G01N 23/22 — измерением вторичной эмиссии

Номер патента: 859891

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Анисович, Комяк, Орехов

МПК: G01N 23/22

Метки: анализатор, излучения, многоканальный, портативный, рентгеновского

...рентгеновского излучения на расстоянии т,не меньше трети толщины детектораЬ, т,е. щ И /Ь, причем детекторы установлены аксиально относительно оптической оси рентгеновской трубки на расстоянии 1 , лежащем в пределах от Ъ до 2 Ь . Каждый фильтр установлен на высоте от держателя образца на расстоя- нии, большем 11 и меньшем % . Иержатель образца и рентгеновская трубка установлены друг от друга на расстоянии м, не превышающем высоты детектора11, т.Е, гП С 1Держатель образца, каждый вторичныйизлучатель и приемное окно каждого детектора расиопожены параллельно по отношению дрУг к другуМногоканщтьный анализатор рентгеновского излучения работает следующим образом,10 Первичное излучение рентгеновскойтрубки 1, падая на образец, закрепленныйв...

Номер патента: 868502

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Золотницкий, Леман, Мац, Негиевич

МПК: G01N 23/22

Метки: комплексных, рентгенорадиометрического, рудах, содержания, трехкомпонентных, элемента

...расположена междулиниями других элементов, или поначению разности 12 = й 1 -2 й 1, длявсех других случа где й 1 й-скорости счета излучения соответственно в первом и втором энергетическоминтервале,На фиг. 1 показаны аппаратурныеспектры, полученные на моделях железной (1), цинковой (2), медной 3)руды и пустой породы 4) и выборинтервалов 1 и 11 во вторичном спектре при определении меди; на фиг. 2то же, при определении цинка; нафиг. 3 - пример выделения медногопрожилка мощностью 1 см при рентгенорадиометрическом профилированиина рудной модели, состоящей изпрослоев стекла, цинка и железа в различных сочетаниях, имитирующих комплексную трехкомпонентную руду.ФСпособ осуществляют следующим образом,С помощью двухканального дифференциального...

Номер патента: 868503

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Веретененко, Николаев, Плотников, Сериков, Шаензон

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгеновский, спектрометр

...Возникающее в 3 4образце вторичное рентгеновское излучение, отбираемое под углом Ч, по тупает через входную щель 9 на кристалл-анализатор О спектрометрического канала, выделяющего аналитическую линию определяемого элемента, и через выходную щель 11 - на детектор 12 рентгеновского излучения, регистрирующий эту линию. Электрические импульсы с выхода детектора 12 после амплитудной дискриминации и нормализации в электронных блоках 14 средств 13 обработки информации поступают на многоканальный анализатор 15 временных распределений, адресный регистр которого связан с датчиком 6 угла поворота держателя 3 образца.Пусть в начальном положении держателя образца ( фиг. 1) угол (Ю =О. При этом перпендикуляр к поверхности образца, проходящий...

Номер патента: 873072

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Митов

МПК: G01N 23/22

Метки: иттрия, рентгенорадиометрического, содержаний, церия

...обусловленный вкладом характеристического излучения всех остальных элементов, составляющих пробу, Разность между зарегистрированными плотностями потоков излучений зависит преимущественно от содержания иттрия в исследуемом веществе.Для осуществления способа определения со.2 О 25 графики зависимости от скорости счета К,.излучения иттрия для двух составов проб (графики 1 и 2), измеренные по известному способу.На фиг. 1 видно, что изменение углов рассеяния; действительно сильно влияет на характер спектральных распределений, Так, при рассеянии на углы, большие 130, пик вылета К - излучения иттрия практически отсутствует, а на углы, меньшие 110, - они отчетливо видны на спектрах, . Присутствие стронция и молибдена в анализируемом веществе 40...

