения равна:нС +1 С 1г - сС +5,С;и где К, - не зависит от состава пробы,озн - массовый коэффициент рассеяниядля наполнителя,Ф, - то же для 1-го элемента, а где р,н - массовый...

Номер патента: 463046

Опубликовано: 05.03.1975

Авторы: Грейсер, Шуб

МПК: G01N 23/22

Метки: покрытий, толщины

...металлов, используемых в качестве покрытий, то, следовательно, интенсивность вторичного характеристического излучения от покрытия мала по сравненшо с интенсивностью полного вторичного излучения.Цель изобретения - разработка способа, позволяющего повысить точность измерений.Поставленная цель достигается тем, что выбирают химический элемент, присутствующий только в покрытии, и на анод рентгеновской трубки, взятой в качестве источника излучения, наносят слой материала, полный спектр которого имеет пик от характеристического излучения при энергии, - равной потенциалу ионизации К-оболочки упомянутого химического элемента, после чего фиксируют его характеристическое излучение, по интенсивности которого судят о толщине покрытия.При таком...

Номер патента: 477335

Опубликовано: 15.07.1975

Авторы: Аб, Верман, Комяк

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, бескристального, рентгеноспектрального

...11,+ 1 х(г 2,), +1(2,)При более низком значении энергии Е,р ЛЕ 9, но таком, что происходит возбуждение характеристического излучения элемента с атомным номером 2, - 1, имеются те же составляющие, что и при среднем значении энергии, но интенсивность их меньше;1, + 1, (22, ) - Л(1, + 1(22, ) 1,Соотношения между величинами ЛЕ, и ЛЕ 2 выбирают так, чтобы при отсутствии анализируемого элемента в образце разность интенсивностей рентгеновского излучения при энергиях Е,р+ ЛЕ, и Ебыла равна разности интенсивностей при энергиях Е,р и Е,р - ЛЕ, (при равенстве всех потоков возбуждающего излучения)(1+1,(22,) - ЛУ,+1(22,)Ь, 1 а разность этих разностей Л 1 была равна нулю.При наличии в пробе анализируемого элемента разность равна интенсивности его...

Номер патента: 480003

Опубликовано: 05.08.1975

Авторы: Жижин, Руднев, Хилькевич

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгеновский, спектрометр

...диапазонарабочих углов спектрометра и уменьшениевеса конструкции.Поставленная цель достигается благодарятому, что криволинейный рычаг, в которомвыполнена направляюгцая, соединен с сочленением двухзвепного кривошеина, длина каждого из звеньев которого равна радиусу круга Роуланда, Конец одного звена шарнирнозакреплен на расстоянии от источника излучения, равном радиусу окружности Роулан.да, а конец второго звена шарнирно закреп. молинейной направляюот точки закрепления га, равном радиусу окпричем сочленение кризлучения установлены в олненной в к иволинейИзд.945 Государственногопо делам изо Москва, ЖЗаказ 2746/12 ЦНИИП Тираж 902 комитета Совета Мини бретений и открытий Раушская наб., д. 4/5Подписноеов СССР ипография, пр. Сапунова,ким...

Номер патента: 480004

Опубликовано: 05.08.1975

Авторы: Жижин, Талалай, Хилькевич

МПК: G01N 23/22

Метки: микроанализатор, рентгеновский

...от образца (отрезок АС образует с направлением перемещения кристалл- анализатора произвольный угол а), шарнирно закреплен кривошип 2, длина которого АО равна Р. С концом 0 кривошипа 2 шарнирно связан четырехзвенпый шарнирный параллелограмм 00 Кв, состоящий из звеньев 3 - б. Длина звеньев 3 и 4 равняется Л 1 а длина звеньев 5 и б - Л. В точке К звена 5 жестко закреплен изогнутый кристалл-анализатор, причем касательная к поверхности кристалла480004 11 образует с направлением КО угол, равный - ,2 Звено 4 жестко связано с кареткой 7, перемещающейся по направляющей 8, расположенной параллельно направлению рентгеновских лучей со сдвигом на величину Ла=ЛЛ Япя. Для удержания щели Й счетчика рентгеновских квантов на фокусирующем круге при...

