G01J — Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия
Способ выделения изображения дефекта
Номер патента: 1354040
Опубликовано: 23.11.1987
Авторы: Газдайка, Луник, Матренко, Руденко
МПК: G01J 1/44
Метки: выделения, дефекта, изображения
...сканируемый двумерный участок изображения сварного шва в виде эквивалентного этому изображению цифрового массива путем последовательного заполнения двоичными кодами ИхН элементов матрицы, причем сдвиг их на один элемент строки и перенос после заполнения строки на начало следующей выполняется по сигналу от генератора 2.С выходов И элементов первого и И-го столбцов матрицы ОЗУ 5 двоичньн коды подают на входы сумматоров 6 и 7, где по сигналу от генератора 2 коды суммируются. Значения суммы двоичных кодов по первому и М-му столбцам. матрицы усредняются в делителях 8 и 9.Полученные величины кодов, соответствующие средним значениям яркос-, тей участков сканируемого видеоизображения 1,равных по площади И точкам отбора, сравнивают в...
Способ спектрометрии
Номер патента: 1354041
Опубликовано: 23.11.1987
Авторы: Казачевская, Мищенко, Ребо, Трилесник, Тумаркин
МПК: G01J 3/28
Метки: спектрометрии
...5 и 6 секции 1 и детекторами 7 и 8 секции 11, составит, соответственно3054041 з13 ло ступеньки характеризует энергию Е этой группы, т.е, частоту соответствующей ей спектральной линии исследуемого излучения, а ее высота Д 1иас в конце участка роста, соответствуюЕщего Б = - связана с интенсив 1+уностью этой спектральной линии соот- ношением Таким образом, предлагаемый способ регистрации спектральной интенсивности изменяет форму сигнала, превращая ступенчатые области роста 4 1 в соответствующие линии, ширина которых определяется величиной , Таким образом появляется возможчость изменяя величинуоптимальным образом подбирать10 разрешение и чувствительность исходяд 1 макс с 1 . (5)максЕслис(1, 41. = с 1(б)Сигнал, регистрируемый на выходе...
Устройство для измерения коэффициента спектральной яркости диффузно-отражающих поверхностей
Номер патента: 1357727
Опубликовано: 07.12.1987
Авторы: Ашкинадзе, Бовт, Новославский, Петровский, Стельмах, Шадурский
МПК: G01J 1/44
Метки: диффузно-отражающих, коэффициента, поверхностей, спектральной, яркости
...11 и 16, которые совместно с усилителем 18 формируют электрические сигналы отношения данньх световых потоков, Далее сигналы по каждому каналу регистрации поступаютчерез сумматоры 19 параллельно ца соответствующие вхоцы первого 3, вто-. рого 4 и третьего 5 коммутаторов соответственно, которые по сигналу управления, поступающего с блока 2 управления, коммутпруот, один из входных сигналов, С помощью первого 3 ивторого 4 коммутаторов выделяютсясигналы двух участков спектра, которые далее поступают на блок 6 деле:ния, где Формируотся сигналы, пропорциональные отношению1( = ,г пр Рпди огде (Р, У и 7, фо - соответственнопадающие и отраженные световые потоки ца двух выбранных блоком 2 управления участках спектра,С помощью третьего коммутатора...
Способ контроля газофазных химических реакций на полупроводниках
Номер патента: 1357728
Опубликовано: 07.12.1987
Автор: Кабанский
МПК: G01J 1/48
Метки: газофазных, полупроводниках, реакций, химических
...для рабочей поверхности образца можно представить в виде суммы двух слагаемых,Первое из них, Б есть скорость,измеренная сразу после ограждения по" тока атомов от датчика и обусловленная центрами поверхностНой рекомбинации носителей заряда, связанными сдолгоживущими поверхностными состояниями или с дефектами поверхности образующимися в ходе гетерогеннойреакции.Второе слагаемое Б = Б - Б появляется сразу после начала химическойреакции и быстро исчезает ( - 10 с)после прекращения реакции. Б обусловлена быстродесорбирующимися продуктами реакции (в частности молекулами Н,И в других гетерогенных реакциях,протекающих на полупроводниковом датчике, возникает аналогичная добавкак Б, связанная с образующимися наповерхности датчика продуктами...