Номер патента: 293498

Опубликовано: 28.02.1982

Авторы: Алексеев, Гамбарян, Гурков, Таланов, Штань

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, вещества, нейтронно-активационного, состава

...загрузки и выгрузки 24 фильтров. Канал 23 имеет два окна г крышками. Окно 25 предназначено для загрузки фильтра, а окно 26 - для выгрузки. В канале 23 расположен толкатель 27, который соединен с приводом возвратно- поступательного движения. Толкатель предназначен для подачи фильтра от загрузочного окна 25 к ячейке 19 и сбрасывания фильтра в канал 23, (На чертеже толкатель изображен в положении против ячейки), Механизм 22 подачи и съема фильтров 4снабжен цилиндром 28, ось которого совпадает с осью 29 ячейки 19. В цилиндре по.мещен шток 30, в котором выполнены сверления З 1 и 32. На одном конце штока 30 5 закреплена резиновая диафрагма 33. Наштоке выполнены два поршня 34, расположенные таким образом, что они совместно с цилиндром 28...

Номер патента: 972348

Опубликовано: 07.11.1982

Автор: Менбаев

МПК: G01N 23/22

Метки: анализатор, зондом, рентгеновский, рентгеновским, флуоресцентный

...держателя образца оси рент- ф 5 геновского зонда, детектор рентгеновского излучения может быть снабжен средствами для изменения этого угла, которые при необходимости могут быть функционально связанными со средствами для изменения 50 расстояния между держателем образца и выходной поверхностью матрицы параллельных капилляров,На чертеже изображен один из возможных вариантов осуществления устройства. 55Источник 1 излучения выполнен в виде микрофокусной рентгеновской трубки с прострельным анодом, Вблизи выходного 3 9723Бель изобретения - повышение светосилы анализатора эа счет увеличения освещенности образца во всем диапазоне ана- лиза.Указанная цель достигается тем, что в флуоресцентном рентгеновском анализаторе с рентгеновским...

Номер патента: 987484

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Бакуров, Гимельфарб, Гончаров, Кочергина, Орлов, Пухов

МПК: G01N 23/22

Метки: микроанализа, нелюминесцирующих, твердых, тел, элетронно-зондового

...р и м е р 2. Образец металлического серебра соответствует ГОСТ 5.1214-72 со средним содержанием меди менее 0,01 масс.Ъ. Спектральный анализ, не позволяю,ций исследовать распределение меди в образце, дает среднее ее содержание (3,1+0,6) ф ф 10-з масс.%.Метод рентгеноспектрального микро- анализа не мог быть использован для изучения распределения меди, поскольку предел ее обнаружения из-за наличия тормозного излучения при оптимальных условиях анализа составляет 1,8 10- масс.Ъ.Образец механически отполировывают по 10 кл шероховатости поверхности, подвергают обработке сероводородом при 300 С в течение 3 ч и охлаждают до комнатной температуры. Точно такой же обработке подвергают стандартный образец серебра с известным однородным...

Номер патента: 1010528

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Белло, Каган

МПК: G01N 23/22

Метки: минералов, руде, содержания

...с выходом утегратора теневого сигнала, а выход сумматора подключен к входу средства для определения отношений сигналов.На чертеже показана схема устройства для определения содержания минералов в руде.Устройство для определения содержания минералов в руде включает измерительную камеру 1, блок 2 интеграторов со средством 3 для определения отношения сигналов, блок 4 компенсации нестабильности рентгеновского излучения. В измерительной камере 1 установлены рентгеновские трубки 5, излучение которых коллимируется коллиматорами б в измерительном объеме, приемники 7 и 8 люминесценции, теневой детектор 9 рентгеновского излучения с люминесцентным экраном 10, Блок 2 интеграторов содержит интегратор 11 люми-. несценции, интегратор 12 теневого...

Номер патента: 320195

Опубликовано: 07.06.1983

Авторы: Анисович, Комяк

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгеновский, спектрометр, флуоресцентный

...спектрометрах используется монохрометрическое излучение вторичных излучателей, поме" щенных между рентгеновской трубкой и анализируемым образцом,Недостатком таких схем является , Резкая потеря в них интенсивности спектральных линий и наличие фонового излучения. 20С. целью увеличения отношения сигнал-Фон для аналитических линий при сохранении интенсивности их, а также для проведения локального анализа, в рентгеновский канал спек" 25 трометра между трубкой и объектом последования введен кристалл-монохроматор. На чертеже дана. схема предлагаемого спектрометра,3На схеме изображены острофокусная рентгеновская трубка 1, кристалл-монохроматор 2, анализируемыйобъект 3, кристалл-анализатор 4,детектор 5 рентгеновского излучения. Первичное...