Номер патента: 486260

Опубликовано: 30.09.1975

Авторы: Лотар, Хельмут

МПК: G01N 23/22

Метки: анализатор, рентгеновский, флуоресцентный

...нормали к выходному окну и на возможно меньшем и более одинаковом расстоянии от него.Удобно применить две рентгеновские трубки для спектроскопирования, по одной для каждой из систем спектрометров. Разности излучающей способности обеих рентгеновских трубок компенсируются диафрагмирующими приспособлениями, имеющимися в обеих системах спектрометров.Для компенсации колебаний первичного напряжения обе рентгеновские трубки для спектроскопирования включаются параллельно по высокому напряжению и последовательно по накалу,Для анализов, в которых желательно непосредственно произвести сравнение интенсивностей излучения, испускаемого анализируемой пробой и пробой сравнения, обе системы спектрометров могут быть соединены таким образом, что они имеют...

Номер патента: 488123

Опубликовано: 15.10.1975

Автор: Пивоваров

МПК: G01N 23/22

Метки: сканирующий, спектрометр

...5 с определенным усилием, одинаковым для всех проб ц стандартов.Далее стакан с поршнем устанавливают в прободержатель-бленду, к шток-поршню 5 подводится рычаг 13, а канал б подводится до соприкосновения ограничителя 12,с рычагам 13. В таком положении производится син- зО хронное сканирование обоих каналов.Корректор М. Лейзерман Тираж 902 Подписное И МОТ, Загорский Филиал 3Из схемы прибора в)дно, что иорвичное 5 злу)сНе от исто)5)ика 1, пройдя Оллиматор 2, попадает через д о стакана 4 на пробу, помещен ую в этот стакан. Возбужденное флуоресцентное излучен)е В слое пробы, который прилегает к облучаемой )Оверхности, вьходя со стороны этоп поверхности, проходит коллиматор би и попадает на аналзатор 7 а. С псмощьо анализатора путем поВо....

Номер патента: 491882

Опубликовано: 15.11.1975

Автор: Сотников

МПК: G01N 23/22

Метки: втоичных, длин, пробега, свободного, слоя, толщины, электронов, эмитирующего

...выхода вторичных частиц и высотой выступов. Вследствие перераспределения по токов электронов пз внутренних слоев и изобъема выступов по мере увеличения, например, их высоты Ь от малых значений к величинам, превышающим глубину выхода, изменяется форма угловых распределений вторпч ных электронов.На фиг. 2, где показана зависимость от высОты не 1 эОВностеЙ 2 Отношения РИтенсивностей потоков электронов в двух разных направлениях по 011 ношенио к мишени, одноИЗ напраВлениЙ реГистрации Выбрано так, бтобы часть излучающей поверхности былазакрыта 1 кривая Л). Штрих-пункгирнымипэяхьми Б Р В Отмечены асМ 1 тотческизнчения отношений интенсивностей для прсдельых соотношений между высотой /г и глу- Обиной выхода воричных электронов. 110 лоэкс -ие...

Номер патента: 491883

Опубликовано: 15.11.1975

Авторы: Вандер, Лиснянский

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, вещества, состава

...из двух слоев тол щиной д и 4 и концентрацией измеряемогоэлемента А соответственно по слоям СА и СгА. Иг КС 1 А ,"т С 1+ (1 - С 1 А) г ггг,г л С 1 А + (1 С 1 А)(гг 81 п ггггА НС 1 А Рт,-,гт (1 - С 1,е з(и; (2) 8 П . функцией углов (г и 11). Однако, при условииг лг,ггпвыражение (2) значитель 20 8(п у 8(П 6по упрощается и может быть представлено всл дующем виде: Анализ этого выражения показывает, что и,находится в сложной зависимости от концентрации слоев СА и СгА, причем отношение чувствительности к концентрации измеряемого элемента обоих слоев является А Н8)п ф 81 П гП 81 П 6 Указанное положение может быть доказанои для п-слойного образца (общего случая), Однако ввиду громоздкости вычислений не приводится.Следовательно, выбирая...