Спектрометр
Номер патента: 1357729
Опубликовано: 07.12.1987
Авторы: Ефремцев, Крищенко, Лакалина
МПК: G01J 3/12
Метки: спектрометр
...6 и приемник 7 излучения.Спектрометр работает следующим образом.Источник 1 света излучает светоВой поток который пройдя через кол лиматор 2, попадает на диспергирующий.2 О элемент, изготовленный в виде кюветы 3 с рабочей жидкостью 4, в кото - рой или вне размещен пьезопреобразователь 5. На выходе кюветы 3 образуется спектр, который после фоку б сирования элементом 6 регистрируется приемником 7.Электромагнитные колебаний с генератора поступают на пьезопреобразователь 5, посредством которого преобразуются в акустические колебания. Возникающая акустическая волна распространяется в рабочей жидкости ч. Так как акустическая волна прецставляет собой периодическое изменение плотности рабочей жидкости, в кювете 3 образуется дифракционная...
Способ спектрометрического определения амидазной активности ферментов и детектируемая группа для его осуществления
Номер патента: 1359253
Опубликовано: 15.12.1987
Авторы: Кузнецов, Недоспасов, Незавибатько
МПК: C07C 143/60, G01J 3/40
Метки: активности, амидазной, группа, детектируемая, спектрометрического, ферментов
...М трис-НС 1-буфере рН 7,6,термостатируют при 25 С, добавляют10 мкл исследуемого препарата - "Проназы" (смесь протеиназ, используемая 3 2в биохимических исследованиях), инку.бируют 10 мин, добавляют 1 мл О, 1 Мраствора ИаОН, измеряют оптическуюплотность при 330 нм относительного,раствора, в который фермент добавляют непосредственно перед измерением.Результаты по примерам 3-6 приведены в табл. 1,Ускорение и упрощение процесса достигается за счет исключения операций экстракции, центрифугирования в,связи с тем, что используемая в качестве детектируемой группы 1-аминонафталин-сульфокислота растворимав водных растворах, и в отличие от2-(аминоацил)-1-нафтиламинов, используемых по прототипу, не является канцерогенной и является легко...
Логарифмирующий фотометр
Номер патента: 1362947
Опубликовано: 30.12.1987
Авторы: Комраков, Кузнецова, Локоть, Погосов, Хуршудян
МПК: G01J 1/44
Метки: логарифмирующий, фотометр
...направляется на фотоприемник 7, Электрический импульсный сигнал с Фотоприемника 7 усиливается с помощью предварительного . усилителя 8 и логарифмируется логарифматором 9. Прологарифмированный сигнал поступает на синхронные детекторы. Если свет проходит через измерительную кювету,. то измерительный сигнал поступает на первый синхрон 2947 2ный детектор 10, на управляющий входкоторого в этот момент поступает сиг"нал синхронизации. Оптический коммутатор 2 перекрывает световой поток ипропускает его через сравнительнуюкювету 5 и сигнал поступает на второйсинхронный детектор 11, При этом навыходе первого вычитающего устройст ва 13 формируется информационный сигнал; Цо П, = А (Т) К 1 я -х1 г гдеА(Т) - температурный коэфФициентлогарифматора;К -...
Спектрофлуориметр
Номер патента: 1362948
Опубликовано: 30.12.1987
Авторы: Батюков, Жбанков, Зенкевич, Калоша, Спицын, Франюк
МПК: G01J 3/42, G01N 21/64
Метки: спектрофлуориметр
...в качестве эталона счетчика квантов.Для твердЫх полимеров существенно ниже температурные эффекты. Были проведены исследования температурной зависимости относительного квантового выхода флуоресценции для твердойматрицы из полиметилметакрилата, активированного родамином В и для жидкого раствора родамина В в этиленгликоле. Как следует из графика,приведенного на фиг.1, изменение температуры только на 1 С приведет коизменению величины опорного сигналаспектрофлуориметра для твердого эталона примерно на 0,57, а для жидкогона 1,2-1,37 Поэтому достижение высокой стабильности эксплуатационныхпоказателей спектрофлуориметра,использующих жидкий эталон, возможнотолько ценой конструктивных усложнений, связанных с термостабилизациейэталона.Таким...
Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией
Номер патента: 1362949
Опубликовано: 30.12.1987
Авторы: Вершинский, Иоаннисиани, Кириченко, Лопатин, Раховский
МПК: G01J 3/45
Метки: амплитудной, интерференционной, модуляцией, селективной, спектрометр
...с длиной волны 11. Эти два пучка излучения (фиг.1 и 2), отразившись последовательно от зеркала 6 и7, направляются в обратном направле 9 2нии под тем же угломо 6, но на другойвысоте на дифрационную решетку 3,где они вторично дифрагируют нормально к ее поверхности и интерферируют,Эти вторично прадифрагировавшие пучки излучения оказываются направленными параллельно на выходной коллиматор 10, которым фокусируются на выходную апертуру 11.Периодическое измерение разностифаз дополнительным зеркалом 4 илирешеткой 3 приводит к периодическомуизменению интенсивности выходящегопучка излучения с длиной волны ЪПоскольку переменная составляющаяпотока излучения на выходе спектрометра в этом случае определяетсялишь излучением с длиной волны 5в...
Способ измерения спектральной характеристики электрического самосветящегося объекта
Номер патента: 1362950
Опубликовано: 30.12.1987
Авторы: Афанасьев, Дрожбин, Дубовик
МПК: G01J 3/46
Метки: объекта, самосветящегося, спектральной, характеристики, электрического
...окрестностях номинального режимаустанавливают ток самосветящегосяобъекта 1 в диапазоне от -4 до +27,и для каждого значения электрическо-го режима, общим числом и, не менеепяти измеряют свое спектральное распределение. По полученным даннымстроят графики спектрального распределения (Л)п для каждого тока Е(фиг. 1), и используя эти графикиопределяют зависимость спектральногораспределения от тока самосветящегося объекта (фиг. 2). Затем вычисляют значения координат цвета Х, 7, Е по формулам Ел Е (Л)(Л) с 1 Л э 2= Е(Л) 2(Л) ЙЛ,4не источника А, не превы-шает 0,005;6 - средне-квадратичное отперклонение результата измерений при передаче размера единиц координат цвета, которое. не превышает0,04;6- средне-квадратичное отклонение результата...
Устройство измерения оптико-энергетических характеристик поверхности
Номер патента: 1364834
Опубликовано: 07.01.1988
Авторы: Зарецкий, Зяблицев, Исаев, Юргель
МПК: F24J 2/42, F24J 2/46, G01J 1/42 ...
Метки: оптико-энергетических, поверхности, характеристик
...3. Подвижный экран 5 (фиг2 и 3) выполнен в виде обечайки 6, устанавливаемой на измеряемую поверхность 7, уплотнения 8 и крышки 9 с осью 10, имеющей хвостовик 11, сцепленный с соленоидом 12 и пружиной 13. На оси 10 установлена полумуфта 14 с возможностью скольжения, упирающаяся через пружину 15 в крышку 9. Устройство имеет кронштейн 16, устанавливаемый на измеряемую поверхность 7, на котором закреплена полумуфта 17, взаимодействующая с полумуфтой 14 и свободно надетая на ось 10. Датчики 1 и 4 устанавливаются вблизи измеряемой поверхности 7 и в зависимости от типа гелиоустановки могут крепиться на кронштейнах 18 (наличие пыли 19 на поверхности 7 показано условно).Устройство также содержит балансирующий резистор 20, мостовую схему 21,...
Способ определения максимального потока источника импульсного оптического излучения
Номер патента: 1364902
Опубликовано: 07.01.1988
Авторы: Забродский, Ловинский
МПК: G01J 5/00
Метки: излучения, импульсного, источника, максимального, оптического, потока
...от его длительности. Зарегистрированные с помощью устройства выборки и хранения информации преобразованные электрические сигналы от обоих источников 2 и 3 сравнивают с помощью устройства 10 сравнения. При этом осуществляют сравнение амплитуд сигналов, соответствующих амплитудам суммарного сигнала ФПУ 4, В результате сравнения выявляют отклонение между соответствующими амплитудами, После этого изменяют соответствующим образом с помо щью устройства 13 регулирования тока источника поток излучения источника 3, добиваясь отсутствия этого отклонения. С помощью устройства 11 индикации фиксируют отсутствие отклонения между значениями амплитуд преобразованных сигналов, После чего приписывают размеру единицы максимального потока импульса...