Номер патента: 411359

Опубликовано: 07.06.1983

Авторы: Гамбарян, Николаенко

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, вещества, состава, элементного

...ускорителей заряженных частиц.Известны способ элементного анализа вещественного состава, основанные на облучении исследуемого образ ца потоком ионизирующего излучения различной энергии, испускаемого мишенью при бомбардировке ее пучком частиц.Однако по известному способу необходимо последовательно облучить исследуемый образец при различных энергиях, что увеличивает продолжительность анализа пропорционально количеству элементов, содержащихся в исследуемом веществе.Цель изобретениясокращение времени проведения анализа и уменьшение погрешности.Это достигается тем, что одновре-, меннооблучают несколько образцов анализируемого веществарасположенных относительно направления первичного пучка частиц под различными углами так, что одному из...

Номер патента: 1061014

Опубликовано: 15.12.1983

Авторы: Брытов, Мстибовская, Оболенский, Рабинович

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгеновский, спектрометр

...к предлагаемому являетсярентгеновский спектрометр, содержащий диспергирующий элемент в видемонокристалла, кристаллографическиеплоскости которого изогнуты по параболическому цилиндру, и детекторизлучения 3 3,Однако такой спектрометр хотя иобеспечивает формирование параллельного пучка лучей заданной ширины сдисперсией, изменяющейся перпендикулярно направлению излучения, ноне позволяет работать с протяженными источниками.Целью изобретения является обеспечение возможности изучения протяженного источника рентгеновскогоизлучения,Поставленная цель достигаетсятем, что в рентгеновский спектрометр, содержащий диспергирующийэлемент в виде монокристалла, кристаллографические плоскости которогоизогнуты по параболическому цилиндру, и детектор...

Номер патента: 1092394

Опубликовано: 15.05.1984

Авторы: Павлинский, Сотников

МПК: G01N 23/22

Метки: анализе, выделения, полезного, рентгеноспектральном, сигнала

...по времени с квантами сопутствующего излучения, в частности, квантов К-серии элементов, совпадающих с квантами-серии этого же55 элемента 4 .Существенным недостатком указанного способа вьделения полезного сигнала является низкий выход квантов -серии для большинства элементов и их малая энергия. Кроме того, для реализации этого способа необходимы источники излучения квантов высокой энергии. Все это повышает предел обнаружения и ограничивает применение этого способа областью тяжелых элементов.Целью изобретения является сниже- .ние предела обнаружения анализа приодновременном расширении круга анализируемых элементов,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу выделенияполезного сигнала в рентгеноспектральном анализе, включащему...

Номер патента: 1097924

Опубликовано: 15.06.1984

Авторы: Васильев, Верников, Смирнов

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгеновский, спектрометр

...рентгеновского излучения, содержащий вакуумную камеру с установленными в ней ис 45 точником электронов, держателем исследуемых образцов, детектором рентгеновского излучения с фильтром, а также электронно-регистрирующую аппаратуру, связанную с детектором 3.Недостаток данного спектрометра,50 заключается в том, что в спектрометр ставится только один образец, а также наличие только одного, алюминиевого фильтра. При замене образца нарушается вакуум, и, следовательно, разные образцы исследуются при разных физических условиях в камере, что снижает точность измерений. 924 2Наличие только алюминиевого фильтра обеспечивает удов,"етворительное отношение сигнал/фон только в узком диапазоне длин волн рентгеновскогоизлучения.Цель изобретения -...

Номер патента: 1100525

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Гимельфарб, Гончаров, Сиденко, Соловьев, Фатюшин

МПК: G01N 1/28, G01N 1/32, G01N 1/44 ...