Номер патента: 495591

Опубликовано: 15.12.1975

Авторы: Крапивский, Митов

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, горных, пород, рентгенорадиометрического

...в диапазоне10 8 - 11 кэВ (Сп, Хп, Аз по К-сврии и РЬ и В 1по У.-серии) .По суммарной интесивностп характеристического рентгеновского излучения определяютсуммарную концентрацшо этих элементов.15 Для уравнивания вклада характеристическогоизлучения каждого из элементов в суммарнуюинтенсивность характеристического излученияселективный фильтр изготовлен из кобальта,никеля, галлия и германия. Кобальт интенспв 20 по поглощает характеристическое излучениеК-серии меди. Никель является поглощающимдля рентгеновского излучения цинка. Галлпй - поглощающий элемент для К-сериимьппьяка и т.-серии свинца. Германий - по 25 глогцающий элемент для 1.-серии висмута,Концентрацию кобальта, никеля, галлия,германия в фильтре подбирают с учетом...

Номер патента: 504141

Опубликовано: 25.02.1976

Авторы: Васильев, Онищенко, Славинский, Черняк

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, потоке, состава

Номер патента: 510167

Опубликовано: 05.04.1976

Авторы: Жан, Этьен

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгеновский, спектрометр

...отверстием.На фиг. 1 схематично изображен предложенный спектрометр; на фиг. 2 - схемы по лучения плоских электронных пучков в газонаполненной лампе; на фиг. 3 - сборка газо- наполненной лампы, один из вариантов; на фиг. 4, 5 - возможные траектории падения электронных пучков на, образец в зависимо сти от типа устройств управления; на фиг. 6 -фокусирующее устройство для получения узкого пучка; на фиг. 7 - возможные положения зоны облучения анализируемой пробы; на фиг. 8 - держатель анализируемой пробы.20 Предложенный спектрометр содержит газонаполненную лампу 1 с холодным катодом, испускающую плоский пучок электронов, который почти перпендикулярно падает на анализируемую пробу, находящуюся во вращаю щемся держателе 2. Рентгеновское...

Номер патента: 522459

Опубликовано: 25.07.1976

Авторы: Каазик, Колесов, Шмонин, Энкер

МПК: G01N 23/22

Метки: абсорбционного, анализа, рентгенофлуресцентного

...от энергии квантов гамма- излучателя,Задвижка-экран 11 открывает поочередно рентгенорадиометрический и гамма-абсорбционныйканалы. Столик 12, вращающийся вокруг винта13, используется для размещения эталонной и анализируемой проб.Устройство работает следующим образом.Гамма-кванты источника излучения (например, изотопа селен) с помощью коллиматора 2облучают пробу 6 и промежуточную мишень 7.522459 10 аказ 4296/362 Тираж 1029 Подписное ИПИ филиал ППП "Патент", г. Ужгород, чп. Проектная, 4 Вторичные излучения пробы и промежуточной ми шени с помощью коллиматоров 5 и 4 регистрируются детектором 10. Заслонка 11 обеспечивает последовательное измерение указанных потоков,Для анализа абсорбционных характеристик пробы канал 5 перекрывают заслонкой 11....