Фотодатчик
Номер патента: 1366884
Опубликовано: 15.01.1988
Автор: Городилов
МПК: G01J 1/44
Метки: фотодатчик
...4,а инвертирующийс одним из входов токоразностногоусилителя 7, второй выход резистора2 соединен со входом усилителя 6, вы,ход которого соединен со входом усилителя 5 обратной связи, неинвертирующий выход которого соединен со входом усилителя 6, а инвертирующий выход - со вторым входом токоразностного усилителя 7,Фотодатчик работает следующим образом.35Допустим, что оптический сигнал отсутствует,Потенциалы на входах усилителей 4 и 6 одинаковы и разность потенциалов на фотодиоде равна нулю. :а входы токоразностного усилителя 7 поступают одинаковые токи и сигнал на его выходе отсутствует. При наличии фототока 1 на входы токоразностного усилителя по одной ветви поступает 45 сигнал + 1,Р, а по другой -1 .Токоразностный усилитель...
Кювета для измерения диффузного отражения сорбатов
Номер патента: 1366885
Опубликовано: 15.01.1988
Автор: Комиссаров
МПК: G01J 3/42, G01N 21/03
Метки: диффузного, кювета, отражения, сорбатов
...узких наклонных отверстий 3, Во все эти отверстия заложено стекловолокно 4. Кювета дополнительно снабжена крышкой 5 15 с двойными отсекателями, пространство между поверхностями стенок крышки 5 заполнено стекловолокном, крышка выполнена полусферической, торцы которой расположены в канавке 2, цент ральная часть которой выполнена так, что образует два соосных патрубка 6 и 7 разного диаметра, при этом больший диаметр патрубка соединен с линией подачи растворителя а меньший - с системой 8 вакуумирования.Кювета работает следующим образом.Концентрирование сорбента к центру и поверхностям слоя в кювете осуществляется подвижной фазой, подава- ЗО емой к периферии за счет поверхностей полусферы крышки 5, где и находится равномерно. уложенное...
Блок диафрагм к астрономическому фотометру
Номер патента: 1368653
Опубликовано: 23.01.1988
МПК: G01J 1/04
Метки: астрономическому, блок, диафрагм, фотометру
...положения планки выводится микрометрическим винтом 13 на необходимое расстояние, при этом образуется определенный зазор между конусом фиксатора 12 положения планки и упорами, а электрический сигнал отрицательной полярности с выхода операционного усилителя 14 поступает на вход усилителя 15 мощности, на выход 35 которого подключена обмотка катушки5, по которой протекает ток и смещает планку с диафрагмами вправо, пока левый упор 4 не коснется конуса фиксатора 12 положения планки, при этом40 заслонка 3 перемещается вправо вместе с планкой с диафрагмами и на фото- диоде вырабатывается электрический сигнал с уровнем 11,с 11 щ,. Далее с гез 13686 нератора 16 на неинвертирующий вход операционного усилителя 14 подается сигнал П такого уровня,...
Фотометр
Номер патента: 1368654
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Болдырева, Ляхов, Рукосуев, Сидельников, Чупахин
МПК: G01J 1/04
Метки: фотометр
...освещаемого со стороны вытянутой грани излучением, интенсивность которого следует измерить; Для определения интенсивности неизвестного из-. либровку, измеряя отклонение конца кристалла при облучении светом от источника, интенсивность которого известна. После прекращения засветки кристалл некоторое время сохраняет принятую форму. Время восстановления формы кристалла зависит от температуры. При комнатной температуре оно составляет несколько часов, но может быть сокращено до минуты при 100 С. Для последующих измерений кристалл вновь выпрямляют нагреванием. Оптимальная температура, позволяющая бытро восстановить рабочие свойства кристалла, (80-100)С. При более низких температурах восстановление идет медленнее (например, при 50 С в...
Рефлектометр для вакуумного ультрафиолета
Номер патента: 1368655
Опубликовано: 23.01.1988
МПК: G01J 1/04
Метки: вакуумного, рефлектометр, ультрафиолета
...излучения.Рефлектометр работает следующим образом. СУВУ устанавливает. требуемое значение энергии излучения источника 1. Монохроматический луч от источника 1 проходит через отверстия 3 и 4 фото- метрической головки 2. Часть луча, попадая на флуоресцирующее покрытие 5, вызывает его свечение, которое непосредственно или отражаясь от зер. кальной внутренней поверхности фото- метрической головки 2, попадает на фотоприемник, Луч отраженный от образца (или эталона), попадает в фото- метрическую головку 8 через отверстие 9 на флуоресцирующее покрытие 1 О, вызывая его свечение. Это свечение, непосредственно или отражаясь от зеркальной внутренней поверхности фото- метрической головки 8, попадает .на фотоприемник 7, Электрические сигналы от...
