Устройство для измерения параметров диэлектриков на сверхвысоких частотах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1737327
Автор: Крылов
Текст
, 1978.ЗЧЕРЕНИЯ ПАКОВ НА СВЕРХельс 27/2 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР С)ПИСАНИ ИЗОБР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТ ВЫСОКИХ ЧАСТОТАХ Изобретение относится к технике измерения параметров диэлектриков в резонаторе на СВЧ при нормальных условиях и нагреве,Известно устройство для измерения параметров диэлектриков на СВЧ, состоящее из цилиндрического резонатора, ограниченного с одной стороны неподвижной торцовой стенкой, а с другой - короткозамыкающим поршнем, на котором расположен измеряемый образец,Однако для выполнения операции введения образца в резонатор необходимо использовать дополнительное механическое устройство перемещения поршня, которое вносит дополнительную погрешность при измерении.Известно устройство для измерения параметров диэлектриков, состоящее из цилиндрического резонатора, ограниченного с одной стороны неподвижной торцовой 2(57) Изобретение позволяет повысить точность измерения параметров диэлектриков в сверхвысокочастотном диапазоне при использовании резонаторного метода. Устройство для измерения параметров диэлектриков состоит иэ цилиндрического резонатора 1, ограниченного с одной стороны неподвижной торцовой стенкой 2, а с другой - короткозамыкающим поршнем 3, закрепленным на скобе 6, и с помощью микрометрического винта 5 перемещающегося относительно нее, цилиндрическая часть резонатора 1 закреплена с возможностью осевого перемещения относительно связанных скобой 6 торцовой стенки 2 и короткозамыкающего поршня 3. 1 ил,стенкой, а с другой - короткозамыкающим поршнем, на котором расположен образец исследуемого материала, при этом коротко- замыкающий поршейь закреплен с возможностью осевого перемещения на введенной охлаждаемой .скобе, второй конец которой прикреплен к наружной торцовой стенке цилиндрического резонатора.В данном устройстве длина резонатора фиксируется неподвижной скобой, а операция введения образца в резонатор выполняется с точностью не хуже, чем воспроиэводимость винта, с помощью которого определяется изменение резонансной длины резонатора;Однако при использовании такого устройства для частотных методов измерения параметров диэлектриков невоспроизводимость разъема при введении испытуемого образца вносит дополнительную погрешность измерения.Цель изобретения - повышение точности измерения,На чертеже показано устройство для измерения параметров диэлектриков, общий вид.Устройство для измерения параметров диэлектриков состоит из цилиндрического резонатора 1 с волной Нов, ограниченного с одной стороны неподвижной торцовой стенкой 2, а с другой - короткозамыкающим поршнем 3, закрепленным на скобе 4, и с помощью винта 5 перемещающимся относительно нее, На поршне расположен образец.6 испытуемого материала. В верхней торцовой стенке выполнены отверстия связи, согласованные диэлектрическими вставками 7 с волноводным трактом. Цилиндрическая часть резонатора 1 закреплена с возможностью осевого перемещения относительно связанных скобой 4 торцовой стенки 2 и короткозамыкающего поршня 3,Устройство работает следующим образом.Для повышения точности измерений расстояние между торцовой стенкой 2 и короткозамыкающим поршнем 3 строго фиксируется. При использовании частотного метода зто расстояние остается неизменным при выполнении всех измерительных Вйд си операций, что позволяет обеспечить достижение высокой потенциальной точности метода, В резонаторе без образца с помощью винта 5 перемещением поршня 3 устанавли вается и измеряется резонансная длина резонатора. Перемещением цилиндрической части резонатора 1 вверх. открывается короткоэамыкающий поршень 3 и на него укладывается образец 6, после этого резо натор закрывается, цилиндрическая частьрезонатора 1 опускается, В результате использования данного устройства при операции вложения образца не происходит изменения резонансной длины резонатора.15ф ормул а и зоб рете н и я Устройство для измерения параметровдиэлектриков на сверхвысоких частотах, состоящее из цилиндрического резонатора, 20 ограниченного с одной стороны торцовойстенкой, а с другой - короткозамыкающим поршнем для размещения исследуемого образца, закрепленным на скобе с возможностью осевого перемещения, другой конец 25 скобы ж 1:стко связан с наружной сторонойторцовой стенки, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, цилиндрическая часть резонатора выполнена с возможностью Осевого перемещения.
СмотретьЗаявка
4858618, 08.08.1990
ОБНИНСКОЕ НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "ТЕХНОЛОГИЯ"
КРЫЛОВ ВИТАЛИЙ ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 22/00, G01R 27/26
Метки: диэлектриков, параметров, сверхвысоких, частотах
Опубликовано: 30.05.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1737327-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-diehlektrikov-na-sverkhvysokikh-chastotakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров диэлектриков на сверхвысоких частотах</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля диэлектрических изделий
Следующий патент: Устройство для определения окисленности металла
Случайный патент: 200905