Номер патента: 524116

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Руднев, Хилькевич

МПК: G01N 23/22

Метки: изогнутых, кристалл-монохроматоров

...заключающийся в том, что; Й кристалл приклеивают к жесткой подложке нужной формыОднако для получения кристаплъ-монохроматоров хорошего качест-Ьа поверхность подложки, = на которую при-д 15 рлеивают кристалл, требует тщательной об-гИзвестен также способ изготовления изоеь гнутых кристапп-монохроматоров, заключивлтощийся в том, что кристалл приклеивают на 20 подложку, а потом изгибают его вместе с.подложкой на поверхности выпуклого шаблоОднако кри изгибании кристалла вместе; с подложкой и затвердевшим слоем клея в А 25Гнем могут возникать дополнительные вепря-женин.Также известен способ. согласно дкотфро му кристалл зажимают между вптукщшдилНово всех известных способах для нэготовпния каждого кристалла-ционохромэтора необходим...

Номер патента: 529397

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Вайгачев, Мамиконян, Мильчаков, Щекин

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, многоэлементного, рентгенорадиометрического

...характер и соотцоьцение этих факторов таковы, что в области энергии меньптих энергий пика полного поглощения преобладающими являются процессы в детекторе и в 1 ервом приближении величина фона пропорцио- щ нальна величине пика полного поглощения, В облас.ги больттих энергий основной причиной образования фона является наложение импульсов и фоц, обусловленньй этим фактором, пропорционален квадрату величины пика полного поглощения. 1 яТаким образом, величина фона под -ой аналитической линией может быть записана в виде р 1. Способ многоэлементного реытгенорадиометрического анализа спектрометром, заключаощийся в том, что .а исследуемой пробе измеряют интен.сивности аналитических линий и по нцм определяют ко)щецтрацци анализируемых...

Номер патента: 538280

Опубликовано: 05.12.1976

Авторы: Баженов, Кандалов, Маранц

МПК: G01N 23/22

Метки: конструкционных, материалах, размера, трещин

...в качествеметящих сред можно использовать различные газы, которые гораздо предпочтительнеепо сравнению с жидкими красителями с гочки зрения проникновения в грешины с малымраскрытием, В некоторых случаях это могутбыть рабочие средьу,в которых эксплуатируется данная деталь. Тогда дополнительные,Ометки на поверхность трешины не наносятся,Точность способа определяется локальностью микроанализа и качеством системотносительного перемещения образца и иогочника возбуждения и может быть не хуже 150,03. мм. Большая глубина резкости, особенно при больших углах выхода вторичнойэмиссии, позволяет проводить измерения натрещинах с грубой, неровной поверхностью,непригодной для исследования с помощью 20оптического микроскопа,На фиг, 1 показано...

Номер патента: 543858

Опубликовано: 25.01.1977

Авторы: Батурин, Имамов, Ковальчук, Ковьев, Миренский, Палапис, Семилетов, Шилин

МПК: G01N 23/22

Метки: исследования, кристаллов, совершенства, структуры

...рентгеновских лучей 13, механизм 14 для поворота счетчика излучения 5 относительно осиглавного гониометра 6,25На чертеже обозначено:м0 - ось вращения кристалл-монохроматора;О - ось вращения главного гониометра0-0 - оптическая ось спектрометра;- рентгеновские кванты первичногоизлученияЙ - кванты флуоресцентного излучения;Е - электроны внешней фотоэммиссии,Устройство рабоает следующим образом.Рентгеновские лучи от источника 3 огра-З 5ничиваются по расходимости коллиматором 4,кристалл-монохрома 1 ором 1 и падают подуглом дифракции Ч для выбранной системы кристаллографических плоскостей на исследуемый кристалл 2. Кристалл располо Ожен в геометрии Брагг-дифракции. Дифрагированные им лучи регистрируются счетчиком излучения 5,...

Номер патента: 552543

Опубликовано: 30.03.1977

Автор: Злотин

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, рентгеноспектрального

...что так ить точность анализа. х лии тем псрееской учета же поинтенсивность ний, что повь самым - то менного соста линии другой абсорбционнь зволяет повыс ится к способам анализа ждении и регистрации ха злучения определяемого основанн еского рен ого элемент спектра, по одержании оыи на тгенова и ре- интен- предеФормула и рстения Способ рентгеноспектр ключающийся в возбужд ского рентгеновского и пробы и последующей р аналитических линий опр отличающийся тем,шения точности анализа,стрируют аналитическую и по интенсивностям у 0 ских линий судят о содер элемента, анализа зав обы; точнос татыя пра.выше точности то по предлагаемому егистрируются интен линий двух разных Изобретение относоснованным на возбурактеристического...