Способ фотометрирования астрономических изображений и фотометр для его осуществления
Номер патента: 1368656
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Дадуркявичюс, Ралис
МПК: G01J 1/16
Метки: астрономических, изображений, фотометр, фотометрирования
...данные анализируются или на ЭВМ 8 фотометра, или выводятся с помощью устройства 9 вывода информации для дальнейшей обработки на более мощной ЭВМ.При вращении решетки 3, находящейся в непосредственной близости от поверхности матрицы 5, каждая ячейка светочувствительной матрицы 5 сканируется теневой картиной решетки Ронки 3. При этом зависимость отсчетов ячейки от углового положения решетки 3 называется модуляционной функцией ячейки. Модуляционная функция кодирует двумерное распределение освещенности на поверхности ячейки. Отсчеты ячейки, зафиксированные в памяти ЭВМ 8 в течение полного оборота решетки Ронки 3 разделяют на группы, каждая из которых состоит из отсчетов, полученных при одинаковом фильтре, Каждая такая группа, упорядоченная...
Измеритель оптической мощности
Номер патента: 1368657
Опубликовано: 23.01.1988
Автор: Стехин
МПК: G01J 1/24
Метки: измеритель, мощности, оптической
...Текущие показания цифрового индикатора 5, вход которого соединен с выходом блока 4, определяются выражением 2 ЖЫ .4 Л ЛМЫПопгде М - показания цифрового индикатора;Р - мощность оптического изоптлучения;К - коэффициент преобразования преобразователя 2фототок - напряжение;Я - чувствительность фотодетектора на длине волныизлучения;К ц - коэффициент преобразования .блока 4; с 10 15 20 25 30 35 40 Б- опорное напряжение блока4 аналого-цифрового преобразователя.Детекторы оптического излучения обладают неравномерной спектральной характеристикой, т.е. с изменением) параметр 81 также изменяется, Иэ формулы (1) видно, что изменение Я можно компенсировать регулировкой опорного напряжения 11 . Для этого должопна быть известна спектральная...
Устройство для контроля дефектов поверхности
Номер патента: 1368658
Опубликовано: 23.01.1988
МПК: G01J 1/44
Метки: дефектов, поверхности
...амплитуду электрического сигнала П, со среднестатистическим уровнем шума П,р, (фиг 2), характерным для поверхности бездефектных изделий 17, Определяется Б ,заранее экспериментально по партии бездефектных изделий 17. При превышении текущей амплитудой сигнала Б заданного уровня Пщ р, на выходе компаратора 9 формируется импульс запрета Т (фиг.2)Ф длительность которого соответствует времени превышения амплитуды сигнала этого уровня.В течение времени первого оборота иэделия 17 (длительность импульса Т ) сигнал с выхода первого ключа 4 через коммутатор 5 поступает на интегратор 6 для определения среднего уровня шума, При срабатывании компаратора 9, т.еобнаружении им в сигнале Б всплеска, предположительно сформированного от дефекта, на его...
Способ получения излучения примеси в газах при низких температурах
Номер патента: 1368659
Опубликовано: 23.01.1988
МПК: G01J 3/10
Метки: газах, излучения, низких, примеси, температурах
...термов.Как следствие происходит гигантскоеувеличение интенсивности излучения,Этот эффект максимален при температуре, равной температуре сублимациитвердой фазы газа. В предлагаемомспособе отпадают существенные ограничения на величину вкладываемойэнергии, ибо увеличение мощности возбуждения только смещает вниз по температуре критическую область сублимационного режима.На чертеже показано устройство,с помощью которого может быть реализован предлагаемый способ.Устройство содержит криостатсрегулируемой температурой, электронную пушку 2, трубку 3 напуска газа,прогреваемую ячейку Кнудсена 4, содержащую примесное вещество, сапфировую или медную подложку 5.Способ выполняют следующим образом,Охлаждают подложку 5 до температуры сублимации...