Метки: веществ, микроанализа, нелюминесцирующих, образца, подготовки, электронно-зондового

...и обезжиривали четыреххлористым углеродомЗатем путем вакуумного напыления в установке типа ЛЕЕ-УВ фирмы ЗЕОЬ-Япония на поверхность образца наносили слой металлического иттрия толщиной 1 мкм и подвергали образец с нанесенным на него слоем вакуумО ному диффузионному отжигу при 850 С в течение двух часов.Далее образец окисляли в атмосфеоре кислорода при 450 С в течение одного часа и охлаждали до комнатнойтемпературы. Одновременно окиспялипо такому же режиму образец сравнения (стандартный образец) - иттрийс известным содержанием (6, 1+.ф 0,6)10 4 мас,. Ж,Исследуемый и стандартный образцы помещали в колонну микроанализатора, где они облучались пучкомэлектронов 4 1 мкм, с энергией электронов 15 кэВ, ток пучка 30 нА. СпектОрометр...

Номер патента: 1103112

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Андреев, Кузьмин, Шныкин

МПК: G01N 1/36, G01N 23/22

Метки: анализа, методов, подготовки, пробы, ядерно-физических

...подложки изиндия состоит в следующем,Заготовку индия необходимого размера прокатывают в лист толщиной0,2"0,3 мм и вырезают образцы требуемого размера. Для обеспечения жесткости подложки образцы индия накла.дывают на аналогичного размера пластины из меди (предварительно протравленные) толщиной0,5 мм, на ин-дий помещают пленку из лавсана испрессовывают путем последовательного увеличения давления з1 10 Н/м .7После окончания прессовайия лавсанудаляют, и подложка готова для переноса на нее микровзвеси.Перенос пробы микровзвеси осущест"вляют следующим образом.Из фильтра вырезают образцы, размеры которых равны размерам подложки, накладывают их на индий стороной,на которой находится микровзвесь, испрессовывают, постепенно...

Номер патента: 1120227

Опубликовано: 23.10.1984

Авторы: Грабов, Онищенко, Потапов

МПК: G01N 23/22

Метки: анализатора, глубинности, зольности, исследования, рентгенофлуоресцентного, угля

...Перемещение посвнутри кюветы в плоскости, параллельной поверхности жидкости, установлена пластина со средствами плавного перемещения в направлении, перпендикулярном поверхности жидкости, и измерения толщины слоя жидкости, покрывающей пластину.При этом пластина выполнена из стали с антикоррозийным покрытием, а моделирующая жидкость содержит 10 хлорное железо, хлористый кальций, соляную кислоту и воду при следующем соотношении компонентов, мас.7.Хлорное железо 0,8-11,5Хлористый кальций 1,5-6,5Соляная кислота 0,2-1,5Вода Остальное.Кроме того, в пластине выполнены отверстия по периметру.На фиг.1 показано предлагаемое устройство; на фиг.2 - зависимости интенсивности обратнорассеянного излучения изотопа Риот толщины пробы угля (кривая 9) и...

Номер патента: 1130783

Опубликовано: 23.12.1984

Авторы: Бернер, Гимельфарб, Костылева, Сиделева, Тарасов

МПК: G01N 23/22

Метки: послойного, распределения, элементов

...функции распределения рентгеновского излучения по глубине(х,Е) известен только для однородных материалов,Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ послойного контроля распределения элементов методом рентгеноспектрального анализа, заключающийся в том, что поверхность образца, установленного .в наклонном положении, облучают пучком электронов и измеряют интенсивность генерируемого рентгеновского излучения 3 .Известный способ позволяет получить максимальный сигнал характеристического рентгеновского излучения и соответственно более точные значения концентрации элементов, находящихся в одном определенном слое, В то же время для получения данных послойного распределения элементов первый слой стравливают, т.е,...