Номер патента: 552544

Опубликовано: 30.03.1977

Авторы: Бродский, Варварица, Евтушенко, Мамиконян, Мельтцер, Филатов, Яковлев

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, рентгенорадиометрического, флуоресцентного

...концентрации аналнзи руемого элемента судят по отношению разности интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента пробы и мишени к интенсивности излучения, рассеянного пробойгде У, - интенсивность характеристического излучения анализируемого элемента пробы;У; - интенсивность характеристического излучения анализируемого элемента мишени;Ж, - интенсивность излучения, рассеянногопробой;К в коэффициент пропорциональности.Характеристическое излучение мишени возбуждается излучением примесных элементов, К-скачки поглощения которых расположены между энергией возбуждающего излучения и энергией флуоресцентного излучения анализируемого элемента, причем степень возбуждения зависит от количества примесных элемен- тов. Интенсивность...

Номер патента: 565237

Опубликовано: 15.07.1977

Автор: Узморский

МПК: G01N 23/22

Метки: гомогенности, области, размеров, распределения, твердых, телах, элементов

...экспериментальную погрешность,Целью изобретения является повышение точности при малых концентрациях исследуемого элемента.Это достигается тем, что по предлагаемому способу дополнительно регистрируют интенсивность характеристического излучения какого-либо другого элемента, содержащегося в исследуемом теле, изменяют зависимость отношения интенсивностей характеристических излучений исследуемого и другого элементов отдиаметраэлектронногозондаи по измеренной зависимости определяют размеры области гомогенности.Способ реализуют следующим образом, Шлиф исследуемого твердого тела облучают сканирующим электронным зондом рентгеноспектрального микроанализатора, который расфокусируют по заданному закону. Во время цикла облучения регистрируют...

Номер патента: 579567

Опубликовано: 05.11.1977

Автор: Нарбутт

МПК: G01N 23/22

Метки: ренгтгеновский, спектрометр

...плаТФорму 2, подвижную каретку Э, рукоятку 4 для смещения платформы 2, сильфоны 5 и б, подвижную диафрагму 7, диафрагмы 8 и 9, поворотныйдиск 10 с гнездами для вторичных иэлу- дрчателей (в рабочем положении находитсявторичный излучатель (4 ), источникпервичного рентгеновского излучения(не показан).На подвижной платформе 2 установлены кристалл-анализатор 11 н отсчетиый микроскоп 12, На каретке 3 укреплена приемная щель 13 с расположеннымпозади нее детектором рентгеновскогоизлучения 14, Кроме того, на каретке 3выполнена отсчетная шкала 15.Каретка 3 связана с платформой 2и станиной 1 системой рычагов, образованной (фиг. 2) звеньями ОК и 05двухэвенного рычага, и рычагами КС,СН НР , Подвижная диафрагма 7 связана с осью...

Номер патента: 533260

Опубликовано: 15.06.1978

Авторы: Бароха, Белов, Бурмистенко, Глухих, Иванов, Кретов, Минкин, Мунтян, Попов, Тарабрин, Феоктистов, Штань

МПК: G01N 23/22

Метки: активационного, анализа

...19 для транспортировки кассетыКассета стыкуется с накэ 1 оннь 1 желобом3, по которому осуществляется паштуч"ная доставка контейнеров 1 б на плат- д 0Форму автоматического весового устрой"ства 4. Последнее обеспечивает Выдачу данных о весе образца ес компенса -Цией веса тары) в устройство 13 обработки информации. Весовое устройстВО сочлененО с Вертикзльныъ 1, каналОмдля транспортировки образцов по ко"торому под действием их веса осуществляется доставка образцов сначала Вблок б облучения, расположенный в зо-.не действия источника 7 активации, азатем В блОк 8 измерения. Приемнаякасста 2 служит для сбора образцовпо окончании анализа. Ве конструкцияидентична конструкции выдающей кассеты, ВьедаеОщая и приемная кассеты расэ 5...