Спектрометр
Номер патента: 1368660
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Дятлов, Журавлев, Коняшкин, Панкин, Потапов
МПК: G01J 3/12
Метки: спектрометр
...модуляторов. В этом случае реализация заданного кода производится путем закрывания некоторого числа модуляторов в соответствии с выбранным кодом, Закрывание модуляторов производится с помощью приложения к ним электрического поля. Снятие поля позволяет приводить модуляторы в исходное состояние. Таким образом, по заранее разработанной программе может быть реализован выбранный код, т,.е. определен порядок и количество модуляторов, находящихся в данный момент времени в открытом или закрытом состоянии.Эта операция осуществляется при помощи устройства 11, включающего коммутирующее устройство 12 и блок 13 питания, а также блока 1 О управления и счетно-решающего устройства 9. В первый момент коммутирующее устройство 12 снимает напряжение со всех...
Устройство для получения дифференциальных спектров отражения
Номер патента: 1368661
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Борисова, Воробьев, Захарченко, Исмагилова, Карпов
МПК: G01J 3/42
Метки: дифференциальных, отражения, спектров
...образом.Для измерения спектров отражения в держатели 8 и 9 устанавливают эталон и образец. В момент, изображенный на чертеже, излучение от источника 1, пройдя через монохроматор 2 и первый формирующий объектив 3, попадает на образец, установленный в держателе 9 образца. Отраженный от образца пучок излучения поступает на зеркальную поверхность 7 двухстороннего плоского зеркала 5, занимающего положение перед вторым объективом 1 О и направляющего на последний отраженный от образца поток излучения. Объектив 10 направляет излучение в приемник 11, где оно преобразуется в электрический сигнал и поступает в усилитель 12, после которого записывается регистратором 3 спектра. В следующий момент времени зеркало 5 занимает положение, изображенное...
Способ сканирования спектра в растровом спектрометре
Номер патента: 1368662
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Афанасьев, Шлишевский
МПК: G01J 3/433
Метки: растровом, сканирования, спектра, спектрометре
...К в пределах от 1,05 до1,45 или от 2,5 до 20,0 масштаб иэображения сохраняется практически постоянным по всему полю выходного растра; что позволяет расширить спектральный диапазон измерений.Если у - координата произвольнойточки входного растра, то для коорди/наты у ее монохроматического изображения на выходном растре при двухкратной дифракции пучка на решеткевыполняется соотношениеУ = у -Ьу/Е, (1) 2Ь = сопзг (3)В широких пределах изменения длинволн зависимость М(у) может быть свысокой точностью аппроксимированапрямолинейной зависимостьюч= (Р.-р) еаб (4)где угол падениясоответствует углу дифракции Ч =О, а Тр=Л /й 9 =сопзй.Если сканирование спектра производится в соответствии с условием(1+УФ)о = К. (5)На фиг.З даны графические...
Способ определения кроющей способности пигментированных материалов
Номер патента: 1368663
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Бочаров, Гатин, Махмуров, Михеев, Мякин, Федотов, Царегородцева, Шапкарин
МПК: G01J 3/46
Метки: кроющей, пигментированных, способности
...материала 1,при котором его цветоразличие на таких подложках составляет 1 усл.ед. Способ осуществляется следующим образом.Измеряют на нескольких длинах волн коэффициенты отражения двух раэ личных подложек. Затем на этих же длинах волн - коэффициенты отражения на этих подложках одной жидкой или отвержденной накраски пигментированного материала с известным содержанием пигмента. Определяют оптические константы поглощения и рассеяния света пигментированного материала по следующим выражениям для каждой длины волны:(22) К , - коэффициент отраженияГ)первой и второй подло-жек соответственно; а уравнение (2) для идеально черной,К =0:и1-И а-ЪсЬ Ьз 1 3 15а(1+юг )-21 с+Ь (1-1 сг) сЬ(Ьз 1) где Ки К - расчетные коэффициентыпленки на идеально...
Дозиметр ультрафиолетового излучения
Номер патента: 1374061
Опубликовано: 15.02.1988
Авторы: Квочка, Минаева, Умаров, Умарова
Метки: дозиметр, излучения, ультрафиолетового
...дозиметра соотношением3.=БфЕ(Я). (1)Из соотношения (1) определяют чувствительность прибора без корригирующей диафрагмы Б = --(2) Определяют коэффициент пропускания корригирующей диафрагмы в зависимости от длины волны из соотношенийК(3) Б(Ъ) =сопя;сопзс Е(Ъ)К(ъ) = ----- (3)хЬ)В дозиметре применена на входе интегрирующая сфера, поэтому входная спектральная щель освещается равномерно по всей поверхности. Конден-.сатор 6 представляет собой оптический волоконный жгут из нерегулярно уложенных кварцевых волокон, следова тельно, профиль корригирующей диафрагмы 5 должен представлять собой прорезь, симметричную относительно меридиональной плоскости спектрографа. Высота прорези в каждой спект ральной координате на фокальной поверхности...