Номер патента: 1133521

Опубликовано: 07.01.1985

Автор: Иоффе

МПК: G01N 23/22

Метки: легких, рентгенорадиометрического, содержания, элементов

...были способны преодолеть окнодетектора и иметь остаточную энергию неменее 1 кэВ (т,е. в два раза больше уровня шумов детектора ф 500 эВ). При использовании счетчика с окном из лавсана толщиной 2 - 4 мкм энергия электронов долж.на быть увеличена на 3 - 5 кэВ.40По полученным данным измерений потокаэлектронов производят оценку среднегоатомного номера пробы на основании линей.ной зависимости потока электронов от сред.45 него атомного номера вещества-рассеивателя.Для получения полной информации о среднем атомном номере пробы частоту импульсов, поступающих с выхода детектора электро.нов, регистрируют в интегральном режиме с50 нижним пределом регистрации по амплитуде,соответствующем режиму отсечки шумов детектора. По оценкам среднего...

Номер патента: 1080605

Опубликовано: 15.04.1985

Авторы: Константинов, Краснов, Леонов, Мыськов

МПК: G01N 23/22

Метки: динамики, износа

...этого угла в устройствах с широкими апертурами и резиновыми вакуумными уплотнениями. Эта погрешность может55осоставить 2-3.Целью изобретения является повышение точности контроля. Поставленная цель достигается благодаря тому, что при контроле динамики износа деталей способом, заключающимся в активации контролируемого участка детали на глубину 1 ускоренными заряженными частицами под малым углом 9 к поверхности и сопоставлении уменьшения радиоактивности контролируемого участка О, с толщиной изношенного слоя у по предварительно полученной градуировочной кривой 1 = 1,(р,)Бп 9 в контролируемом участке путем повторной активации создают второй радионуклид, распределенный по глубине, большей , с известным профилем распределения х =1(О) и с...

Номер патента: 911971

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Кармадонов, Кондрашов, Сорокин

МПК: G01N 23/22, G01N 9/24, G01T 1/208 ...

Метки: плотномер, электронный

...измерений опирается один из контролируемыхобъектов 7. Охватывающий коллиматор кольцевой сцинтиллятор 8 находится в световоде 9, имеющем тонкуюсветонепроницаемую мембрану 10. Второй кольцевой сцинтиллятор 11 находится в световоде 12, имеющем 1тонкую светонепроницаемую мембрану 13 и ограниченном частью внутреннето канала регистрации коллиматора. Фотоумножители 14 и 15 оптически соединены соответственно со световодами 9 и 12, Излучатель 16 источника 17 импульсных световых сигналов оптически соединен через отверстйя 18 со световодами 9 и 12 и отделен от них слабосветопропускающими мембранами 19 из лавсана с- алюминиевым напылением, В качестве излучателя использован светодиод в импульсном режиме. Выходы фо911971 40 45 50 55 тоумножителей 14...

Номер патента: 1170335

Опубликовано: 30.07.1985

Авторы: Гоганов, Лукьянченко

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, вещества, диспергирующий, рентгеноспектрального, состава, элемент, элементного

...3 и 4, 4 и 5 плотно примыкают друг к другу, кристяллографические плоскости а 1 а в кристал" лах 1-5 расположены под разными угла"Ю ми п, с относительно рабочей поверхности кристалла Б,Линейный размер с/Ч; каждого кристалла К; удовлетворяет соотношению25к- "к(2 Ы со 59 зл Ч где Ь - расстояние между центром 30кристалла и источником рентгеновских лучей,1 -1 - минимальная разность длинрволн К - линии анализируемого элемента, и К в .линии 35этого же элемента или элемента с атомным номером Е;6 - угол Вульфа-Брэгга,а кристаллографические плоскости,по крайней мере в двух кристаллах, 40расположены под разными углами о относительно рабочей поверхности кристалла. Рабочая поверхность Б каждого кристалла плоская, а уголь, длякаждого кристалла...