Номер патента: 614367

Опубликовано: 05.07.1978

Авторы: Анисович, Комяк

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгеновский, спектрометр, флуоресцентный

...21 . 20Наиболее близ о техническойсущности к предл ному - Флуоресцентный рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновского излучения,держатель образца,фокусирующий кристалланализатор,.положение которого определяет положение фокусирующей окружности,детектор рентгеновского излучения 31.Недостатком этого устройства является низкая светосила,Ю Цель изобретения заключается вобы повысить светосилу спектроме Поставленная цель достигается тем, что расстояние от фокуса источника рентгеновского излучения до поверхности образца не превышает четверти высоты кристалла-анализатора, а расстояние от поверхности образца до Фокусирующей окружности не превышает четверти произведения диаметра фокусирующей окружности на отношение высоты...

Номер патента: 681358

Опубликовано: 25.08.1979

Авторы: Андрижиевский, Глауберман, Катриди, Межевич, Столин, Ханонкин, Шаензон

МПК: G01N 23/22

Метки: излучения, монохроматор, рентгеновского, фокусирующий

...содержит две опорные грани, а внут.ренине опоры выполнены в виде поворотныхсегментов с цилиндрической опорной поверхностью.На чертеже изображена принципиальная схе.ма монохроматора.681358 Формула изобретения Р Составитель К. КононовРедактор Н. Хлудова Техред Л,Алферова Корректор А,Гриценко Тираж 1090 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Заказ 5078/40 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Фокусируюший монохроматор содержит кристаллическую пластину 1, обжимающие кристалл пластины 2 из материала, упругие свойства которого выше,чем у кристалла, причем в одной пластине по крайней мере выполнено окно для прохождения рентгеновских лучей,...

Номер патента: 304820

Опубликовано: 05.11.1979

Авторы: Писманник, Тутане, Федотов, Цалитис, Янушковский

МПК: G01N 23/22

Метки: радиоизотопный, толщиномер

...от источника 5, прошедшее через клин задатчика 4 - ток в детекторе 3, Разностный ток детекторов (так как детекторы включены по дифференциальной схеме) вызывает падение напряжения на нагрузочном резисторе 14, которое усиливается измерительным усил.ителем 11, охваченным отрицательной обратной связью через потенциометр 12. Определенная часть сигнала отрицательной обратной связи через потенциометр 15 подается на интегрируюший конденсатор 17. Благодаря такому включению потенциометров 12 и 15 постоянная времени измерения отклонений не зависит от положения подвижного контакта потенциометра 12, Выходной сигнал усилителя 11 усредняется в операционномусилителе 8, постоянная времени которого превышает постоянную времени усилителя 11. По...

Номер патента: 373680

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Брем, Крапивский

МПК: G01N 23/22

Метки: активационного, анализа, порошковых, проб

...По совокупным данным измерений судят о концентрации элементов в пробе.Пусть в пробе имеется несколько элементов, образующих при активации изотопы с периодами полураспада Т 4, Тр (Тт ТТ ( Т ( Тз (ТНаведенная радиоактивность 3 в об" щем случае зависит от концентрации определяемых изотопов в пробе С, потока активизируемых частиц, макроскопического сечения активации опреде" ляемых элементов и других факторов.3 =(Ки С 1)т +(К 2 С )т +. (КьСз)тоКоэффициенты Кт и 1 определяют путем измерения радиоактйвности эталонных проб.При угловой скорости вращения щ, выбранной такой, чтобы ее произведение на период полураспада определяеСоставитель В. ТыминскийРедактор Е. Месропова Техред И, Петко Корректор В. Синицкая Заказ 4281/53 Тираж б 49 Подписное...