Сейсмометр
Номер патента: 1374062
Опубликовано: 15.02.1988
МПК: G01J 1/16
Метки: сейсмометр
...значению интенсивности колебаний. При возникновенииколебаний почвы в горизонтальнойплоскости инерционная жидкость 7 вгоризонтальной части 3 корпуса 1,имеющая большую массу (заключеннуюв объеме с большим сечением), совершает колебательное движение относительно корпуса. Инерционная жидкость7 в сообщающихся измерительных ветвях 2 при этом последовательно перекрывает торцы световодов от попадания в них световых лучей. В зависимости от амплитуды колебаний уровеньинерционной жидкости перемещаетсяот положения равновесия до крайнихположений, что соответствует показаниям сейсмометра от минимальногозначения измеряемой величины до максимального.Перемещение объема инерционнойжидкости дЬ в горизонтальной части 3вызовет изменение высот столба...
Дифференцирующий счетчик фотонов
Номер патента: 1374063
Опубликовано: 15.02.1988
Авторы: Гроза, Круминьш, Кузнецов, Янсон
МПК: G01J 1/44
Метки: дифференцирующий, счетчик, фотонов
...М-М, фотонов, поступивших на фотоэлектронный умножитель в течение периода синхросигнала. Если И, окажется больше И , то при переходе счетчика 13 через ноль на его выходе заема появляется импульс, который переключает триггер 20 знака.При этом сигнал от триггера 20 знака через элемент ИСКЗПОЧАЮЩЕЕ ИЛИ 21 и инвертор 22 изменяет направление счета счетчика 13 и он снова заполня 5.ется.Если начальное положение модулятора 2 такое, что устанавливаетсяобратное направление счета счетчика13, то с первым же поступающим навход счетчика 13 импульсом на выходезаема его появляется импульс, который переключает триггер знака и,соответственно, направление счета,и измерение проходит, как описано 15выше,По истечении периода модуляциив счетчике 13...
Фотометр
Номер патента: 1375955
Опубликовано: 23.02.1988
Авторы: Бугаенко, Гуральчук, Кесельман
МПК: G01J 1/04
Метки: фотометр
...гид 11.Фотометр работает следующим образом.Излучение от исследуемого объекта и Фона выделяется при помощи колеблющейся диафрагмы 1 и поступает черезсветофильтры 2, объектив 3 на фотоприемник 4, который включен в режимесчета фотонов. Импульсы с выходафотоприемника поступают в регистрирующее устройство 5, где формируютсяна усилителе-Формирователе б, затемпоступают на счетный вход счетчика 7.При этом блок 9 синхронизации вырабатывает последовательность сигналовсогласно временной диаграммефиг.2,Ба фиг.2 представлены формы сигналов, вырабатываемых блоком синхронизации: 12 - сигнал блокировки счетчика, 13 - сигнал записи в регистр,14 - сигнал сброса счетчика, 15сигнал подсветки диафрагмы. 45Через определенные промежутки времени происходит...
Атомно-абсорбционный анализатор
Номер патента: 1375956
Опубликовано: 23.02.1988
Авторы: Баранов, Грачев, Рукин, Хлебникова
МПК: G01J 3/42
Метки: анализатор, атомно-абсорбционный
...с одновременным снижением расходов компонентов горючей смеси обусловлено выбором оптимальных соотношений внутреннего диаметра радиатора-насадки и суммарной площади щелей горелки, при условии распыления анализируемого раствора горячим окислителем. Повышение эффективности атомизации за счет уменьшения дисперсности аэрозоля при распылении горячим окислителем обусловлено тем, что в момент соприкосновения подаваемого по капилляру анализируемого раствора с обдуваемым егоггорячим окислителем происходит резкое испарение растворенных в растворе газов, что приводит к более мелкому дроблению капель аэрозоля. Образовавшиеся пары конденсируются на холодных стенках камеры смешения и выводятся из нее в дренаж, не попадая в зону пламени.Для более...