Номер патента: 1056726

Опубликовано: 23.10.1985

Автор: Сорокин

МПК: G01N 23/22, G01N 9/24

Метки: плотномер, электронный

...цилиндра 33 с двумя отверстиями 34 в стенках, оси которых лежат в разных диаметральных плоскостях цилиндра, но в одной плоскости с общей осью отверстий 19. Синхронизатор коррекции 35 соединен с блоком регулирования отношения коэффициентов передачи трактовс ФЭУ и устройством 36 перемещениякорректирующего поглотителя на торецколлиматора, выполненного в видеповоротного диска с электромеханическим приводом, на котором постоянно закреплен корректирующий поглотитель 8 и временно фиксируютсяконтролируемые образцы,Устройство работает следующим об"разом, 1056726В момент излучения бетатронакак в рабочем цикле контроля плотности объектов, так и в рабочем циклекоррекции электроны проходят по трак 5ту формирования 2 и каналу коллиматора 4 на объект...

Номер патента: 1242785

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Грабов, Потапов

МПК: G01N 23/22

Метки: анализатора, глубинности, зольности, исследования, рентгенофлуоресцентного, угля

...их друг на друга, и измеряя интенсивность регистрируемого излучения, оценивать изменение интенсивностей, происходящее в результате этих перемещений или в зависимости от количествакалибровочных пластинок, находящихся в зоне измерения, Таким образом, появляется возможность исследованиявлияния отдельных объемов пробы на результаты анализа, Равенство" размеров калибровочных пластинокобусловлено их взаимозаменяемостью, что экономит время необходимое для поиска в имеющемся наборе пластинки необходимых размеров.Наличие средства для фиксации положения калибровочных пластинок на поверхности пластины позволяет оценивать влияние конкретного положения калибровочных пластинок на измеряемые интенсивности.пбложение, к толщине...

Номер патента: 1325336

Опубликовано: 23.07.1987

Автор: Выстропов

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгенорадиометрического, толщины

...средней частоты следования импульсов в обоих каналах при последовательном облучении двух контролируемых образцов различной толщины. Поскольку период полураспада изотопа источника33 б з 1325 излучения значительно превышает время, необходимое для настройки устройства, интенсивность реперного пика 1 можно считать постоянной. Тогда искоч5 мыи коэффициент пропорциональности равен отношению разности средних частот следования импульсов в канале реперного излучения (равной разности площадей фигуры ДЕКМ и фигуры ДЕ,К,М) 10 к разности средних частот следования импульсов в канале отражеьного излучения (равной разности площадей фигуры АБВГ и фигуры АБ ВГ)Возможны варианты реализации способа.Если после детектирования и разделения импульсов...

Номер патента: 481214

Опубликовано: 30.09.1987

Автор: Бахтерев

МПК: G01N 23/22, G01V 5/00

Метки: концентраций, меди

...последовательности,Облучение пород разреза нейтронами и измерение интенсивности гаммаизлучения радиационного захвата тепловых нейтронов ядрами меди и железа в нескольких энергетических областях (в частном случае - в двух), выделение из суммарных кривых интенсивности гамма-излучения меди 1(Си) и 55 железа Т(Ре), вычисление концентраций меди по отношению интенсивностейгамма-излучения.Тираж 776 Подписное г. Ужгород, ул. Проектная, 4 где Р - содержание меди, 7; 1(Сп)интенсивность гамма-излучения радиационного захвата тепловых нейтроновядрами меди; К - пересчетный коэффициент (интенсивность гамма-излучениярадиационного захвата тепловых нейтронов ядрами меди при облучении руды,содержащей 17 меди, источником нейтронов единичной...

Номер патента: 1343322

Опубликовано: 07.10.1987

Авторы: Верман, Винц, Гутман

МПК: G01N 23/22

Метки: рентгеновский, сканирующий, спектрометр

...134332211 ри смене кристалла-анализатора 7 с блока управления электромагнитом подается сигнал, по которому в обмотку 26 двойного электромагнита поступает импульс тока, Сердечник 25 электромагнита перемещается в сторону кулачка 20, прижимая к нему рычаг 19 и одновременно поворачивая входную щель 6 на некоторый угол , обеспечивая тем самым выполнение ус.ловия В =П/6; (8 - мозаичность второго кристалла-анализатора 7);При перемещении каретки 10 в направлении входной щели 6 на угол Я рычаг 4 разворачивается относительно рычага 3 на угол 26, шкив 22 также поворачивается на угол 2 В, обеспечивая разворот кулачка 20 на угол 4 (отношение диаметров шкивов 1:2).Расположенный на рычаге 19 постоянный магнит обеспечивает постоянный контакт рычага...