Номер патента: 785699

Опубликовано: 07.12.1980

Автор: Анисович

МПК: G01N 23/22

Метки: кристалл-ионохроматор, фокусирующий

...выполнена с кривизной в два раза боль- % шей, чем кривизна отражающих плоскостей кристалла-монохроматора.фокусирующий кристалл-монохроматор представляет собой часть тороидальной поверхности,по которой иэог нуты отражающие плоскости кристалла.Отражающая поверхность указанного кристалла обработана таким образом, что ее кривизна в два раза больше, чем кривизна тороидально изогнутых 5 отражающих плоскостей кристалла.Этообеспечивает гораздо лучшую фокусировку рентгеновского излучения, нежели в случае кристаллов, кривизна тороидальной отражающей поверхности 2 Е которых равна кривизне отражающихплоскостей кристалла.фокусирующий кристалл-монохрома-тор может использоваться в различных аналитических приборах, в кото рых используется фокусировка...

Номер патента: 730090

Опубликовано: 07.06.1981

Авторы: Белло, Каган, Карпов, Левитин, Молодкин, Скриниченко, Фрумкин

МПК: G01N 23/22

Метки: минералов, руде, содержания

...меньшей минимального размера куска, Выходы фотоприемников люминесценции подсоединены к входам а и д интегратора 11.сигналов люминесценции.Выход детектора рентгеновского излучения подключен к входам а коммутатора 14 и вычитающего устройства 16.Выход с вычитающего устройства 16связан с входами а интегратора 12 иключа 13. Выход ключа 13 подсоединенк управляющим входам Ь интеграторов11, 12 и коммутатора 14. Выходы интеграторов 11 и 12 подсоединены квходам Ь и а измерителя отношениясигналов 3, на выходе с которого измеряется напряжение.Устройство работает следующим образом.В иэмерительной камере 1 производится облучение кусков руды излучением рентгеновских трубок 5. Диаметральное расположение трубок позволяет возбудить люминесценцию со...

Номер патента: 855456

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Андрейчиков, Корчуганов, Христианов

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, рентгенофлуоресцентного

...решетка 8, пластины кото" рой, ориентированные на ближайший к детектору 4 край активного пятна источника 1, При такой ориентации пластин 8 источник 1 облучает только их правые (в плоскости чертежа) сто,роны, обращенные к стенке 7, а левые стороны, обращенные к детектору 4 не облучаются. Фоновое излучение от стенки 7 в направлении детектора 4 ослабляется пластинами 8, Единственным источником фонового излучения, возникающего в пространстве под образцом б, которое может регистрироваться детектором 4, являются торцы пластин решетки 8. Для сниже"ния доли этого излучения торцы пластин 8 выполнены ступенчатыми, какэто показано на Фиг. 2. За счет такой конструкции пластин 8 детектором4 воспринимается рассеянное излучение практически только от...

Номер патента: 855457

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Адонин, Батурин, Михайлов, Титов, Фокин

МПК: G01N 23/22

Метки: исследования, монокристаллов, совершенства, структурного

...излучения, кристалл-монохроматор 2, коллиматор 3, исследуемый,монокристалл 4, установленный н держателе с гониометрическим устройством (не показаны), детектор 5 рентгеновского излучения, оптический детектор б, прерыватели 7 и 8, первый из которых установлен на пути падающего на исследуемый монокристалл 4 рентгеновского пучка, а второй установлен на пути люминесцентного излучения исследуемого монокристалла, идущего на оптический детектор б, Прерыватели 7 и 8 выполнены н виде дисков, синхронно вращающихся от привода 9, и снабжены отнерстиями (или системами отверстий) 10 и 11.Устройство работает следующимобразом.Монохроматизиронанный коллимиронанный пучок рентгеновского излучения падает на исследуемый монокристалл 4 под бреггонским...