Патенты с меткой «микроанализатор»

Номер патента: 202571

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Богданов, Боровский, Козленков

МПК: G01T 1/36

Метки: микроанализатор, рентгеновский

...связанных со счетчиками 14 и 15 и предварительными усилителями 1 б и 17 в вакуумном баллоне 19, может работать как в режиме интегрального счета, так и в режиме амплитудной дискриминации импульсов. Помимо раздельной регистрации импульсов в каждом канале предусмотрена работа схемы, при которой показания выходных приборов каждого канала, т. е. скорости счета обоих счетчиков, вычитаются (складываются) и результат вычитания (сложения) показывается на общем выходном приборе,Выбор материала покрытия и углов падения рентгеновского излучения на зеркала определяется выбором длин волн анализируемых элементов. В частности, при анализе элементов О, М, С, В, Ве, .1 по Ка-линиям рентгеновского спектра можно использовать зеркала, покрытые алюминием,...

Номер патента: 430313

Опубликовано: 30.05.1974

Авторы: Богданов, Боровский, Козленков

МПК: G01N 23/207

Метки: микроанализатор, рентгеновский

...и мешающего элементов больше единицы.В случае, когда анализируемый легкий элемент имеет атомный номер 2 больший, чем вес наполнителя (матрицы 1, нагример в случае анализа углерода или бора в бериллии, для ослабления К - линии мешающего элемента (бериллия) в приставке может быть использован фильтр б, устанавливаемый на пути отраженного рентгеновского пучка между вторым зеркалом 4 и счетчиком. Фильтр представляет собой набор окошек, закрытых пленками из нитоцеллюлозы различной толщины, Коэффициент пропускания таких пленок уменьшается с увеличением длины волны рентгеновского излучения и тем сильнее, чем больше толщина пленки. Перекрывая пучок пленкой определенной толщины, можно заметно ослабить интенсивность К- линий таких...

Номер патента: 480004

Опубликовано: 05.08.1975

Авторы: Жижин, Талалай, Хилькевич

МПК: G01N 23/22

Метки: микроанализатор, рентгеновский

...от образца (отрезок АС образует с направлением перемещения кристалл- анализатора произвольный угол а), шарнирно закреплен кривошип 2, длина которого АО равна Р. С концом 0 кривошипа 2 шарнирно связан четырехзвенпый шарнирный параллелограмм 00 Кв, состоящий из звеньев 3 - б. Длина звеньев 3 и 4 равняется Л 1 а длина звеньев 5 и б - Л. В точке К звена 5 жестко закреплен изогнутый кристалл-анализатор, причем касательная к поверхности кристалла480004 11 образует с направлением КО угол, равный - ,2 Звено 4 жестко связано с кареткой 7, перемещающейся по направляющей 8, расположенной параллельно направлению рентгеновских лучей со сдвигом на величину Ла=ЛЛ Япя. Для удержания щели Й счетчика рентгеновских квантов на фокусирующем круге при...

Номер патента: 640185

Опубликовано: 30.12.1978

Авторы: Барский, Боровский, Жижин, Кононов, Лукьянченко, Хилькевич

МПК: G01N 23/225

Метки: микроанализатор, рентгеновский

...микроаналиряженных частиц 3, фокусирующее устройство (электромагнитную линзу) 4, пары рентгеноспектральных каналов 5 и 6, основания 7 для крепления каналов 5 и 6, световой микроскоп 8, держатель 9 с исследуемым образцом 10,Пары рентгеноспектральных каналов 5 и 6 установлены на общем для каждой пары основании 7 под фиксированными углами например, 60 и 18) к плоскости образца 10, При этом механизмы фокусировки 11 каждой пары рентгеноспектральных каналов 5 и 6 развернуты друг к другу. Основания закреплены в радиальных пазах 12 на основании корпуса, что обеспечивает точную ориентацию рентгеноспектральных каналов относительно точки падения заряженных частиц на плоскость исследуемого образца 10. Электромагнитная линза 4 рас положена в...

Номер патента: 758846

Опубликовано: 30.03.1982

Авторы: Куценогий, Пащенко, Семенов

МПК: G01N 23/225

Метки: микроанализатор

...первичного и;прошедшего через об,разец электроннотго пучка, а система построения изобракения установлена на пути прошедшего через образец электронного пучка,При этом,прорези во внутреннем цилиндре вьпполнены в виде двух систем, держатель образца установлен симметрично между системами прорезей, а средства детектирования оже-электронов выполнены в виде двух детекторов, каждый из которых связан с одной из систем прорезей,во внутреннем цилиндре анализатора,Сущность изобретения поясняет чертеж.Микроанализатор для оже-спектрометрического анализа вещества содержит электронно-оптическую систему, состоящую из трехэлектродной электрониой пушки 1 и системы электромагнитных линз 2, формирующих первичный электронный,паучок. За систеиой...

Номер патента: 1520414

Опубликовано: 07.11.1989

Авторы: Беккерман, Джемилев, Ротштейн, Цай

МПК: G01N 23/225

Метки: ионный, микроанализатор

...коррекцию направления пучка и совмещение осей оптических элементов. Образец 8 устанавливается на столике манипулятора 9, имеющем три степени свободы.Основным элементом системы формирования пучка вторицнь 1 х ионов являет" ся иммерсионныи объектив 10 с секционированным вытягиваюцим электродом 11 и квадрупольная отклоняющая система 12. Для анализа вторичных ионов по отношению массы к заряду использован энергомасс-спектрометр, состоящий из статического магнитного анализатора 13 и стигматического энерго анализатора 1 типа трехэлектродного электростатического зеркала.Генераторы 15 и 16 пилообразного напряжения предназначены для развертки луча первицнь 1 х ионов в растр заданного размера на поверхности исследуемого образца....

Номер патента: 1637523

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Казаков, Эдельштейн

МПК: G01N 23/22

Метки: корпускулярно-зондовый, микроанализатор

...прочностью, так как стержни 14 последующего слоя обмотки 12 уложены на предыдущий слой непосредственно над стержнями 14 предыдущего слоя и каждый виток последующего слоя уложен непосредственно над витком предыдущего слоя.Для выполнения исследований поверхности образцов, установленных на манипуляторе 4, с высокой достоверностью необходймо.иметь стабильный сверхвысокий вакуум в камере 1. Для этого предварительно производят дегазацию камеры 1, электронной колонны 5 и знергоанализатора 6 путем их прогревания в течение длительного времени при 200-250 С с помощью нагревательных элементов 3 и откачивания через систему 2. Обмотки 12 лина 8 откачиваются через отверстия 17 в щечках 15 каркаса и отверстия 11 в торцовых частях...