Номер патента: 1160823

Опубликовано: 30.11.1987

Авторы: Белянин, Сулема, Черданцев, Шадрин

МПК: G01N 23/22

Метки: гелия, ядерно-физический

...Пересчетна основе известных кинематическихсоотношений показывает, что сечениевылета ядер отдачи гелия при рассеянии 4 НЕ (" О,о) 0 максимально в угловом диапазоне примерно в 10 , расположенном около нуля градусов относительно направления падения ионовпучка. Это обстоятельство являетсярешающим при выборе угла регистрациивылетающих из мишени ядер отдачигелия. Малые углы регистрации ядеротдачи способствуют также увеличениютолщины анализируемой пленки.Предложенный способ осуществляется следующим образом (фиг. 2).Из ускорителя пучок 1 ионов кислорода 0 направляют на мишень 2,профиль концентрации (ПК) гелия в которой подлежит определению. Ядра отдачи гелия, выбиваемые из мишени 2ионами пучка 1 в результате упругого1соударения, регистрируют...

Номер патента: 1163717

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Обливанцев, Рыбасов, Рыжков

МПК: G01N 23/22

Метки: селениде, содержания, углерода, цинка

...для травления предварительного слоя поверхностных загрязнений, Полученные результаты приведены и табл,2.Данные табл, 2 свидетельствуют о преимуществе визуального контроля за толщиной снятого слоя поверхностных загрязнений по обесцнечиванию раствора, где наблюдаемые отклонения от среднего значения, близкого к расчетному, не превышает 10 , тогда как контроль по времени травления дает ошибку около 50.Для выбранных условий травления при плотности селенида цинка 5,42 г/см , площади травления 1 смь 220 и величине добавки перманганата калия 1 О мг расчетная толщина стравливаемого слоя составляет 14 мк. Припроведении анализа конкретных образ 5цов навеску перманганата калия рассчитывают исходя из толщины поверхностнйх загрязнений (обычно...

Номер патента: 1292438

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Обливанцев, Рыбасов, Рыжков

МПК: G01N 23/22

Метки: активационного, газообразующих, примесей

...слоя, радиохимическоговыделения из разложенного образцааналитического радионуклида - в одну:послойное разложение с одновременнымрадиохимическим выделением, что даетзначительный выигрыш времени и упрощение анализа с точки зрения уменьшения числа операций, УВеличение экс-прессности анализа по короткоживущимрадионуклидам автоматически вызываетповышение чувствительности активационного определения газообраэующихпримесей.Реализация способа осуществленана примере определения кислорода поядерной реакции О(Р,М)ф И и углеродда по реакции СИ, и) И.П р и м е р. Образцы, упакованныев алюминиевую фольгу толщиной 14 мкм,облучают пучками протонов и дейтронов.Энергия протонов и дейтронов на поверхности образцов составляет 9,0 и6,6 ИэВ соответственно....

Номер патента: 1301295

Опубликовано: 28.02.1988

Автор: Рыжков

МПК: G01N 23/22, H05H 7/00

Метки: анализа, мишенное, ядерного

...меди и алюминия, Устройство используется для анализа распределения ядер 18 Р, образующихся поядерным реакциям 6,71,; (14 М,рхм)18 Р.Подложка была приготовлена попеременным электролитическим осаждением меди и алюминия иэ растворов натолстую (до 2 мм) медную пластинку,Средняя толщина осажденных слоев меди составляла - 0,5 мг/см , а алюминия 0,3 мг/см , так как при такомсоотношении толщин слои меди и алюминия примерно эквивалентны с точкизрения потерь энергии ядер отдачи8 Р,Тонкие мишени, содержащие исходный элемент - литий, получали осаждением хлористого лития из спиртового раствора на подложку непосредственно перед облучением, Толщина мишеней " 0,1 мг/смИоны азотабыли ускорены до энергии 12 МэВ на циклотроне. Ток ионов на подложке...